CN212322951U - 测力推拉设备的夹具 - Google Patents

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杨全忠
周名旷
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FOSHAN BLUE ROCKET ELECTRONICS CO LTD
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Abstract

本实用新型属于半导体封装设备领域,特别是一种测力推拉设备的夹具,包括上压板和下托板,在上压板的中间设置方孔,在方孔的四周设置斜面,在方孔的下方设置若干突条,在突条的两侧设置定位条,下托板的四个角为倒角,在下托板上设置两个突块,突块的四个角为倒角,两个突块之间形成下沉槽。本实用新型操作简单便捷,能够提高测量精确度和精准度,并且不会损坏封装框架。

Description

测力推拉设备的夹具
技术领域
本实用新型属于半导体封装设备领域,特别是一种测力推拉设备的夹具。
背景技术
半导体晶体管封装时,需要对封装框架的芯片与支架与内引线之间的焊接力度进行测试,一般利用专业的测力推拉设备来进行,其配有一个台钳,夹住封装框架然后进行测试,存在的问题是,台钳在收紧时力度过大容易造成封装框架变形,力度过小又夹不稳封装框架,还有根据受力面积越小受力越大的原理,封装框架的芯片与支架的焊接力比封装框架的支架弯曲韧性力还大,导致台钳在推焊接力时,焊接力还没测试出来,便将封装框架的支架推折了。
发明内容
为了克服上述现有技术的缺陷,本实用新型提出一种测力推拉设备的夹具,操作简单便捷,能够提高测量精确度和精准度,并且不会损坏封装框架。本实用新型所要解决的技术问题是通过如下技术方案实现的:
一种测力推拉设备的夹具,包括上压板和下托板,在上压板的中间设置方孔,在方孔的四周设置斜面,在方孔的下方设置若干突条,在突条的两侧设置定位条,下托板的四个角为倒角,在下托板上设置两个突块,突块的四个角为倒角,两个突块之间形成下沉槽。
进一步地,突条的数量为3条-18条。
进一步地,突条的宽度为0.3mm-1mm。
进一步地,两两突条的间距范围为1mm-4mm。
具体地,在上压板上设置安装螺孔。
本实用新型操作简单便捷,能够提高测量精确度和精准度。
附图说明
图1为本实用新型上压板的结构示意图;
图2为上压板的仰视图;
图3为本实用新型下托板的结构示意图;
图4为上压板与下托板的配合示意图;
图5为本实用新型的使用示意图。
具体实施方式
图1为本实用新型上压板的结构示意图;图2为上压板的仰视图;图3为本实用新型下托板的结构示意图;图4为上压板与下托板的配合示意图。结合图1至4所示,一种测力推拉设备的夹具,包括上压板1和下托板2,在上压板1的中间设置方孔3,在方孔3的四周设置斜面4,斜面4与方孔3形成“观测窗口”,斜面4的作用是使得使用者更容易观测;在方孔3的下方设置若干突条5,在突条5的两侧设置定位条6,下托板2的四个角为倒角,在下托板2上设置两个突块7,突块7的四个角为倒角,两个突块7之间形成下沉槽8,定位条6与下沉槽8相配合,定位条6定位在下沉槽8的两侧边缘处。
本实施例的突条5的数量为7条,突条5的宽度为0.5mm,两两突条5的间距为2.3mm,本实施例的突条5的数量为7条;在上压板1上设置安装螺孔9,安装螺孔9与测力推拉设备的上下活动部件固定连接,下托板2通过玻珠螺丝与测力推拉设备的测试台固定连接。
图5为本实用新型的使用示意图,如图5所示,本实用新型工作过程如下:将测力推拉设备的上下活动部件调高,从而带动上压板1向上运动,然后将封装框架10顺着下托板2的突块7的倒角插入到下托板2的下沉槽8内,然后调低测力推拉设备的上下活动部件,从而带动上压板1向下运动,将封装框架10压牢在下托板2的下沉槽8内,然后便可以通过斜面4与方孔3形成的“观测窗口”进行测试;当测试完后,按照相反顺序将封装框架10取出,然后另一封装框架10按上述操作如此循环。
总之,本实用新型操作简单便捷,能够提高测量精确度和精准度,并且不会损坏封装框架。

Claims (5)

1.一种测力推拉设备的夹具,其特征是,包括上压板和下托板,在所述上压板的中间设置方孔,在所述方孔的四周设置斜面,在所述方孔的下方设置若干突条,在所述突条的两侧设置定位条,所述下托板的四个角为倒角,在所述下托板上设置两个突块,所述突块的四个角为倒角,两个突块之间形成下沉槽。
2.根据权利要求1所述的测力推拉设备的夹具,其特征是,所述突条的数量为3条-18条。
3.根据权利要求2所述的测力推拉设备的夹具,其特征是,所述突条的宽度为0.3mm-1mm。
4.根据权利要求2所述的测力推拉设备的夹具,其特征是,两两所述突条的间距范围为1mm-4mm。
5.根据权利要求1所述的测力推拉设备的夹具,其特征是,在所述上压板上设置安装螺孔。
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