CN211786018U - 一种Mini/MicroLED常温老化测试仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种Mini/MicroLED常温老化测试仪，包括机箱，所机箱包括机壳、测试机构以及产品移动机构，所述测试机构和产品移动机构设置在机壳内，所述机壳内部两侧设有支撑架，所述产品移动机构设置在支撑架上，所述测试机构位于产品移动机构上方，所述测试机构与产品移动机构之间设置有遮光板，所述机壳内部位于测试机构的两侧设有两个升降电机，两个升降电机输出端与测试机构连接，通过测试机构的针块pcb板向产品灯片传输检测数据，对其进行快速老化和测试，然后通过传感pcb板对产品灯板每个Mini/MicroLED进行感光检测，并以数据的形式反馈到信号源机或PC端；本实用新型不仅检测效率高，且针对每个Mini/MicroLED进行精密的单独测试，提高了产品检测质量。

Description

一种Mini/MicroLED常温老化测试仪

技术领域

本实用新型涉及LED检测领域技术领域，具体为一种Mini/MicroLED常温老化测试仪。

背景技术

市场上的带有显示屏的设备基本通过LED灯通过实现投影，例如手机、电视等设备，现如今许多显示产品背光逐渐从传统LED替换成Mini/MicroLED，带显示屏的设备日益增加，所以Mini/MicroLED需要通过量产满足市场的需求，但量产后的Mini/MicroLED需要通过检测设备检测确保其质量。

全球一些重要的LED区域市场纷纷推出了相关的技术法规或标准，对LED照明认证的应用提出了认证要求。 LED产品的检测标准使用于公司所生产的灯具制定统一检验项目和检验的说明，LED产品检测的项目有电性能参数、光学参数、结构外观和可靠性试验；然而LED灯具的理论寿命很长，对LED产品的测量显然不现实，因此有必要对LED产品采用加速老化寿命试验，同时，作为新型产品的Mini/MicroLED更需要对其进行检测对其检测出来的数据进行分析，完善提高性能，现有市场上的检测治具人工检测，眼睛观察，有误差，而且Mini/MicroLED灯光线互相影响，肉眼观察困难，只能检测大问题，质量小问题难以检测，不能保障检测质量，为此，我们研发一种Mini/MicroLED常温老化测试仪。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种Mini/MicroLED常温老化测试仪，以解决上述背景技术所提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种Mini/MicroLED常温老化测试仪，包括机箱，所机箱包括机壳、测试机构以及产品移动机构，所述测试机构和产品移动机构设置在机壳内，所述机壳内部两侧设有支撑架，所述产品移动机构设置在支撑架上，所述测试机构位于产品移动机构上方，所述测试机构与产品移动机构之间设置有遮光板，所述机壳内部位于测试机构的两侧设有两个升降电机，两个所述升降电机下端与机壳内部底面连接，两个所述升降电机输出端与测试机构连接，所述移动机构位于支撑架上方设置有产品托盘，所述机壳前端面设有一个可供产品托盘来回滑动的开槽，所述机壳后端面设有SCSI pin接口，所述测试机构、产品移动机构以及两个升降电机均与SCSI pin接口电性连接。

优选的，所述产品移动机构包括弹出电机和齿轮齿条，所述弹出电机位于右支撑架前端下方，所述弹出电机输出端贯穿右侧的支撑架前端，且弹出电机输出端设置有与齿轮齿条配合使用的齿轮，所述产品托盘下端面两侧设有滑轨，所述齿轮齿条设置于产品托盘下端面，且齿轮齿条位于两条滑轨之间，所述齿轮齿条与弹出电机上的齿轮啮合，所述支撑架设有多个滚轮，多个所述滚轮呈线性阵列均匀分布在两侧支撑架上，两条所述滑轨与多个滚轮接触连接。

优选的，所述机壳底面与产品移动机构之间设有拖链，所述拖链的一端靠近所述开槽与机壳底面部固定连接，所述拖链的另一端向上翻转后与产品托盘后端连接，所述拖链内部中空且设有多根接气管，所述产品托盘上设有多个真空吸盘，多个所述真空吸盘与多根接气管连接。

优选的，所述产品托盘上设有产品放置槽，多个所述真空吸盘位于产品放置槽内呈阵列分布。

优选的，所述测试机构包括安装板、传感pcb板、多个针块pcb板以及与针块pcb板数量相等的固定块，所述安装板左右两侧设有连接部，两个所述连接部与两个升降电机输出端连接，两个所述连接部两侧分别设有两个第一凸起部，所述支撑架位于四个第一凸起部对应的位置设有四个第二凸起部，四个所述第二凸起部中间部分设有导向直线轴承，四个所述第一凸起部与四个第二凸起部通过导向直线轴承活动连接，所述安装板后侧设有多个阶梯部，每两个所述阶梯部呈相对方向设置，所诉固定块设置在两个相对方向的阶梯部之间，所述针块pcb板设有多根向下延伸的探针，多个所述固定块设有安装槽，所述安装槽靠近测试机构中心部分的一侧设有可供多根探针插入的开孔，所述针块pcb板设置在安装槽内，且探针插入开孔，所述传感pcb板设置在安装板下方。

优选的，所述机壳前端面设有多个控制按钮。

优选的，所述遮光板设有多个通孔，多个所述通孔呈阵列分布。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

1、本实用新型通过设置SCSI pin接口，Mini/MicroLED常温老化测试仪可通过SCSI pin接口和数据导线连接信号源机或PC端，信号源机或PC端通过SCSI pin接口和数据导线将检测Mini/MicroLED的数据传输到Mini/MicroLED常温老化测试仪进行老化测试，在将测试后的反馈数据通过SCSI pin接口和数据导线反馈到信号源机或PC端。

、本实用新型设置有测试机构和遮光板，遮光板将产品灯板上的每个Mini/MicroLED分隔开，然后通过测试机构的传感pcb板对产品灯板每个Mini/MicroLED进行感光检测，并以数据的形式反馈到信号源机或PC端，提高测试质量。

附图说明

图1为本实用新型的结构分解图；

图2为本实用新型机壳以及与产品移动机构连接部分的示意图；

图3为本实用新型产品移动机构的仰视图；

图4为本实用新型固定块和针块pcb板的结构示意图。

图中的附图标记及名称如下：

1、机壳；4、开槽；5、遮光板；51、通孔；6、升降电机；7、拖链；8、SCSI pin接口；9、控制按钮；10、支撑架；11、滚轮；12、第二凸起部；13、导向直线轴承；20、产品移动机构；21、弹出电机；22齿轮；23齿轮齿条；24、滑轨；25、产品托盘；26、产品放置槽；27、真空吸盘；30、测试机构；31、传感pcb板；32、安装板；33、针块pcb板；34、固定块；35、连接部；36、第一凸起部；37、阶梯部；38、安装槽；39、开孔；40、探针。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1至图4，本实用新型提供的一种实施例：一种Mini/MicroLED常温老化测试仪，包括机箱，所机箱包括机壳1、测试机构30以及产品移动机构20，所述测试机构30和产品移动机构20设置在机壳1内，所述机壳1内部两侧设有支撑架10，所述产品移动机构20设置在支撑架10上，所述测试机构30位于产品移动机构20上方，所述测试机构30与产品移动机构20之间设置有遮光板5，所述机壳1内部位于测试机构30的两侧设有两个升降电机6，两个所述升降电机6下端与机壳1内部底面连接，两个所述升降电机6输出端与测试机构30连接，所述移动机构20位于支撑架10上方设置有产品托盘25，所述机壳1前端面设有一个可供产品托盘25来回滑动的开槽4，所述机壳1后端面设有SCSI 68pin接口8，所述测试机构30、产品移动机构20以及两个升降电机6均与SCSI 68pin接口8电性连接。本实施例的一种Mini/MicroLED常温老化测试仪针对一种带PIN点的MINI/MicroLED灯片设置，Mini/MicroLED常温老化测试仪可通过SCSI pin接口8和数据导线连接信号源机或PC端，信号源机或PC端通过SCSI pin接口8和数据导线将检测Mini/MicroLED的数据传输到Mini/MicroLED常温老化测试仪，对MINI/MicroLED灯片进行老化测试，在将测试后的反馈数据通过SCSI pin接口8和数据导线反馈到信号源机或PC端。

具体的，所述产品移动机构20包括弹出电机21和齿轮齿条23，所述弹出电机21位于右支撑架10前端下方，所述弹出电机21输出端贯穿右侧的支撑架10前端，且弹出电机21输出端设置有与齿轮齿条23配合使用的齿轮22，所述产品托盘25下端面两侧设有滑轨24，所述齿轮齿条23设置于产品托盘下端面，且齿轮齿条23位于两条滑轨24之间，所述齿轮齿条23与弹出电机21上的齿轮22啮合，所述支撑架10设有多个滚轮11，多个所述滚轮11呈线性阵列均匀分布在两侧支撑架10上，两条所述滑轨24与多个滚轮11接触连接。所述弹出电机21带动齿轮22转动，齿轮22拖动齿轮齿条23，滑轨24通过滚轮11向前移动，所述产品托盘25从开槽4弹出，将MINI/MicroLED灯片放置入产品放置槽26，并在MINI/MicroLED灯片上放置遮光板5，弹出电机21逆向旋转，装有MINI/MicroLED灯片以及遮光板5的产品托盘25复位到机壳1内。

具体的，所述机壳1底面与产品移动机构20之间设有拖链7，所述拖链7的一端靠近所述开槽4与机壳1底面部固定连接，所述拖链7的另一端向上翻转后与产品托盘25后端连接，所述拖链7内部中空且设有多根接气管（图未示），所述产品托盘25上设有多个真空吸盘27，多个所述真空吸盘27与多根接气管连接。连接各部件的电路线也会设置在拖链7内，产品托盘25移动时会带动电路线、拖链7和接气管，该设置主要是为了防止接气管和电路线在移动过程中折弯堵塞。

具体的，所述产品托盘25上设有产品放置槽26，多个所述真空吸盘27位于产品放置槽26内呈阵列分布。所述接气管另一端与导出机壳1外部与气泵连接，气泵吸气使真空吸盘27对产品吸附连接，所述真空吸盘27有利于MINI/MicroLED灯片更稳固的放置在产品放置槽26上。

具体的，所述测试机构30包括安装板32、传感pcb板31、多个针块pcb板33以及与针块pcb板33数量相等的固定块34，所述安装板32左右两侧设有连接部35，两个所述连接部35与两个升降电机6输出端连接，两个所述连接部35两侧分别设有两个第一凸起部36，所述支撑架10位于四个第一凸起部36对应的位置设有四个第二凸起部12，四个所述第二凸起部12中间部分设有导向直线轴承13，四个所述第一凸起部36与四个第二凸起部12通过导向直线轴承13活动连接，所述安装板32后侧设有多个阶梯部37，每两个所述阶梯部37呈相对方向设置，所诉固定块34设置在两个相对方向的阶梯部37之间，所述针块pcb板33设有多根向下延伸的探针40，多个所述固定块34设有安装槽38，所述安装槽38靠近测试机构30中心部分的一侧设有可供多根探针40插入的开孔39，所述针块pcb板33设置在安装槽38内，且探针40插入开孔39，所述传感pcb板31设置在安装板32下方。所述升降电机6向下移动，带动安装板32、针块pcb板33和传感pcb板31向下移动，其中针块pcb板33上的探针40向下移动接触到MINI/MicroLED灯片上的PIN点，通过探针40与PIN点连接，可做到对MINI/MicroLED灯片上的每个MINI/MicroLED单独连接，并通过探针40检测数据传输到MINI/MicroLED灯片，所述传感pcb板31可感应到每个MINI/MicroLED的显示状况，并以数据形式反馈到信号源机或PC端。

具体的，所述机壳1前端面设有多个控制按钮9。多个所述控制按钮9包括弹出复位按钮、检测按钮和停止按钮，弹出复位按钮控制产品托盘25的弹出和复位，检测按钮控制升降电机6以及测试机构30升降与MINI/MicroLED灯片接触连接，停止按钮终止电流与数据的传输。

具体的，所述遮光板5设有多个通孔51，多个所述通孔51呈阵列分布。所述遮光板5上的通孔51将产品灯板上的每个Mini/MicroLED分隔开，使测试其中一个Mini/MicroLED，不会使其他Mini/MicroLED影响

工作原理：本实用新型在使用时，先通过数据导线使SCSI pin接口8与信号源机或PC端连接，点动弹出复位按钮，弹出电机21带动齿轮22转动，齿轮22拖动齿轮齿条23，滑轨24通过滚轮11向前移动，所述产品托盘25从开槽4弹出，将MINI/MicroLED灯片放置入产品放置槽26，并在MINI/MicroLED灯片上放置遮光板5，再次点动弹出复位按钮，弹出电机21逆向旋转，装有MINI/MicroLED灯片以及遮光板5的产品托盘25复位到机壳1内，点动检测按钮，升降电机6向下移动，带动安装板32、针块pcb板33和传感pcb板31向下移动，其中针块pcb板33上的探针40向下移动接触到MINI/MicroLED灯片上的PIN点，通过探针40与PIN点连接，可做到对MINI/MicroLED灯片上的每个MINI/MicroLED单独连接，并通过探针40检测数据传输到MINI/MicroLED灯片，MINI/MicroLED根据检测数据长达8小时的循环跳动进行快速老化,再次根据检测数据对MINI/MicroLED进行通电测试，同时传感pcb板31可感应到每个MINI/MicroLED的显示状况，并以数据形式反馈到信号源机或PC端，检测完成，取出MINI/MicroLED灯板，并通过信号源机或PC端的反馈数据选出损坏的MINI/MicroLED。

对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

Claims (7)

1.一种Mini/MicroLED常温老化测试仪，包括机箱，其特征在于：所机箱包括机壳（1）、测试机构（30）以及产品移动机构（20），所述测试机构（30）和产品移动机构（20）设置在机壳（1）内，所述机壳（1）内部两侧设有支撑架（10），所述产品移动机构（20）设置在支撑架（10）上，所述测试机构（30）位于产品移动机构（20）上方，所述测试机构（30）与产品移动机构（20）之间设置有遮光板（5），所述机壳（1）内部位于测试机构（30）的两侧设有两个升降电机（6），两个所述升降电机（6）下端与机壳（1）内部底面连接，两个所述升降电机（6）输出端与测试机构（30）连接，所述移动机构（20）位于支撑架（10）上方设置有产品托盘（25），所述机壳（1）前端面设有一个可供产品托盘（25）来回滑动的开槽（4），所述机壳（1）后端面设有SCSI 68pin接口（8），所述测试机构（30）、产品移动机构（20）以及两个升降电机（6）均与SCSI 68pin接口（8）电性连接。

2.根据权利要求1所述的一种Mini/MicroLED常温老化测试仪，其特征在于：所述产品移动机构（20）包括弹出电机（21）和齿轮齿条（23），所述弹出电机（21）位于右支撑架（10）前端下方，所述弹出电机（21）输出端贯穿右侧的支撑架（10）前端，且弹出电机（21）输出端设置有与齿轮齿条（23）配合使用的齿轮（22），所述产品托盘（25）下端面两侧设有滑轨（24），所述齿轮齿条（23）设置于产品托盘（25）下端面，且齿轮齿条（23）位于两条滑轨（24）之间，所述齿轮齿条（23）与弹出电机（21）上的齿轮（22）啮合，所述支撑架（10）设有多个滚轮（11），多个所述滚轮（11）呈线性阵列均匀分布在两侧支撑架（10）上，两条所述滑轨（24）与多个滚轮（11）接触连接。

3.根据权利要求1所述的一种Mini/MicroLED常温老化测试仪，其特征在于：所述机壳（1）底面与产品移动机构（20）之间设有拖链（7），所述拖链（7）的一端靠近所述开槽（4）与机壳（1）底面部固定连接，所述拖链（7）的另一端向上翻转后与产品托盘（25）后端连接，所述拖链（7）内部中空且设有多根接气管，所述产品托盘（25）上设有多个真空吸盘（27），多个所述真空吸盘（27）与多根接气管连接。

4.根据权利要求3所述的一种Mini/MicroLED常温老化测试仪，其特征在于：所述产品托盘（25）上设有产品放置槽（26），多个所述真空吸盘（27）位于产品放置槽（26）内呈阵列分布。

5.根据权利要求1所述的一种Mini/MicroLED常温老化测试仪，其特征在于：所述测试机构（30）包括安装板（32）、传感pcb板（31）、多个针块pcb板（33）以及与针块pcb板（33）数量相等的固定块（34），所述安装板（32）左右两侧设有连接部（35），两个所述连接部（35）与两个升降电机（6）输出端连接，两个所述连接部（35）两侧分别设有两个第一凸起部（36），所述支撑架（10）位于四个第一凸起部（36）对应的位置设有四个第二凸起部（12），四个所述第二凸起部（12）中间部分设有导向直线轴承（13），四个所述第一凸起部（36）与四个第二凸起部（12）通过导向直线轴承（13）活动连接，所述安装板（32）后侧设有多个阶梯部（37），每两个所述阶梯部（37）呈相对方向设置，所诉固定块（34）设置在两个相对方向的阶梯部（37）之间，所述针块pcb板（33）设有多根向下延伸的探针（40），多个所述固定块（34）设有安装槽（38），所述安装槽（38）靠近测试机构（30）中心部分的一侧设有可供多根探针（40）插入的开孔（39），所述针块pcb板（33）设置在安装槽（38）内，且探针（40）插入开孔（39），所述传感pcb板（31）设置在安装板（32）下方。

6.根据权利要求1所述的一种Mini/MicroLED常温老化测试仪，其特征在于：所述机壳（1）前端面设有多个控制按钮（9）。

7.根据权利要求1所述的一种Mini/MicroLED常温老化测试仪，其特征在于：所述遮光板（5）设有多个通孔（51），多个所述通孔（51）呈阵列分布。

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