CN211637402U - 五电极环形压敏电阻十针双面测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种环形压敏电阻检测装置;具体涉及一种五电极环形压敏电阻十针双面测试装置,包括测试头、测试圆盘和控制单元,沿测试圆盘的旋转方向依次设有正反检测件、测试头和分级组件,测试圆盘由旋转驱动件驱动旋转,测试圆盘上对应环形压敏电阻均匀设置一圈容置凹槽,测试头包括由升降驱动组件驱动的上十探针测试头和下十探针测试头,上十探针测试头和下十探针测试头中每五根相间设置的探针为一个测试组,每个测试组内的五根探针设置为圆周对称,上、下十探针测试头、测试圆盘和分级组件均与控制单元相连。本实用新型上料、正反检测和测试头检测同步进行,省略了旋转对正装置,节省了工序,提高了工作效率,降低了设备功耗。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种环形压敏电阻检测装置;具体涉及一种五电极环形压敏电阻十针双面测试装置。
背景技术
五电极环形压敏电阻的五个电极均匀分布在圆周上。出厂前,为保证产品合格率,需要对其进行测试分级。先有的五电极环形压敏电阻测试仪采用五极五针法测试,即用五个探针测试环形压敏电阻的五个电极,这就需要设置检测对准装置,在检测过程中调整环形压敏电阻的位置,以保证测量时五个探针能够对准五个电极。检测对准装置一般包括光电传感器和旋转装置,旋转装置用于选择环形压敏电阻,光电传感器用于检测探针是否对准电极,如此一来,就多了一道对准工序,使得生产成本增加,检测效率不高。
实用新型内容
为解决上述技术问题,本实用新型的目的在于:提供一种五电极环形压敏电阻十针双面测试装置,可牢固的锁紧压延挡板,使用寿命长。
本实用新型为解决其技术问题所采用的技术方案为:
所述五电极环形压敏电阻十针双面测试装置,包括测试头、测试圆盘和控制单元,沿测试圆盘的旋转方向依次设有正反检测件、测试头和分级组件,所述测试圆盘由旋转驱动件驱动旋转,测试圆盘上对应环形压敏电阻均匀设置一圈容置凹槽,测试头包括由升降驱动组件驱动的上十探针测试头和下十探针测试头,上十探针测试头和下十探针测试头中每五根相间设置的探针为一个测试组,每个测试组内的五根探针设置为圆周对称,升降驱动组件、上十探针测试头、下十探针测试头、测试圆盘和分级组件均与控制单元相连,由控制单元控制各测试组探针的通断电。
测试时,通过测试圆盘输送待测试的环形压敏电阻,环形压敏电阻先由正反检测件检测正反面,然后输送至检测位,检测时,上、下十探针测试头分别在升降驱动组件的作用动作,夹紧待测试环形压敏电阻,根据正反检测件的检测结果控制相应测试组的探针上电,如果是正面,依次给上十探针测试头的两个测试组的探针上电,并计算每个测试组中两两相邻探针间的电压,如果两组探针都能检测到有效数值,则选择测量电压差最小的一组数据作为有效数据,如果仅有一组探针能检测到数据,则直接按照测量的数据对环形压敏电阻进行分级,分级完成后由分级组件对其进行分级归类,按照产品等级回收。整个测试过程,上料、正反检测和测试头检测同步进行,省略了旋转对正装置,节省了工序,提高了工作效率,降低了设备功耗。
优选地,所述测试圆盘设于一倾斜的台面上,步进电机转轴与测试圆盘垂直安装,测试头和正反检测件设置在测试圆盘较高的一侧,测试圆盘外沿除了安装分级组件的部位均设置挡板,测试圆盘上设置分级组件的部位对应环形压敏电阻设置弧形分隔板。
测试时,直接在测试圆盘上堆一堆环形压敏电阻,受重力作用,环形压敏电阻堆在测试圆盘低处,容置凹槽内自然会落入环形压敏电阻,并随着测试圆盘的旋转向上移动,即使移动过程中会带动部分环形压敏电阻一起移动,但受重力作用,未落入容置凹槽的环形压敏电阻会重新落回至测试圆盘低处,到达正反检测件时,仅余容置凹槽内的环形压敏电阻接受检测,挡板可防止测试圆盘旋转的过程环形压敏电阻中从测试圆盘上逸出,但安装分级组件的部分是为了实现对检测完的环形压敏电阻进行分类,需要与未检测的产品进行区分,因此设置弧形分隔板,将检测完的和未检测完的隔离开来;为了方便放料,挡板与分级组件相对的一侧设置放料台,放料台用于放置待检测的环形压敏电阻。
优选地,升降驱动组件包括相对设置的上、下驱动组件,上驱动组件包括上驱动电机,上驱动电机转轴连接上凸轮,对应上凸轮设置上滑块,上滑块固定连接上十探针测试头,下驱动组件包括下驱动电机,下驱动电机转轴连接下凸轮,对应下凸轮设置下滑块,下滑块固定连接下十探针测试头,上、下滑块均与滑轨滑动连接,滑轨和上、下滑块之间分别设置伸缩弹簧;因上、下凸轮不适规则的圆形,在上、下驱动电机旋转的过程中,分别与上、下凸轮接触的上、下滑块沿滑轨上下移动,从而带动上、下十探针测试头往复运动,伸缩弹簧对上、下滑块的移动起缓冲作用。每次上、下十探针测试头夹紧环形压敏电阻,测试圆盘停转,直至两个测试组的探针测试完毕后,上、下探针测试头离开测试圆盘,测试圆盘才继续转动。
为安装紧凑,上、下凸轮可共用一个驱动电机,两者结构相同,安装互成180度,保证上、下十探针测试头保持相向运动,此种情况下,要保证安装后,两者形状不能重合,如果重合,旋转过程中将无法实现上、下滑块的相对滑动。
优选地,所述分级组件包括若干通过支架固定在测试圆盘上方的喷嘴,喷嘴连接气缸,测试圆盘侧面对应每个喷嘴设置一个回收仓。
在实际操作过程中,将环形压敏电阻分为合格品和不合格两大类,合格品按照测量结果分为5个等级,一共需要设置6个喷嘴,检测完成的环形压敏电阻,经控制单元运算后分级,因测试头对每个环形压敏电阻的测试时长都是一致的,也就很好计算当前被测环形压敏电阻到达相应等级喷嘴的准确时间,从被测环形压敏电阻测试完成开始计时,到达计时时间后,开启相应喷嘴,将环形压敏电阻吹进对应的回收仓。一般情况下,为了防止错检,对于第一次测试不合格的产品会重新回收进行二次检测,如果两次测试结果均不合格,才认定为不合格产品。
优选地,所述分级组件的每个回收仓对应设有一个回收通道,各回收通道间相互隔离。防止分级回收过程中不同等级产品互相掺杂。
与现有技术相比,本实用新型具有以下有益效果:
本实用新型设备结构紧凑,检测效率高,降低生产成本。测试时,通过在测试圆盘上料,并通过正反检测件对容置凹槽内的环形压敏电阻进行电极正反面的检测,根据检测结果选择合适的测试组通电测量,并通过分级组件对测量后的环形压敏电阻进行分级回收,整个测试过程,上料、正反检测和测试头检测同步进行,省略了旋转对正装置,节省了工序,提高了工作效率,降低了设备功耗。
附图说明
图1本实用新型结构示意图。
图2升降驱动组件结构示意图之一。
图3升降驱动组件结构示意图之二。
图中:1、测试头;2、测试圆盘;3、正反检测件;4、容置凹槽;5、上十探针测试头;6、下十探针测试头;7、挡板;8、探针;9、弧形分隔板;10、放料台;11、上凸轮;12、上滑块;13、下凸轮;14、下滑块;15、滑轨;16、伸缩弹簧;17、喷嘴;18、支架。
具体实施方式
实施例1:
如图1-2所示,本实施例所述五电极环形压敏电阻十针双面测试装置,包括测试头1、测试圆盘2和控制单元,沿测试圆盘2的旋转方向依次设有正反检测件3、测试头1和分级组件,所述测试圆盘2由旋转驱动件驱动旋转,测试圆盘2上对应环形压敏电阻均匀设置一圈容置凹槽4,测试头1包括由升降驱动组件驱动的上十探针测试头5和下十探针测试头6,上十探针测试头5和下十探针测试头6中每五根相间设置的探针8为一个测试组,每个测试组内的五根探针8设置为圆周对称,升降驱动组件、上十探针测试头5、下十探针测试头6、测试圆盘2和分级组件均与控制单元相连,由控制单元控制各测试组探针8的通断电。
其中,测试圆盘2设于一倾斜的台面上,步进电机转轴与测试圆盘2垂直安装,测试头1和正反检测件3设置在测试圆盘2较高的一侧,测试圆盘2外沿除了安装分级组件的部位均设置挡板7,测试圆盘2上设置分级组件的部位对应环形压敏电阻设置弧形分隔板9。
测试时,直接在测试圆盘2上堆一堆环形压敏电阻,受重力作用,环形压敏电阻堆在测试圆盘2低处,容置凹槽4内自然会落入环形压敏电阻,并随着测试圆盘2的旋转向上移动,即使移动过程中会带动部分环形压敏电阻一起移动,但受重力作用,未落入容置凹槽4的环形压敏电阻会重新落回至测试圆盘2低处,到达正反检测件3时,仅余容置凹槽4内的环形压敏电阻接受检测,挡板7可防止测试圆盘2旋转的过程环形压敏电阻中从测试圆盘2上逸出,但安装分级组件的部分是为了实现对检测完的环形压敏电阻进行分类,需要与未检测的产品进行区分,因此设置弧形分隔板9,将检测完的和未检测完的隔离开来;为了方便放料,挡板7与分级组件相对的一侧设置放料台10,放料台10用于放置待检测的环形压敏电阻。
如图2-3所示,升降驱动组件包括相对设置的上、下驱动组件,上驱动组件包括上驱动电机,上驱动电机转轴连接上凸轮11,对应上凸轮11设置上滑块12,上滑块12固定连接上十探针测试头5,下驱动组件包括下驱动电机,下驱动电机转轴连接下凸轮13,对应下凸轮13设置下滑块14,下滑块14固定连接下十探针测试头6,上、下滑块均与滑轨15滑动连接,滑轨15和上、下滑块之间分别设置伸缩弹簧16;因上、下凸轮不适规则的圆形,在上、下驱动电机旋转的过程中,分别与上、下凸轮接触的上、下滑块沿滑轨15上下移动,从而带动上、下十探针测试头6往复运动,伸缩弹簧16对上、下滑块的移动起缓冲作用。每次上、下十探针测试头夹紧环形压敏电阻,测试圆盘2停转,直至两个测试组的探针8测试完毕后,上、下探针测试头离开测试圆盘2,测试圆盘2才继续转动。为安装紧凑,本实施例中上、下凸轮可共用一个驱动电机,两者结构相同,安装互成180度,保证上、下十探针测试头保持相向运动,此种情况下,要保证安装后,两者形状不能重合,如果重合,旋转过程中将无法实现上、下滑块的相对滑动。
分级组件包括若干通过支架18固定在测试圆盘2上方的喷嘴17,喷嘴17连接气缸,测试圆盘2侧面对应每个喷嘴17设置一个回收仓;分级组件的每个回收仓对应设有一个回收通道,各回收通道间相互隔离,防止分级回收过程中不同等级产品互相掺杂。
在实际操作过程中,将环形压敏电阻分为合格品和不合格两大类,合格品按照测量结果分为5个等级,一共需要设置6个喷嘴17,检测完成的环形压敏电阻,经控制单元运算后分级,因测试头1对每个环形压敏电阻的测试时长都是一致的,也就很好计算当前被测环形压敏电阻到达相应等级喷嘴17的准确时间,从被测环形压敏电阻测试完成开始计时,到达计时时间后,开启相应喷嘴17,将环形压敏电阻吹进对应的回收仓。一般情况下,为了防止错检,对于第一次测试不合格的产品会重新回收进行二次检测,如果两次测试结果均不合格,才认定为不合格产品。
采用上述五电极环形压敏电阻十针双面测试装置进行测试的流程如下:
第一步,向测试圆盘2供料;
第二步,测试圆盘2的容置凹槽4带动待检测环形压敏电阻到达正反检测件3的检测位检测环形压敏电阻的电极朝向;
第三步,检测完电极朝向的环形压敏电阻在测试圆盘2的带动下到达测试头1正下方,测试圆盘2停转,上、下十探针测试头夹紧环形压敏电阻,控制单元根据环形压敏电阻电极朝向,以测试组为单位,向与环形压敏电阻电极面接触的探针8通电并采集同一测试组中两两相邻探针8之间的电压;
第四步,根据第三步测得的电压值对环形压敏电阻进行分级,分级依据是,如果两测试组的探针8均能采集到电压值,则采用电压差值最小的一组数据作为分级依据;如果仅有一组测试组的探针8能采集到电压数据,则采用采集到的唯一一组数据作为分级依据;
第五步,分级组件根据环形压敏电阻的等级将其收纳至对应的回收仓。
检测时,上、下十探针测试头分别在升降驱动组件的作用动作,夹紧待测试环形压敏电阻,根据正反检测件3的检测结果控制相应测试组的探针8上电,正反检测件3采用光电传感器即可,如果是正面,依次给上十探针测试头5的两个测试组的探针8上电,并计算每个测试组中两两相邻探针8间的电压。整个测试过程,上料、正反检测和测试头检测同步进行,省略了旋转对正装置,节省了工序,提高了工作效率,降低了设备功耗。
测试组中两两相邻探针之间的电压的测量电路与现有的五极五针测试法相同,分级标准也与环形压敏电阻的分级标准一致,设备工作过程中依赖的计算机程序属于本领域技术人员公知技术,不属于本实用新型的改进点,不属于本实用新型的改进点,此处不赘述。
Claims (5)
1.一种五电极环形压敏电阻十针双面测试装置,其特征在于,包括测试头(1)、测试圆盘(2)和控制单元,沿测试圆盘(2)的旋转方向依次设有正反检测件(3)、测试头(1)和分级组件,所述测试圆盘(2)由旋转驱动件驱动旋转,测试圆盘(2)上对应环形压敏电阻均匀设置一圈容置凹槽(4),测试头(1)包括由升降驱动组件驱动的上十探针测试头(5)和下十探针测试头(6),上十探针测试头(5)和下十探针测试头(6)中每五根相间设置的探针(8)为一个测试组,每个测试组内的五根探针(8)设置为圆周对称,升降驱动组件、上十探针测试头(5)、下十探针测试头(6)、测试圆盘(2)和分级组件均与控制单元相连,由控制单元控制各测试组探针(8)的通断电。
2.根据权利要求1所述的五电极环形压敏电阻十针双面测试装置,其特征在于,所述测试圆盘(2)设于一倾斜的台面上,步进电机转轴与测试圆盘(2)垂直安装,测试头(1)和正反检测件(3)设置在测试圆盘(2)较高的一侧,测试圆盘(2)外沿除了安装分级组件的部位均设置挡板(7),测试圆盘(2)上设置分级组件的部位对应环形压敏电阻设置弧形分隔板(9)。
3.根据权利要求1所述的五电极环形压敏电阻十针双面测试装置,其特征在于,升降驱动组件包括相对设置的上、下驱动组件,上驱动组件包括上驱动电机,上驱动电机转轴连接上凸轮(11),对应上凸轮(11)设置上滑块(12),上滑块(12)固定连接上十探针测试头(5),下驱动组件包括下驱动电机,下驱动电机转轴连接下凸轮(13),对应下凸轮(13)设置下滑块(14),下滑块(14)固定连接下十探针测试头(6),上、下滑块均与滑轨(15)滑动连接,滑轨(15)和上、下滑块之间分别设置伸缩弹簧(16)。
4.根据权利要求1所述的五电极环形压敏电阻十针双面测试装置,其特征在于,所述分级组件包括若干通过支架(18)固定在测试圆盘(2)上方的喷嘴(17),喷嘴(17)连接气缸,测试圆盘(2)侧面对应每个喷嘴(17)设置一个回收仓。
5.根据权利要求1所述的五电极环形压敏电阻十针双面测试装置,其特征在于,所述分级组件的每个回收仓对应设有一个回收通道,各回收通道间相互隔离。
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CN201922490907.1U CN211637402U (zh) | 2019-12-31 | 2019-12-31 | 五电极环形压敏电阻十针双面测试装置 |
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Cited By (1)
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CN112337816A (zh) * | 2020-10-22 | 2021-02-09 | 苏州卯是卯自动化设备有限公司 | 一种pogo pin全自动检测机 |
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2019
- 2019-12-31 CN CN201922490907.1U patent/CN211637402U/zh active Active
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