CN210587056U - 一种测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种测量装置，属于结晶器技术领域。所述测量装置包括：支撑板、测量尺及定位板；所述支撑板的尺寸与所述结晶器窄面的尺寸相匹配，所述支撑板活动设置在所述结晶器窄面上；所述定位板固定设置在所述支撑板上；所述支撑板上开设有两个刻缝，所述两个刻缝相对；所述测量尺的一端勾住所述两个刻缝中的一个刻缝；其中，所述两个刻缝与所述定位板靠近所述结晶器窄面的端面保持平齐。本实用新型测量装置可以测量倒角结晶器的上口尺寸，保证测量精度。

Description

一种测量装置

技术领域

本实用新型涉及结晶器技术领域，特别涉及一种测量装置。

背景技术

结晶器上口尺寸测量对于铸坯宽度及实际窄面锥度控制均有很大的影响，因此，必须保证结晶器上口尺寸测量的准确性。

正常直角结晶器上口尺寸使用钢板尺或卷尺测量，难度较小。而倒角结晶器由于其特殊的倒角边设计，测量的原始位置不好确定，因此上口尺寸的测量精度不高

实用新型内容

本实用新型提供一种测量装置，解决了或部分解决了现有技术中倒角结晶器上口尺寸测量的原始位置不好确定，测量精度不高的技术问题。

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种测量装置，设置在结晶器窄面上，所述测量装置包括：支撑板、测量尺及定位板；所述支撑板的尺寸与所述结晶器窄面的尺寸相匹配，所述支撑板活动设置在所述结晶器窄面上；所述定位板固定设置在所述支撑板上；所述支撑板上开设有两个刻缝，所述两个刻缝相对；所述测量尺的一端勾住所述两个刻缝中的一个刻缝；其中，所述两个刻缝与所述定位板靠近所述结晶器窄面的端面保持平齐。

进一步地，所述支撑板及定位板均为绝缘板。

进一步地，所述测量装置还包括：角铁；所述角铁的底部可拆卸式地设置在所述支撑板背离所述定位板的端面上；所述角铁的侧部可拆卸式地与所述结晶器窄面的背板连接。

进一步地，所述角铁的边沿突出于所述支撑板的边缘

进一步地，所述角铁包括：第一板及第二板；所述第一板与所述第二板固定连接；所述第一板与所述第二板成90°。

进一步地，所述第一板与所述支撑板平行，所述第二板与所述结晶器窄面的背板平行。

进一步地，所述支撑板背离所述定位板的端面上固定设置有第一磁铁；所述第一板通过所述第一磁铁与所述支撑板背离所述定位板的端面连接。

进一步地，所述第一磁铁的面积小于所述第一板的面积。

进一步地，所述第二板上固定设置有第二磁铁；所述第二板通过所述第二磁铁与所述结晶器窄面的背板连接。

进一步地，所述第二磁铁的面积小于所述第二板的面积。

本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

由于支撑板的尺寸与结晶器窄面的尺寸相匹配，支撑板活动设置在结晶器窄面上，定位板固定设置在支撑板上，支撑板上开设有两个刻缝，两个刻缝相对，测量尺的一端勾住两个刻缝中的一个刻缝，两个刻缝与定位板靠近结晶器窄面的端面保持平齐。所以，将支撑板放置在结晶器窄面上，使定位板卡住结晶器窄面的一端，保证两个刻缝与结晶器窄面端面平齐，然后，将测量尺的一端勾住两个刻缝中的一个刻缝，以刻缝作为测量起点可以准确测量倒角结晶器的上口尺寸，保证测量精度。

附图说明

图1为本实用新型实施例提供的测量装置的主视图；

图2为图1中测量装置的俯视图。

具体实施方式

参见图1-2，本实用新型实施例提供了一种测量装置，设置在结晶器窄面上，所述测量装置包括：支撑板1、测量尺及定位板2。

支撑板1的尺寸与结晶器窄面的尺寸相匹配，支撑板1活动设置在结晶器窄面上。

定位板2固定设置在支撑板1上。

支撑板1上开设有两个刻缝3，两个刻缝3相对。

测量尺的一端勾住两个刻缝3中的一个刻缝。

其中，两个刻缝3与定位板2靠近结晶器窄面的端面保持平齐。

本申请具体实施方式由于支撑板1的尺寸与结晶器窄面的尺寸相匹配，支撑板1活动设置在结晶器窄面上，定位板2固定设置在支撑板1上，支撑板1上开设有两个刻缝3，两个刻缝3相对，测量尺的一端勾住两个刻缝3中的一个刻缝，两个刻缝3与定位板2靠近结晶器窄面的端面保持平齐。所以，将支撑板1放置在结晶器窄面上，使定位板2卡住结晶器窄面的一端，保证两个刻缝3与结晶器窄面端面平齐，然后，将测量尺的一端勾住两个刻缝3中的一个刻缝，以刻缝作为测量起点可以准确测量倒角结晶器的上口尺寸，保证测量精度。

其中，测量尺可以为卷尺。

具体地，支撑板1及定位板2均为绝缘板。由于结晶器上会有电压，通过绝缘板进行隔电，避免干扰测量工作。

具体地，测量装置还包括：角铁4。

角铁4的底部可拆卸式地设置在支撑板1背离所述定位板的端面上；角铁的侧部可拆卸式地与结晶器窄面的背板连接。

角铁4的边沿突出于支撑板1的边缘，便于角铁4与结晶器窄面的背板连接。

具体地，角铁4包括：第一板4-1及第二板4-2。

第一板4-1与第二板4-2固定连接。在本实施方式中，第一板4-1可通过焊接与第二板4-2固定连接，在其它实施方式中，第一板4-1可与第二板4-2一体成型。

第一板4-1与第二板4-2成90°，使支撑板1通过角铁4与结晶器窄面的背板的连接进行固定及定位，保证支撑板1的位置。

第一板4-1与支撑板1平行，第二板4-2与结晶器窄面的背板平行，可以对支撑板1进行定位，避免出现测量误差。

支撑板1背离定位板2的端面上固定设置有第一磁铁5。在本实施方式中，支撑板1背离定位板2的端面上可通过螺栓固定设置有第一磁铁5，在其它实施方式中，支撑板1背离定位板2的端面上可通过其它方式如焊接等固定设置有第一磁铁5。第一板4-1通过第一磁铁5与支撑板1背离定位板2的端面连接，便于将角铁4进行更换。

第一磁铁5的面积小于第一板4-1的面积，避免第一磁铁5干扰测量尺工作。

第二板4-2上固定设置有第二磁铁6。在本实施方式中，第二板4-2上可通过螺栓固定设置有第二磁铁6，在其它实施方式中，第二板4-2上可通过其它方式如焊接等固定设置有第二磁铁6。第二板4-2通过第二磁铁6与结晶器窄面的背板连接，便于角铁4的连接与拆卸。

其中，第二磁铁6的数目可以为两个，保证连接的牢靠性。

第二磁铁6的面积小于第二板4-2的面积，可以避开结晶器窄面背板的凸边，避免连接不牢靠。

为了更清楚介绍本实用新型实施例，下面从本实用新型实施例的使用方法上予以介绍。

将支撑板1背离定位板2的端面上固定设置第一磁铁5，第一板4-1通过第一磁铁5可拆卸式地与支撑板1背离定位板2的端面连接，第二板4-2上固定设置有第二磁铁6，第二板4-2通过第二磁铁6可拆卸式地与结晶器窄面的背板连接，角铁4将支撑板1固定于结晶器窄面，避免支撑板1移动造成测量误差。

将定位板2卡住结晶器窄面的一端，保证两个刻缝3与结晶器窄面端面平齐，然后，将测量尺的一端勾住两个刻缝3中的一个刻缝，以刻缝作为测量起点可以准确测量倒角结晶器的上口尺寸，保证测量精度，

最后所应说明的是，以上具体实施方式仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，尽管参照实例对本实用新型进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的精神和范围，其均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。

Claims (10)

1.一种测量装置，设置在结晶器窄面上，其特征在于，所述测量装置包括：支撑板、测量尺及定位板；

所述支撑板的尺寸与所述结晶器窄面的尺寸相匹配，所述支撑板活动设置在所述结晶器窄面上；

所述定位板固定设置在所述支撑板上；

所述支撑板上开设有两个刻缝，所述两个刻缝相对；

所述测量尺的一端勾住所述两个刻缝中的一个刻缝；

其中，所述两个刻缝与所述定位板靠近所述结晶器窄面的端面保持平齐。

2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于：

所述支撑板及定位板均为绝缘板。

3.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括：角铁；

所述角铁的底部可拆卸式地设置在所述支撑板背离所述定位板的端面上；

所述角铁的侧部可拆卸式地与所述结晶器窄面的背板连接。

4.根据权利要求3所述的测量装置，其特征在于：

所述角铁的边沿突出于所述支撑板的边缘。

5.根据权利要求3所述的测量装置，其特征在于，所述角铁包括：第一板及第二板；

所述第一板与所述第二板固定连接；

所述第一板与所述第二板成90°。

6.根据权利要求5所述的测量装置，其特征在于：

所述第一板与所述支撑板平行，所述第二板与所述结晶器窄面的背板平行。

7.根据权利要求5所述的测量装置，其特征在于：

所述支撑板背离所述定位板的端面上固定设置有第一磁铁；

所述第一板通过所述第一磁铁与所述支撑板背离所述定位板的端面连接。

8.根据权利要求7所述的测量装置，其特征在于：

所述第一磁铁的面积小于所述第一板的面积。

9.根据权利要求5所述的测量装置，其特征在于：

所述第二板上固定设置有第二磁铁；

所述第二板通过所述第二磁铁与所述结晶器窄面的背板连接。

10.根据权利要求9所述的测量装置，其特征在于：

所述第二磁铁的面积小于所述第二板的面积。

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