CN210294339U - 一种二极管新型测试片 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种二极管新型测试片，包括第一测试片、第二测试片、第三测试片、第四测试片和放置台，第一测试片的端部设有第一测试片头部测试块，第一测试片上设有第一螺丝锁孔、测试片定位孔和第二螺丝锁孔，第二测试片的端部设有第二测试片头部测试块，整组测试片采用第一测试片和第二测试片，第三测试片和第四测试片组合，组合间的间隙可调，满足不同宽度的被测引脚需求；测试片组合凹槽垂直角被磨损后，还可以通过磨修与组合间隙调整来延长测试片的使用次数，节约成本，测试片通过定位孔与双螺孔设计搭配，定位准确、安装快速，调节方便、并且不会短接。

Description

一种二极管新型测试片

技术领域

本实用新型涉及二极管技术领域，具体为一种二极管新型测试片。

背景技术

二极管在封装应用之前要经过专业仪表的电参数测试，经测试将达不到要求或者缺陷的不良器件剔除。根据二极管的封装形式及测试特性，会在仪表引出4-8根不等的测试线与引脚连接，接触端就是测试片；在设计上，测试片也会根据二极管的封装外型及配套一贯机的自动测试机械有所不同。测试中有诸多的因素影响到器件的测试精度，如，测试时间、温度、湿度、测试标准，测试线的接触状态，器件与测试片的接触状态等。首先二极管在测试中与测试片的接触状态是真实准确地反应测试结果的首要因素，应用中，测试片与二极管的接触不良是一种故障状态，在测试结果反映上，如RC测试不良、接触打火、测试片间短路等。由于这些故障状态，器件即便是良品，也被误判为不良；而器件与测试片接触不良产生的高压打火，冲击后造成的隐形失效，使后续失效分析无法准确的定位致因，也给企业带来诸多的经济赔偿成本；测试片间短路，相当于测试仪表AS/AP或者BP/BS间的短路，是提前短接测试片与二极管器件的接触电阻，其混淆了测试分类的不良状态，使制程控制人员无法准确地分析不良信息，在统计结果上出现偏差，给不良分析造成错误的导向。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种二极管新型测试片，以解决测试片适应能力低的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种二极管新型测试片，包括第一测试片、第二测试片、第三测试片、第四测试片和放置台，所述第一测试片的端部设有第一测试片头部测试块，所述第一测试片上设有第一螺丝锁孔、测试片定位孔和第二螺丝锁孔，所述第二测试片的端部设有第二测试片头部测试块，所述第一测试片头部测试块和第二测试片头部测试块之间组合成测试片组合凹槽，所述第三测试片的端部设有第三测试片头部测试块，所述第四测试片的端部设有第四测试片头部测试块。

优选的，所述第一测试片、第二测试片、第三测试片和第四测试片采用铍铜材质，厚度为0.45mm。

优选的，所述第一螺丝锁孔和第二螺丝锁孔对称设置。

优选的，所述放置台的上端接触连接有二极管，所述二极管上设有引脚。

优选的，所述引脚的端部与第一测试片和第二测试片接触连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：1.整组测试片采用第一测试片和第二测试片，第三测试片和第四测试片组合，组合间的间隙可调，满足不同宽度的被测引脚需求；测试片组合凹槽垂直角被磨损后，还可以通过磨修与组合间隙调整来延长测试片的使用次数，节约成本。测试片通过定位孔与双螺孔设计搭配，定位准确、安装快速，调节方便、并且不会短接。

2.可以避免应用中的接触不良，保证接触面积，减小接触电阻，排除对测试精度的影响；组合后凹槽为平底面，定位准，避免机械因素导致的接触抖动，杜绝测试打火；并且组合间隙可控，测试片间不短路，排除测试干扰和误判，保证测试良品率及制程分析导向，适宜广泛推广使用。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型的第一测试片结构示意图；

图3为本实用新型的第二测试片结构示意图；

图4为本实用新型的测试片组合凹槽结构示意图。

图中：1第一测试片、2第二测试片、3第一测试片头部测试块、4第二测试片头部测试块、5测试片组合凹槽、6第一螺丝锁孔、7测试片定位孔、8第二螺丝锁孔、9第三测试片、10第四测试片、11第三测试片头部测试块、12第四测试片头部测试块、13放置台、14二极管、15引脚。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1、图2、图3和图4，本实用新型提供一种技术方案：一种二极管新型测试片，包括第一测试片1、第二测试片2、第三测试片9、第四测试片10和放置台13，第一测试片1的端部设有第一测试片头部测试块3，第一测试片1上设有第一螺丝锁孔6、测试片定位孔7和第二螺丝锁孔8，第二测试片2的端部设有第二测试片头部测试块4，第一测试片头部测试块3和第二测试片头部测试块4之间组合成测试片组合凹槽5，引脚15可以放置在测试片组合凹槽5中避免导模粗定位或者磨损后的偏差，引起引脚卡弯、变形，保证引脚最初的成型状态，测试片组合凹槽5为平底面，与第一测试片1和第二测试片2的平面测试要求相吻合，测试片组合凹槽5还可以将被测引脚15精定位，避免机械原因造成的接触抖动，保证更好的静态接触，第三测试片9的端部设有第三测试片头部测试块11，第四测试片10的端部设有第四测试片头部测试块12。

请参阅图1、图2和图3，第一测试片1、第二测试片2、第三测试片9和第四测试片10采用铍铜材质，导电效果极佳，减小材质带来的接触电阻影响，同时也保证测试片被下压后的弹性恢复，厚度为0.45mm。

请参阅图1和图2，第一螺丝锁孔6和第二螺丝锁孔8对称设置。

请参阅图1，放置台13的上端接触连接有二极管14，二极管14上设有引脚15。

请参阅图1，引脚15的端部与第一测试片1和第二测试片2接触连接。

本实用新型在具体实施时：使用时，将二极管14放置在放置台13上，将引脚15放置在第一测试片头部测试块3和第二测试片头部测试块4组成的测试片组合凹槽5内，测试片组合凹槽5避免导模粗定位或者磨损后的偏差，引起引脚卡弯、变形，保证引脚最初的成型状态；测试片组合凹槽5为平底面，与第一测试片1、第二测试片2、第三测试片9和第四测试片10的平面测试要求相吻合；测试片组合凹槽5还可以将被测引脚15精定位，避免机械原因造成的接触抖动，保证更好的静态接触；第一测试片1、第二测试片2、第三测试片9和第四测试片10通体采用铍铜材质，导电效果极佳，减小材质带来的接触电阻影响，同时也保证测试片被下压后的弹性恢复。整组测试片采用第一测试片1和第二测试片2，第三测试片9和第四测试片10组合，组合间的间隙可调，满足不同宽度的被测引脚15需求；测试片组合凹槽5垂直角被磨损后，还可以通过磨修与组合间隙调整来延长测试片的使用次数，节约成本，第一测试片1、第二测试片2、第三测试片9和第四测试片10通过测试片定位孔7、第二螺丝锁孔8和第三测试片9设计搭配，定位准确、安装快速，调节方便、并且不会短接。可以避免应用中的接触不良，保证接触面积，减小接触电阻，排除对测试精度的影响；测试片组合凹槽5为平底面，定位准，避免机械因素导致的接触抖动，杜绝测试打火；并且组合间隙可控，测试片间不短路，排除测试干扰和误判，保证测试良品率及制程分析导向，适宜广泛推广使用。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (5)

1.一种二极管新型测试片，包括第一测试片(1)、第二测试片(2)、第三测试片(9)、第四测试片(10)和放置台(13)，其特征在于：所述第一测试片(1)的端部设有第一测试片头部测试块(3)，所述第一测试片(1)上设有第一螺丝锁孔(6)、测试片定位孔(7)和第二螺丝锁孔(8)，所述第二测试片(2)的端部设有第二测试片头部测试块(4)，所述第一测试片头部测试块(3)和第二测试片头部测试块(4)之间组合成测试片组合凹槽(5)，所述第三测试片(9)的端部设有第三测试片头部测试块(11)，所述第四测试片(10)的端部设有第四测试片头部测试块(12)。

2.根据权利要求1所述的一种二极管新型测试片，其特征在于：所述第一测试片(1)、第二测试片(2)、第三测试片(9)和第四测试片(10)采用铍铜材质，厚度为0.45mm。

3.根据权利要求1所述的一种二极管新型测试片，其特征在于：所述第一螺丝锁孔(6)和第二螺丝锁孔(8)对称设置。

4.根据权利要求1所述的一种二极管新型测试片，其特征在于：所述放置台(13)的上端接触连接有二极管(14)，所述二极管(14)上设有引脚(15)。

5.根据权利要求4所述的一种二极管新型测试片，其特征在于：所述引脚(15)的端部与第一测试片(1)和第二测试片(2)接触连接。

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