CN210199247U - 一种芯片检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片检测装置，包括底座，安装在底座上的测试台，所述测试台两侧均设置有滑动槽，两个所述滑动槽之间设置有移动板，所述移动板上固定有底板，所述测试台上设置有固定柱，所述固定柱顶端设置有顶板，所述顶板中心设置有第一通孔，两个所述固定柱之间在所述顶板和所述测试台中间设置有支撑板，所述支撑板中心设置有第二通孔，所述第一通孔与所述第二通孔对应设置，所述顶板上固定有连接轴，所述连接轴可伸缩，所述连接轴穿过所述第一通孔和所述第二通孔，所述连接轴底部设置有测试装置，所述连接轴顶部设置有转轮，所述转轮通过连接带与电机连接。本实用新型结构简单，适用于不同大小的芯片检测，采用自动化流程，检测效率高，定位准确。

Description

一种芯片检测装置

技术领域

本实用新型涉及器件检测领域，具体涉及一种芯片检测装置。

背景技术

随着科技的发展，电脑、电视等已经变成生活中的必需品，组成这些电子元器件的最重要的零件之一就是芯片，芯片在生产完成后并不能马上投入使用，需要经过严格的检测，经检测合格的芯片才能被投入市场。通常情况下，芯片检测需要人工进行逐一检测，然后将不良品挑拣出，效率低，定位不准确，出错率高。少数工厂采用集成电路来检测芯片，但测试设备价格昂贵，且测试时间长，测试成本高，一个设备只能检测一种芯片，适用范围狭窄。

发明内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种芯片检测装置，适用于不同大小的芯片检测，采用自动化流程，检测效率高，稳定性好。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供了一种芯片检测装置，包括底座，安装在底座上的测试台，所述测试台两侧均设置有滑动槽，两个所述滑动槽之间设置有移动板，所述移动板上固定有底板，所述测试台上设置有固定柱，所述固定柱顶端设置有顶板，所述顶板中心设置有第一通孔，两个所述固定柱之间在所述顶板和所述测试台中间设置有支撑板，所述支撑板中心设置有第二通孔，所述第一通孔与所述第二通孔对应设置，所述顶板上固定有连接轴，所述连接轴可伸缩，所述连接轴穿过所述第一通孔和所述第二通孔，所述连接轴底部设置有测试装置，所述连接轴顶部设置有转轮，所述转轮通过连接带与电机连接。

进一步地，所述测试台的表面四个角上设置有安全光栅。

进一步地，所述底座上还设置有外框架，所述外框加上设置有三色灯。

进一步地，所述外框架上设置有显示器。

进一步地，所述底板上设置有制冷片。

进一步地，所述移动板设置有一个或者多个。

进一步地，所述底座上设置有温控器，所述温控器穿过所述测试台。

本实用新型的有益效果：本装置结构简单，操作方便，连接轴被电机控制并且同时穿过第一通孔和第二通孔，移动板可以在滑动槽内来回移动，可以更加精确的定位移动轴下测试装置与底板上芯片的位置，检测效果好；检测装置可以更换，底板也可以更换，可以检测不同种类的芯片，适用范围广。

附图说明

图1是本实用新型的整体结构示意图。

图2是本实用新型的俯视结构示意图。

图中标号说明：1、底座，2、测试台，3、滑动槽，4、移动板，5、底板，6、固定柱，7、支撑板，8、连接轴，9、测试装置，10、电机，11、转轮，12、连接带，13、第一通孔，14、第二通孔，15、顶板，16、外框架，17、三色灯，18、温控器，19、显示器，20、安全光栅。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本实用新型并能予以实施，但所举实施例不作为对本实用新型的限定。

参照图1所示，本实用新型的一种芯片检测装置的一实施例，芯片检测装置包括底座1，安装在底座1上的测试台2，测试台2和底座1是一体式结构，测试台前后两侧设置有滑动槽3，两个滑动槽3之间设置有移动板4，移动板4可以在滑动槽3内来回移动，移动板4上固定有底板5，底板5用于固定芯片，对于不同的芯片可以使用不同的底板5，使得装置可以检测不同的芯片，适用范围广，测试台2左右两侧设置有固定柱6，固定柱6顶端设置有顶板15，顶板15中心设置有第一通孔13，两个固定柱6之间并且在顶板15与测试台2之间设置有支撑板7，支撑板7中心设置有第二通孔14，第一通孔13与第二通孔14对应设置，顶板15上设置有连接轴8，连接轴8可伸缩，连接轴8穿过第一通孔13和第二通孔14，使连接轴的定位更加准确，检测效率更高，连接轴底部设置有测试装置，测试装置9通过螺钉与连接轴8相连接，对于不同种类的芯片可以更换不同的检测装置，使得装置可以检测不同的芯片，适用范围广，连接轴8顶部设置有转轮11，转轮11通过连接带12与电机10连接，工作人员可以通过仪器控制电机10，电机10带动连接带12转动，连接带12带动转轮12转动，转轮12带动连接轴8来回伸缩，这种方式可精确调整测试装置的位置，在芯片检测过程中保证测试装置处于最佳位置，检测效果好。

使用时，根据待检测芯片的种类选取不同的检测装置9安装在连接轴8上，之后将代检测芯片固定在底板5上，同时调整移动板4与测试装置9的位置，启动电机，电机10带动连接带12转动，连接带12带动转轮12转动，转轮12带动连接轴8伸缩，连接轴8底部设置的测试装置9与底板5上的芯片处于最佳位置时启动仪器，待检测完成后取下芯片，重新安装待检测芯片重复以上步骤。

测试台2的上表面四个角上设置有安全光栅20，在设备运行时可防止工作人员触碰设备，一旦工作人员进入到安全光栅20的工作范围内，仪器就会停止运行保护工作人员安全。

底座1伤还设置有外框架16，外框架16用于保护底座上的各种仪器设备，外框架16上设置有显示器19，在装置运行时可以随时将运行的数据显示出来，方便工作人员记录以及控制仪器的运行状态，外框架16上设置有三色灯17，可以随时显示出设备的运行情况，绿色表示正在运行中，红色表示停止运行中，黄色表示装置出现问题，无法继续运行。

底板5上设置有制冷片，在检测芯片时，芯片需要通电进行检测，在检测过程中芯片容易发热，如果不采用制冷措施，很容易造成芯片损坏，增加成本，制冷片可以在芯片发热时对芯片进行降温，防止芯片被烧坏，减小损失。

移动板4设置有多个，在一个芯片检测完成后，工作人员不需更换新的芯片，直接移动另一个移动板4进行下一个芯片的检测，在检测完所有移动板4上的芯片之后再进行下一轮的芯片更换，效率更高。

底座1上设置有温控器18，温控器18穿过测试台2，温控器18可以根据环境温度自动进行采样、即时监控，当环境温度高于控制设定值时控制电路启动。如温度还在升，当升到设定的超限报警温度点时，启动超限报警功能，让工作人员能够随时掌握装置内的温度，防止温度过高损坏机器。

以上所述实施例仅是为充分说明本实用新型而所举的较佳的实施例，本实用新型的保护范围不限于此。本技术领域的技术人员在本实用新型基础上所作的等同替代或变换，均在本实用新型的保护范围之内。本实用新型的保护范围以权利要求书为准。

Claims (7)

1.一种芯片检测装置，其特征在于，包括底座，安装在底座上的测试台，所述测试台两侧均设置有滑动槽，两个所述滑动槽之间设置有移动板，所述移动板上固定有底板，所述测试台上设置有固定柱，所述固定柱顶端设置有顶板，所述顶板中心设置有第一通孔，两个所述固定柱之间在所述顶板和所述测试台中间设置有支撑板，所述支撑板中心设置有第二通孔，所述第一通孔与所述第二通孔对应设置，所述顶板上固定有连接轴，所述连接轴可伸缩，所述连接轴穿过所述第一通孔和所述第二通孔，所述连接轴底部设置有测试装置，所述连接轴顶部设置有转轮，所述转轮通过连接带与电机连接。

2.如权利要求1所述的芯片检测装置，其特征在于，所述测试台的表面四个角上设置有安全光栅。

3.如权利要求1所述的芯片检测装置，其特征在于，所述底座上还设置有外框架，所述外框加上设置有三色灯。

4.如权利要求3所述的芯片检测装置，其特征在于，所述外框架上设置有显示器。

5.如权利要求1所述的芯片检测装置，其特征在于，所述底板上设置有制冷片。

6.如权利要求1所述的芯片检测装置，其特征在于，所述移动板设置有一个或者多个。

7.如权利要求1所述的芯片检测装置，其特征在于，所述底座上设置有温控器，所述温控器穿过所述测试台。

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