CN212008815U - 一种可控硅测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种可控硅测试装置。它包括测试台、安装槽、检测仪、推送装置和分选机构，安装槽、检测仪和推送装置均设置在测试台上，晶闸管包括管体和连接在管体上的引脚，引脚下表面到管体下表面的距离不大于安装槽的深度，检测仪包括与引脚匹配的检测板，推送装置推送晶闸管使得引脚与检测板接触，分选机构包括落料板、分选板、用于控制落料板的落料驱动装置和用于控制分选板的分选驱动装置，检测仪连接有用于控制落料驱动装置和分选驱动装置的控制器。本实用新型的有益之处在于：通过推送装置将待检测的晶闸管推入检测槽，此时晶闸管的引脚正好与检测仪上的检测板接触，减少了对晶闸管手工定位的步骤，能够提高检测效率。

Description

一种可控硅测试装置

技术领域

本实用新型涉及了半导体检测领域，具体的是一种可控硅测试装置。

背景技术

可控硅(Silicon Controlled Rectifier)简称SCR，是一种大功率电器元件，也称晶闸管。它具有体积小、效率高、寿命长等优点。在出厂之前或使用之前需要对晶闸管进行检测，保证其能正常使用。现有的检测方法一般是通过线钳等工具夹持晶闸管的引脚进行检测，但是由于引脚的尺寸很小，夹持难度大，导致检测效率低，而且容易在检测过程中对引脚造成损坏。

发明内容

为了克服现有技术中的至少部分缺陷，本实用新型实施例提供了一种可控硅测试装置，其结构简单，使用方便，检测效率高，能够有效避免在检测中损坏晶闸管。

本申请实施例公开了：一种可控硅测试装置，用于平板式晶闸管的测试，所述可控硅测试装置包括测试台、安装槽、检测仪、推送装置和分选机构，所述安装槽、检测仪和推送装置均设置在所述测试台上，所述晶闸管包括管体和连接在所述管体上的引脚，所述引脚下表面到所述管体下表面的距离不大于所述安装槽的深度，所述检测仪包括与所述引脚匹配的检测板，所述推送装置推送所述晶闸管使得所述引脚与所述检测板接触，所述分选机构包括落料板、分选板、用于控制所述落料板的落料驱动装置和用于控制所述分选板的分选驱动装置，所述检测仪连接有用于控制所述落料驱动装置和所述分选驱动装置的控制器，所述落料板设置在所述安装槽的底部，所述落料驱动装置包括驱动所述落料板转动的落料驱动轴，所述分选板设置在所述落料板的下方，所述分选板的下表面的中轴线上连接有分选驱动轴，所述分选驱动轴与所述分选驱动装置连接，在所述分选机构下方设置有成品槽和废品槽，所述成品槽所述废品槽分别设置在所述分选板的两侧。

进一步地，所述推送装置和所述检测仪分别设置在所述安装槽的两侧，所述推送装置包括推动气缸、连接在所述推动气缸上的推动杆以及连接在所述推动杆上的推板，所述推板上形成有与所述晶闸管宽度一致的顶推部，在顶推部的右侧连接有缓冲垫。

进一步地，所述检测板上开设有与所述引脚匹配的锥形孔，所述锥形孔的中轴线与所述检测板垂直。

进一步地，所述推动气缸、所述检测仪、所述落料驱动装置、分选驱动装置均与所述控制器信号连接。

进一步地，所述落料驱动装置和所述分选驱动装置均为电控马达，所述电控马达与所述控制器信号连接。

进一步地，所述成品槽和所述废品槽上均连接有承接检测后的所述晶闸管的导向通道，所述导向通道的截面呈U形。

进一步地，所述测试台下方连接有垂直于所述测试台的下表面的支撑板，在所述支撑板上开设有匹配所述落料驱动轴和分选驱动轴的通孔，所述成品槽和所述废品槽均连接在所述支撑板上。

进一步地，所述支撑板上开设有匹配所述成品槽的第一出料口和匹配所述废品槽的第二出料口，在所述第一出料口和第二出料口上均设置有铰接在所述支撑板上的挡块。

进一步地，所述检测仪下方连接有安装板，所述安装板与所述测试台可活动的连接在一起。

进一步地，所述安装板两侧开设有条形槽，在所述测试台上开设有螺纹孔，所述条形槽内设置有匹配所述螺纹孔的安装螺栓，所述安装板通过所述安装螺栓连接在所述测试台上。

本实用新型的有益效果如下：本实用新型涉及的可控硅测试装置，包括测试台、安装槽、检测仪、推送装置和分选机构，安装槽、检测仪和推送装置均设置在测试台上，晶闸管包括管体和连接在管体上的引脚，引脚下表面到管体下表面的距离不大于安装槽的深度，检测仪包括与引脚匹配的检测板，通过推送装置将待检测的晶闸管推入检测槽，此时晶闸管的引脚正好与检测仪上的检测板接触，减少了对晶闸管手工定位的步骤，能够提高检测效率；另外，由于，引脚下表面到管体下表面的距离不大于安装槽的深度，可以防止晶闸管的引脚与安装槽的侧壁发生碰撞，从而防止晶闸管在检测过程中发生损坏，除此之外，所述分选机构包括落料板、分选板、用于控制所述落料板的落料驱动装置和用于控制所述分选板的分选驱动装置，通过落料板和分选板的设置能够方便的将检测好的晶闸管输送到指定位置，筛选效率高。

为让本实用新型的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型实施例中的可控硅测试装置结构示意图。

图2是图1中测试仪的安装结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

参照图1和图2，在本实用新型一较佳实施例中的一种可控硅测试装置，用于平板式晶闸管6的测试，所述可控硅测试装置包括测试台1、安装槽2、检测仪3、推送装置4和分选机构5，所述安装槽2、检测仪3和推送装置4均设置在所述测试台1上，所述晶闸管6包括管体61和连接在所述管体61上的引脚62，所述引脚62下表面到所述管体61下表面的距离不大于所述安装槽2的深度，所述检测仪3包括与所述引脚62匹配的检测板31，所述推送装置4推送所述晶闸管6使得所述引脚62与所述检测板31接触，所述分选机构5包括落料板51、分选板52、用于控制所述落料板51的落料驱动装置53和用于控制所述分选板52 的分选驱动装置54，所述检测仪3连接有用于控制所述落料驱动装置53和所述分选驱动装置54的控制器7，所述落料板51设置在所述安装槽2的底部，所述落料驱动装置53包括驱动所述落料板51转动的落料驱动轴531，所述分选板52设置在所述落料板51的下方，所述分选板52的下表面的中轴线上连接有分选驱动轴521，所述分选驱动轴541与所述分选驱动装置54连接，在所述分选机构5下方设置有成品槽8和废品槽9，所述成品槽8所述废品槽 9分别设置在所述分选板52的两侧。通过推送装置4将待检测的晶闸管6推入检测槽2，此时晶闸管6的引脚62正好与检测仪3上的检测板31接触，减少了对晶闸管6手工定位的步骤，能够提高检测效率；另外，由于引脚62下表面到管体61下表面的距离不大于安装槽2 的深度，可以防止晶闸管6的引脚62与安装槽2的侧壁发生碰撞，从而防止晶闸管6在检测过程中发生损坏，除此之外，所述分选机构5包括落料板51、分选板52、用于控制所述落料板51的落料驱动装置53和用于控制所述分选板52的分选驱动装置54，通过落料板51 和分选板52的设置能够方便的将检测好的晶闸管6输送到指定位置，筛选效率高。

参照图1，在上述实施例中，所述推送装置4和所述检测仪3分别设置在所述安装槽2 的两侧，所述推送装置4包括推动气缸41、连接在所述推动气缸41上的推动杆42以及连接在所述推动杆42上的推板43，所述推板43上形成有与所述晶闸管6宽度一致的顶推部431，在顶推部431的右侧连接有缓冲垫(未图示)。所述推动气缸41、所述检测仪3、所述落料驱动装置53、分选驱动装置54均与所述控制器7信号连接。在实际实施的过程中，所述落料驱动装置53和所述分选驱动装置54均为电控马达，所述电控马达与所述控制器7信号连接。

参照图1，在上述实施例中，所述检测板31上开设有与所述引脚62匹配的锥形孔(未图示)，所述锥形孔的中轴线与所述检测板31垂直。通过锥形孔的设置，可以使得引脚62插入锥形孔中，加强对引脚62的定位精度，提高检测的准确性。

参照图1，在上述实施例中，所述成品槽8和所述废品槽9上均连接有承接检测后的所述晶闸管6的导向通道10，所述导向通道10的截面呈U形。通过该导向通道10的设置，方便将检测完成的晶闸管6按照实际检测结果输送到成品槽8或废品槽9中。

参照图1，在上述实施例中，所述测试台1下方连接有垂直于所述测试台1的下表面的支撑板11，在所述支撑板11上开设有匹配所述落料驱动轴531和分选驱动轴541的通孔，所述成品槽和所述废品槽均连接在所述支撑板上。

参照图1，在上述实施例中，所述支撑板11上开设有匹配所述成品槽8的第一出料口 111和匹配所述废品槽9的第二出料口112，在所述第一出料口111和第二出料口112上均设置有铰接在所述支撑板11上的挡块113。

参照图2，在上述实施例中，所述检测仪3下方连接有安装板32，所述安装板32与所述测试台1可活动的连接在一起。安装板32两侧开设有条形槽321，在所述测试台1上开设有螺纹孔(未图示)，所述条形槽321内设置有匹配所述螺纹孔的安装螺栓322，所述安装板 32通过所述安装螺栓322连接在所述测试台1上。

本实用新型中应用了具体实施例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。

Claims (10)

1.一种可控硅测试装置，用于平板式晶闸管的测试，所述可控硅测试装置包括测试台、安装槽、检测仪、推送装置和分选机构，所述安装槽、检测仪和推送装置均设置在所述测试台上，所述晶闸管包括管体和连接在所述管体上的引脚，其特征在于：所述引脚下表面到所述管体下表面的距离不大于所述安装槽的深度，所述检测仪包括与所述引脚匹配的检测板，所述推送装置推送所述晶闸管使得所述引脚与所述检测板接触，所述分选机构包括落料板、分选板、用于控制所述落料板的落料驱动装置和用于控制所述分选板的分选驱动装置，所述检测仪连接有用于控制所述落料驱动装置和所述分选驱动装置的控制器，所述落料板设置在所述安装槽的底部，所述落料驱动装置包括驱动所述落料板转动的落料驱动轴，所述分选板设置在所述落料板的下方，所述分选板的下表面的中轴线上连接有分选驱动轴，所述分选驱动轴与所述分选驱动装置连接，在所述分选机构下方设置有成品槽和废品槽，所述成品槽所述废品槽分别设置在所述分选板的两侧。

2.根据权利要求1所述的可控硅测试装置，其特征在于：所述推送装置和所述检测仪分别设置在所述安装槽的两侧，所述推送装置包括推动气缸、连接在所述推动气缸上的推动杆以及连接在所述推动杆上的推板，所述推板上形成有与所述晶闸管宽度一致的顶推部，在顶推部的右侧连接有缓冲垫。

3.根据权利要求2所述的可控硅测试装置，其特征在于：所述检测板上开设有与所述引脚匹配的锥形孔，所述锥形孔的中轴线与所述检测板垂直。

4.根据权利要求2所述的可控硅测试装置，其特征在于：所述推动气缸、所述检测仪、所述落料驱动装置、分选驱动装置均与所述控制器信号连接。

5.根据权利要求4所述的可控硅测试装置，其特征在于：所述落料驱动装置和所述分选驱动装置均为电控马达，所述电控马达与所述控制器信号连接。

6.根据权利要求1所述的可控硅测试装置，其特征在于：所述成品槽和所述废品槽上均连接有承接检测后的所述晶闸管的导向通道，所述导向通道的截面呈U形。

7.根据权利要求1所述的可控硅测试装置，其特征在于：所述测试台下方连接有垂直于所述测试台的下表面的支撑板，在所述支撑板上开设有匹配所述落料驱动轴和分选驱动轴的通孔，所述成品槽和所述废品槽均连接在所述支撑板上。

8.根据权利要求7所述的可控硅测试装置，其特征在于：所述支撑板上开设有匹配所述成品槽的第一出料口和匹配所述废品槽的第二出料口，在所述第一出料口和第二出料口上均设置有铰接在所述支撑板上的挡块。

9.根据权利要求1所述的可控硅测试装置，其特征在于：所述检测仪下方连接有安装板，所述安装板与所述测试台可活动的连接在一起。

10.根据权利要求9所述的可控硅测试装置，其特征在于：所述安装板两侧开设有条形槽，在所述测试台上开设有螺纹孔，所述条形槽内设置有匹配所述螺纹孔的安装螺栓，所述安装板通过所述安装螺栓连接在所述测试台上。

Images