CN211014380U - 一种三摄多模组测试装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了一种三摄多模组测试装置,包括载体底板、本体组件、上盖组件、翻转组件以及扣合组件,所述本体组件设于载体底板上,所述本体组件左侧和上盖组件左侧通过翻转组件连接,所述本体组件右侧和上盖组件右侧通过扣合组件连接。本实用新型通过翻转组件、扣合组件、上盖组件和本体组件的配合,实现压合测试,实现一次扣合多个摄像头模组,同时稳定点亮,解决无磨损掉粉尘现象,同时解决了测试反光问题,单个摄像头模组的测试针座组采用分体结构,降低了单个摄像头模组组装偏差导致的对测试定位相互影响,提高探针接触稳定性。

Description

一种三摄多模组测试装置
技术领域
本实用新型涉及摄像头模组测试领域,尤其涉及的是一种三摄多模组测试装置。
背景技术
现有技术中,很多测试治具在测试的时候,每次只能进行单个放料,合盖,然后进行测试操作,测试效率低,不能满足同时测试多个产品测试,造成人工的极大浪费,以及增多产品在整个测试过程中的取放压伤风险,造成极大的损失。治具在产线上测试过程中,会存在磨损掉粉现象,造成粉尘,影响无尘车间的环境等级。且大多数治具的单个部件互相难以拆卸,某一部件损坏更换困难,或者不能更换,造成生产成本较高。
因此,现有技术存在缺陷,需要改进。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是:提供一种测试过程操作简单、测试效率高、治具结构简单、可拆卸的三摄多模组测试装置。
本实用新型的技术方案如下:一种三摄多模组测试装置,包括载体底板、本体组件、上盖组件、翻转组件以及扣合组件,所述本体组件设于载体底板上,所述本体组件左侧和上盖组件左侧通过翻转组件连接,所述本体组件右侧和上盖组件右侧通过扣合组件连接。
所述本体组件与上盖组件之间设置有若干摄像头模组测试组件,所述摄像头模组测试组件包括:摄像头模组固定框、摄像头模组浮动压板、三个测试针座组、三个针座压头组,所述摄像头模组固定框位于摄像头模组浮动压板正下方,每一个所述测试针座组上方有一个针座压头组,所述摄像头模组固定框和测试针座组设于本体组件上,所述摄像头模组浮动压板和针座压头组设于上盖组件上,所述测试针座组位于摄像头模组固定框两侧,所述针座压头组位于摄像头模组浮动压板两侧。
采用上述技术方案,所述的三摄多模组测试装置中,所述翻转组件包括本体转轴座、上盖转轴座、销轴以及扭簧,所述本体转轴座固定于本体组件上,所述上盖转轴座固定与上盖组件上,所述本体转轴座和上盖转轴座通过销轴连接,所述销轴上套设扭簧,所述扭簧一扭力臂与上盖组件抵接,所述扭簧另一扭力臂与本体组件抵接。
采用上述各个技术方案,所述的三摄多模组测试装置中,所述扣合组件包括两个钩子组件、两块钩子镶嵌块以及一个连接把手,所述两钩子组件并排设于本体组件上,所述连接把手与两钩子组件连接,所述上盖组件右侧底部设置有两个钩槽,每一所述钩槽中设置有一钩子镶嵌块,所述钩子组件顶部位于钩槽中。
采用上述各个技术方案,所述的三摄多模组测试装置中,还包括导电块、与导电块适配的侦测用针座组,所述导电块设于上盖组件底部,所述侦测用针座组设于本体组件上。
采用上述各个技术方案,所述的三摄多模组测试装置中,所述载体底板顶面设置有硅胶缓冲条,所述硅胶缓冲条位于翻转组件左侧。
采用上述各个技术方案,所述的三摄多模组测试装置中,还包括若干陀螺仪模组测试组件,所述陀螺仪模组测试组件包括陀螺仪测试针座、陀螺仪压板,所述陀螺仪压板位于陀螺仪测试针座上方,所述陀螺仪压板设于上盖组件上,所述陀螺仪测试针座设于本体组件上。
采用上述各个技术方案,本实用新型通过翻转组件、扣合组件、上盖组件和本体组件的配合,实现压合测试,实现一次扣合多个摄像头模组,同时稳定点亮,解决无磨损掉粉尘现象,同时解决了测试反光问题,单个摄像头模组的测试针座组采用分体结构,降低了单个摄像头模组组装偏差导致的对测试定位相互影响,提高探针接触稳定性。
附图说明
图1为本实用新型的整体结构示意图;
图2为本实用新型的去上盖组件结构示意图;
图3为本实用新型的扣合组件示意图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例,对本实用新型进行详细说明。
本实施例提供了一种三摄多模组测试装置,包括载体底板1、本体组件7、上盖组件2、翻转组件3以及扣合组件4,所述本体组件7设于载体底板1上,所述本体组件7左侧和上盖组件2左侧通过翻转组件3连接,所述本体组件7右侧和上盖组件2右侧通过扣合组件4连接;
所述本体组件7与上盖组件2之间设置有若干摄像头模组测试组件,所述摄像头模组测试组件包括:摄像头模组固定框53、摄像头模组浮动压板51、三个测试针座组54、三个针座压头组52,所述摄像头模组固定框53位于摄像头模组浮动压板51正下方,每一个所述测试针座组54上方有一个针座压头组52,所述摄像头模组固定框53和测试针座组54设于本体组件7上,所述摄像头模组浮动压板51和针座压头组52设于上盖组件2上,所述测试针座组54位于摄像头模组固定框53两侧,所述针座压头组52位于摄像头模组浮动压板51两侧。
如图1~3,载体底板1上组装PCB板(未图示)后,PCB板位于本体组件7下方,载体底板1组装到测试装置上,PCB板连通待测试模组和测试装置,完成信号传输,进行测试。载体底板1上还设置有保护板,用于保护PCB板,载体底板1两侧则设置有夹持块,用于将本体组件7固定在载体底板1上。夹持块、翻转组件3、扣合组件4等需要磨损的部件都由不锈钢材料制成,提高硬度,减少磨损粉尘,保证无尘车间的生产环境。
测试时,扣合组件4打开,上盖组件2在翻转组件3的作用下张开,摄像头模组为三摄模组,摄像头模组放于摄像头模组固定框53上,三摄模组的每一部分都有待测部分,每一待测部分都位于一个测试针座组54上。测试针座组54设有探针,探针底部与PCB板连接,测试过程,上盖组件2合上,摄像头模组浮动压板51将摄像头模组压紧固定,针座压头组52将待测部分压紧,使探针顶部与待测部分连接,探针连通摄像头模组和PCB板,进行测试。
需要说明的是,摄像头模组浮动压板51与上盖组件2之间设置有弹簧件(未图示),给摄像头模组一个弹性的压力,防止硬性压力损坏摄像头模组。并且,摄像头模组固定框53、摄像头模组浮动压板51、三个测试针座组54、三个针座压头组52、翻转组件3、扣合组件4等都为独立设置结构,便于更换,磨损后可替换,降低治具维护成本。且每一组摄像头测试组件中的三个测试针座组54都不一样,根据三摄模组不同的待测部分而设计,防止三摄模组各部分的高度差造成与探针接触形成高度偏差,而给整个测试造成影响。
进一步的,所述翻转组件3包括本体转轴座、上盖转轴座31、销轴32以及扭簧33,所述本体转轴座固定于本体组件7上,所述上盖转轴座31固定与上盖组件2上,所述本体转轴座和上盖转轴座31通过销轴32连接,所述销轴32上套设扭簧33,所述扭簧33一扭力臂与上盖组件2抵接,所述扭簧33另一扭力臂与本体组件7抵接。
如图2,翻转组件3的本体转轴座固定在本体组件7上,上盖转轴座31固定在上盖组件2上,本体转轴座通过销轴32与上盖转轴座31连接,由于销轴32上套设的扭簧33始终给上盖组件2和本体组件7一个张开的力,因此,只要扣合组件4打开,上盖组件2右端就会弹起,实现快速开合。同时,上盖组件2正面扣合后为黑色,防止颜色对测试造成影响。
更进一步的,所述扣合组件4包括两个钩子组件41、两块钩子镶嵌块43以及一个连接把手42,所述两钩子组件41并排设于本体组件7上,所述连接把手42与两钩子组件41连接,所述上盖组件2右侧底部设置有两个钩槽21,每一所述钩槽21中设置有一钩子镶嵌块43,所述钩子组件41顶部位于钩槽21中。
如图3,扣合组件4设置为两个钩子组件41,保证上盖组件2和本体组件7压合后是一个均匀受力状态,钩子组件41通过连接把手42连接,当然,也可以设置为三个或三个以上,仅根据实际需要而定。钩子组件41顶部为钩子,上盖组件2右端底部设置有钩槽21,钩子位于钩槽21中,而钩槽21中设置有钩子镶嵌块43,钩子位于钩子镶嵌块43上,将上盖组件2与本体组件7扣合。根据上盖组件2和本体组件7需要扣合的压力大小,设定钩子镶嵌块43的厚度,如钩子镶嵌块43较厚,则上盖组件2和本体组件7扣合的压力较大,反之则扣合的压力较小。
更进一步的,还包括导电块、与导电块适配的侦测用针座组81,所述导电块设于上盖组件2底部,所述侦测用针座组81设于本体组件7上。
如图2,本体组件7上设置有侦测用针座组81,上盖组件2底部则设置有导电块(未图示),上盖组件2和本体组件7扣合后,导电块与侦测用针座组81短路连接,信号通过PCB板传输至外部测试机台上,表明扣合完成,可以进行测试,若扣合出现问题,则导电块与侦测用针座组81的针座无法连接,外部测试机台无法接收到短路信号,测试未能完成,防止上盖组件2弹开。
更进一步的,所述载体底板1顶面设置有硅胶缓冲条11,所述硅胶缓冲条11位于翻转组件3左侧。
如图1和图2,由于扣合组件4打开后,翻转组件3会给上盖组件2一个较大的弹力,上盖组件2的左端会撞到载体底板1,因此,设置硅胶缓冲条11后可以极大的缓冲撞击力,延长装置的寿命。
更进一步的,如图1和图2,根据需要,可以扩展本实施例的测试范围,根据需要,在本体组件7和上盖组件2之间设置若干陀螺仪模组测试组件,所述陀螺仪模组测试组件包括陀螺仪测试针座62、陀螺仪压板61,所述陀螺仪压板61位于陀螺仪测试针座62上方,所述陀螺仪压板61设于上盖组件2上,所述陀螺仪测试针座62设于本体组件7上。
采用上述各个技术方案,本实用新型通过翻转组件、扣合组件、上盖组件和本体组件的配合,实现压合测试,实现一次扣合多个摄像头模组,同时稳定点亮,解决无磨损掉粉尘现象,同时解决了测试反光问题,单个摄像头模组的测试针座组采用分体结构,降低了单个摄像头模组组装偏差导致的对测试定位相互影响,提高探针接触稳定性。
以上仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用于限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种三摄多模组测试装置,其特征在于:包括载体底板、本体组件、上盖组件、翻转组件以及扣合组件,所述本体组件设于载体底板上,所述本体组件左侧和上盖组件左侧通过翻转组件连接,所述本体组件右侧和上盖组件右侧通过扣合组件连接;
所述本体组件与上盖组件之间设置有若干摄像头模组测试组件,所述摄像头模组测试组件包括:摄像头模组固定框、摄像头模组浮动压板、三个测试针座组、三个针座压头组,所述摄像头模组固定框位于摄像头模组浮动压板正下方,每一个所述测试针座组上方有一个针座压头组,所述摄像头模组固定框和测试针座组设于本体组件上,所述摄像头模组浮动压板和针座压头组设于上盖组件上,所述测试针座组位于摄像头模组固定框两侧,所述针座压头组位于摄像头模组浮动压板两侧。
2.根据权利要求1所述的三摄多模组测试装置,其特征在于:所述翻转组件包括本体转轴座、上盖转轴座、销轴以及扭簧,所述本体转轴座固定于本体组件上,所述上盖转轴座固定与上盖组件上,所述本体转轴座和上盖转轴座通过销轴连接,所述销轴上套设扭簧,所述扭簧一扭力臂与上盖组件抵接,所述扭簧另一扭力臂与本体组件抵接。
3.根据权利要求1所述的三摄多模组测试装置,其特征在于:所述扣合组件包括两个钩子组件、两块钩子镶嵌块以及一个连接把手,所述两钩子组件并排设于本体组件上,所述连接把手与两钩子组件连接,所述上盖组件右侧底部设置有两个钩槽,每一所述钩槽中设置有一钩子镶嵌块,所述钩子组件顶部位于钩槽中。
4.根据权利要求2或3任意所述的三摄多模组测试装置,其特征在于:还包括导电块、与导电块适配的侦测用针座组,所述导电块设于上盖组件底部,所述侦测用针座组设于本体组件上。
5.根据权利要求4所述的三摄多模组测试装置,其特征在于:所述载体底板顶面设置有硅胶缓冲条,所述硅胶缓冲条位于翻转组件左侧。
6.根据权利要求1所述的三摄多模组测试装置,其特征在于:还包括若干陀螺仪模组测试组件,所述陀螺仪模组测试组件包括陀螺仪测试针座、陀螺仪压板,所述陀螺仪压板位于陀螺仪测试针座上方,所述陀螺仪压板设于上盖组件上,所述陀螺仪测试针座设于本体组件上。
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