CN212111666U - 一种电机驱动的ic测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提出了一种电机驱动的IC测试装置，包括支撑架、电机、丝杆、丝杆螺母、测试基座，电机固定在支撑架的上端，丝杆和电机的驱动轴连接，丝杆螺母与丝杆螺纹连接，丝杆螺母上设有下压联接件，下压联接件下方设有导轨，下压联接件与导轨之间设有安装口，导轨位于测试基座的上方。本实用新型所提供的一种电机驱动的IC测试装置，其上的电机在下压到达固定值后，电机自动反转向上运动，如遇IC放置不到位或引脚变形而导致下压力超出固定值，电机会自动通知系统发出报警，从而防止了因下压力过大而导致产品弯脚、变形、破损等批量不良现象。

Description

一种电机驱动的IC测试装置

技术领域

本实用新型涉及测试装置技术领域，具体为一种电机驱动的IC测试装置。

背景技术

目前市场上IC测试装置无法精确控制下压压入量，压入力超过限定值无法及时检出，导致产品弯脚、变形、破损等批量不良现象。

实用新型内容

针对背景技术中指出的问题，本实用新型提出一种能够精确控制下压压入量，实时监测压入力，压入力超过限定值报警的一种电机驱动的IC测试装置。

本实用新型的技术方案是这样实现的：

一种电机驱动的IC测试装置，其特征在于：包括支撑架、电机、丝杆、丝杆螺母、测试基座、下压联接件、测试位导轨底、导轨上盖、滑轨、滑块，所述电机固定在所述支撑架的上端；所述丝杆与所述电机的驱动轴连接；所述丝杆螺母与所述丝杆螺纹连接；所述丝杆螺母上设有下压联接件；所述滑轨安装在所述支撑架的侧面，所述滑块与所述滑轨滑动连接并在所述滑轨上下滑动；所述丝杆螺母与滑块保持平行且处于同一平面，同时由下压联接件连接做垂直作上下运动；所述测试位导轨底安装在所述下压联接件下方，所述导轨上盖安装在所述测试位导轨底上方，IC从所述测试位导轨底和所述导轨上盖之间顺滑通过；所述测试基座安装在安装板上并为固定状态；所述测试位导轨底位于所述测试基座的上方并作上下运动。

本实用新型进一步设置为：所述电机与所述丝杆之间采用连轴器连接。

本实用新型进一步设置为：所述测试基座固定安装在安装板上，所述测试基座上设有与IC的引脚对应设置的测试簧片，电机带动测试位导轨底上下运动，测试位于所述导轨中的IC，所述电机运动到固定位置停止，IC的引脚正好与测试基座相对应的每一个测试簧片充分接触，所述IC的引脚与所述测试簧片充分接触的力为系统设置电机固定值，下压力超过此固定值，电机就会通知系统报警。

综上所述，本实用新型的有益效果为：本实用新型所提供的一种电机驱动的IC测试装置，电机驱动丝杆运动，丝杆螺母与滑块带动下压联接件，同时连带测试位导轨向下运动，运动至IC的引脚正好与测试基座相对应的测试簧片充分接触，电机下压到达固定值，电机自动反转向上运动，如遇IC放置不到位或引脚变形而导致下压力超出固定值，电机会自动通知系统发出报警。从而防止了因下压力过大而导致产品弯脚、变形、破损等批量不良现象。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型的结构示意图。

附图标记：1、支撑架；2、电机；3、丝杆；4、丝杆螺母；5、测试基座； 6、连轴器；7、下压联接件；8、测试位导轨底；9、导轨上盖；10、滑轨；11、滑块；12、IC。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

如下参考图1对本实用新型进行说明：

一种电机驱动的IC测试装置，包括支撑架1、电机2、丝杆3、丝杆螺母4、测试基座5、下压联接件7、测试位导轨底8、导轨上盖9、滑轨10、滑块11，所述电机2固定在所述支撑架1的上端；所述电机2与所述丝杆3之间采用连轴器6连接。所述丝杆螺母4与所述丝杆3螺纹连接；所述丝杆螺母4上设有下压联接件7；所述滑轨10安装在所述支撑架1的侧面，所述滑块11与所述滑轨10滑动连接并在所述滑轨10上下滑动；所述丝杆螺母4与滑块11保持平行且处于同一平面，同时由下压联接件7连接做垂直作上下运动；所述测试位导轨底8安装在所述下压联接件7下方，所述导轨上盖9安装在所述测试位导轨底8上方，IC12从所述测试位导轨底8和所述导轨上盖9之间顺滑通过；所述测试基座5安装在安装板上并为固定状态；所述测试位导轨底8位于所述测试基座5的上方并作上下运动。

所述测试基座5固定安装在安装板上，所述测试基座5上设有与IC的引脚对应设置的测试簧片(图中未标出)，电机2带动测试位导轨底8上下运动，测试位于所述导轨中的IC，所述电机2运动到固定位置停止，IC12的引脚正好与测试基座5相对应的每一个测试簧片充分接触，所述IC12的引脚与所述测试簧片充分接触的力为系统设置电机2固定值，下压力超过此固定值，电机2就会通知系统报警。

以上所述的仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (3)

1.一种电机驱动的IC测试装置，其特征在于：包括支撑架(1)、电机(2)、丝杆(3)、丝杆螺母(4)、测试基座(5)、下压联接件(7)、测试位导轨底(8)、导轨上盖(9)、滑轨(10)、滑块(11)，所述电机(2)固定在所述支撑架(1)的上端；所述丝杆(3)与所述电机(2)的驱动轴连接；所述丝杆螺母(4)与所述丝杆(3)螺纹连接；所述丝杆螺母(4)上设有下压联接件(7)；所述滑轨(10)安装在所述支撑架(1)的侧面，所述滑块(11)与所述滑轨(10)滑动连接并在所述滑轨(10)上下滑动；所述丝杆螺母(4)与滑块(11)保持平行且处于同一平面，同时由下压联接件(7)连接做垂直作上下运动；所述测试位导轨底(8)安装在所述下压联接件(7)下方，所述导轨上盖(9)安装在所述测试位导轨底(8)上方，IC从所述测试位导轨底(8)和所述导轨上盖(9)之间顺滑通过；所述测试基座(5)安装在安装板上并为固定状态；所述测试位导轨底(8)位于所述测试基座(5)的上方并作上下运动。

2.根据权利要求1所述的一种电机驱动的IC测试装置，其特征在于：所述电机(2)与所述丝杆(3)之间采用连轴器(6)连接。

3.根据权利要求1所述的一种电机驱动的IC测试装置，其特征在于：所述测试基座(5)固定安装在所述安装板上，所述测试基座(5)上设有与IC的引脚对应设置的测试簧片，测试时，IC的引脚所述测试簧片充分接触。

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