CN216979133U - 一种芯片测试用夹具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片测试用夹具，包括夹具台，夹具台的底端固定有支撑板，夹具台的底端安装有顶紧板，夹具台的底端开有夹紧槽。本实用新型通过限位板对芯片的放置位置进行限位定位，并通过顶紧板带动，准确进入夹紧槽内部，通过顶紧柱对芯片的四角准确夹紧，而且，夹紧柱通过弹簧设置在夹紧槽内部，具有弹性缓冲能力，可以保护芯片，避免芯片被夹伤。在测试孔的内表面安装照明灯，对夹紧在夹紧槽内部的芯片照明，使得芯片的表面清晰，利于测试。芯片通过支撑块放置，与下方的顶紧板之间留有间距，与上方的夹具台也留有间距，方便取放芯片。

Description

一种芯片测试用夹具

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种芯片测试用夹具。

背景技术

在生产芯片时，为了实现芯片的高效生产，需要将芯片固定在夹具中进行测试；芯片测试用夹具是一种用于将加工得到的独立芯片进行固定，以便检测装置对其进行测试的设备，其在芯片测试的领域中得到了广泛的使用。

现有的芯片测试用夹具，芯片在进行夹紧的过程中，不能准确定位，容易出现位置偏差，导致芯片出现夹伤的情况，而且，芯片的测试，不方便快速放置和收取，影响测试效率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片测试用夹具，以解决芯片在进行夹紧的过程中，不能准确定位，容易出现位置偏差，导致芯片出现夹伤的情况的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片测试用夹具，包括夹具台，所述夹具台的底端固定有支撑板，所述夹具台的底端安装有顶紧板，所述夹具台的底端开有夹紧槽。

优选的，所述夹具台的中间开有测试孔，所述测试孔的侧面安装有照明灯。

优选的，所述夹紧槽为矩形环槽结构，所述夹紧槽的顶端开有弹簧槽，所述弹簧槽的顶端连接有弹簧。

优选的，所述弹簧槽的内部插入有顶紧柱，所述顶紧柱的顶端与弹簧的底端连接，所述顶紧柱竖直向下。

优选的，所述支撑板位于夹具台底端的两侧，所述支撑板的底端固定有底板，所述底板的顶端安装有电动伸缩杆，所述顶紧板固定在电动伸缩杆的顶端。

优选的，所述顶紧板的顶端固定有限位板，所述限位板的截面为直角L型结构，所述限位板位于所述顶紧板的四角处。

优选的，所述限位板的内表面固定有支撑块，所述支撑块的顶端放置有芯片，所述芯片的顶端与限位板的顶端平齐。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1.本实用新型通过限位板固定在顶紧板的四角处，对芯片的放置位置进行限位定位，并通过顶紧板带动，准确进入夹紧槽内部，通过顶紧柱对芯片的四角准确夹紧，而且，夹紧柱通过弹簧设置在夹紧槽内部，具有弹性缓冲能力，可以保护芯片，避免芯片被夹伤。

2.本实用新型在测试孔的内表面安装照明灯，对夹紧在夹紧槽内部的芯片照明，使得芯片的表面清晰，利于测试。

3.本实用新型芯片通过支撑块放置，与下方的顶紧板之间留有间距，与上方的夹具台也留有间距，方便取放芯片。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型图1的A-A方向剖视图；

图3为本实用新型图1的B-B方向剖视图。

图中：1、夹具台；2、夹紧槽；3、支撑块；4、顶紧板；5、电动伸缩杆；6、底板；7、支撑板；8、限位板；9、芯片；10、弹簧槽；11、测试孔；12、照明灯；13、弹簧；14、顶紧柱。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例1

请参阅图1、图2和图3，图示中的一种芯片测试用夹具，包括夹具台1，夹具台1为矩形结构，夹具台1的底端固定有支撑板7，夹具台1的底端安装有顶紧板4，夹具台1的底端开有夹紧槽2，夹紧槽2的长宽和顶紧板4的长宽相等

夹紧槽2为矩形环槽结构，夹紧槽2的顶端开有弹簧槽10，弹簧槽10的顶端连接有弹簧13；弹簧槽10的内部插入有顶紧柱14，顶紧柱14的顶端与弹簧13的底端连接，顶紧柱14采用橡胶材质，可以保护芯片9的表面，顶紧柱14竖直向下。用于顶紧芯片9。

支撑板7位于夹具台1底端的两侧，支撑板7的底端固定有底板6，底板6水平设置，底板6的顶端安装有电动伸缩杆5，电动伸缩杆5位于底板6的中间，顶紧板4固定在电动伸缩杆5的顶端，并与底板6平行。

顶紧板4的顶端固定有限位板8，限位板8的截面为直角L型结构，限位板8位于顶紧板4的四角处，并与顶紧板4垂直；限位板8的内表面固定有支撑块3，支撑块3的顶端放置有芯片9，芯片9的四角与限位板8连接，芯片9的顶端与限位板8的顶端平齐。

本芯片测试用夹具，使用时：顶紧板4安装夹具台1的下方，并通过电动伸缩杆5支撑，且与夹紧槽2上下对齐；限位板8固定在顶紧板4的四角处，芯片9放置在支撑块3上，同时，限位板8对芯片9的放置位置进行限位定位。

电动伸缩杆5带动顶紧板4上升，顶紧板4带动芯片9向夹紧槽2靠近，并准确进入夹紧槽2内部；同时，顶紧柱14对芯片9的四角准确夹紧，而且，顶紧柱14通过弹簧13设置在夹紧槽2内部，具有弹性缓冲能力，可以保护芯片9，避免芯片9被夹伤。

实施例2

请参阅图1和图2，本实施方式对于实施例1进一步说明，图示中的一种芯片测试用夹具，包括夹具台1，夹具台1的底端固定有支撑板7，夹具台1的底端安装有顶紧板4，夹具台1的底端开有夹紧槽2。

夹具台1的中间开有测试孔11，测试孔11为矩形结构，测试孔11的侧面安装有照明灯12，照明灯12环绕在测试孔11的内表面，不突出测试孔11。

本实施方案中，进行测试时，在测试孔11的内表面安装照明灯12，对测试槽11内部进行照明，利于观察测试。

实施例3

请参阅图1和图2，本实施方式对于其它实施例进一步说明，图示中的一种芯片测试用夹具，包括夹具台1，夹具台1的底端固定有支撑板7，夹具台1的底端安装有顶紧板4，夹具台1的底端开有夹紧槽2。

顶紧板4的顶端固定有限位板8，限位板8的截面为直角L型结构，限位板8位于顶紧板4的四角处；限位板8的内表面固定有支撑块3，支撑块3的顶端放置有芯片9，芯片9的顶端与限位板8的顶端平齐；芯片9与下方的顶紧板4留有间距，并与上方夹紧槽2留有间距。

本实施方案中，芯片9通过支撑块3放置，与下方的顶紧板4之间留有间距，与上方的夹具台1也留有间距，方便取放芯片9。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (4)

1.一种芯片测试用夹具，其特征在于，包括：夹具台(1)，所述夹具台(1)的底端固定有支撑板(7)，所述夹具台(1)的底端安装有顶紧板(4)，所述夹具台(1)的底端开有夹紧槽(2)，所述夹紧槽(2)为矩形环槽结构，所述夹紧槽(2)的顶端开有弹簧槽(10)，所述弹簧槽(10)的顶端连接有弹簧(13)，所述弹簧槽(10)的内部插入有顶紧柱(14)，所述顶紧柱(14)的顶端与弹簧(13)的底端连接，所述顶紧柱(14)竖直向下，所述顶紧板(4)的顶端固定有限位板(8)，所述限位板(8)的截面为直角L型结构，所述限位板(8)位于所述顶紧板(4)的四角处。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试用夹具，其特征在于：所述夹具台(1)的中间开有测试孔(11)，所述测试孔(11)的侧面安装有照明灯(12)。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试用夹具，其特征在于：所述支撑板(7)位于夹具台(1)底端的两侧，所述支撑板(7)的底端固定有底板(6)，所述底板(6)的顶端安装有电动伸缩杆(5)，所述顶紧板(4)固定在电动伸缩杆(5)的顶端。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试用夹具，其特征在于：所述限位板(8)的内表面固定有支撑块(3)，所述支撑块(3)的顶端放置有芯片(9)，所述芯片(9)的顶端与限位板(8)的顶端平齐。

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