CN212109919U - 一种陶瓷平整度检测装置 - Google Patents

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李栋
高慧娟
温茂
牟永利
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Abstract

本实用新型公开了一种陶瓷平整度检测装置,包括架体,所述架体的上表面固定连接有支脚,所述架体的数量为两个,两个所述架体之间活动连接有主动轮,两个所述架体之间卡接有从动轮,两个所述主动轮之间活动连接有输送带,所述架体的上表面固定连接有固定块,所述固定块的上表面开设有滑槽,所述滑槽的表面活动连接有支杆,所述固定块的一侧开设有开口。该陶瓷平整度检测装置,通过伸缩杆可调节高度能够检查不同厚度的瓷砖解决了瓷砖厚度有差异的情况,通过集光板能呈现激光灯发射出的激光,能够完成平整度的检查,通过主动轮能够通过动力,通过收集台能够收集检测的检查的瓷砖,通过调节器能够调节伸缩杆的高度。

Description

一种陶瓷平整度检测装置
技术领域
本实用新型涉及检测装置技术领域,具体为一种陶瓷平整度检测装置。
背景技术
瓷砖是一种重要的建筑用材料,在家庭装修中,瓷砖的应用领域越来越广,瓷砖通常被用来贴合在墙面、地面、室内外用来保护建筑的墙壁和地面以及增加美观度。为了保证使用效果,除了要保证瓷砖的色泽、强度耐磨、光滑、易清洗满足要求以外,瓷砖的整体平整度也是重要的参数之一,在对瓷砖进行质量检测时,因为瓷砖在制作毛坯、烧制的过程中,通常会出现由于弯曲变形,导致瓷砖表面不够平整,从而导致瓷砖产品报废。
在生产过程中需要在瓷砖表面抛光后及时检测出这些质量缺陷并挑出次品。传统的陶瓷砖平整度检测主要是通过人工测量方式,其方法是用平整度尺在陶瓷砖的表面检测其四边及中心位置,这种方式的检测效率低,劳动强度大,测量误差大,不利于在大批量的陶瓷砖生产线上进行检测,并且不能检测不同厚度的瓷砖。
实用新型内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足,本实用新型提供了一种陶瓷平整度检测装置,解决了上述背景技术中提出的问题。
(二)技术方案
为实现以上目的,本实用新型通过以下技术方案予以实现:一种陶瓷平整度检测装置,包括架体,所述架体的下表面固定连接有支脚,所述架体的数量为两个,两个所述架体之间活动连接有主动轮,两个所述架体之间卡接有从动轮,两个所述主动轮之间活动连接有输送带,所述架体的上表面固定连接有固定块,所述固定块的上表面开设有滑槽,所述滑槽的表面活动连接有支杆,所述固定块的一侧开设有开口,所述支杆的上表面滑动连接有伸缩杆,所述伸缩杆的上表面固定连接有激光灯,所述激光灯的型号为DLLM0055。
可选的,所述支杆的一侧开设有螺孔,所述螺孔的表面螺纹连接有调节器。
可选的,所述调节器的另一端卡接有伸缩杆,所述调节器的一侧滑动连接有开口。
可选的,所述支杆的上表面设置有伸缩杆,所述伸缩杆的一侧固定连接有集光板。
可选的,所述支脚的数量为六个,六个所述支脚呈矩形阵列的形式排列在架体的下表面。
可选的,所述架体的一侧固定连接有横杆,所述横杆的上表面通过支块固定连接有收集台,所述收集台的上表面设置有缓冲垫,所述支块的表面固定连接有减震弹簧。
(三)有益效果
本实用新型提供了一种陶瓷平整度检测装置,具备以下有益效果:
该陶瓷平整度检测装置,通过伸缩杆可调节高度能够检查不同厚度的瓷砖解决了瓷砖厚度有差异的情况,通过集光板能呈现激光灯发射出的激光,能够完成平整度的检查,通过主动轮能够通过动力,通过收集台能够收集检测的检查的瓷砖,通过调节器能够调节伸缩杆的高度,通过缓冲垫能够防止瓷砖破损。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图;
图2为本实用新型支杆剖面结构示意图;
图3为本实用新型图1中A处放大结构示意图。
图中:1、架体;2、支脚;3、主动轮;4、从动轮;5、输送带;6、固定块;7、滑槽;8、支杆;9、开口;10、伸缩杆;11、激光灯;12、调节器; 13、集光板;14、横杆;15、收集台;16、缓冲垫;17、减震弹簧。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。
请参阅图1至图3,本实用新型提供一种技术方案:一种陶瓷平整度检测装置,包括架体1,架体1的下表面固定连接有支脚2,架体1的数量为两个,两个架体1之间活动连接有主动轮3,两个架体1之间卡接有从动轮4,两个主动轮3之间活动连接有输送带5,架体1的上表面固定连接有固定块6,固定块6的上表面开设有滑槽7,滑槽7的表面活动连接有支杆8,固定块6的一侧开设有开口9,支杆8的上表面滑动连接有伸缩杆10,伸缩杆10的上表面固定连接有激光灯11,通过伸缩杆10可调节高度能够检查不同厚度的瓷砖解决了瓷砖厚度有差异的情况,通过集光板13能呈现激光灯11发射出的激光,能够完成平整度的检查,通过主动轮3能够通过动力,通过收集台15能够收集检测的检查的瓷砖,通过调节器12能够调节伸缩杆10的高度,通过缓冲垫16能够防止瓷砖破损;
激光灯11的型号为DLLM0055,支杆8的一侧开设有螺孔,螺孔的表面螺纹连接有调节器12,调节器12的另一端卡接有伸缩杆10,调节器12的一侧滑动连接有开口9,支杆8的上表面设置有伸缩杆10,伸缩杆10的一侧固定连接有集光板13,支脚2的数量为六个,六个支脚2呈矩形阵列的形式排列在架体1的下表面,架体1的一侧固定连接有横杆14,横杆14的上表面通过支块固定连接有收集台15,收集台15的上表面设置有缓冲垫16,支块的表面固定连接有减震弹簧17。
作为本实用新型的一种优选技术方案:在技术支持的情况下可以将集成板换成感光器。
该文中出现的电器元件均与外界的主控器及220V市电电连接,并且主控器可为计算机等起到控制的常规已知设备。
使用说明,该陶瓷平整度检测装置,该装置安装完成后,主动轮3由电机或其它动力驱使,转动带动输送带5,依据陶瓷砖的标准尺寸调整第一个伸缩杆10的高度,使激光灯11发射出的激光为标准尺寸允许误差的上限高度,调整另一侧的伸缩杆10的高度,使集光板13能呈现激光灯11发射出的激光,即可完成平整度的检测。
以上所述,仅为本实用新型较佳的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种陶瓷平整度检测装置,包括架体(1),其特征在于:所述架体(1)的下表面固定连接有支脚(2),所述架体(1)的数量为两个,两个所述架体(1)之间活动连接有主动轮(3),两个所述架体(1)之间卡接有从动轮(4),两个所述主动轮(3)之间活动连接有输送带(5),所述架体(1)的上表面固定连接有固定块(6),所述固定块(6)的上表面开设有滑槽(7),所述滑槽(7)的表面活动连接有支杆(8),所述固定块(6)的一侧开设有开口(9),所述支杆(8)的上表面滑动连接有伸缩杆(10),所述伸缩杆(10)的上表面固定连接有激光灯(11),所述激光灯(11)的型号为DLLM0055。
2.根据权利要求1所述的一种陶瓷平整度检测装置,其特征在于:所述支杆(8)的一侧开设有螺孔,所述螺孔的表面螺纹连接有调节器(12)。
3.根据权利要求2所述的一种陶瓷平整度检测装置,其特征在于:所述调节器(12)的另一端卡接有伸缩杆(10),所述调节器(12)的一侧滑动连接有开口(9)。
4.根据权利要求1所述的一种陶瓷平整度检测装置,其特征在于:所述支杆(8)的上表面设置有伸缩杆(10),所述伸缩杆(10)的一侧固定连接有集光板(13)。
5.根据权利要求1所述的一种陶瓷平整度检测装置,其特征在于:所述支脚(2)的数量为六个,六个所述支脚(2)呈矩形阵列的形式排列在架体(1)的下表面。
6.根据权利要求1所述的一种陶瓷平整度检测装置,其特征在于:所述架体(1)的一侧固定连接有横杆(14),所述横杆(14)的上表面通过支块固定连接有收集台(15),所述收集台(15)的上表面设置有缓冲垫(16),所述支块的表面固定连接有减震弹簧(17)。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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