CN211955223U - 测量室及具有其的样本分析仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种测量室及具有其的样本分析仪。测量室包括暗室主体，暗室主体具有容纳腔；支撑架，支撑架可活动地设置于容纳腔内，支撑架用于承载反应杯；驱动部，驱动部与支撑架相连接，驱动部可驱动支撑架转动，以使支撑架带动反应杯移动至预设位置；上盖，上盖与暗室主体相连接，上盖与支撑架之间设置有反应杯让位通道，上盖与容纳腔之间围设成密闭空间；密封部，密封部与上盖和支撑架中的至少一个相连接，密封部位于让位通道的至少一侧以减小让位通道在径向方向的宽度。使得具有该测量室的样本分析仪的体积变小，即实现了样本分析仪小型化发展，有效地提高了样本分析仪的实用性。

Description

测量室及具有其的样本分析仪

技术领域

本实用新型涉及样本分析设备技术领域，具体而言，涉及一种测量室及具有其的样本分析仪。

背景技术

以样本分析仪中的化学发光免疫仪为例，化学发光免疫分析技术是近十年来在世界范围内发展迅猛的一种高灵敏度及高特异性的分析技术，在临床实验室中用于检测血液、尿液或其它体液等样本的各项免疫指标，该原理是将抗体抗原反应与化学发光这两项技术的结合，达到高特异性和高灵敏度。在化学发光分析中，在完成样本、试剂加注和反应温育以及清洗过程后，反应容器会被放置在测量室中进行化学发光分析，具体步骤为加入发光所需要的激发底物试剂(例如分别先后加入第一种底物、第二种底物)，然后对其发光过程中产生的光子进行收集计数，从而得到测量结果。

现有技术中，全自动化学发光免疫分析仪测量装置一般由暗室、反应杯架、底物喷头、光电倍增管组件、抽废液机构等组成，其中暗室是由暗室主体、反应杯架、上盖等构成的一个环形腔体。为了适应连续加载待测反应杯的需求，反应杯的进出口(同一个开口为进口和出口)是常开的，这样容易导致外部光线进入检测工位，影响检测结果。一般在小型测量室中，反应杯放置位置较小，这样就会存在外部光线更容易进入测量室内的问题。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种测量室及具有其的样本分析仪，以解决现有技术中小型测量室容易进入外部光线的问题。

为了实现上述目的，根据本实用新型的一个方面，提供了一种测量室，包括：暗室主体，暗室主体具有容纳腔；支撑架，支撑架可活动地设置于容纳腔内，支撑架用于承载反应杯；驱动部，驱动部与支撑架相连接，驱动部可驱动支撑架转动，以使支撑架带动反应杯移动至预设位置；上盖，上盖与暗室主体相连接，上盖与支撑架之间设置有反应杯让位通道，上盖与容纳腔之间围设成密闭空间；密封部，密封部与上盖和支撑架中的至少一个相连接，密封部位于让位通道的至少一侧以减小让位通道在沿中心轴线往外延伸方向的宽度。

进一步地，密封部包括至少一个密封件组件，密封件组件包括相互配合的环形凸起和环形凹槽，环形凸起和环形凹槽中的一个与支撑架相连接，环形凸起和环形凹槽中的另一个与上盖相连接，环形凸起和环形凹槽位于让位通道的远离支撑架的旋转中心轴线的一侧，或者，环形凸起和环形凹槽位于让位通道的靠近支撑架的旋转中心轴线的一侧。

进一步地，密封部包括第一密封组件和第二密封组件，第一密封组件设置于靠近支撑架的旋转中心轴线的一侧，第二密封组件设置于远离支撑架的旋转中心轴线的一侧。

进一步地，第一密封组件包括第一环形凹槽和第一环形凸起，第一环形凹槽开设于上盖的朝向支撑架一侧的表面上，第一环形凸起与支撑架相连接，第一环形凸起延伸至第一环形凹槽内。

进一步地，第二密封组件包括第二环形凹槽和第二环形凸起，第二环形凹槽开设于上盖的朝向支撑架一侧的表面上，第二环形凸起与支撑架相连接，第二环形凸起延伸至第二环形凹槽内，第一环形凸起与第二环形凸起之间形成让位通道。

进一步地，暗室主体的中部为中空结构，部分的驱动部从暗室主体的底部延伸至中空结构内与支撑架相连接。

进一步地，驱动部包括：轴承座，轴承座与暗室主体的底部相连接；转轴，转轴的第一端通过底部轴承与轴承座相连接，转轴的第二端与支撑架相连接；同步带轮，同步带轮与转轴的第一端相连接并位于暗室主体的外侧；动力源，动力源与暗室主体相连接，动力源的输出轴通过同步带与同步带轮相连接。

进一步地，测量室还包括：顶部轴承，顶部轴承设置于支撑架与上盖之间。

进一步地，上盖开设有反应杯进出口，测量室还设置有光耦，光耦与上盖和暗室主体中的至少一个相连接，光耦靠近反应杯进出口处设置。

进一步地，第一环形凸起的朝向上盖的旋转中心的一侧设置有第三环形凹槽，第一环形凹槽的朝向上盖的旋转中心一侧的第一槽壁延伸至第三环形凹槽内。

进一步地，暗室主体的朝向上盖的一侧设置有第三环形凸起，第三环形凸起位于第二环形凸起的外侧，第三环形凸起的端部与第二环形凹槽的远离上盖的旋转中心一侧的第二槽壁相抵接。

进一步地，支撑架的朝向中空结构一侧的表面上设置有第四环形凹槽，暗室主体的朝向上盖的一侧设置有第四环形凸起，第四环形凸起延伸至第四环形凹槽内。

进一步地，第四环形凸起的远离上盖的旋转中心一侧形成第一密封台阶，支撑架上设置有与第一密封台阶相配合的第二密封台阶。

根据本实用新型的另一方面，提供了一种样本分析仪，包括测量室，测量室包括上述的测量室。

应用本实用新型的技术方案，通过在上盖与支撑架之间形成的让位通道内设置密封部，能够减小让位通道的宽度，相当于减小了光线传播通道的拐弯半径，使得光线无法在让位通道内直线传播，必须多次折射才能从入口传播到测量室内部其他工位，从而增加光线的传播距离，让光线在让位通道内尽量衰减，达到避光的目的，这样的结构有效地提高了小型样本分析仪的实用性。

附图说明

构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1示出了根据本实用新型的测量室的实施例的剖视结构示意图；

图2示出了图1中的A处放大结构示意图；

图3示出了图1中的B处放大结构示意图；

图4示出了根据本实用新型的测量室的第一实施例的剖视结构示意图；

图5示出了根据本实用新型的测量室的第一实施例的另一视角的结构示意图；

图6示出了光线在让位通道内传播的距离示意图。

其中，上述附图包括以下附图标记：

10、暗室主体；11、容纳腔；12、中空结构；13、第三环形凸起；14、第四环形凸起；15、第一密封台阶；

20、支撑架；21、第四环形凹槽；22、第二密封台阶；

30、驱动部；31、轴承座；32、转轴；33、底部轴承；34、同步带轮；35、动力源；36、同步带；

40、上盖；41、反应杯进出口；42、抽废液口；

50、让位通道；

61、第一环形凹槽；611、第一槽壁；62、第一环形凸起；63、第二环形凹槽；631、第二槽壁；64、第二环形凸起；65、第三环形凹槽；

70、顶部轴承；

80、光耦；

91、抽废液机构；92、底物Ⅰ喷头；93、底物Ⅱ喷头；94、光电倍增管组件。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本实用新型。

需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的术语在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施方式例如能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

现在，将参照附图更详细地描述根据本申请的示例性实施方式。然而，这些示例性实施方式可以由多种不同的形式来实施，并且不应当被解释为只限于这里所阐述的实施方式。应当理解的是，提供这些实施方式是为了使得本申请的公开彻底且完整，并且将这些示例性实施方式的构思充分传达给本领域普通技术人员，在附图中，为了清楚起见，有可能扩大了层和区域的厚度，并且使用相同的附图标记表示相同的器件，因而将省略对它们的描述。

结合图1至图6所示，根据本申请的具体实施例，提供了一种测量室。

具体地，如图1至图3所示，该测量室包括暗室主体10、支撑架20、驱动部30、上盖40和密封部。暗室主体10具有容纳腔11。支撑架20可活动地设置于容纳腔11内，支撑架 20用于承载反应杯。驱动部30与支撑架20相连接，驱动部30可驱动支撑架20转动，以使支撑架20带动反应杯移动至预设位置。上盖40与暗室主体10相连接，上盖40与支撑架20 之间设置有反应杯让位通道50，上盖40与容纳腔11之间围设成密闭空间。密封部与上盖40 和支撑架20中的至少一个相连接，密封部位于让位通道50的至少一侧以减小让位通道50在沿旋转中心轴线往外延伸方向的宽度。

在本实施例中，通过在上盖40与支撑架20之间形成的让位通道50内设置密封部，能够减小光线在让位通道50内传播的距离，并且减小了让位通道50的宽度，从而可以将整个测量室的体积做得更小，使得具有该测量室的样本分析仪的体积变小，即实现了样本分析仪小型化发展，有效地提高了样本分析仪的实用性。具体地，如图6所示，在现有技术中，如果不在让位通道50内设置密封部，则光线f1在让位通道50内的传播距离为ca，即在ca距离处是不能设置监测工位的，否则会受光线的干扰，只能把监测工位设置于远离光线f1到达不了的位置处，而采用本申请的技术方案，在让位通道50内设置密封部以减小让位通道50的径向方向的宽度，这样使得入射光线只能到达图6中的b位置处，即密封部形成了止挡光线的作用，即相当于间接地将让位通道50做窄，即实现了整个测量室小型化。如果不在原有的让位通道内增加密封部，是不可能将让位通道做成这么小的，因为让位通道的下部是用于放置反应杯，过窄的通道放不下反应杯或者无法放置抓取机构，而如果单独地把整个测量室做小，则由于让位通道的宽度没发生变化，光线会直线传播，光强度没有衰减，造成测量室中的避光性不好，使得实验结果存在巨大的误差。即采用本实施例的技术方案，在实现了测量室的小型化同时，保证测量室内部的隔光性以提高测量结果的准确性。

其中，密封部包括第一密封组件和第二密封组件，第一密封组件设置于靠近支撑架20的旋转中心轴线的一侧，第二密封组件设置于远离支撑架20的旋转中心轴线的一侧。设置两个密封件能够有效地提高密封部的密封性。

具体地，如图3所示，第一密封组件包括第一环形凹槽61和第一环形凸起62。第一环形凹槽61开设于上盖40的朝向支撑架20一侧的表面上，第一环形凸起62与支撑架20相连接，第一环形凸起62延伸至第一环形凹槽61内。这样设置能够有效地提高第一密封组件的密封性能，优选地，第一环形凸起62与支撑架20一体注塑成型。

进一步地，第二密封组件包括第二环形凹槽63和第二环形凸起64。第二环形凹槽63开设于上盖40的朝向支撑架20一侧的表面上，第二环形凸起64与支撑架20相连接，第二环形凸起64延伸至第二环形凹槽63内，第一环形凸起62与第二环形凸起64之间形成让位通道50。这样设置能够有效地提高第二密封组件的密封性能，优选地，第二环形凸起64与支撑架20一体注塑成型。如图3所示，在第一环形凹槽61的侧壁与第二环形凹槽63的侧壁之间的某处设置有底物喷头D，支撑架20上设置有放置反应杯的放置位C。

如图1所示，暗室主体10的中部为中空结构12，部分的驱动部30从暗室主体10的底部延伸至中空结构12内与支撑架20相连接。这样设置能够有效地减小整个测量室的重量。

其中，驱动部30包括轴承座31、转轴32、同步带轮34、动力源35。轴承座31与暗室主体10的底部相连接。转轴32的第一端通过底部轴承33与轴承座31相连接，转轴32的第二端与支撑架20相连接。同步带轮34与转轴32的第一端相连接并位于暗室主体10的外侧。动力源35与暗室主体10相连接，动力源35的输出轴通过同步带36与同步带轮34相连接。这样设置能够提高驱动部30的可靠性，动力源可以是电机。电机安装在暗室主体的下方，电机通过同步带带动转轴32旋转，从而驱动与转轴32相连的支撑架20在环形的密闭空间内旋转。采用同步带传动，结构简单，成本较低。

为了减小支撑架20与上盖40的摩擦力，测量室还包括顶部轴承70。顶部轴承70设置于支撑架20与上盖40之间。从而使得转轴32及支撑架20能够绕着转轴32的轴线相对暗室主体和上盖转动。其中，支撑架20的旋转中心轴线与转轴32的轴线共线。

如图4所示，上盖40开设有反应杯进出口41。测量室还设置有光耦80，光耦80与上盖 40和暗室主体10中的至少一个相连接，光耦80靠近反应杯进出口41处设置。优选地，光耦 80安装在暗室主体上用于检测支撑架20上是否有反应杯。

上述实施例中的测量室还可以用于样本分析设备技术领域，即根据本实用新型的另一方面，提供了一种样本分析仪，包括测量室，测量室包括上述实施例中的测量室。

具体地，上盖40上还设置有抽废液口42，位于抽废液口42上方设置有抽废液机构91，以及进行打底物用的底物Ⅰ喷头92、底物Ⅱ喷头93，以及在测量室的侧壁处设置有用于检测的光电倍增管组件94。其中，发光激发底物Ⅰ和发光激发底物Ⅱ通过相应的底物喷头泵入反应杯。

如图2所示，在本实施例中，第一环形凸起62的朝向上盖40的旋转中心的一侧设置有第三环形凹槽65，第一环形凹槽61的朝向上盖40的旋转中心一侧的第一槽壁611延伸至第三环形凹槽65内，用以削弱安装顶部轴承70时射进来的光线。暗室主体10的朝向上盖40的一侧设置有第三环形凸起13，第三环形凸起13位于第二环形凸起的外侧，第三环形凸起13的端部与第二环形凹槽63的远离上盖40的旋转中心一侧的第二槽壁631相抵接，用以削弱安装紧固件时射进来的光线。支撑架20的朝向中空结构12一侧的表面上设置有第四环形凹槽21，暗室主体10的朝向上盖40的一侧设置有第四环形凸起14，第四环形凸起14延伸至第四环形凹槽21内。第四环形凸起14的远离上盖40的旋转中心一侧形成第一密封台阶15，支撑架20上设置有与第一密封台阶15相配合的第二密封台阶22，用以削弱中空结构12漏进来的光线。这样设置能够提高测量室中上盖40、支撑架20与暗室主体10之间的连接处的密封性，进一步地提高了该测量室实用性和检测结果的可靠性。

测量室工作时，反应杯从反应杯进出口41放进反应杯架上，光耦80检测到反应杯架上有反应杯，逆时针旋转180度，泵入激发底物Ⅰ，再逆时针旋转90度，泵入激发底物Ⅱ，在激发底物的作用下，待测样品中的特异性物质发光，光电倍增管组件接收并记录单位时间内所产生的光子能，然后传给系统，然后电机驱动支撑架20逆时针旋转180度，抽废液针组件将已测量反应杯内的液体抽走，然后电机驱动支撑架20顺时针旋转90度，支撑架20将废弃的反应杯带动返回到反应杯进出口41处，在反应杯进出口41处通过抓手将废弃反应杯抓取丢到废物袋。

为了便于描述，在这里可以使用空间相对术语，如“在……之上”、“在……上方”、“在……上表面”、“上面的”等，用来描述如在图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系。应当理解的是，空间相对术语旨在包含除了器件在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如，如果附图中的器件被倒置，则描述为“在其他器件或构造上方”或“在其他器件或构造之上”的器件之后将被定位为“在其他器件或构造下方”或“在其他器件或构造之下”。因而，示例性术语“在……上方”可以包括“在……上方”和“在……下方”两种方位。该器件也可以其他不同方式定位(旋转90度或处于其他方位)，并且对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。

除上述以外，还需要说明的是在本说明书中所谈到的“一个实施例”、“另一个实施例”、“实施例”等，指的是结合该实施例描述的具体特征、结构或者特点包括在本申请概括性描述的至少一个实施例中。在说明书中多个地方出现同种表述不是一定指的是同一个实施例。进一步来说，结合任一实施例描述一个具体特征、结构或者特点时，所要主张的是结合其他实施例来实现这种特征、结构或者特点也落在本实用新型的范围内。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (14)

1.一种测量室，其特征在于，包括：

暗室主体(10)，所述暗室主体(10)具有容纳腔(11)；

支撑架(20)，所述支撑架(20)可活动地设置于所述容纳腔(11)内，所述支撑架(20)用于承载反应杯；

驱动部(30)，所述驱动部(30)与所述支撑架(20)相连接，所述驱动部(30)可驱动所述支撑架(20)转动，以使所述支撑架(20)带动所述反应杯移动至预设位置；

上盖(40)，所述上盖(40)与所述暗室主体(10)相连接，所述上盖(40)与所述支撑架(20)之间设置有反应杯让位通道(50)，所述上盖(40)与所述容纳腔(11)之间围设成密闭空间；

密封部，所述密封部与所述上盖(40)和所述支撑架(20)中的至少一个相连接，所述密封部位于所述让位通道(50)的至少一侧以减小所述让位通道(50)在沿旋转中心轴线往外延伸方向的宽度。

2.根据权利要求1所述的测量室，其特征在于，所述密封部包括至少一个密封件组件，所述密封件组件包括相互配合的环形凸起和环形凹槽，所述环形凸起和所述环形凹槽中的一个与所述支撑架(20)相连接，所述环形凸起和所述环形凹槽中的另一个与所述上盖(40)相连接，所述环形凸起和所述环形凹槽位于所述让位通道(50)的远离所述支撑架(20)的旋转中心轴线的一侧，或者，所述环形凸起和所述环形凹槽位于所述让位通道(50)的靠近所述支撑架(20)的旋转中心轴线的一侧。

3.根据权利要求1所述的测量室，其特征在于，所述密封部包括第一密封组件和第二密封组件，所述第一密封组件设置于靠近所述支撑架(20)的旋转中心轴线的一侧，所述第二密封组件设置于远离所述支撑架(20)的旋转中心轴线的一侧。

4.根据权利要求3所述的测量室，其特征在于，所述第一密封组件包括第一环形凹槽(61)和第一环形凸起(62)，所述第一环形凹槽(61)开设于所述上盖(40)的朝向所述支撑架(20)一侧的表面上，所述第一环形凸起(62)与所述支撑架(20)相连接，所述第一环形凸起(62)延伸至所述第一环形凹槽(61)内。

5.根据权利要求4所述的测量室，其特征在于，所述第二密封组件包括第二环形凹槽(63)和第二环形凸起(64)，所述第二环形凹槽(63)开设于所述上盖(40)的朝向所述支撑架(20)一侧的表面上，所述第二环形凸起(64)与所述支撑架(20)相连接，所述第二环形凸起(64)延伸至所述第二环形凹槽(63)内，所述第一环形凸起(62)与所述第二环形凸起(64)之间形成所述让位通道(50)。

6.根据权利要求1所述的测量室，其特征在于，所述暗室主体(10)的中部为中空结构(12)，部分的所述驱动部(30)从所述暗室主体(10)的底部延伸至所述中空结构(12)内与所述支撑架(20)相连接。

7.根据权利要求6所述的测量室，其特征在于，所述驱动部(30)包括：

轴承座(31)，所述轴承座(31)与所述暗室主体(10)的底部相连接；

转轴(32)，所述转轴(32)的第一端通过底部轴承(33)与所述轴承座(31)相连接，所述转轴(32)的第二端与所述支撑架(20)相连接；

同步带轮(34)，所述同步带轮(34)与所述转轴(32)的第一端相连接并位于所述暗室主体(10)的外侧；

动力源(35)，所述动力源(35)与所述暗室主体(10)相连接，所述动力源(35)的输出轴通过同步带(36)与所述同步带轮(34)相连接。

8.根据权利要求1所述的测量室，其特征在于，所述测量室还包括：

顶部轴承(70)，所述顶部轴承(70)设置于所述支撑架(20)与所述上盖(40)之间。

9.根据权利要求1所述的测量室，其特征在于，所述上盖(40)开设有反应杯进出口(41)，所述测量室还设置有光耦(80)，所述光耦(80)与所述上盖(40)和所述暗室主体(10)中的至少一个相连接，所述光耦(80)靠近所述反应杯进出口(41)处设置。

10.根据权利要求4所述的测量室，其特征在于，所述第一环形凸起(62)的朝向所述上盖(40)的旋转中心的一侧设置有第三环形凹槽(65)，所述第一环形凹槽(61)的朝向所述上盖(40)的旋转中心一侧的第一槽壁(611)延伸至所述第三环形凹槽(65)内。

11.根据权利要求5所述的测量室，其特征在于，所述暗室主体(10)的朝向所述上盖(40)的一侧设置有第三环形凸起(13)，所述第三环形凸起(13)位于所述第二环形凸起(64)的外侧，所述第三环形凸起(13)的端部与所述第二环形凹槽(63)的远离所述上盖(40)的旋转中心一侧的第二槽壁(631)相抵接。

12.根据权利要求6所述的测量室，其特征在于，所述支撑架(20)的朝向所述中空结构(12)一侧的表面上设置有第四环形凹槽(21)，所述暗室主体(10)的朝向所述上盖(40)的一侧设置有第四环形凸起(14)，所述第四环形凸起(14)延伸至所述第四环形凹槽(21)内。

13.根据权利要求12所述的测量室，其特征在于，所述第四环形凸起(14)的远离所述上盖(40)的旋转中心一侧形成第一密封台阶(15)，所述支撑架(20)上设置有与所述第一密封台阶(15)相配合的第二密封台阶(22)。

14.一种样本分析仪，包括测量室，其特征在于，所述测量室包括权利要求1至13中任一项所述的测量室。

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