CN210639380U - 显示装置 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种显示装置，包括第一基板、多块第一电路板及第二电路板，第一基板通过第一电路板与第二电路板连接，多块第一电路板依次排列形成第一电路板组，每块第一电路板包括第一端及与第一端相对的第二端，每块第一电路板的第二端与相邻的第一电路板的第一端相邻；第一基板上设置有第一检测线，第一电路板组一端的一块第一电路板的第一端设置有第二检测线，另一端的一块第一电路板的第二端设置有第三检测线，第二电路板上设置有第一测试线及第二测试线；第二检测线的第一端与第一检测线的第一端连接，第二检测线的第二端与第一测试线的第一端连接，第一检测线的第二端与第三检测线的第一端连接，第三检测线的第二端与第二测试线的第一端连接。

Description

显示装置

技术领域

本申请涉及显示技术领域，特别涉及一种显示装置。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示器由于具有轻薄、驱动电压低、没有闪烁抖动以及使用寿命长等优点，被广泛应用于电视、手机、电脑等电子产品。液晶显示器包括显示面板、第二电路板及将显示面板与第二电路板连接的第一电路板。第一电路板上设置多个输入引脚及多个输出引脚。在液晶显示器生产过程中，第一电路板通常通过压焊工艺将第一电路板的输入引脚与第二电路板的引脚对位固定以及第一电路板的输出引脚与显示面板的引脚对位固定。

目前，第一电路板的输入引脚与第二电路板的引脚以及第一电路板的输出引脚与显示面板的引脚的对位结果通常通过显微镜检测，检测效率低。

实用新型内容

基于此，有必要针对现有的第一电路板与第二电路板以及第一电路板的对位检测效率低的问题，提供一种显示装置。

一种显示装置，包括第一基板、多块第一电路板及第二电路板，所述第一基板通过所述第一电路板与所述第二电路板连接，所述多块第一电路板依次排列形成第一电路板组，每块第一电路板包括第一端及与所述第一端相对的第二端，每块第一电路板的第二端与相邻的第一电路板的第一端相邻，所述显示装置还包括：

第一检测线，设置于所述第一基板上；

第二检测线，设置于所述第一电路板组一端的一块第一电路板的第一端；

第三检测线，设置于所述第一电路板组另一端的一块第一电路板的第二端；

第一测试线，设置于所述第二电路板上；及

第二测试线，设置于所述第二电路板上；

所述第二检测线的第一端与所述第一检测线的第一端连接，所述第二检测线的第二端与所述第一测试线的第一端连接，所述第一检测线的第二端与所述第三检测线的第一端连接，所述第三检测线的第二端与所述第二测试线的第一端连接。

在其中一个实施例中，所述第一基板上还设置有第四检测线；所述第一电路板组的至少两块相邻的第一电路板之间，其中一块第一电路板的第二端设置有第五检测线，另一块第一电路板的第一端设置有第六检测线；

所述第二电路板上还设置有第三测试线及第四测试线；

所述第五检测线的第一端与所述第四检测线的第一端连接，所述第五检测线的第二端与所述第三测试线的第一端连接，所述第四检测线的第二端与所述第六检测线的第一端连接，所述第六检测线的第二端与所述第四测试线的第一端连接。

在其中一个实施例中，所述第一基板上还设置有第四检测线；所述第一电路板组的每相邻两块第一电路板之间，其中一块第一电路板的第二端设置有第五检测线，另一块第一电路板的第一端设置有第六检测线；

所述第二电路板上还设置有第三测试线及第四测试线；

所述第五检测线的第一端与所述第四检测线的第一端连接，所述第五检测线的第二端与所述第三测试线的第一端连接，所述第四检测线的第二端与所述第六检测线的第一端连接，所述第六检测线的第二端与所述第四测试线的第一端连接。

在其中一个实施例中，所述第二电路板上还设置有多根连接线，所述连接线的数量比所述第一电路板的数量少1，所述第二电路板上其中两根相邻的测试线的第二端没有设置连接线，其余的每相邻两根测试线的第二端之间设置连接线，其中，所述测试线包括第一测试线、第二测试线、第三测试线及第四测试线。

在其中一个实施例中，所述第二检测线与所述第一检测线之间、所述第二检测线与所述第一测试线之间、所述第一检测线与所述第三检测线之间、所述第三检测线与所述第二测试线之间、所述第五检测线与所述第四检测线之间、所述第五检测线与所述第三测试线之间、所述第四检测线与所述第六检测线之间、所述第六检测线与所述第四测试线之间以及所述测试线与所述连接线之间通过各向异性导电胶连接。

在其中一个实施例中，所述第一检测线、所述第二检测线、所述第三检测线、所述第四检测线、所述第五检测线、所述第六检测线、所述测试线及所述连接线均为薄膜金属线。

在其中一个实施例中，所述第一检测线及所述第四检测线设置于所述第一基板的边缘。

在其中一个实施例中，所述第二检测线、所述第三检测线、所述第五检测线及所述第六检测线设置于所述第一电路板的边缘。

在其中一个实施例中，所述第一基板为阵列基板或彩膜基板。

一种显示装置，包括第一基板、多块第一电路板及第二电路板，所述第一基板通过所述第一电路板与所述第二电路板连接，所述多块第一电路板依次排列形成第一电路板组，每块第一电路板包括第一端及与所述第一端相对的第二端，每块第一电路板的第二端与相邻的第一电路板的第一端相邻；所述显示装置还包括：

第一检测线，设置于所述第一基板上；

第二检测线，设置于所述第一电路板组一端的一块第一电路板的第一端；

第三检测线，设置于所述第一电路板组另一端的一块第一电路板的第二端；

第一测试线，设置于所述第二电路板上；及

第二测试线，设置于所述第二电路板上；

所述第二检测线的第一端与所述第一检测线的第一端连接，所述第二检测线的第二端与所述第一测试线的第一端连接，所述第一检测线的第二端与所述第三检测线的第一端连接，所述第三检测线的第二端与所述第二测试线的第一端连接；

所述第一电路板组的至少两块相邻的第一电路板之间，其中一块第一电路板的第二端设置有第五检测线，另一块第一电路板的第一端设置有第六检测线；

所述第二电路板上设置有第一测试线、第二测试线、第三测试线及第四测试线；

所述第二检测线的第一端与所述第一检测线的第一端连接，所述第二检测线的第二端与所述第一测试线的第一端连接，所述第一检测线的第二端与所述第三检测线的第一端连接，所述第三检测线的第二端与所述第二测试线的第一端连接；

所述第五检测线的第一端与所述第四检测线的第一端连接，所述第五检测线的第二端与所述第三测试线的第一端连接，所述第四检测线的第二端与所述第六检测线的第一端连接，所述第六检测线的第二端与所述第四测试线的第一端连接。

上述的显示装置，在第一基板上设置第一检测线，在第一电路板组一端的一块第一电路板的第一端设置第二检测线，另一端的一块第一电路板的第二端设置第三检测线，在第二电路板上设置第一测试线及第二测试线，通过对第一测试线、第二检测线、第一检测线、第三检测线及第二测试线组成的通路的电性检测，即可检测第一电路板与第一基板以及第二电路板的对位是否发生异常，效率高，且成本低，能够及时发现第一电路板的对位异常，提高显示装置的可靠性。

附图说明

图1为一个实施例的显示装置的结构示意图；

图2为另一个实施例的显示装置的结构示意图；

图3为另一个实施例的显示装置的结构示意图。

具体实施方式

为了便于理解本申请，下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的可选实施方式。但是，本申请可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本申请的公开内容理解的更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”、“上”、“下”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本申请。

请参阅图1，图1为本申请实施例提供的一种显示装置的结构示意图。所述显示装置包括第一基板10、多块第一电路板20及第二电路板30。所述第一基板10通过所述第一电路板20与所述第二电路板30连接。所述多块第一电路板20依次排列形成第一电路板组，具体的，所述多块柔性电路在所述第一基板10与所述第二电路板30之间沿所述第一基板10与所述第二电路板30的长度方向排列。每块第一电路板20包括第一端21及与所述第一端21相对的第二端22，每块第一电路板20的第二端22与相邻的第一电路板20的第一端21相邻。所述第一基板10上设置有第一检测线11。所述第一电路板组一端的一块第一电路板20的第一端21设置有第二检测线23，另一端的一块第一电路板20的第二端22设置有第三检测线24。所述第二电路板30上设置有第一测试线31及第二测试线32。所述第二检测线23的第一端21与所述第一检测线11的第一端21连接，所述第二检测线23的第二端22与所述第一测试线31的第一端21连接，所述第一检测线11的第二端22与所述第三检测线24的第一端21连接，所述第三检测线24的第二端22与所述第二测试线32的第一端21连接。

所述第一电路板20为柔性电路板，所述第二电路板30为驱动电路板。

所述第一基板10可以是设置有像素电路的阵列基板，也可以是设置有色阻层的彩膜基板，或者，所述第一基板10可以是同时设置有像素电路和色组层的基板。在有机发光二极管显示装置中，所述第一基板10可以是设置有反射电极的下基板，也可以是设置有透明电极的上基板。

本实施例中，所述第一测试线31的第二端22和所述第二测试线32的第二端22作为检测端子。当所述第一电路板组两末端的两块第一电路板20对位异常时，所述第一测试线31、所述第二检测线23、所述第一检测线11、所述第三检测线24及所述第二测试线32组成的回路阻抗大于预设阻抗值或从所述第一测试线31的第二端22输入的电压，经所述第二检测线23、所述第一检测线11、所述第三检测线24后，从所述第二测试线32的第二端22输出的电压衰减值大于预设衰减值或从所述第一测试线31的第二端22输入的信号，经所述第二检测线23、所述第一检测线11、所述第三检测线24后，从所述第二测试线32的第二端22输出的信号的延迟时间大于预设时间，因此，可以通过检测所述第一测试线31、所述第二检测线23、所述第一检测线11、所述第三检测线24及所述第二测试线32组成的回路的阻抗值或者可以通过检测从所述第一测试线31的第二端22输入的电压，经所述第二检测线23、所述第一检测线11、所述第三检测线24后，从所述第二测试线32的第二端22输出的电压衰减值或者从所述第一测试线31的第二端22输入的信号，经所述第二检测线23、所述第一检测线11、所述第三检测线24后，从所述第二测试线32的第二端22输出的信号的延迟时间，即可检测所述第一电路板组两末端的两块第一电路板20的对位是否发生异常。阻抗可以采用万用表检测，将万用表的两根探针分别与所述第一测试线31的第二端22和所述第二测试线32的第二端22接触，读取万用表的阻抗读书即可。上述的检测方法的实现结构容易实现，效率高，且成本低，能够及时发现第一电路板20的对位异常，提高显示装置的可靠性。

请参阅图2，在一实施例中，所述第一基板10上还设置有第四检测线12。所述第一电路板组的至少两块相邻的第一电路板20之间，其中一块第一电路板20的第二端22设置有第五检测线25，另一块第一电路板20的第一端21设置有第六检测线26。所述第二电路板30上还设置有第三测试线33及第四测试线34。所述第五检测线25的第一端21与所述第四检测线12的第一端21连接，所述第五检测线25的第二端22与所述第三测试线33的第一端21连接，所述第四检测线12的第二端22与所述第六检测线26的第一端21连接，所述第六检测线26的第二端22与所述第四测试线34的第一端21连接。所述第三测试线33的第二端22和所述第四测试线34的第二端22作为检测端子，通过检测所述第三测试线33、所述第五检测线25、所述第四检测线12、所述第六检测线26及所述第四测试线34组成的回路的阻抗值或者从所述第三测试线33的第二端22输入的电压，经过所述第五检测线25、所述第四检测线12及所述第六检测线26，从所述第四测试线34的第二端22输出的电压衰减值或者从所述第三测试线33的第二端22输入的信号，经过所述第五检测线25、所述第四检测线12及所述第六检测线26，从所述第四测试线34的第二端22输出的信号的延迟时间，即可检测该两块相邻的第一电路板20的对位是否发生异常。本实施例中，通过在第一电路板组的两个相邻的第一电路板20上设置检测线，并分别在第一基板10上设置检测线和在第二电路板30上设置测试线连接第一电路板20上的检测线，能够检测相邻的两块第一电路板20是否发生异常，从而能够更准确地排查发生对位异常的第一电路板20的位置范围，以便精准查找对位异常的第一电路板20的位置。

请参阅图3，在一实施例中，所述第一基板10上还设置有第四检测线12。所述第一电路板组的每相邻两块第一电路板20之间，其中一块第一电路板20的第二端22设置有第五检测线25，另一块第一电路板20的第一端21设置有第六检测线26。所述第二电路板30上还设置有第三测试线33及第四测试线34。所述第五检测线25的第一端21与所述第四检测线12的第一端21连接，所述第五检测线25的第二端22与所述第三测试线33的第一端21连接，所述第四检测线12的第二端22与所述第六检测线26的第一端21连接，所述第六检测线26的第二端22与所述第四测试线34的第一端21连接。通过在所述第一电路板组的每相邻两块第一电路板20上均设置检测线、在第一基板10设置连接相邻两块第一电路板20的检测线的检测线以及在第二电路板30上设置连接相邻两块第一电路板20的检测线的测试线，可以在整个第一电路板组上排查发生对位异常的第一电路板20。所述第二电路板30上还设置有多根连接线35，所述连接线35的数量比所述第一电路板20的数量少1，所述第二电路板30上其中两根相邻的测试线的第二端22没有设置连接线35，其余的每相邻两根测试线的第二端22之间设置连接线35，其中，所述测试线包括第一测试线31、第二测试线32、第三测试线33及第四测试线34。没有设置连接线35的相邻两根第一测试线31与第三测试线33的第二端22或者第三测试线33与第四测试线34的第二端22或第二测试线32与第四测试线34的第二端22作为检测端子。通过在所述第一电路板组的每相邻两块第一电路板20上均设置检测线、在第一基板10设置连接相邻两块第一电路板20的检测线的检测线以及在第二电路板30上设置连接相邻两块第一电路板20的检测线的测试线的基础上，将第二电路板30上的各个检测端子短接而只留下相邻的两个检测端子，进而检测该两个检测端子之间的检测线、测试线及连接线35形成的通路的阻抗值或电压衰减值或信号延迟时间，从而检测第一电路板组中是否存在第一电路板20发生对位异常。本实施例中，通过将每个第一电路板20的检测线均连接，整体检测整个第一电路板组是否存在第一电路板20发生对位异常，若存在第一电路板20发生对位异常，再通过上述实施例或其他方法一一检测发生对位异常的第一电路板20具体位置，能够缩短检测的时间，提高检测效率。

在一实施例中，所述第二检测线23与所述第一检测线11之间、所述第二检测线23与所述第一测试线31之间、所述第一检测线11与所述第三检测线24之间、所述第三检测线24与所述第二测试线32之间、所述第五检测线25与所述第四检测线12之间、所述第五检测线25与所述第三测试线33之间、所述第四检测线12与所述第六检测线26之间、所述第六检测线26与所述第四测试线34之间以及所述测试线与所述连接线35之间通过各向异性导电胶连接。

在显示装置的模组工艺中，需要通过热压焊接工艺将第一电路板20与第二电路板30以及第一基板10连接固定，此时将所述第二检测线23与所述第一检测线11精准对位、所述第二检测线23与所述第一测试线31精准对位、所述第一检测线11与所述第三检测线24精准对位、所述第三检测线24与所述第二测试线32精准对位、所述第五检测线25与所述第四检测线12精准对位、所述第五检测线25与所述第三测试线33精准对位、所述第四检测线12与所述第六检测线26精准对位、所述第六检测线26与所述第四测试线34精准对位以及所述测试线与所述连接线35精准对位后，通过各向异性导电胶连接，形成电连接，连接更可靠。

在一实施例中，所述第一检测线11、所述第二检测线23、所述第三检测线24、所述第四检测线12、所述第五检测线25、所述第六检测线26、所述测试线及所述连接线35均为薄膜金属线。采用薄膜金属线作为检测线或测试线或连接线35，电连接更稳定。

在一实施例中，所述第一检测线11及所述第四检测线12设置于所述第一基板10的边缘，成本低，易于实现，可以避免影响第一基板10的画面显示。

在一实施例中，所述第二检测线23、所述第三检测线24、所述第五检测线25及所述第六检测线26设置于所述第一电路板20的边缘，可以节约材料成本，且方便与第一基板10的检测线以及第二电路板30的测试线的对位。

本申请的显示装置，在第一基板上设置第一检测线，在第一电路板组一端的一块第一电路板的第一端设置第二检测线，另一端的一块第一电路板的第二端设置第三检测线，在第二电路板上设置第一测试线及第二测试线，通过对第一测试线、第二检测线、第一检测线、第三检测线及第二测试线组成的通路的电性检测，即可检测第一电路板与第一基板以及第二电路板的对位是否发生异常，效率高，且成本低，能够及时发现第一电路板的对位异常，提高显示装置的可靠性。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种显示装置，包括第一基板、多块第一电路板及第二电路板，所述第一基板通过所述第一电路板与所述第二电路板连接，所述多块第一电路板依次排列形成第一电路板组，每块第一电路板包括第一端及与所述第一端相对的第二端，每块第一电路板的第二端与相邻的第一电路板的第一端相邻，其特征在于，所述显示装置还包括：

第一检测线，设置于所述第一基板上；

第二检测线，设置于所述第一电路板组一端的一块第一电路板的第一端；

第三检测线，设置于所述第一电路板组另一端的一块第一电路板的第二端；

第一测试线，设置于所述第二电路板上；及

第二测试线，设置于所述第二电路板上；

所述第二检测线的第一端与所述第一检测线的第一端连接，所述第二检测线的第二端与所述第一测试线的第一端连接，所述第一检测线的第二端与所述第三检测线的第一端连接，所述第三检测线的第二端与所述第二测试线的第一端连接。

2.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述第一基板上还设置有第四检测线；所述第一电路板组的至少两块相邻的第一电路板之间，其中一块第一电路板的第二端设置有第五检测线，另一块第一电路板的第一端设置有第六检测线；

所述第二电路板上还设置有第三测试线及第四测试线；

所述第五检测线的第一端与所述第四检测线的第一端连接，所述第五检测线的第二端与所述第三测试线的第一端连接，所述第四检测线的第二端与所述第六检测线的第一端连接，所述第六检测线的第二端与所述第四测试线的第一端连接。

3.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述第一基板上还设置有第四检测线；所述第一电路板组的每相邻两块第一电路板之间，其中一块第一电路板的第二端设置有第五检测线，另一块第一电路板的第一端设置有第六检测线；

所述第二电路板上还设置有第三测试线及第四测试线；

所述第五检测线的第一端与所述第四检测线的第一端连接，所述第五检测线的第二端与所述第三测试线的第一端连接，所述第四检测线的第二端与所述第六检测线的第一端连接，所述第六检测线的第二端与所述第四测试线的第一端连接。

4.根据权利要求3所述的显示装置，其特征在于，所述第二电路板上还设置有多根连接线，所述连接线的数量比所述第一电路板的数量少1，所述第二电路板上其中两根相邻的测试线的第二端没有设置连接线，其余的每相邻两根测试线的第二端之间设置连接线，其中，所述测试线包括第一测试线、第二测试线、第三测试线及第四测试线。

5.根据权利要求4所述的显示装置，其特征在于，所述第二检测线与所述第一检测线之间、所述第二检测线与所述第一测试线之间、所述第一检测线与所述第三检测线之间、所述第三检测线与所述第二测试线之间、所述第五检测线与所述第四检测线之间、所述第五检测线与所述第三测试线之间、所述第四检测线与所述第六检测线之间、所述第六检测线与所述第四测试线之间以及所述测试线与所述连接线之间通过各向异性导电胶连接。

6.根据权利要求4所述的显示装置，其特征在于，所述第一检测线、所述第二检测线、所述第三检测线、所述第四检测线、所述第五检测线、所述第六检测线、所述测试线及所述连接线均为薄膜金属线。

7.根据权利要求2所述的显示装置，其特征在于，所述第一检测线及所述第四检测线设置于所述第一基板的边缘。

8.根据权利要求4所述的显示装置，其特征在于，所述第二检测线、所述第三检测线、所述第五检测线及所述第六检测线设置于所述第一电路板的边缘。

9.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述第一基板为阵列基板或彩膜基板。

10.一种显示装置，包括第一基板、多块第一电路板及第二电路板，所述第一基板通过所述第一电路板与所述第二电路板连接，所述多块第一电路板依次排列形成第一电路板组，每块第一电路板包括第一端及与所述第一端相对的第二端，每块第一电路板的第二端与相邻的第一电路板的第一端相邻；其特征在于，所述显示装置还包括：

第一检测线，设置于所述第一基板上；

第二检测线，设置于所述第一电路板组一端的一块第一电路板的第一端；

第三检测线，设置于所述第一电路板组另一端的一块第一电路板的第二端；

第一测试线，设置于所述第二电路板上；及

第二测试线，设置于所述第二电路板上；

所述第二检测线的第一端与所述第一检测线的第一端连接，所述第二检测线的第二端与所述第一测试线的第一端连接，所述第一检测线的第二端与所述第三检测线的第一端连接，所述第三检测线的第二端与所述第二测试线的第一端连接；

所述第一电路板组的至少两块相邻的第一电路板之间，其中一块第一电路板的第二端设置有第五检测线，另一块第一电路板的第一端设置有第六检测线；

所述第一基板上还设置有第四检测线；所述第二电路板上设置有第一测试线、第二测试线、第三测试线及第四测试线；

所述第二检测线的第一端与所述第一检测线的第一端连接，所述第二检测线的第二端与所述第一测试线的第一端连接，所述第一检测线的第二端与所述第三检测线的第一端连接，所述第三检测线的第二端与所述第二测试线的第一端连接；

所述第五检测线的第一端与所述第四检测线的第一端连接，所述第五检测线的第二端与所述第三测试线的第一端连接，所述第四检测线的第二端与所述第六检测线的第一端连接，所述第六检测线的第二端与所述第四测试线的第一端连接。

Images