CN211783332U - 一种用于膜片厚度测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于膜片厚度测量装置，包括底座，底座的后端上表面装配有用于支撑的连接管，连接管的内表面装配有可以转动的粗调架，粗调架的外表面螺接有可以升降的支臂，支臂的前端螺接有可以螺接升降的细调架，本实用新型设置了一种带有可以初步调节的粗调架和何以精确调节的细调架的膜片厚度测量装置，在使用时，将膜片平整的放置在检测台的上表面后，调节支臂的升降，当归零的检测头接近膜片上表面附近后，转动粗调架停靠至整数位后，转动第二转钮，调节细调架，直至检测头贴合在膜片的上表面，根据粗调架和细调架的读数得出膜片厚度，有效的解决了现有的膜片检测设备无法反馈接触信息所带来的一些柔软材料测量结果不准确的问题。

Description

一种用于膜片厚度测量装置

技术领域

本实用新型涉及膜片测量技术领域，具体为一种用于膜片厚度测量装置。

背景技术

膜片按行业分：有电声行业膜片；机械行业橡胶膜片；过滤隔离行业微孔膜片；光学行业膜片，在各种各样的膜片生产之后的质检过程中，膜片的厚度是一种必要的监测数据，由于膜片的厚度以及面积影响，现有的游标卡尺的测量爪长度有限，测量范围较小，因此在膜片厚度的测量时，需要使用到一种台式的检测器，而现有的台式的检测器是一种通过螺纹调节结构采用紧密贴合的方式进行测量的检测器，在调节时，如果检测部位压在膜片的上表面后，受到膜片材料的影响，有些软质材料的膜片会发生形变，因此读取出的数据不准确，鉴于以上问题，特提出一种用于膜片厚度测量装置。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于膜片厚度测量装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于膜片厚度测量装置，包括底座，所述底座的后端上表面装配有用于支撑的连接管，所述连接管的内表面装配有可以转动的粗调架，所述粗调架的外表面螺接有可以升降的支臂，所述支臂的前端螺接有可以螺接升降的细调架，所述细调架的底端装配有检测头，所述检测头的下表面装配有辅助校准测距的测距器，所述测距器的下表面与检测头的下表面相平齐。

优选的，所述底座包括固定座，所述固定座的后表面装配有连接台，所述固定座的上表面装配有平整的用于放置膜片的检测台。

优选的，所述连接管包括固定管，所述固定管的下表面装配在连接台的上表面，所述固定管的顶端侧表面装配有滑管，所述固定管的上表面开设有套孔。

优选的，所述粗调架包括连轴，所述连轴的下表面装配在套孔的内部上表面，所述连轴的顶端装配有套钮，所述套钮的顶端套接有第一螺杆，所述第一螺杆的外表面开设有外螺纹，所述第一螺杆的顶端装配有第一转钮。

优选的，所述支臂包括支撑杆，所述支撑杆的上表面前后两端均开设有螺孔，位于后端的所述螺孔的内表面螺接在第一螺杆的外表面，所述支撑杆的后端侧表面装配有滑杆，所述滑杆套接在滑管的内表面。

优选的，所述细调架包括第二螺杆，所述第二螺杆的外表面螺接在支撑杆前端的螺孔的内表面，所述第二螺杆的顶端装配有第二转钮，所述第二转钮的底端装配在检测头的上表面。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型设置了一种带有可以初步调节的粗调架和何以精确调节的细调架的膜片厚度测量装置，在使用时，将膜片平整的放置在检测台的上表面后，转动第一转钮，带动第一螺杆转动，从而调节支臂的升降，当归零的检测头接近膜片上表面附近后，转动粗调架停靠至整数位后，转动第二转钮，调节细调架，直至检测头贴合在膜片的上表面，根据粗调架和细调架的读数得出膜片厚度，有效的解决了现有的膜片检测设备无法反馈接触信息所带来的一些柔软材料测量结果不准确的问题。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图。

图2为本实用新型装配示意图。

图3为本实用新型调节机构装配示意图。

图中：1、底座，11、固定座，12、连接台，13、检测台，2、连接管， 21、固定管，22、套孔，23、滑管，3、粗调架，31、连轴，32、套钮，33、第一螺杆，34、外螺纹，35、第一转钮，4、支臂，41、支撑杆，42、螺孔，43、滑杆，5、细调架，51、第二螺杆，52、第二转钮，53、检测头，54、测距器。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-3，本实用新型提供一种技术方案：一种用于膜片厚度测量装置，包括底座1，底座1的后端上表面装配有用于支撑的连接管2，连接管2 的内表面装配有可以转动的粗调架3，粗调架3的外表面螺接有可以升降的支臂4，支臂4的前端螺接有可以螺接升降的细调架5，细调架5的底端装配有检测头53，检测头53的下表面装配有辅助校准测距的测距器54，测距器54 的下表面与检测头53的下表面相平齐；

本实用新型设置了一种带有可以初步调节的粗调架3和何以精确调节的细调架5的膜片厚度测量装置，在使用时，将膜片平整的放置在检测台13的上表面后，转动第一转钮35，带动第一螺杆33转动，从而调节支臂4的升降，当归零的检测头53接近膜片上表面附近后，转动粗调架3停靠至整数位后，转动第二转钮52，调节细调架5，直至检测头53贴合在膜片的上表面，根据粗调架3和细调架5的读数得出膜片厚度，有效的解决了现有的膜片检测设备无法反馈接触信息所带来的一些柔软材料测量结果不准确的问题。

具体而言，底座1包括固定座11，固定座11的后表面装配有连接台12，固定座11的上表面装配有平整的用于放置膜片的检测台13，本实用新型中检测台13的上表面保持平整，在不使用时，检测台13以及检测头53的内侧表面均套接一个防护罩。

具体而言，连接管2包括固定管21，固定管21的下表面装配在连接台 12的上表面，固定管21的顶端侧表面装配有滑管23，固定管21的上表面开设有套孔22，通过连接管2的固定作用，方便连接固定粗调架3，提供稳定性。

具体而言，粗调架3包括连轴31，连轴31的下表面装配在套孔22的内部上表面，连轴31的顶端装配有套钮32，套钮32的顶端套接有第一螺杆33，第一螺杆33的外表面开设有外螺纹34，第一螺杆33的顶端装配有第一转钮 35，通过转动第一转钮35，带动第一螺杆33在套钮32的顶端转动，进而方便调节支臂4的高度。

具体而言，支臂4包括支撑杆41，支撑杆41的上表面前后两端均开设有螺孔42，位于后端的螺孔42的内表面螺接在第一螺杆33的外表面，支撑杆 41的后端侧表面装配有滑杆43，滑杆43套接在滑管23的内表面，滑杆43 的外表面印刷有数字刻度，显示支臂4的相对检测台13的上表面与归零状态下的细调架5(检测头53的上表面紧密贴合在支臂4的下表面时)下表面的高度。

具体而言，细调架5包括第二螺杆51，第二螺杆51的外表面螺接在支撑杆41前端的螺孔42的内表面，第二螺杆51的顶端装配有第二转钮52，第二转钮52的底端装配在检测头53的上表面，在第二螺杆51的外表面竖直刻画有标准线，该标准线将第二螺杆51外表面的螺纹均匀的等分，上下贯穿式的使用不同颜色标记的刻度线能够显示所转动的距离，与支臂4前端上表面中心处刻画的标准线相对应时即可得出升降的高度，例如，第二螺杆51每转动一圈，第二螺杆51上升或者下降1毫米，这样，将每一圈螺纹十等分之后，每转动一个刻度，则第二螺杆51下降或者上升十分之一毫米，以此类推，在螺纹的间距缝隙内部印刷有数值(也可以使用横向的颜色区分，每十圈螺纹为一个颜色，在读数时，读取颜色区域的对应数值后，在查螺纹数进行加减法也能够得出第二螺杆51相对于支臂4的上升下降距离)，即支臂4的螺孔 42的上表面对齐位置的数值即为检测头53的下降数值的整数位，竖直刻度为小数位；

并且本实用新型中使用到的测距器54是一种高精度的激光测距器，顶端预埋有电池和传输模块，且测距器54装配在检测头53的下表面中心处，检测头53的顶端边缘处内部装配有导线，便于为电池充电，在使用时，测距器 54启动后，能够将测量数据的电信号强度通过一个编码解码器编写成数据信号通过无线传输模块传送给后台计算机，得出一定的读数；

测距器54具有三个作用：

1、校准粗调架3和细调架5，将细调架5归零后，调节粗调架3根据测距器54的数值确定其精准度，或者将粗调架3定位到一定数值(最好是归零) 时，调节细调架5根据测量数据校准细调架；

2、辅助测量膜片，可以直接使用测距器54测量测距器54与膜片的高度减去标准状态下测距器54与检测头13的间距得出膜片的厚度(但是这种方法存在光照时容易出现干扰，具有一定的误差，多用于异形的膜片测量)；

3、提醒紧密贴合状态，当测距器54底部的测距光束被完全遮挡时，即检测头53的下表面刚好紧密接触在膜片的上表面时，测距器54刚好无法读数时，即为检测头53与膜片为标准的贴合状态，然后在读取粗调架3和细调架5的读数，进而得出最准确的膜片厚度值。

对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

Claims (6)

1.一种用于膜片厚度测量装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的后端上表面装配有用于支撑的连接管(2)，所述连接管(2)的内表面装配有可以转动的粗调架(3)，所述粗调架(3)的外表面螺接有可以升降的支臂(4)，所述支臂(4)的前端螺接有可以螺接升降的细调架(5)，所述细调架(5)的底端装配有检测头(53)，所述检测头(53)的下表面装配有辅助校准测距的测距器(54)，所述测距器(54)的下表面与检测头(53)的下表面相平齐。

2.根据权利要求1所述的一种用于膜片厚度测量装置，其特征在于：所述底座(1)包括固定座(11)，所述固定座(11)的后表面装配有连接台(12)，所述固定座(11)的上表面装配有平整的用于放置膜片的检测台(13)。

3.根据权利要求2所述的一种用于膜片厚度测量装置，其特征在于：所述连接管(2)包括固定管(21)，所述固定管(21)的下表面装配在连接台(12)的上表面，所述固定管(21)的顶端侧表面装配有滑管(23)，所述固定管(21)的上表面开设有套孔(22)。

4.根据权利要求3所述的一种用于膜片厚度测量装置，其特征在于：所述粗调架(3)包括连轴(31)，所述连轴(31)的下表面装配在套孔(22)的内部上表面，所述连轴(31)的顶端装配有套钮(32)，所述套钮(32)的顶端套接有第一螺杆(33)，所述第一螺杆(33)的外表面开设有外螺纹(34)，所述第一螺杆(33)的顶端装配有第一转钮(35)。

5.根据权利要求4所述的一种用于膜片厚度测量装置，其特征在于：所述支臂(4)包括支撑杆(41)，所述支撑杆(41)的上表面前后两端均开设有螺孔(42)，位于后端的所述螺孔(42)的内表面螺接在第一螺杆(33)的外表面，所述支撑杆(41)的后端侧表面装配有滑杆(43)，所述滑杆(43)套接在滑管(23)的内表面。

6.根据权利要求5所述的一种用于膜片厚度测量装置，其特征在于：所述细调架(5)包括第二螺杆(51)，所述第二螺杆(51)的外表面螺接在支撑杆(41)前端的螺孔(42)的内表面，所述第二螺杆(51)的顶端装配有第二转钮(52)，所述第二转钮(52)的底端装配在检测头(53)的上表面。

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