CN211089625U - 动端子及测试用射频开关 - Google Patents

Abstract

一种动端子，包括固定部、自所述固定部前端向下折弯延伸形成的第一焊脚、自所述固定部前端斜向后下方延伸形成的弹性臂及自所述弹性臂自由端向上冲压形成的接触凸包，所述动端子还包括自所述弹性臂的自由端横向两侧斜向前下方延伸形成的一对支撑臂。本申请还包括一种测试用射频开关。

Description

动端子及测试用射频开关

技术领域

本申请涉及射频连接器领域，尤指一种动端子及测试用射频开关。

背景技术

移动通信设备，如手机等，一般在出厂之前需要对天线信号进行测试，此时，需要在手机PCB上设置若干测试用射频开关，该射频开关一般包括绝缘底座、开设有插孔的绝缘上盖、安装于所述绝缘底座与绝缘上盖之间的动端子与静端子及将所述绝缘底座与绝缘上盖固持为一体的金属外壳。中国台湾TW103137706号专利申请揭示了一种射频开关，其动端子在弹性臂横向两侧设置横向延伸的支撑臂来增加弹性力，直接受力的支撑臂在受力过大时容易产生机械形变，导致开关失效。

实用新型内容

鉴于此，有必要提供一种弹性性能稳定的动端子及测试用射频开关。

为解决上述技术问题，本申请提供了一种动端子，包括固定部、自所述固定部前端向下折弯延伸形成的第一焊脚、自所述固定部前端斜向后下方延伸形成的弹性臂及自所述弹性臂自由端向上冲压形成的接触凸包，所述动端子还包括自所述弹性臂的自由端横向两侧斜向前下方延伸形成的一对支撑臂。

优选地，所述支撑臂自由端的水平位置低于所述弹性臂自由端的水平位置，所述弹性臂自由端的水平位置低于所述固定部的水平位置。

为解决上述技术问题，本申请还提供了一种测试用射频开关，包括设有安装腔的绝缘底座、覆盖于所述绝缘底座上方且设有与所述安装腔连通的插孔的绝缘上盖、组装于所述安装腔内且夹持于所述绝缘底座与所述绝缘上盖之间的动端子、一体成型于所述绝缘上盖并与所述动端子电性接触的静端子及将所述绝缘底座与绝缘上盖固持为一体的金属外壳，所述安装腔包括凹设于后端的凹陷槽、设于中间的支撑台及设于前端的固定台，所述动端子包括夹持于所述绝缘上盖与所述固定台之间的固定部、自所述固定部前端向下折弯延伸形成的第一焊脚、自所述固定部前端斜向后下方延伸形成的弹性臂、自所述弹性臂自由端向上冲压形成的接触凸包及自所述弹性臂的自由端横向两侧斜向前下方延伸形成的一对支撑臂，所述弹性臂自由端悬置于所述凹陷槽上方，所述支撑臂抵持于所述支撑台上，所述静端子包括位于所述接触凸包上的接触板部。

优选地，绝缘底座还包括分别开设于所述安装腔前后两端的前缺口与后缺口及位于所述安装腔横向两侧的侧壁，所述侧壁向横向外侧凸出形成有凸块，所述绝缘上盖包括盖板、自所述盖板向上凸出形成的凸柱、上下贯通所述凸柱并与所述安装腔连通的所述插孔、自所述盖板前向延伸形成的前盖部及自所述盖板后向延伸形成的后盖部，所述动端子的固定部夹持于所述固定台与所述前盖部之间。

优选地，所述前盖部的横向两侧向下凸出形成有定位柱，所述静端子一体成型于所述后盖部内，所述动端子的固定部横向两侧分别开设有容纳所述定位柱的定位孔以定位所述动端子。

优选地，所述后盖部包括水平位置低于所述盖板底面的第一台阶部及水平位置低于所述第一台阶部的第二台阶部，所述第二台阶部位于所述第一台阶部后侧，所述静端子的接触板部的底面露出于所述第一台阶部下表面，所述静端子还包括自所述接触板部后端向下折弯延伸形成的第二焊脚。

优选地，所述静端子还包括贯穿所述接触板部的穿孔，所述静端子的接触板部一体成型于所述后盖部内，所述穿孔被填充满塑胶以增加固持力。

优选地，所述凹陷槽是从前之后逐步变深的，所述凹陷槽后端的深度大于前端的深度，所述弹性臂前端与所述固定部后端暴露于所述插孔下方。

优选地，所述金属外壳包括覆盖于所述绝缘上盖的盖板上的包覆板、自所述包覆板向上拉伸形成的包覆于所述凸柱外周的包覆筒、自所述包覆板横向两侧向下折弯形成的一对包覆壁及自所述包覆壁底部向内折弯形成包覆于所述绝缘底座底部的夹持壁。

优选地，所述包覆壁上开设有与所述凸块对应限位的限位孔。

本申请动端子通过自所述弹性臂自由端横向两侧向前下方延伸形成一对支撑臂以提供弹性力，使所述支撑臂具有稳定的弹性力。

本申请测试用射频开关通过所述支撑台及凹陷槽的设置，所述动端子设置一对向前下方延伸并抵持于所述支撑台上的支撑臂，避免测试插针插入时设有接触凸包的弹性臂的自由端向下接触安装腔的表面而造成永久形变而影响动端子的弹性性能。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1为本申请测试用射频开关的立体组合图；

图2为本申请测试用射频开关的立体分解图；

图3为本申请测试用射频开关的绝缘底座的立体图；

图4为本申请测试用射频开关的绝缘上盖与静端子的立体图；

图5为本申请测试用射频开关的动端子的立体图；

图6为沿图1所示A-A虚线的剖视图。

具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请具体实施例及相应的附图对本申请技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。

本申请关于方向的定义均以图1为准，以X方向为前后方向(纵向方向)的前方，以Y方向为左右方向(横向方向)的右方，以Z方向为上下方向(垂直方向)的上方。

请参阅图1至图2所示，本申请测试用射频开关包括设有安装腔22的绝缘底座20、覆盖于所述绝缘底座20上方且设有与所述安装腔22连通的插孔33的绝缘上盖30、组装于所述安装腔22内且夹持于所述绝缘底座20与所述绝缘上盖30之间的动端子40、一体成型于所述绝缘上盖30并与所述动端子40电性接触的静端子50及将所述绝缘底座20与绝缘上盖30固持为一体的金属外壳10。

请参阅图2、图3所示，所述绝缘底座20包括底壁21、自所述底壁21横向两侧向上延伸形成的两侧壁23及在纵向方向形成于所述底壁21上方且位于两侧壁23之间的安装腔22。所述安装腔22的前后两端分别形成有后缺口223及前缺口224，所述安装腔22的底壁后端设有凹陷槽221，所述安装腔22的中间部位设有支撑台222，所述支撑台222后端形成有水平位置高于所述支撑台222的固定台225。所述凹陷槽221是从前之后逐步变深的，即后端的深度大于前端的深度。所述支撑台222的水平高度高于所述凹陷槽221的水平高度。所述侧壁23的横向外侧还设有想横向外侧凸出形成的凸块231。

请参阅图2、图4所示，所述绝缘上盖30包括盖板31、自所述盖板31向上凸出形成的凸柱32、上下贯通所述凸柱32并与所述安装腔22连通的插孔33、自所述盖板31前向延伸形成的前盖部35及自所述盖板31后向延伸形成的后盖部34。所述前盖部35的横向两侧向下凸出形成有定位柱36，所述静端子50一体成型于所述后盖部34内。所述静端子50包括接触板部51、自所述接触板部51后端向下折弯延伸形成的第二焊脚52及贯穿所述接触板部51的穿孔53。所述后盖部34包括水平位置低于所述盖板31底面的第一台阶部341及水平位置低于所述第一台阶部341的第二台阶部342，所述第二台阶部342位于所述第一台阶部341后侧。所述静端子50的接触板部51一体成型于所述后盖部34内，所述接触板部51的下表面露出于所述第一台阶部341的底面，所述穿孔53被填充满塑胶以增加固持力。

请参阅图1至图6所示，重点参阅图5、图6所示，所述动端子40包括固定部41、自所述固定部41前端向下折弯延伸形成的第一焊脚42、自所述固定部41前端斜向后下方延伸形成的弹性臂43、自所述弹性臂43自由端向上冲压形成的接触凸包44及自所述弹性臂43自由端横向两侧斜向前下方延伸形成的一对支撑臂45。所述固定部41在位于所述固定台225位置处的横向两侧设有对应所述绝缘上盖30的定位柱36设置的定位孔46。

所述金属外壳10包括覆盖于所述绝缘上盖30的盖板31上的包覆板11、自所述包覆板11向上拉伸形成的包覆于所述凸柱32外周的包覆筒12、自所述包覆板11横向两侧向下折弯形成的一对包覆壁13及自所述包覆壁13底部向内折弯形成包覆于所述绝缘底座20底部的夹持壁14。所述包覆壁13上开设有与所述凸块231对应限位的限位孔15。

所述静端子50、金属外壳10一体注塑成型所述绝缘上盖30。注塑成型后，所述金属外壳10的包覆壁13及夹持壁14处于未折弯状态，即所述包覆壁13与所述夹持壁14与所述包覆板11处于同一水平面。

组装时，将所述动端子40组装于所述安装腔22内，再将所述绝缘上盖30及其上的金属外壳组装于所述绝缘底座20上方，最后，将所述金属外壳10的包覆壁13与夹持壁14折弯以固持所述绝缘底座20。

所述固定部41位于所述固定台225上方并被所述绝缘上盖30的前盖部35所述夹持，所述第一焊脚42自所述前缺口224向下延伸形成。所述固定部41的后端与所述弹性臂43的前端悬置于所述支撑台222上方，所述弹性臂43的自由端悬置于所述凹陷槽221的上方，一对所述支撑臂45抵持于所述支撑台222上方。所述静端子50的接触板部51的下表面位于所述凹陷槽221与所述接触凸包44上方，所述接触凸包44受所述支撑臂45的弹性支撑与所述接触板部51的下表面电性接触。

在测试用插针自所述插孔33插入后，所述测试插针向下挤压所述弹性臂43的前部分，使所述支撑臂45先发生弹性形变，继而，所述接触凸包44与所述接触板部51的下表面断开接触，最终所述弹性臂43向下接触所述支撑台222，由于所述凹陷槽221的存在，不会使所述弹性臂43的自由端向下接触所述凹陷槽221而发生弹性形变，避免造成所述弹性臂43的自由端产生永久性机械形变而伤害弹性性能。

本申请测试用射频开关通过所述支撑台222及凹陷槽221的设置，所述动端子40设置一对向前下方延伸并抵持于所述支撑台222上的支撑臂45，避免测试插针插入时设有接触凸包44的弹性臂43的自由端向下接触安装腔22的表面而造成永久形变而影响动端子40的弹性性能。

以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的权利要求范围之内。

Claims (10)

1.一种动端子，包括固定部、自所述固定部前端向下折弯延伸形成的第一焊脚、自所述固定部前端斜向后下方延伸形成的弹性臂及自所述弹性臂自由端向上冲压形成的接触凸包，其特征在于，所述动端子还包括自所述弹性臂的自由端横向两侧斜向前下方延伸形成的一对支撑臂。

2.如权利要求1所述的动端子，其特征在于，所述支撑臂自由端的水平位置低于所述弹性臂自由端的水平位置，所述弹性臂自由端的水平位置低于所述固定部的水平位置。

3.一种测试用射频开关，包括设有安装腔的绝缘底座、覆盖于所述绝缘底座上方且设有与所述安装腔连通的插孔的绝缘上盖、组装于所述安装腔内且夹持于所述绝缘底座与所述绝缘上盖之间的动端子、一体成型于所述绝缘上盖并与所述动端子电性接触的静端子及将所述绝缘底座与绝缘上盖固持为一体的金属外壳，其特征在于，所述安装腔包括凹设于后端的凹陷槽、设于中间的支撑台及设于前端的固定台，所述动端子包括夹持于所述绝缘上盖与所述固定台之间的固定部、自所述固定部前端向下折弯延伸形成的第一焊脚、自所述固定部前端斜向后下方延伸形成的弹性臂、自所述弹性臂自由端向上冲压形成的接触凸包及自所述弹性臂的自由端横向两侧斜向前下方延伸形成的一对支撑臂，所述弹性臂自由端悬置于所述凹陷槽上方，所述支撑臂抵持于所述支撑台上，所述静端子包括位于所述接触凸包上的接触板部。

4.如权利要求3所述的测试用射频开关，其特征在于，绝缘底座还包括分别开设于所述安装腔前后两端的前缺口与后缺口及位于所述安装腔横向两侧的侧壁，所述侧壁向横向外侧凸出形成有凸块，所述绝缘上盖包括盖板、自所述盖板向上凸出形成的凸柱、上下贯通所述凸柱并与所述安装腔连通的所述插孔、自所述盖板前向延伸形成的前盖部及自所述盖板后向延伸形成的后盖部，所述动端子的固定部夹持于所述固定台与所述前盖部之间。

5.如权利要求4所述的测试用射频开关，其特征在于，所述前盖部的横向两侧向下凸出形成有定位柱，所述静端子一体成型于所述后盖部内，所述动端子的固定部横向两侧分别开设有容纳所述定位柱的定位孔以定位所述动端子。

6.如权利要求5所述的测试用射频开关，其特征在于，所述后盖部包括水平位置低于所述盖板底面的第一台阶部及水平位置低于所述第一台阶部的第二台阶部，所述第二台阶部位于所述第一台阶部后侧，所述静端子的接触板部的底面露出于所述第一台阶部下表面，所述静端子还包括自所述接触板部后端向下折弯延伸形成的第二焊脚。

7.如权利要求6所述的测试用射频开关，其特征在于，所述静端子还包括贯穿所述接触板部的穿孔，所述静端子的接触板部一体成型于所述后盖部内，所述穿孔被填充满塑胶以增加固持力。

8.如权利要求7所述的测试用射频开关，其特征在于，所述凹陷槽是从前之后逐步变深的，所述凹陷槽后端的深度大于前端的深度，所述弹性臂前端与所述固定部后端暴露于所述插孔下方。

9.如权利要求7所述的测试用射频开关，其特征在于，所述金属外壳包括覆盖于所述绝缘上盖的盖板上的包覆板、自所述包覆板向上拉伸形成的包覆于所述凸柱外周的包覆筒、自所述包覆板横向两侧向下折弯形成的一对包覆壁及自所述包覆壁底部向内折弯形成包覆于所述绝缘底座底部的夹持壁。

10.如权利要求9所述的测试用射频开关，其特征在于，所述包覆壁上开设有与所述凸块对应限位的限位孔。

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