CN211292976U - 一种芯片测试夹具 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种芯片测试夹具，包括基座和用于托住待测芯片的绝缘托条；对待测芯片进行测试时，先将待测芯片放置在绝缘托条上，而后通过驱动装置驱动第一绝缘条和第二绝缘条近离待测芯片，使导电片与待测芯片的引脚接触，尽而通过外部的测试电路对待测芯片进行测试；并且还可以放置多个待测芯片在绝缘托条上，测试完毕后控制驱动装置驱动第一绝缘条和第二绝缘条远离芯片，而后还可以直接推动最边端的芯片，使绝缘托条上的芯片全部滑走，以提高工作效率；第一垫高条和第二垫高条用于将绝缘托条垫高，以给驱动装置安装的空间，同时还缩小了产品的体积；实现结构简单，成本低，体积小，使用方便，工作效率高。

Description

一种芯片测试夹具

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，更具体地说，涉及一种芯片测试夹具。

背景技术

随着集成电路制造工艺的迅速发展和设计水平的飞速提高，设计者能够将愈来愈复杂的功能集成到单块硅片上，很多功能的元器件都实现了芯片级工艺。然而对于STC89C51或STC89C52的芯片测试夹具大多存在结构复杂，成本高，体积大，并且工作效率低。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种结构简单，成本低，体积小，使用方便，工作效率高的芯片测试夹具。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：

构造一种芯片测试夹具，包括基座和用于托住待测芯片的绝缘托条；其中，所述基座上竖向固定连接有第一垫高条和第二垫高条，所述第一垫高条与所述第二垫高条相互平行，所述绝缘托条固定连接在所述第一垫高条和所述第二垫高条的上方；

所述基座上还设置有用于对所述待测芯片的各引脚进行可拆卸电连接的夹具；所述夹具包括第一绝缘条和第二绝缘条，所述第一绝缘条和所述第二绝缘条分别位于所述绝缘托条的两边且均与所述绝缘托条相互平行，所述第一绝缘条和所述第二绝缘条均位于所述第一垫高条和所述第二垫高条的上方；所述待测芯片的引脚分为左右两排，所述第一绝缘条和所述第二绝缘条近离所述绝缘托条的一侧面均设置有与所述待测芯片的多个引脚一一对应的多个导电片；

所述夹具还包括用于驱动所述第一绝缘条和所述第二绝缘条近离或远离所述绝缘托条的驱动装置。

本实用新型所述的芯片测试夹具，其中，所述驱动装置包括第一丝杆和第二丝杆；所述第一丝杆和所述第二丝杆均位于所述第一垫高条与所述第二垫高条之间且均垂直于所述绝缘托条；所述第一丝杆和所述第二丝杆的两端均转动连接有轴承座，所述轴承座与所述基座固定连接；

所述第一丝杆和所述第二丝杆近离所述第一绝缘条的一端的螺纹的旋向均与远离所述第一绝缘条的一端的螺纹的旋向相反；

所述第一绝缘条近离所述第一丝杆的底面和所述第二绝缘条近离所述第一丝杆的底面均固定连接有第一凸块；所述第一绝缘条近离所述第二丝杆的底面和所述第二绝缘条近离所述第二丝杆的底面均固定连接有第二凸块；所述第一凸块上设置有与所述第一丝杆相匹配的螺孔且所述第一凸块在所述第一丝杆上来回移动；所述第二凸块上设置有与所述第二丝杆相匹配的螺孔且所述第二凸块在所述第二丝杆上来回移动。

本实用新型所述的芯片测试夹具，其中，所述第一丝杆近离所述第二绝缘条的一端固定连接有第一同步带轮，所述第二丝杆近离所述第二绝缘条的一端固定连接有第二同步带轮，所述第一同步带轮齿合有同步带，所述同步带还与所述第二同步带轮相齿合。

本实用新型所述的芯片测试夹具，其中，所述第一丝杆或所述第二丝杆的任一一端还固定连接有摇轮。

本实用新型所述的芯片测试夹具，其中，所述导电片还连接有导线，所述导线的另一端与外部的测试电路连接。

本实用新型所述的芯片测试夹具，其中，所述绝缘托条的任意一端还固定连接有限位块，所述限位块位于所述绝缘托条的顶面。

本实用新型所述的芯片测试夹具，其中，所述绝缘托条的宽度等于所述待测芯片的左右两排引脚之间的距离，所述绝缘托条的高度大于所述待测芯片的引脚的高度，所述绝缘托条的长度大于所述待测芯片的长度。

本实用新型的有益效果在于：对待测芯片进行测试时，先将待测芯片放置在绝缘托条上，而后通过驱动装置驱动第一绝缘条和第二绝缘条近离待测芯片，使导电片与待测芯片的引脚接触，尽而通过外部的测试电路对待测芯片进行测试；并且还可以放置多个待测芯片在绝缘托条上，测试完毕后控制驱动装置驱动第一绝缘条和第二绝缘条远离芯片，而后还可以直接推动最边端的芯片，使绝缘托条上的芯片全部滑走，以提高工作效率；第一垫高条和第二垫高条用于将绝缘托条垫高，以给驱动装置安装的空间，同时还缩小了产品的体积；实现结构简单，成本低，体积小，使用方便，工作效率高。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的部分实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图：

图1是本实用新型较佳实施例的芯片测试夹具的结构示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例是本实用新型的部分实施例，而不是全部实施例。基于本实用新型的实施例，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型的保护范围。

本实用新型较佳实施例的芯片测试夹具如图1所示；包括基座100和用于托住待测芯片(图中未显示)的绝缘托条200；基座100上竖向固定连接有第一垫高条101和第二垫高条102，第一垫高条101与第二垫高条102相互平行，绝缘托条200固定连接在第一垫高条101和第二垫高条102的上方；

基座100上还设置有用于对待测芯片的各引脚进行可拆卸电连接的夹具300；夹具300包括第一绝缘条301和第二绝缘条302，第一绝缘条301和第二绝缘条302分别位于绝缘托条200的两边且均与绝缘托条200相互平行，第一绝缘条301和第二绝缘条302均位于第一垫高条101和第二垫高条102的上方；待测芯片的引脚分为左右两排，第一绝缘条301和第二绝缘条302近离绝缘托条200的一侧面均设置有与待测芯片的多个引脚一一对应的多个导电片3000；

夹具300还包括用于驱动第一绝缘条301和第二绝缘条302近离或远离绝缘托条200的驱动装置400；

对待测芯片进行测试时，先将待测芯片放置在绝缘托条200上，而后通过驱动装置400驱动第一绝缘条301和第二绝缘条302近离待测芯片，使导电片3000与待测芯片的引脚接触，尽而通过外部的测试电路对待测芯片进行测试；并且还可以放置多个待测芯片在绝缘托条200上，测试完毕后控制驱动装置400驱动第一绝缘条301和第二绝缘条302远离芯片，而后还可以直接推动最边端的芯片，使绝缘托条200上的芯片全部滑走，以提高工作效率；第一垫高条101和第二垫高条102用于将绝缘托条200垫高，以给驱动装置400安装的空间，同时还缩小了产品的体积；实现结构简单，成本低，体积小，使用方便，工作效率高。

如图1所示，驱动装置400包括第一丝杆401和第二丝杆402；第一丝杆401和第二丝杆402均位于第一垫高条101与第二垫高条102之间且均垂直于绝缘托条200；第一丝杆401和第二丝杆402的两端均转动连接有轴承座4001，轴承座4001与基座100固定连接；

第一丝杆401和第二丝杆402近离第一绝缘条301的一端的螺纹的旋向均与远离第一绝缘条301的一端的螺纹的旋向相反；实现第一绝缘条301和第二绝缘条302近离或远离绝缘托条200的目的；

第一绝缘条301近离第一丝杆401的底面和第二绝缘条302近离第一丝杆401的底面均固定连接有第一凸块3001；第一绝缘条301近离第二丝杆402的底面和第二绝缘条302近离第二丝杆402的底面均固定连接有第二凸块3002；第一凸块3001上设置有与第一丝杆401相匹配的螺孔且第一凸块3001在第一丝杆401上来回移动；第二凸块3002上设置有与第二丝杆402相匹配的螺孔且第二凸块3002在第二丝杆402上来回移动；实现对第一绝缘条301和第二绝缘条302的平行移动。

如图1所示，第一丝杆401近离第二绝缘条302的一端固定连接有第一同步带4013轮4011，第二丝杆402近离第二绝缘条302的一端固定连接有第二同步带4013轮4012，第一同步带4013轮4011齿合有同步带4013，同步带4013还与第二同步带4013轮4012相齿合；实现第一丝杆401与第二丝杆402的同步，即达到使第一绝缘条301和第二绝缘条302平行移动的目的。

如图1所示，第一丝杆401或第二丝杆402的任一一端还固定连接有摇轮4014；按设定的方向转动摇轮4014实现对第一绝缘条301和第二绝缘条302近离或远离绝缘托条200的驱动。

如图1所示，绝缘托条200的任意一端还固定连接有限位块201，限位块201位于绝缘托条200的顶面；以对待测芯片进行定位，使待测芯片的引脚与导电片3000对应。

如图1所示，绝缘托条200的宽度等于(或略微偏小，以便于放置待测芯片至绝缘托条200上)待测芯片的左右两排引脚之间的距离，绝缘托条200的高度大于待测芯片的引脚的高度，避免与第一垫高条101或第二垫高条102产生干涉，绝缘托条200的长度大于待测芯片的长度，以放置更多的待测芯片进行同时测试，同时第一绝缘条301和第二绝缘条302的长度也应满足同时测量多个待测芯片的长度，以及导电片3000的数量也应大于或等于所有待测芯片的引脚数；如图1所示，导电片3000还连接有导线，导线的另一端与外部的测试电路连接；实现在对STC89C51或STC89C52芯片进行测试时还可以对芯片的引脚进行矫正。

应当理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，而所有这些改进和变换都应属于本实用新型所附权利要求的保护范围。

Claims (7)

1.一种芯片测试夹具，包括基座和用于托住待测芯片的绝缘托条；其特征在于，所述基座上竖向固定连接有第一垫高条和第二垫高条，所述第一垫高条与所述第二垫高条相互平行，所述绝缘托条固定连接在所述第一垫高条和所述第二垫高条的上方；

所述基座上还设置有用于对所述待测芯片的各引脚进行可拆卸电连接的夹具；所述夹具包括第一绝缘条和第二绝缘条，所述第一绝缘条和所述第二绝缘条分别位于所述绝缘托条的两边且均与所述绝缘托条相互平行，所述第一绝缘条和所述第二绝缘条均位于所述第一垫高条和所述第二垫高条的上方；所述待测芯片的引脚分为左右两排，所述第一绝缘条和所述第二绝缘条近离所述绝缘托条的一侧面均设置有与所述待测芯片的多个引脚一一对应的多个导电片；

所述夹具还包括用于驱动所述第一绝缘条和所述第二绝缘条近离或远离所述绝缘托条的驱动装置。

2.根据权利要求1所述的芯片测试夹具，其特征在于，所述驱动装置包括第一丝杆和第二丝杆；所述第一丝杆和所述第二丝杆均位于所述第一垫高条与所述第二垫高条之间且均垂直于所述绝缘托条；所述第一丝杆和所述第二丝杆的两端均转动连接有轴承座，所述轴承座与所述基座固定连接；

所述第一丝杆和所述第二丝杆近离所述第一绝缘条的一端的螺纹的旋向均与远离所述第一绝缘条的一端的螺纹的旋向相反；

所述第一绝缘条近离所述第一丝杆的底面和所述第二绝缘条近离所述第一丝杆的底面均固定连接有第一凸块；所述第一绝缘条近离所述第二丝杆的底面和所述第二绝缘条近离所述第二丝杆的底面均固定连接有第二凸块；所述第一凸块上设置有与所述第一丝杆相匹配的螺孔且所述第一凸块在所述第一丝杆上来回移动；所述第二凸块上设置有与所述第二丝杆相匹配的螺孔且所述第二凸块在所述第二丝杆上来回移动。

3.根据权利要求2所述的芯片测试夹具，其特征在于，所述第一丝杆近离所述第二绝缘条的一端固定连接有第一同步带轮，所述第二丝杆近离所述第二绝缘条的一端固定连接有第二同步带轮，所述第一同步带轮齿合有同步带，所述同步带还与所述第二同步带轮相齿合。

4.根据权利要求3所述的芯片测试夹具，其特征在于，所述第一丝杆或所述第二丝杆的任一一端还固定连接有摇轮。

5.根据权利要求1所述的芯片测试夹具，其特征在于，所述导电片还连接有导线，所述导线的另一端与外部的测试电路连接。

6.根据权利要求1所述的芯片测试夹具，其特征在于，所述绝缘托条的任意一端还固定连接有限位块，所述限位块位于所述绝缘托条的顶面。

7.根据权利要求1所述的芯片测试夹具，其特征在于，所述绝缘托条的宽度等于所述待测芯片的左右两排引脚之间的距离，所述绝缘托条的高度大于所述待测芯片的引脚的高度，所述绝缘托条的长度大于所述待测芯片的长度。

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