CN212412010U - 一种便于放置探针卡的三维探针台 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种便于放置探针卡的三维探针台,包括三维探针台主体和探针卡安装台,所述三维探针台主体上设有凹槽,所述凹槽内还设有工件放置槽;所述探针卡安装台包括基台,所述基台上设有圆形凹槽,圆形凹槽内设有通孔,所述通孔内安装有轴承,轴承上安装有蜗轮,所述蜗轮上安装有转盘,所述转盘上设有方形探针卡放置台,转盘上设有定位杆穿过方形探针卡放置台;所述三维探针台主体内还安装有气缸,所述气缸的活塞杆与基台连接。
Description
技术领域
本实用新型属于晶圆测试的技术领域,具体涉及一种便于放置探针卡的三维探针台。
背景技术
在晶圆制作完成以后,需要对其功能进行测试,探针台是半导体生产过程中用于晶圆测试的一种设备,通过探针卡的探针和晶圆芯片上的焊垫或凸块直接接触,引出芯片讯号,再配合周边测试仪器与软件控制达到自动测量的目的。探针卡通常需要固定在探针台上,探针卡的取放工作非常重要。探针卡通常包括PCB基板、PCB线路和探针,所述PCB基板上设置有PCB线路和探针,所述探针和PCB线路连接且分别位于PCB基板的两个面上,所述PCB基板上设置有固定孔,所述固定孔与探针台上的固定件相对应。在测试时,探针卡通.过固定件固定放置在探针台上,PCB线路面朝上,与周边测试仪器连接,探针面朝下,与晶圆.上的集成电路接触连接,共同构成晶片允收测试的电路。
现有技术的探针台向下凹陷,形成与探针卡相对应的凹槽作为探针卡放置区域。由于凹槽的深度与探针卡的厚度相同,而探针卡表面没有把手以及其他着力点,使得探针卡的拿取很不方便,需要花费很长的时间,还容易破坏探针卡与探针台之间的防漏电纸。同时,探针卡一旦放进凹槽,就很难调节探针位置。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种便于放置探针卡的探针台,以解决上述技术背景中提出的问题。
为解决上述问题,本实用新型提供如下技术方案:一种便于放置探针卡的三维探针台,包括三维探针台主体和探针卡安装台,所述三维探针台主体上设有凹槽,所述凹槽内还设有工件放置槽;所述探针卡安装台包括基台,所述基台上设有圆形凹槽,圆形凹槽内设有通孔,所述通孔内安装有轴承,轴承上安装有蜗轮,所述蜗轮上安装有转盘,所述转盘上设有方形探针卡放置台,转盘上设有定位杆穿过方形探针卡放置台;所述三维探针台主体内还安装有气缸,所述气缸的活塞杆与基台连接;
优选的,所述所述基台上还安装有与蜗轮相啮合的蜗杆。
优选的,所述蜗杆端部设有微调旋钮。
优选的,所述基台一侧设置有锁紧旋钮。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:本实用新型将现有的探针台分成三维探针台主体和探针卡安装台,通过升降装置控制探针卡安装台的位置,放置探针卡时将探针卡安装台升起,使得探针卡与探针卡安装台有更大的接触空间,便于放置,提高了测试效率。同时,通过相互啮合的蜗轮和蜗杆对探针卡的探针位置进行调整,提高测试精度,从而提高晶圆测试的效率。
附图说明
图1为三维探针台结构示意图;
图2为探针卡安装台俯视图;
图3为蜗轮和蜗杆结构示意图。
图中:1气缸、2三维探针台主体、3凹槽、4探针卡安装台、5定位杆、6贯穿孔、7蜗杆、8锁紧旋钮、9微调旋钮、10蜗轮、11基台、12转盘、13方形探针卡放置台、14圆形凹槽、15工件放置槽、16轴承。
具体实施方式
下面将结合本实用新型中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域技术人员在没有创造性成果的前提下获得的其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
如图所示,本实用新型提供一种技术方案:一种便于放置探针卡的三维探针台,包括三维探针台主体2和探针卡安装台4,所述三维探针台主体2上设有凹槽3,所述凹槽3内还设有放置待测晶圆的工件放置槽15;所述探针卡安装台4包括基台11,所述基台11上设有圆形凹槽14,圆形凹槽14内设有通孔6,所述通孔6内安装有轴承16,轴承16上安装有蜗轮10,所述蜗轮10上安装有转盘12,所述转盘12上设有方形探针卡放置台13,转盘12上设有与探针卡定位孔对应的定位杆5穿过方形探针卡放置台13,定位杆5用于固定方形探针卡放置台13和探针卡。
所述三维探针台主体2内还安装有利用电气控制的气缸1,所述气缸1的活塞杆与基台11连接,通过气缸1控制基台11的升降,所述所述基台11上还安装有与蜗轮10相啮合的蜗杆7,通过蜗杆7可使蜗轮10转动从而带动转盘12转动,通过蜗杆7端部的微调旋钮可精确调节探针卡的探针的位置,并通过基台11上设有的锁紧旋钮8将蜗杆7锁紧固定。
所述蜗轮10、转盘12和方形探针卡放置台13上还设有与通孔6同轴且半径相同的通孔,使得探针卡的探针能够穿过通孔与待测晶圆接触。
本实用新型在工作时利用气缸1将探针卡安装台4升起到三维探针台主体2的上方,将探针卡放置在探针卡放置台13上,使得探针卡的定位孔与转盘12上的定位杆5对应,将探针卡固定,通过蜗杆7带动蜗轮10转动使转盘12转动,将探针卡的探针调整到合适的位置;
通过气缸1将探针卡安装台4降下,使探针卡安装台4进入凹槽3,通过微调旋钮9将探针卡的探针调整到准确位置后,通过基台11一侧的锁紧旋钮8进行锁紧固定,探针卡放置完成。探针卡的探针与放置在工件放置槽15内待测晶圆接触连接,探针卡表面的线路与相应的测试仪器连接,即可实现对待测晶圆的晶片允收测试。
虽然本实用新型已按照上述具体实施方式做了描述,但是本实用新型的发明思想并不限于此实用新型,任何运用本实用新型思想的改进,都将纳入本专利专利权利的保护范围内。
Claims (5)
1.一种便于放置探针卡的三维探针台,包括三维探针台主体(2)和探针卡安装台(4),其特征在于:所述三维探针台主体(2)上设有凹槽(3),所述凹槽(3)内还设有工件放置槽(15);
所述探针卡安装台(4)包括基台(11),所述基台(11)上设有圆形凹槽(14),圆形凹槽(14)内设有通孔(6),所述通孔(6)内安装有轴承(16),轴承(16)上安装有蜗轮(10),所述蜗轮(10)上安装有转盘(12),所述转盘(12)上设有方形探针卡放置台(13),转盘(12)上设有定位杆(5)穿过方形探针卡放置台(13);所述三维探针台主体(2)内还安装有气缸(1),所述气缸(1)的活塞杆与基台(11)连接。
2.根据权利要求1所述的一种便于放置探针卡的三维探针台,其特征在于:所述基台(11)上还安装有与蜗轮(10)相啮合的蜗杆(7)。
3.根据权利要求1所述的一种便于放置探针卡的三维探针台,其特征在于:所述蜗轮(10)、转盘(12)和方形探针卡放置台(13)上还设有与通孔(6)同轴且半径相同的通孔。
4.根据权利要求2所述的一种便于放置探针卡的三维探针台,其特征在于:所述蜗杆(7)端部设有微调旋钮(9)。
5.根据权利要求1所述的一种便于放置探针卡的三维探针台,其特征在于:所述基台(11)一侧设置有锁紧旋钮(8)。
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