CN210572598U - 一种芯片测试工作台 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片测试工作台，包括支座和多个驱动下压部；多个驱动下压部并列安装在所述支座上；驱动下压部的下端连接有串口面板，串口面板接有芯片测试串口，串口面板的下方设有芯片固定件，芯片固定件设有固定槽，串口面板的两侧分别设有用于避免所述串口面板上下运动产生偏移的伸缩杆，伸缩杆的末端与支座连接。通过伸缩杆限定串口面板上下运动过程中的路径，避免串口面板在上下过程中产生偏移而使芯片测试串口没有准确对准芯片的对应测试端口，进而提高测试的准确率。

Description

一种芯片测试工作台

技术领域

本实用新型涉及芯片测试工具，特别是一种芯片测试工作台。

背景技术

芯片在制造完成后，需要对芯片的性能进行测试。但芯片测试串口在往下移动接触芯片的过程中，容易产生偏移，导致芯片测试串口没有对准芯片，使测试结果有偏差，影响测试准确率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种芯片测试工作台，能使芯片测试串口准确对准芯片。

本实用新型解决其问题所采用的技术方案是：

一种芯片测试工作台，包括支座和多个驱动下压部；多个驱动下压部并列安装在所述支座上；所述驱动下压部的下端连接有串口面板，所述串口面板接有芯片测试串口，所述串口面板的下方设有芯片固定件，所述芯片固定件设有与所述芯片测试串口位置对应的用于固定芯片的固定槽，所述串口面板的左侧和/或右侧设有用于避免所述串口面板上下运动产生偏移的伸缩杆，所述伸缩杆的末端与所述支座连接。

具体地，所述串口面板的左侧和右侧均设有伸缩杆。

进一步，所述驱动下压部包括固定座、把手和滑动杆；所述固定座的下端设有固定环，所述滑动杆穿过固定环，所述滑动杆的下端接有所述串口面板；所述把手的末端铰接在固定座的上端，所述把手的中部通过连接件与所述滑动杆活动连接，带动所述滑动杆上下运动。

进一步，所述连接件的一端与所述把手的中部铰接，另一端与所述滑动杆铰接。

进一步，所述支座包括底座和竖立在所述底座上的支撑板。

进一步，所述固定座安装在所述支撑板上，所述伸缩杆的末端与所述底座连接，所述芯片固定件设置在所述底座上。

上述芯片测试工作台至少具有以下有益效果：通过在串口面板上设置伸缩杆，限定串口面板上下运动过程中的路径，避免串口面板在上下过程中产生偏移而使芯片测试串口没有准确对准芯片的对应测试端口，进而提高测试的准确率。

附图说明

下面结合附图和实例对本实用新型作进一步说明。

图1是本实用新型实施例一种芯片测试工作台的结构图；

图2是本实用新型实施例一种芯片测试工作台的右视图。

具体实施方式

本部分将详细描述本实用新型的具体实施例，本实用新型之较佳实施例在附图中示出，附图的作用在于用图形补充说明书文字部分的描述，使人能够直观地、形象地理解本实用新型的每个技术特征和整体技术方案，但其不能理解为对本实用新型保护范围的限制。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。

本实用新型的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本实用新型中的具体含义。

参照图1和图2，本实用新型实施例提供了一种芯片测试工作台，包括支座100和多个驱动下压部200；多个驱动下压部200并列安装在所述支座100上；所述驱动下压部200的下端连接有串口面板270，所述串口面板270接有芯片测试串口250，所述串口面板270的下方设有芯片固定件300，所述芯片固定件300设有与所述芯片测试串口250位置对应的用于固定芯片的固定槽310，所述串口面板270的两侧分别设有用于避免所述串口面板270上下运动产生偏移的伸缩杆260，所述伸缩杆260的末端与所述支座100连接。

在该实施例中，将芯片插入至芯片固定件300的固定槽310中，然后通过驱动下压部200使串口面板270与其上的芯片测试串口250往下移动，进而使芯片测试串口250与芯片的对应测试端口接触。在芯片测试串口250下移的过程中，串口面板270两侧的伸缩杆260限定串口面板270上下运动过程中的路径，避免串口面板270在下移过程中产生偏移而使芯片测试串口250没有准确对准芯片的对应测试端口，进而提高测试的准确率。另外，多个驱动下压部200和芯片固定件300组成的测试单元并列设置，可以同时对多个芯片进行测试，节省时间。

另一个实施例，所述驱动下压部200包括固定座220、把手210和滑动杆230；所述固定座220的下端设有固定环221，所述滑动杆230穿过固定环221，所述滑动杆230的下端接有所述串口面板270。所述把手210为7字型。所述把手210的末端铰接在固定座220的上端，所述连接件240的一端与所述把手210的中部的拐角处铰接，另一端与所述滑动杆230铰接，带动所述滑动杆230上下运动。所述连接件240为条状且有两件。

在该实施例中，按下把手210，把手210下压并绕铰接处转动，通过连接件240带动滑动杆230往下移动；固定环221起到进一步限定滑动杆230运动路径的作用，使芯片测试串口250能更准确对接芯片的测试端口。

进一步，所述支座100包括底座110和竖立在所述底座110上的支撑板120。具体地，所述固定座220安装在所述支撑板120上，所述伸缩杆260的末端与所述底座110连接，所述芯片固定件300设置在所述底座110上。该位置设置有利于芯片测试串口250与芯片接触。

以上所述，只是本实用新型的较佳实施例而已，本实用新型并不局限于上述实施方式，只要其以相同的手段达到本实用新型的技术效果，都应属于本实用新型的保护范围。

Claims (6)

1.一种芯片测试工作台，其特征在于，包括支座和多个驱动下压部；多个驱动下压部并列安装在所述支座上；所述驱动下压部的下端连接有串口面板，所述串口面板接有芯片测试串口，所述串口面板的下方设有芯片固定件，所述芯片固定件设有与所述芯片测试串口位置对应的用于固定芯片的固定槽，所述串口面板的左侧和/或右侧设有用于避免所述串口面板上下运动产生偏移的伸缩杆，所述伸缩杆的末端与所述支座连接。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试工作台，其特征在于，所述串口面板的左侧和右侧均设有伸缩杆。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试工作台，其特征在于，所述驱动下压部包括固定座、把手和滑动杆；所述固定座的下端设有固定环，所述滑动杆穿过固定环，所述滑动杆的下端接有所述串口面板；所述把手的末端铰接在固定座的上端，所述把手的中部通过连接件与所述滑动杆活动连接，带动所述滑动杆上下运动。

4.根据权利要求3所述的一种芯片测试工作台，其特征在于，所述连接件的一端与所述把手的中部铰接，另一端与所述滑动杆铰接。

5.根据权利要求3所述的一种芯片测试工作台，其特征在于，所述支座包括底座和竖立在所述底座上的支撑板。

6.根据权利要求5所述的一种芯片测试工作台，其特征在于，所述固定座安装在所述支撑板上，所述伸缩杆的末端与所述底座连接，所述芯片固定件设置在所述底座上。

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