CN211402635U - 一种芯片的手动测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种芯片的手动测试装置，属于芯片测试技术领域。移动载台固定在工作台上，高度块固定在所述移动载台上，载物台位于高度块上，载物台上方设有探针卡安装架，所述探针卡安装架固定在Z向微调滑块上，所述Z向微调滑块滑动连接在Z向微调滑轨上，Z向微调滑轨位于Z向滑块上，所述Z向滑块滑动连接于Z向导轨上，Z向导轨位于Z向支架上，所述Z向支架上还设有千分尺，千分尺连接Z向微调滑块，Z向滑块底部连接限位板，所述限位板底部设有Z向限位柱，凸轮固定在旋转驱动杆上，所述旋转驱动杆两端贯穿所述Z向支架，所述旋转驱动杆两端连接Z向升降摇杆。本实用新型的有益效果是：结构简易，容易操作，成本低。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种芯片的手动测试装置，属于芯片测试技术领域。
背景技术
规模生产芯片的厂家一般都有自动芯片测试机(ATE：Auto Test Equipment)，但是这种设备价格昂贵，作为研究开发机构的科学院所无法承担，并且用途也不大，相反，这些机构一般更需要一种简易，低价格的手动测试装置。
实用新型内容
为解决现有技术存在的缺陷，本实用新型的目的是提供一种简易且造价低的芯片的手动测试装置。
本实用新型的技术方案是：一种芯片的手动测试装置，移动载台固定在工作台上，高度块固定在所述移动载台上，载物台位于高度块上，载物台上方设有探针卡安装架，所述探针卡安装架固定在Z向微调滑块上，所述Z向微调滑块滑动连接在Z向微调滑轨上，Z向微调滑轨位于Z向滑块上，所述Z向滑块滑动连接于Z向导轨上，Z向导轨位于Z向支架上，所述Z向支架上还设有千分尺，千分尺连接Z向微调滑块，Z向滑块底部连接限位板，所述限位板底部设有Z向限位柱，Z向限位柱通过安装板固定在Z向支架上，连杆顶端转动连接所述限位板，连杆底端转动连接凸轮，所述凸轮固定在旋转驱动杆上，所述旋转驱动杆两端贯穿所述Z向支架，所述旋转驱动杆两端连接Z向升降摇杆。
所述移动载台为XYθ移动载台。
所述安装板上还设有缓冲器，所述缓冲器顶端高于Z向限位柱。
所述探针卡安装架上设有用于固定探针卡的压板，压板通过压紧螺栓安装于探针卡安装架上。
本实用新型的有益效果是：结构简易，容易操作，成本低。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为本实用新型的主视图；
图3为本实用新型的侧视图。
图中附图标记如下：1、工作台，2、Z向升降摇杆，3、连杆，4、Z向限位柱，5、缓冲器，6、Z向滑块，7、Z向支架，8、Z向导轨，9、Z向微调滑轨，10、千分尺，11、Z向微调滑块，12、探针卡安装架，13、探针卡，14、载物台，15、高度块，16、移动载台，17、限位板，18、凸轮，19、旋转驱动杆，20、压板，21、压紧螺栓。
具体实施方式
下面结合附图1-3对本实用新型做进一步说明：
一种芯片的手动测试装置，移动载台16固定在工作台1上，高度块15固定在所述移动载台16上，载物台14位于高度块15上，载物台14上方设有探针卡安装架12，所述探针卡安装架12固定在Z向微调滑块11上，所述Z向微调滑块11滑动连接在Z向微调滑轨9上，Z向微调滑轨9位于Z向滑块6上，所述Z向滑块6滑动连接于Z向导轨8上，Z向导轨8位于Z向支架7上，所述Z向支架7上还设有千分尺10，千分尺10连接Z向微调滑块11，Z向滑块6底部连接限位板17，所述限位板17底部设有Z向限位柱4，Z向限位柱4通过安装板固定在Z向支架7上，连杆3顶端转动连接所述限位板17，连杆3底端转动连接凸轮18，所述凸轮18固定在旋转驱动杆19上，所述旋转驱动杆19两端贯穿所述Z向支架7，所述旋转驱动杆19两端连接Z向升降摇杆2。所述移动载台16为XYθ移动载台。所述安装板上还设有缓冲器5，所述缓冲器5顶端高于Z向限位柱4。所述探针卡安装架12上设有用于固定探针卡13的压板20，压板20通过压紧螺栓21安装于探针卡安装架12上。
本实用新型的工作过程为：
推动Z向升降摇杆2，通过凸轮18和连杆3带动Z向滑块6以及探针卡安装架12向上移动，凸轮18向上转动到极限位置后，贴靠在Z向支架7表面上，探针卡安装架12停止在高位，将待检测制品放到载物台14上，然后拉动Z向升降摇杆2，使针卡安装架12带动探针卡向下移动，限位板17与缓冲器5接触，经缓冲器5的缓冲后，限位板17再与Z向限位柱4接触，调节Z向限位柱4，使探针卡13与待检测制品微接触，然后调节XYθ移动载台，从而调节探针卡13与待检测制品的相对位置，然后启动与探针卡连接的测试箱按键，进行测定，测定完毕后，推起Z向升降摇杆2，使探针卡13升起，更换下一个待检测制品，进入一下检测循环。
关于XYθ移动载台，现有技术已公开相关技术方案，本申请不再赘述其具体结构。
以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本实用新型的保护范围。
Claims (4)
1.一种芯片的手动测试装置，其特征在于，移动载台(16)固定在工作台(1)上，高度块(15)固定在所述移动载台(16)上，载物台(14)位于高度块(15)上，载物台(14)上方设有探针卡安装架(12)，所述探针卡安装架(12)固定在Z向微调滑块(11)上，所述Z向微调滑块(11)滑动连接在Z向微调滑轨(9)上，Z向微调滑轨(9)位于Z向滑块(6)上，所述Z向滑块(6)滑动连接于Z向导轨(8)上，Z向导轨(8)位于Z向支架(7)上，所述Z向支架(7)上还设有千分尺(10)，千分尺(10)连接Z向微调滑块(11)，Z向滑块(6)底部连接限位板(17)，所述限位板(17)底部设有Z向限位柱(4)，Z向限位柱(4)通过安装板固定在Z向支架(7)上，连杆(3)顶端转动连接所述限位板(17)，连杆(3)底端转动连接凸轮(18)，所述凸轮(18)固定在旋转驱动杆(19)上，所述旋转驱动杆(19)两端贯穿所述Z向支架(7)，所述旋转驱动杆(19)两端连接Z向升降摇杆(2)。
2.根据权利要求1所述的芯片的手动测试装置，其特征在于，所述移动载台(16)为XYθ移动载台。
3.根据权利要求1所述的芯片的手动测试装置，其特征在于，所述安装板上还设有缓冲器(5)，所述缓冲器(5)顶端高于Z向限位柱(4)。
4.根据权利要求1所述的芯片的手动测试装置，其特征在于，所述探针卡安装架(12)上设有用于固定探针卡(13)的压板(20)，压板(20)通过压紧螺栓(21)安装于探针卡安装架(12)上。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN201922332539.8U CN211402635U (zh) | 2019-12-23 | 2019-12-23 | 一种芯片的手动测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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| CN201922332539.8U CN211402635U (zh) | 2019-12-23 | 2019-12-23 | 一种芯片的手动测试装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| CN211402635U true CN211402635U (zh) | 2020-09-01 |
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ID=72210890
Family Applications (1)
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| CN201922332539.8U Active CN211402635U (zh) | 2019-12-23 | 2019-12-23 | 一种芯片的手动测试装置 |
Country Status (1)
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2019
- 2019-12-23 CN CN201922332539.8U patent/CN211402635U/zh active Active
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