CN209911494U - 阵列式发光单元的量测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型关于一种阵列式发光单元的量测装置，用于测量呈阵列式排列的复数发光单元，其包括：一承载平台，其包括一承载该复数发光单元的透光部；复数探针组，分别可供选择地电性接触该复数发光单元的复数待测发光单元；一量测组件，其包括一第一影像式光接收器及一第二影像式光接收器，该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器分别位于该承载平台的一侧，该第一影像式光接收器可与该透光部可相对移动，该第二影像式光接收器可与该透光部可相对移动，以选择地使该第一影像式光接收器或该第二影像式光接收器对应该透光部以接收该复数待侧发光单元所产生的光。

Description

阵列式发光单元的量测装置

技术领域

本实用新型有关于一种阵列式发光单元的量测装置。

背景技术

为了保持发光二极管的良率及品质，往往会对发光二极管进行光性的检测。已知技术的发光二极管量测装置，为在发光二极管下方设有积分球，通过积分球接收发光二极管的光以进行光性量测。

然而，已知技术由于通过积分球一次只能量测单一颗发光二极管，造成量测时间长，有量测效率不佳的问题。再者使用积分球用于收集光及量测光会有反射光线而造成光量逸散的问题，导致量测不精确。

因此，有必要提供一种新颖且具有进步性的阵列式发光单元的量测装置，以解决上述的问题。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种阵列式发光单元的量测装置，可以两个影像式光接收器量测复数发光单元的光性，以提升量测效率。

为达成上述目的，本实用新型提供一种阵列式发光单元的量测装置，用于测量呈阵列式排列的复数发光单元，该阵列式发光单元的量测装置包括：一承载平台，其包括一透光部，该透光部承载该复数发光单元；复数探针组，分别可供选择地电性接触该复数发光单元的复数待测发光单元；一量测组件，其包括一第一影像式光接收器及一第二影像式光接收器，该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器分别位于该承载平台的一侧，该第一影像式光接收器可与该透光部可相对移动，该第二影像式光接收器可与该透光部可相对移动，以选择地使该第一影像式光接收器或该第二影像式光接收器对应该透光部以接收该复数待侧发光单元所产生的光。

更进一步地，该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器可同时相对该承载平台移动，使该第一影像式光接收器或该第二影像式光接收器对应该透光部；该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器为两个测量不同的光性的量测器。

更进一步地，该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器位于该承载平台的同一侧。

更进一步地，该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器各设有复数光接收单元，该复数光接收单元形成阵列排列，各该光接收单元的位置对应其中一该发光单元的位置。

更进一步地，该复数光接收单元的数量对应该复数发光单元的数量，该复数光接收单元的位置与该复数发光单元的位置为一对一相互对应。

更进一步地，另包括一光分析装置，该光分析装置分别通联该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器，该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器分别接收该复数待测发光单元的光而产生光性资讯，该光分析装置接收并整合该第一影像式光接收器的光性资讯及该第二影像式光接收器的光性资讯以进行分析及计算。

更进一步地，各该发光单元包括一发光面及一电极面，该电极面设有两个电极，各该探针组包括两个探针，该两个探针分别电性接触该两个电极，该复数探针组与该量测组件分别位于该承载平台的相对侧，该发光面朝向该量测组件，该电极面朝向该复数探针组。

更进一步地，该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器分别为一亮度、色度或光谱侦测器；该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器位于该承载平台的同一侧；该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器各设有复数光接收单元，该复数光接收单元形成阵列排列，各该光接收单元的位置对应其中一该发光单元的位置；该复数光接收单元的数量对应该复数发光单元的数量，该复数光接收单元的位置与该复数发光单元的位置为一对一相互对应；该阵列式发光单元的量测装置另包括一光分析装置，该光分析装置分别通联该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器，该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器分别接收该复数待测发光单元的光而产生光性资讯，该光分析装置接收并整合该第一影像式光接收器的光性资讯及该第二影像式光接收器的光性资讯以进行分析及计算；该阵列式发光单元的量测装置另包括一光衰减元件，该光衰减元件设于该透光部与该量测组件之间；各该发光单元包括一发光面及一电极面，该电极面设有两个电极，各该探针组包括两个探针，该两个探针分别电性接触该两个电极，该复数探针组与该量测组件分别位于该承载平台的相对侧，该发光面朝向该量测组件，该电极面朝向该复数探针组；该承载平台为一石英玻璃平台；各该发光单元为覆晶式发光二极管；该复数探针组可相对该透光部平移；该光分析装置另包括至少一显示器，该至少一显示器显示该光性资讯；该复数探针组呈矩阵排列。

为达成上述目的，本实用新型另提供一种阵列式发光单元的量测装置，用于测量呈阵列式排列的复数发光单元，该阵列式发光单元的量测装置包括：一承载平台，其包括一透光部，该透光部承载该复数发光单元；复数探针组，分别可供选择地电性接触该复数发光单元的复数待测发光单元；一量测组件，其包括一第一影像式光接收器、一第二影像式光接收器及一分光元件，该分光元件对准该透光部，用以将该复数待测发光单元的光线分光投射至该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器。

更进一步地，该分光元件设于该第一影像式光接收器、该第二影像式光接收器及该承载平台之间；该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器为两个测量不同的光性的量测器。

更进一步地，该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器位于该承载平台的同一侧。

更进一步地，该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器各设有复数光接收单元，该复数光接收单元形成阵列排列，各该光接收单元的位置对应其中一该发光单元的位置。

更进一步地，该复数光接收单元的数量对应该复数发光单元的数量，该复数光接收单元的位置与该复数发光单元的位置为一对一相互对应。

更进一步地，另包括一光分析装置，该光分析装置分别通联该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器，该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器分别接收该复数待测发光单元的光而产生光性资讯，该光分析装置接收并整合该第一影像式光接收器的光性资讯及该第二影像式光接收器的光性资讯以进行分析及计算。

更进一步地，各该发光单元包括一发光面及一电极面，该电极面设有两个电极，各该探针组包括两个探针，该两个探针分别电性接触该两个电极，该复数探针组与该量测组件分别位于该承载平台的相对侧，该发光面朝向该量测组件，该电极面朝向该复数探针组。

更进一步地，该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器分别为一亮度、色度或光谱侦测器；该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器位于该承载平台的同一侧；该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器各设有复数光接收单元，该复数光接收单元形成阵列排列，各该光接收单元的位置对应其中一该发光单元的位置；该复数光接收单元的数量对应该复数发光单元的数量，该复数光接收单元的位置与该复数发光单元的位置为一对一相互对应；该阵列式发光单元的量测装置另包括一光分析装置，该光分析装置分别通联该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器，该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器分别接收该复数待测发光单元的光而产生光性资讯，该光分析装置接收并整合该第一影像式光接收器的光性资讯及该第二影像式光接收器的光性资讯以进行分析及计算；该阵列式发光单元的量测装置另包括一光衰减元件，该光衰减元件设于该透光部与该量测组件之间；各该发光单元包括一发光面及一电极面，该电极面设有两个电极，各该探针组包括两个探针，该两个探针分别电性接触该两个电极，该复数探针组与该量测组件分别位于该承载平台的相对侧，该发光面朝向该量测组件，该电极面朝向该复数探针组；该承载平台为一石英玻璃平台；各该发光单元为覆晶式发光二极管；该复数探针组可相对该透光部平移；该光分析装置另包括至少一显示器，该至少一显示器显示该光性资讯；该复数探针组呈矩阵排列。

本实用新型的有益效果在于：

本实用新型提供一种阵列式发光单元的量测装置可同时测量该复数发光单元的光性，以提升量测效率，节省量测时间。再者，可分别以两个影像式光接收器量测该复数发光单元的光性，以提升检测的精确度。

附图说明

图1为本实用新型一第一较佳实施例的立体图。

图2为本实用新型一第一较佳实施例的局部放大剖面图。

图3为本实用新型一第一较佳实施例的使用状态图。

图4为本实用新型一第一较佳实施例的另一使用状态图。

图5为本实用新型一第二较佳实施例的一使用状态图。

图6为本实用新型一第三较佳实施例的一使用状态图。

附图标记

1、1’：量测装置；2：发光单元；3：待测发光单元；4：发光面；5：电极面；6、7：电极；10：承载平台；11：透光部；20：探针组；21：探针；30：量测组件；31：第一影像式光接收器；32：第二影像式光接收器；331、332：光接收单元；40：光分析装置；50：显示器；60：光衰减元件；70：分光元件。

具体实施方式

以下将通过实施例说明本实用新型的结构特征及其预期达成的功效，惟非用以限制本实用新型所欲保护的范畴，合先叙明。

请参考图1至图4，其显示本实用新型的一第一较佳实施例，本实用新型的阵列式发光单元的量测装置1，用于测量呈阵列式排列的复数发光单元2，其包括一承载平台10、复数探针组20及一量测组件30。进一步说明，本实施例为可动式量测装置，该复数发光单元2为发光二极管晶片或一晶圆上的复数晶粒。

该承载平台10包括一透光部11，该透光部11承载该复数发光单元2，该透光部11可为一供该复数发光单元2安装的阶孔、透孔或为透明、透光材质。该复数探针组20分别可供选择地电性接触该复数发光单元2的复数待测发光单元3；该量测组件30包括一第一影像式光接收器31及一第二影像式光接收器32，该第一影像式光接收器31及该第二影像式光接收器32分别位于该承载平台10的一侧，该第一影像式光接收器31可与该透光部11可相对移动，该第二影像式光接收器 32可与该透光部11可相对移动，以选择地使该第一影像式光接收器31或该第二影像式光接收器32对应该透光部11以接收该复数待侧发光单元2所产生的光，藉此，可同时测量该复数发光单元2的光性，以提升量测效率，节省量测时间。再者，可分别以第一影像式光接收器31及一第二影像式光接收器32的多组影像式光接收器量测该复数发光单元2的光性，以提升检测的精确度。

进一步说明，该第一影像式光接收器31及该第二影像式光接收器32可固定不动，而由该承载平台10相对该第一影像式光接收器31及该第二影像式光接收器32移动；或反之，例如承载平台10为一移动平台。在本实施例中，该第一影像式光接收器31及该第二影像式光接收器32可同时相对该承载平台10移动，使该第一影像式光接收器31或该第二影像式光接收器32对应该透光部11，以利于计算该第一影像式光接收器31及该第二影像式光接收器32的移动距离。

在本实施例中，该承载平台10为一石英玻璃平台，具有高的光谱透射性。

该复数探针组20可相对该透光部11平移，以快速位移至欲检测的该复数发光单元2。此外，该复数探针组20呈矩阵排列，可同时激发呈矩阵排列的该复数待测发光单元3，具有较佳地量测效果。详细地说，该复数探针组20成组设置例如探针卡、探针排、机械手臂上的复数探针。

该第一影像式光接收器31与该第二影像式光接收器32为两个测量不同的光性的量测器；该第一影像式光接收器31与该第二影像式光接收器32分别为一亮度、色度或光谱侦测器，在本实施例中，该第一影像式光接收器31为一亮度量测器，该第二影像式光接收器32为一色度量测器；在其他实施例亦不限制，通过该第一影像式光接收器31与该第二影像式光接收器32复数个影像式光接收器量测各种光性，以提升量测的精准度。

在本实施例中，该第一影像式光接收器31与该第二影像式光接收器32位于该承载平台10的同一侧，具小体积节省空间且可精准量测各种光性。

该第一影像式光接收器31与该第二影像式光接收器32各设有复数光接收单元331、332，该复数光接收单元331、332形成阵列排列，各该光接收单元331、 332接收其中一该复数待测发光单元3所产生的光，其中该复数光接收单元331、 332可分别凸出该第一影像式光接收器31及该第二影像式光接收器32的表面或设于内部；在本实施例中，该复数光接收单元331、332的数量对应该复数发光单元2的数量，该复数光接收单元331、332的位置与该复数发光单元2的位置为一对一相互对应，在检测过程中，该复数光接收单元331、332与该复数发光单元2对准定位后，仅需移动该复数探针组20接触该复数待测发光单元3以SMU(Source measurement unit)供电发光，以精简量测步骤。在其他实施例中，该复数光接收单元的数量可小于该复数光接收单元的数量，该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器与该复数探针组同步或不同步移动对位后以对准该复数待测发光单元。在本实施例中，各该发光单元2为覆晶式(Flip Chip)发光二极管。详细地说，各该发光单元2包括一发光面4及一电极面5，该电极面5设有两个电极6、7，各该探针组20包括两个探针21，该两个探针21分别电性接触该两个电极6、7(如正、负电极)，该复数探针组20与该量测组件30分别位于该承载平台10的相对侧，该发光面4朝向该量测组件30，该电极面5朝向该复数探针组20，具有较佳地量测效率，且可直接量测各该发光单元2的正面光。在其他实施例，亦可反之，以量测各该发光单元的背面光(如图5，为本实用新型的一第二较佳实施例)，值得一提的是，可应用于阵列式垂直腔面电射发射器的量测。

该阵列式发光单元的量测装置1另包括一光分析装置40，该光分析装置40 分别通联该第一影像式光接收器31及该第二影像式光接收器32，该第一影像式光接收器31及该第二影像式光接收器32分别接收该复数待测发光单元3的光而产生光性资讯，该光分析装置40接收并整合该第一影像式光接收器31的光性资讯及该第二影像式光接收器32的光性资讯以进行分析及计算以进行分析及计算，具有较佳地分析及计算效率，光性资讯例如光亮度、光谱、光色度、主波长、峰波长、中心波长、半波宽、色纯度、色座标及演色性等，该光亮度资料包括光强度(cd或mcd)、光通量(流明)、光功率(W或mW)等。详细地说，该光分析装置40通过软体计算分析该第一影像式光接收器31及该第二影像式光接收器 32的光性资讯。其中该光分析装置40可以有线或无线的方式分别与该第一影像式光接收器31及该第二影像式光接收器32通联。

该光分析装置40另包括至少一显示器50，该至少一显示器50例如荧幕，该显示器50显示该光性资讯。

较佳地，该阵列式发光单元的量测装置1另包括一光衰减元件60，该光衰减元件60设于该透光部11与该量测组件30之间，以提升量测的精准度，避免光过度饱和造成量测不精确。在本实施例中，该光衰减元件60位于该第一影像式光接收器31及该承载平台10之间。

请参考图6，其显示本实用新型的一第三较佳实施例，本实施例为固定式的量测装置1’，其与该第一实施例的差异在于，该量测组件30另包括一分光元件 70，在本实施例中该分光元件为一分光镜，该分光元件70对准该透光部11，用以将该复数待测发光单元3的光线分光投射至该第一影像式光接收器31及该第二影像式光接收器32。在本实施例中，该分光元件70设于该第一影像式光接收器31、该第二影像式光接收器32及该承载平台10之间，使该第一影像式光接收器31及该第二影像式光接收器32可同时接收该复数待测发光单元3的光，以缩短量测时间。该至少一显示器50的数量为复数，该复数显示器50分别显示该第一影像式光接收器31的光性资讯或该第二影像式光接收器32的光性资讯。

综上，本实用新型的阵列式发光单元的量测装置可同时测量该复数发光单元的光性，以提升量测效率，节省量测时间。再者，可分别以两个影像式光接收器量测该复数发光单元的光性，以提升检测的精确度。

Claims (16)

1.一种阵列式发光单元的量测装置，用于测量呈阵列式排列的复数发光单元，其特征在于，该阵列式发光单元的量测装置包括：

一承载平台，包括一透光部，该透光部承载该复数发光单元；

复数探针组，分别可供选择地电性接触该复数发光单元的复数待测发光单元；

一量测组件，包括一第一影像式光接收器及一第二影像式光接收器，该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器分别位于该承载平台的一侧，该第一影像式光接收器可与该透光部可相对移动，该第二影像式光接收器可与该透光部可相对移动，以选择地使该第一影像式光接收器或该第二影像式光接收器对应该透光部以接收该复数待侧发光单元所产生的光。

2.如权利要求1所述的阵列式发光单元的量测装置，其特征在于，该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器可同时相对该承载平台移动，使该第一影像式光接收器或该第二影像式光接收器对应该透光部；该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器为两个测量不同的光性的量测器。

3.如权利要求1或2所述的阵列式发光单元的量测装置，其特征在于，该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器位于该承载平台的同一侧。

4.如权利要求1或2所述的阵列式发光单元的量测装置，其特征在于，该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器各设有复数光接收单元，该复数光接收单元形成阵列排列，各该光接收单元的位置对应其中一该发光单元的位置。

5.如权利要求4述的阵列式发光单元的量测装置，其特征在于，该复数光接收单元的数量对应该复数发光单元的数量，该复数光接收单元的位置与该复数发光单元的位置为一对一相互对应。

6.如权利要求1或2所述的阵列式发光单元的量测装置，其特征在于，另包括一光分析装置，该光分析装置分别通联该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器，该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器分别接收该复数待测发光单元的光而产生光性资讯，该光分析装置接收并整合该第一影像式光接收器的光性资讯及该第二影像式光接收器的光性资讯以进行分析及计算。

7.如权利要求1或2所述的阵列式发光单元的量测装置，其特征在于，各该发光单元包括一发光面及一电极面，该电极面设有两个电极，各该探针组包括两个探针，该两个探针分别电性接触该两个电极，该复数探针组与该量测组件分别位于该承载平台的相对侧，该发光面朝向该量测组件，该电极面朝向该复数探针组。

8.如权利要求2所述的阵列式发光单元的量测装置，其特征在于，该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器分别为一亮度、色度或光谱侦测器；该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器位于该承载平台的同一侧；该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器各设有复数光接收单元，该复数光接收单元形成阵列排列，各该光接收单元的位置对应其中一该发光单元的位置；该复数光接收单元的数量对应该复数发光单元的数量，该复数光接收单元的位置与该复数发光单元的位置为一对一相互对应；该阵列式发光单元的量测装置另包括一光分析装置，该光分析装置分别通联该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器，该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器分别接收该复数待测发光单元的光而产生光性资讯，该光分析装置接收并整合该第一影像式光接收器的光性资讯及该第二影像式光接收器的光性资讯以进行分析及计算；该阵列式发光单元的量测装置另包括一光衰减元件，该光衰减元件设于该透光部与该量测组件之间；各该发光单元包括一发光面及一电极面，该电极面设有两个电极，各该探针组包括两个探针，该两个探针分别电性接触该两个电极，该复数探针组与该量测组件分别位于该承载平台的相对侧，该发光面朝向该量测组件，该电极面朝向该复数探针组；该承载平台为一石英玻璃平台；各该发光单元为覆晶式发光二极管；该复数探针组可相对该透光部平移；该光分析装置另包括至少一显示器，该至少一显示器显示该光性资讯；该复数探针组呈矩阵排列。

9.一种阵列式发光单元的量测装置，用于测量呈阵列式排列的复数发光单元，其特征在于，该阵列式发光单元的量测装置包括：

一承载平台，包括一透光部，该透光部承载该复数发光单元；

复数探针组，分别可供选择地电性接触该复数发光单元的复数待测发光单元；

一量测组件，包括一第一影像式光接收器、一第二影像式光接收器及一分光元件，该分光元件对准该透光部，用以将该复数待测发光单元的光线分光投射至该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器。

10.如权利要求9所述的阵列式发光单元的量测装置，其特征在于，该分光元件设于该第一影像式光接收器、该第二影像式光接收器及该承载平台之间；该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器为两个测量不同的光性的量测器。

11.如权利要求9或10所述的阵列式发光单元的量测装置，其特征在于，该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器位于该承载平台的同一侧。

12.如权利要求9或10所述的阵列式发光单元的量测装置，其特征在于，该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器各设有复数光接收单元，该复数光接收单元形成阵列排列，各该光接收单元的位置对应其中一该发光单元的位置。

13.如权利要求12述的阵列式发光单元的量测装置，其特征在于，该复数光接收单元的数量对应该复数发光单元的数量，该复数光接收单元的位置与该复数发光单元的位置为一对一相互对应。

14.如权利要求9或10所述的阵列式发光单元的量测装置，其特征在于，另包括一光分析装置，该光分析装置分别通联该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器，该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器分别接收该复数待测发光单元的光而产生光性资讯，该光分析装置接收并整合该第一影像式光接收器的光性资讯及该第二影像式光接收器的光性资讯以进行分析及计算。

15.如权利要求9或10所述的阵列式发光单元的量测装置，其特征在于，各该发光单元包括一发光面及一电极面，该电极面设有两个电极，各该探针组包括两个探针，该两个探针分别电性接触该两个电极，该复数探针组与该量测组件分别位于该承载平台的相对侧，该发光面朝向该量测组件，该电极面朝向该复数探针组。

16.如权利要求10所述的阵列式发光单元的量测装置，其特征在于，该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器分别为一亮度、色度或光谱侦测器；该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器位于该承载平台的同一侧；该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器各设有复数光接收单元，该复数光接收单元形成阵列排列，各该光接收单元的位置对应其中一该发光单元的位置；该复数光接收单元的数量对应该复数发光单元的数量，该复数光接收单元的位置与该复数发光单元的位置为一对一相互对应；该阵列式发光单元的量测装置另包括一光分析装置，该光分析装置分别通联该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器，该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器分别接收该复数待测发光单元的光而产生光性资讯，该光分析装置接收并整合该第一影像式光接收器的光性资讯及该第二影像式光接收器的光性资讯以进行分析及计算；该阵列式发光单元的量测装置另包括一光衰减元件，该光衰减元件设于该透光部与该量测组件之间；各该发光单元包括一发光面及一电极面，该电极面设有两个电极，各该探针组包括两个探针，该两个探针分别电性接触该两个电极，该复数探针组与该量测组件分别位于该承载平台的相对侧，该发光面朝向该量测组件，该电极面朝向该复数探针组；该承载平台为一石英玻璃平台；各该发光单元为覆晶式发光二极管；该复数探针组可相对该透光部平移；该光分析装置另包括至少一显示器，该至少一显示器显示该光性资讯；该复数探针组呈矩阵排列。

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