CN210803335U - 一种x衍射超重样品支架 - Google Patents

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Abstract

一种X衍射超重样品支架属于大型仪器测试领域,包括样品架部分、升降台部分;样品架部分包含第一立柱(1)、第二立柱(2)、第三立柱(3)和样品托板(4);第一立柱(1)、第二立柱(2)、第三立柱(3)等高,且第一立柱位于第二立柱(2)、第三立柱(3)之间连线的中垂线上;三者顶面构成一个平行于水平面的平面,三者粘接或焊接在同一样品托板上;样品下面放置有橡皮泥,使样品待测面与光斑重合;升降台部分由螺母(5)、螺杆(6)、支撑架(7)、底座(8)组成;能够带动螺杆(6)转动的螺母(5)套于螺杆(6)的一端,能带动支撑架(7)上下运动的螺杆(6)位于支撑架(7)上;或者升降台部分采用多级液压式升降台。

Description

一种X衍射超重样品支架
技术领域:
X衍射样品支架,属于大型仪器测试领域,适用于岛津X衍射仪。本实用新型涉及一种对超重样品的X衍射测试辅助工具。
背景技术:
该样品支架主要用于超重样品相对于衍射仪的定位。通过支架的高度和样品位置调整,使样品待测面达到X射线光斑所在的位置,从而顺利完成测试过程。
在对不同厂家衍射仪的调查显示,衍射仪由于本身的结构、对样品的大小有一定的限制。如布鲁克衍射仪设有样品座,样品座的大小限制了可测样品的大小(要求小于23mm×23mm×10mm),因此也就限制了样品的重量。岛津衍射仪采用弹簧夹夹持样品,对样品的长度和宽度没有很大限制、仅要求不超出测角仪中轴的范围(<180mm),但弹簧夹的力量限制了样品的重量(<20g)。在实际应用中,高密度、较大块体的金属材料块体的测试需求是极多的,甚至要求对测试零件不得拆分、破坏,因此,一个能够协助测试较大体积、超重样品的X衍射辅助装置是很必要的。
现在市场上没有针对于超重样品的X衍射测量辅助工具,虽然在衍射仪设计时已经加以考虑、给大体积样品/超重样品留出了足够的放置空间。在实际使用中多是利用各种箱体堆垛、使样品接近于X射线光斑所在位置,但是由于缺乏精确的定位、所得的样品待测面与光斑位置很难完全重合,导致了测量数据的不准确。
本实用新型区别于现有的各种样品架/支架,其目的在于提供一种在可承重升降台帮助下实现超重样品的X衍射测试定位辅助工具。此辅助工具能够承受样品的重量、使样品在样品架上准确定位,在通过升降台移送至测量基准面、并与光斑完全重合,方便、省力的完成样品安放与测量过程。无需对原有衍射仪进行加工改造,并且随时可从衍射仪上移除,不影响常规测试。
发明内容:
本实用新型的技术方案在于提供一种在可承重升降台帮助下实现超重样品在衍射仪上的定位和测量辅助工具,其特征在于:通过手工旋转螺母带动螺杆作为升降台的动力、调节样品的大致高度位置;通过自己设计的块状样品架实现样品相对于衍射光斑的定位及微调,从而达到和完成X衍射测量的目的。
一种X衍射超重样品支架,其特征在于,整体结构分为两个部分:样品架部分、升降台部分;
样品架部分包含第一立柱1、第二立柱2、第三立柱3和样品托板4;第一立柱1、第二立柱2、第三立柱3等高,且第一立柱位于第二立柱2、第三立柱3之间连线的中垂线上;三者顶面构成一个平行于水平面的平面,三者粘接或焊接在同一样品托板上;样品下面放置有橡皮泥,使样品待测面与光斑重合;
升降台部分由螺母5、螺杆6、支撑架7、底座8组成;能够带动螺杆6 转动的螺母5套于螺杆6的一端,通过螺母5的旋转;支撑架7位于样品托板和底座8之间,能带动支撑架7上下运动的螺杆6位于支撑架7上;
或者升降台部分采用多级液压式升降台。
进一步,第一立柱1、第二立柱2、第三立柱3、高度采取20~50mm。
进一步,其中的第一立柱1,位于样品托板最前端中部,要求长宽小于等于8mm×15mm。
进一步,第二立柱2和第三立柱3内侧面之间的距离大于等于25mm。
进一步,其中的样品托板4和底座8为正方形或长方形。
进一步,其中的支撑架7、螺杆6都要求分布在托板4和底座8之间,长度不得超出托板范围。
进一步,样品托板4、底座8、支撑架7、螺杆6之一或者全部原料要求选择金属。
样品架部分,由样品架第一立柱1、第二立柱2、第三立柱3和样品托板 4组成,为样品的承重和放置部分。三个立柱等高,立柱侧面平行于托板四边,立柱顶面所在平面即测试基准面光斑所在平面。三个立柱各占样品托板的三边、构成一等腰三角形,第一立柱1位于顶点位置。
第一立柱1用于标识此样品支架相对于衍射仪的位置,当第一立柱1插入衍射仪的两个样品弹簧夹之间,立柱侧面紧挨着衍射仪、立柱上表面顶着测角仪中轴突起的下表面时,样品支架所标示的光斑位置与衍射仪的实际光斑位置相重合。
升降台部分,由螺母5、螺杆6、支撑架7、底座8组成。通过转动螺母 5带动螺杆6,螺杆6的旋转转化为支撑架7的高度变化,从而调整样品所处的高度。
附图说明:
图1是本实用新型的正视图。
图2是本实用新型的侧视图。
图3是本实用新型的俯视图。
1、第一立柱 2、第二立柱 3、第三立柱
4、样品托板 5、螺母 6、螺杆
7、支撑架 8、底座 9、测量基准面含光斑
具体实施方式
以下结合附图进一步说明本实用新型的具体结构特征及目的。
请参阅图1所示,本实用新型为一种块状样品架和升降台结合、实现超重样品在衍射仪上的定位与辅助测试工具,其中包括有:
第一立柱1,粘接或焊接在样品托板上。最外侧柱面紧贴着托板边沿,占据此边的中点位置。
第二立柱2和第三立柱3,高度与第一立柱1相同,分别位于样品托板两边边沿,在第一立柱1的前方两侧相对而立,与第一立柱1构成等腰三角形分布。
样品托板4位于立柱下方,呈方形,与底座8大小相同。
螺母5、螺杆6位于样品托板4下方。螺母5套于螺杆6的一端,通过螺母5的旋转能够带动螺杆6转动;螺杆6设于托板4和底座8中间,垂直于第二立柱2和第三立柱的连线。
支撑架7位于样品托板和底座8之间,起连接作用。在初始状态支撑架7 被折叠,支撑架7宽度与托板4、底座8一致。随着手动螺母5旋转,通过螺杆6的转动带动支撑架7向上延伸,致使样品托板4被抬高,直至第一立柱1 接触测角仪中部突起为止。
其中的第一立柱1选择长方形柱状,宽度要求小于等于8mm,长度要求小于等于15mm,上表面平行于水平面。这样在实际使用时,柱体刚好位于衍射仪的两个样品夹之间样品夹长15mm,两样品夹间距8mm、垂直于测角仪表面,不影响或碰触样品夹;测量时正好藏于测角仪中部突起部位之下,确保该立柱不进入光斑范围内、造成测量误差。
其中的第二立柱2、第三立柱3要求与第一立柱1同样的高度,确保三者上顶面构成测量基准面,用于光斑位置的校准。高度建议20~50mm,足以容纳大多数常见零件样品。第二立柱2、第三立柱3的形状没有限制,仅同样要求其上表面为一平行于水平面的平面。
其中的第二立柱2和第三立柱3在托板上的位置,要求两立柱相对于第一立柱1的距离等长、两立柱中心连线的中点距第一立柱1外柱面的垂直距离35mm,以辅助于确定光斑位置。当样品支架放置好之后,第二立柱2、第三立柱3上表面中心连线的中央位置即为衍射仪光斑位置。
其中的第二立柱2和第三立柱3在托板上的距离,要求彼此相距要求 25mm以上,以避免立柱进入光斑范围、造成测量误差。为了容纳尽可能大的样品,建议两立柱位置设于样品托板两侧边沿。
其中的样品托板4、底座8要求表面水平,不能影响测量基准面的水平状态。
本辅助工具的使用过程如下:
样品支架放在操作台上,将样品放在样品托板4上。样品下放置适量橡皮泥,以调整样品待测平面的位置与方向。手持一厚玻璃板,压向样品支架第一立柱1、第二立柱2、第三立柱3上表面。玻璃板与样品待测面相接触,将样品下压、使玻璃板与样品待测面重叠,同时使待测面位于第二立柱2和第三立柱3的连线中点位置。
撤去玻璃板,将样品支架连同样品一起放置于衍射仪平台上,位于测角仪下方中轴线上;令第一立柱1侧面紧挨着衍射仪、正对着测角仪中部突起部位正下方。旋转样品支架上的螺母,让样品支架缓缓上升,直至第一立柱1 插入衍射仪的两样品夹中、正好顶着测角仪中部突起的下表面。至此,样品支架相对于衍射仪的位置确定,样品的待测面刚好与衍射光斑的位置相吻合。下面就可以开始测量工作。

Claims (7)

1.一种X衍射超重样品支架,其特征在于,整体结构分为两个部分:样品架部分、升降台部分;
样品架部分包含第一立柱(1)、第二立柱(2)、第三立柱(3)和样品托板(4);第一立柱(1)、第二立柱(2)、第三立柱(3)等高,且第一立柱位于第二立柱(2)、第三立柱(3)之间连线的中垂线上;三者顶面构成一个平行于水平面的平面,三者粘接或焊接在同一样品托板上;样品下面放置有橡皮泥,使样品待测面与光斑重合;
升降台部分由螺母(5)、螺杆(6)、支撑架(7)、底座(8)组成;能够带动螺杆(6)转动的螺母(5)套于螺杆(6)的一端,支撑架(7)位于样品托板和底座(8)之间,能带动支撑架(7)上下运动的螺杆(6)位于支撑架(7)上;
或者升降台部分采用多级液压式升降台。
2.根据权利要求1所述的X衍射超重样品支架,其特征在于:第一立柱(1)、第二立柱(2)和第三立柱(3)的高度采取20~50mm。
3.根据权利要求1所述的X衍射超重样品支架,其特征在于:其中的第一立柱(1),位于样品托板最前端中部,要求长宽小于等于8mm×15mm。
4.根据权利要求1所述的X衍射超重样品支架,其特征在于:第二立柱(2)和第三立柱(3)内侧面之间的距离大于等于25mm。
5.根据权利要求1所述的X衍射超重样品支架,其特征在于:其中的样品托板(4)和底座(8)为长方形。
6.根据权利要求1所述的X衍射超重样品支架,其特征在于:其中的支撑架(7)、螺杆(6)都要求分布在托板(4)和底座(8)之间,长度不得超出样品托板范围。
7.根据权利要求1所述的X衍射超重样品支架,其特征在于:其中的样品托板(4)、底座(8)、支撑架(7)、螺杆(6)之一或者全部原料要求选择金属。
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