CN212658731U - 一种用于fpc电测的测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种用于FPC电测的测试治具，包括由上至下依次设置的压板、托板和复合盘，以及设置在托板与复合盘之间的缓冲弹簧、垂直设置在复合盘上的测针组件和定位销；托板设置有与定位销相对设置的第一销孔、与测针组件相对设置的测针让位孔；压板设置有与定位销相对设置的第二销孔；测针组件包括依次连接的测试针、弹簧针套、测试链接线，以及贴附在测试针顶端的导电胶套，弹簧针套固定在复合盘上，测试针常态时不超出托板的上表面，测试链接线电性连接到外端的测试装置。本实用新型通过导电胶套、托板和缓冲弹簧，最终使得测试针接触产品时的接触力变小，防止产品的压伤，起到缓冲保护作用。
Description
技术领域
本实用新型涉及FPC测试技术领域，特别是指一种用于FPC电测的测试治具。
背景技术
目前FPC在功能性能测试时必然要使用到电测治具，通过电测针的尖端接触焊盘进行导通完成测试，因而不可避免的会存在电测针压伤PFC焊盘和金手指部位的问题，导致产品的不良率居高不下，是行业内普遍存在的难题，给公司整体经营带来非常不利的影响。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种用于FPC电测的测试治具，能够实现在FPC进行电测时降低测试针对产品的接触应力，起到缓冲保护的作用。
为了达成上述目的，本实用新型的解决方案是：
一种用于FPC电测的测试治具，包括由上至下依次设置的压板、托板和复合盘，以及设置在所述托板与所述复合盘之间的缓冲弹簧、垂直设置在所述复合盘上的测针组件和定位销；所述托板设置有与所述定位销相对设置的第一销孔、与所述测针组件相对设置的测针让位孔；所述压板设置有与所述定位销相对设置的第二销孔；所述测针组件包括依次连接的测试针、弹簧针套、测试链接线，以及贴附在所述测试针顶端的导电胶套，所述弹簧针套固定在所述复合盘上，所述测试针常态时不超出所述托板的上表面，所述测试链接线电性连接到外端的测试装置。
所述的一种用于FPC电测的测试治具还包括设置在所述复合盘上表面的调节螺丝，用于限制所述托板与所述复合盘的最小间距。
所述的一种用于FPC电测的测试治具还包括垂直设置在所述复合盘上的定位柱，所述压板设置有与所述定位柱相对设置的定位孔，所述定位柱随着所述压板的升降活动穿设于所述定位孔。
所述压板的下方贴附有一层缓冲板，所述缓冲板由弹性材料制成。
所述导电胶套通过在所述测试针的顶端涂覆一层0.3mm的液态导电胶并烘干制成。
采用上述技术方案后，本实用新型通过在测试针的顶端设置导电胶套，以及使用弹簧针套实现缓冲，在不影响测试效果的前提下，减少电测时测试针与产品的接触应力，导电胶套降低了测针组件的硬度、增大了与产品的接触面积；同时，通过浮动在复合盘上方的托板和缓冲弹簧，抵消压板下压时的压力，最终使得测试针接触产品时的接触力变小，防止产品的压伤，起到缓冲保护作用。
此外，通过设置调节螺丝，可以调节托板与复合盘的最小间距，用于控制测试针与托板上的产品的接触深度，进一步降低测试针与产品的接触应力。
附图说明
图1为本实用新型具体实施例的结构示意图；
图2为本实用新型具体实施例测针组件5的结构示意图；
附图标号说明：压板1；第二销孔11；定位孔12；托板2；第一销孔21；测针让位孔22；复合盘3；缓冲弹簧4；测针组件5；测试针51；弹簧针套52；测试链接线53；导电胶套54；定位销6；调节螺丝7；定位柱8；缓冲板9；治具上模10；治具下模20。
具体实施方式
为了进一步解释本实用新型的技术方案，下面通过具体实施例来对本实用新型进行详细阐述。
本实用新型为一种用于FPC电测的测试治具，包括由上至下依次设置的压板1、托板2和复合盘3，以及设置在托板2与复合盘3之间的缓冲弹簧4、垂直设置在复合盘3上的测针组件5和定位销6。
托板2设置有与定位销6相对设置的第一销孔21、与测针组件5相对设置的测针让位孔22；压板1设置有与定位销6相对设置的第二销孔11；测针组件5包括依次连接的测试针51、弹簧针套52、测试链接线53，以及贴附在测试针51顶端的导电胶套54，弹簧针套52固定在复合盘3上，测试针51常态时不超出托板2的上表面，测试链接线53电性连接到外端的测试装置。
参考图1和图2所示，示出了本实用新型的具体实施例。
本实用新型还包括设置在复合盘3上表面的调节螺丝7，通过拧转调节螺丝7可以调节托板2与复合盘3的最小间距，用于控制测试针51与托板2上的产品的接触深度，进一步降低测试针51与产品的接触应力。
本实用新型还包括垂直设置在复合盘3上的定位柱8，压板1设置有与定位柱8相对设置的定位孔12，定位柱8随着压板1的升降活动穿设于定位孔12，用于保证压板1的下压方向始终与复合盘3垂直，即保证压板1下压时能够与托板2上的产品完全贴合，避免产品某一端点或区域集中受力。
上述压板1的下方贴附有一层缓冲板9，缓冲板9由弹性材料制成，以减少压板1与产品的接触应力，进一步在电测时保护产品。
上述压板1和复合盘3分别安装在测试设备的治具上模10的下方和治具下模20的上方，治具上模10可带动压板1进行升降运动。
上述导电胶套54通过在测试针51的顶端涂覆一层0.3mm的液态导电胶并烘干制成。
本实用新型的工作原理为：将产品对准定位销6放置在托板2上，治具上模10受力下降，使得压板1下压，压板1接触产品以使产品和托板2受力下压，托板2的下降使得测试针51和定位销6相对上升并接触产品，定位销6依次穿过第一销孔21、第二销孔11起到导向作用，则缓冲弹簧4与弹簧针套52同时收缩回弹，之后导通测试装置进行测试。
通过上述方案，本实用新型通过在测试针51的顶端设置导电胶套54，以及使用弹簧针套52实现缓冲，在不影响测试效果的前提下，减少电测时测试针51与产品的接触应力，导电胶套54降低了测针组件5的硬度、增大了与产品的接触面积；同时，通过浮动在复合盘3上方的托板2和缓冲弹簧4，抵消压板1下压时的压力，最终使得测试针51接触产品时的接触力变小，防止产品的压伤，起到缓冲保护作用。
此外，通过设置调节螺丝7，可以调节托板2与复合盘3的最小间距，用于控制测试针51与托板2上的产品的接触深度，进一步降低测试针51与产品的接触应力。
上述实施例和图式并非限定本实用新型的产品形态和式样，任何所属技术领域的普通技术人员对其所做的适当变化或修饰，皆应视为不脱离本实用新型的专利范畴。
Claims (5)
1.一种用于FPC电测的测试治具，其特征在于：包括由上至下依次设置的压板、托板和复合盘，以及设置在所述托板与所述复合盘之间的缓冲弹簧、垂直设置在所述复合盘上的测针组件和定位销；
所述托板设置有与所述定位销相对设置的第一销孔、与所述测针组件相对设置的测针让位孔；
所述压板设置有与所述定位销相对设置的第二销孔；
所述测针组件包括依次连接的测试针、弹簧针套、测试链接线，以及贴附在所述测试针顶端的导电胶套，所述弹簧针套固定在所述复合盘上，所述测试针常态时不超出所述托板的上表面，所述测试链接线电性连接到外端的测试装置。
2.如权利要求1所述的一种用于FPC电测的测试治具，其特征在于：
还包括设置在所述复合盘上表面的调节螺丝，用于限制所述托板与所述复合盘的最小间距。
3.如权利要求1所述的一种用于FPC电测的测试治具，其特征在于：
还包括垂直设置在所述复合盘上的定位柱，所述压板设置有与所述定位柱相对设置的定位孔，所述定位柱随着所述压板的升降活动穿设于所述定位孔。
4.如权利要求1所述的一种用于FPC电测的测试治具，其特征在于：
所述压板的下方贴附有一层缓冲板，所述缓冲板由弹性材料制成。
5.如权利要求1所述的一种用于FPC电测的测试治具，其特征在于：
所述导电胶套通过在所述测试针的顶端涂覆一层0.3mm的液态导电胶并烘干制成。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202021257043.5U CN212658731U (zh) | 2020-06-30 | 2020-06-30 | 一种用于fpc电测的测试治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202021257043.5U CN212658731U (zh) | 2020-06-30 | 2020-06-30 | 一种用于fpc电测的测试治具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN212658731U true CN212658731U (zh) | 2021-03-05 |
Family
ID=74761385
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202021257043.5U Active CN212658731U (zh) | 2020-06-30 | 2020-06-30 | 一种用于fpc电测的测试治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN212658731U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113740656A (zh) * | 2021-09-28 | 2021-12-03 | 歌尔股份有限公司 | 测试装置 |
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2020
- 2020-06-30 CN CN202021257043.5U patent/CN212658731U/zh active Active
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113740656A (zh) * | 2021-09-28 | 2021-12-03 | 歌尔股份有限公司 | 测试装置 |
| CN113740656B (zh) * | 2021-09-28 | 2023-11-21 | 歌尔股份有限公司 | 测试装置 |
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