CN209541625U - 应用于hsk刀柄的检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及HSK刀柄生产加工领域,公开了应用于HSK刀柄的检测装置,包括卡盘,卡盘一侧开设有凹槽,凹槽的开口两端分别安装第一数显百分表和顶头,顶头和第一数显百分表的测杆位于同一轴线上,凹槽底部设置有平端面,平端面至轴线的距离等于待检测的HSK刀柄上抓刀槽的外周半径。解决的技术问题是,现有技术中检测HSK刀柄上抓刀槽的底径等尺寸对检测人员的个人经验依赖性强,不同的检测人员检测偏差大,不利于控制批量产品的质量。取得了能够快速、准确的测得HSK刀柄上抓刀槽的底径和中心高度并同步发送至系统,极大的提高了效率的效果。
Description
技术领域
本实用新型涉及HSK刀柄生产加工领域,具体涉及应用于HSK刀柄的检测装置。
背景技术
刀具系统能在高速下进行切削加工,应满足以下基本条件:
1.较高的系统精度包括系统定位夹持精度和刀具重复定位精度,前者指刀具与刀柄、刀柄与机床主轴的连接精度;后者指每次换刀后刀具系统精度的一致性。刀具系统具有较高的系统精度,才能保证高速加工条件下刀具系统应有的静态和动态稳定性。
2.较高的系统刚度
刀具系统的静、动刚度是影响加工精度及切削性能的重要因素。刀具系统刚度不足会导致刀具系统振动,从而降低加工精度,并加剧刀具的磨损,降低刀具的使用寿命。
3.较好的动平衡性
为满足上述条件,需要尽可能全面的控制刀具的加工精度,例如HSK刀柄上有抓刀槽,抓刀槽为V型结构,批量生产中,检测抓刀槽的底径及中心高度均由检测人员手工完成,其对检测人员的个人经验依赖性强,不同的检测人员检测偏差大,不利于控制批量产品的质量。
实用新型内容
鉴于背景技术的不足,本实用新型是提供了应用于HSK刀柄的检测装置,所要解决的技术问题是,现有技术中检测HSK刀柄上抓刀槽的底径等尺寸对检测人员的个人经验依赖性强,不同的检测人员检测偏差大,不利于控制批量产品的质量。
为解决以上技术问题,本实用新型提供了如下技术方案:
应用于HSK刀柄的检测装置,包括卡盘,所述卡盘一侧开设有凹槽,所述凹槽的开口两端分别安装第一数显百分表和顶头,所述顶头和所述第一数显百分表的测杆位于同一轴线上,所述凹槽底部设置有平端面,所述平端面至所述轴线的距离等于待检测的HSK刀柄上抓刀槽的外周半径,使用时,将待检测的HSK刀柄置于所述凹槽内,待检测的HSK刀柄的外周抵贴平端面,顶头和第一数显百分表的测杆刚好嵌入该HSK刀柄上抓刀槽内,第一数显百分表就测得该HSK刀柄上抓刀槽的底径。
进一步的,还包括底座和第二数显百分表,在所述底座上竖直固定阶梯套筒,待检测的HSK刀柄插入所述阶梯套筒内使得该HSK刀柄竖直固定,所述第二数显百分表固定在所述卡盘上且所述第二数显百分表的测杆竖直向下,由第二数显百分表可以测得该HSK刀柄基准面至卡盘上某平面的高度,再通过简单的数学计算就能够得到HSK刀柄上抓刀槽的中心高度(基准面至抓刀槽中心的高度)。
进一步的,所述底座包括底板和立板,所述立板固定在所述底板上,所述立板上设有阶梯状开口,所述阶梯套筒固定在所述阶梯状开口内,待检测的HSK刀柄插入所述阶梯套筒内使得该HSK刀柄竖直固定且该HSK刀柄下端抵贴底板上端面,例如以HSK刀柄下端面作为基准面,由第二数显百分表测得基准面至卡盘下端面距离a,由卡盘下端面至顶头中心距离b(该尺寸为固定尺寸可预先测得),a+b即为抓刀槽的中心高度,。
进一步的,在所述卡盘上安装有位移传感器,位移传感器数量可为二个,分别测得第一数显百分表的测杆的位移和第二数显百分表测杆的数据,然后发送给系统,提高检测效率,位移传感器可采用巴鲁夫BIS-122-11型。
本实用新型可针对每个规格的HSK刀柄对应设计,作为每个规格的HSK刀柄的快速检具。
本实用新型与现有技术相比,至少具有如下有益效果:
1)能够快速、准确的测得HSK刀柄上抓刀槽的底径,不依赖检测人员的经验,不同的检测人员检测无偏差,能得到统一的测量结果,有利于批量产品的质量控制;
2)能够快速、准确的测得HSK刀柄上抓刀槽的中心高度,不依赖检测人员的经验,不同的检测人员检测无偏差,能得到统一的测量结果,有利于批量产品的质量控制;
3)能够将测得的HSK刀柄上抓刀槽的底径尺寸和/或中心高度尺寸同步发送至系统,极大的提高了效率。
附图说明
本实用新型有如下附图:
图1为本实用新型的立体示意图;
图2为本实用新型所述卡盘的立体示意图;
图3为本实用新型所述卡盘的俯视示意图;
图4为本实用新型所述卡盘检测时的立体示意图;
图5为本实用新型所述卡盘检测时的俯视示意图;
图6为本实用新型测量中心高度的示意图。
具体实施方式
现在结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图,仅以示意方式说明本实用新型的基本结构,因此其仅显示与本实用新型有关的构成。
如图1-5所示,应用于HSK刀柄的检测装置,包括卡盘1,卡盘1一侧开设有凹槽2,凹槽2的开口两端分别安装第一数显百分表3和顶头4,顶头4和第一数显百分表3的测杆31位于同一轴线上,凹槽2底部设置有平端面5,平端面5至轴线的距离等于待检测的HSK刀柄20上抓刀槽21的外周半径,使用时,将待检测的HSK刀柄20置于凹槽2内,待检测的HSK刀柄20的外周抵贴平端面5,顶头4和第一数显百分表3的测杆31刚好嵌入该HSK刀柄20上抓刀槽21内,第一数显百分表3就测得该HSK刀柄20上抓刀槽21的底径。
本实用新型还包括底座6和第二数显百分表7,在底座6上竖直固定阶梯套筒8。
底座6包括底板61和立板62,立板62固定在底板61上,立板62上设有阶梯状开口,阶梯套筒8固定在阶梯状开口内,待检测的HSK刀柄20插入阶梯套筒8内使得该HSK刀柄20竖直固定且该HSK刀柄20下端抵贴底板61上端面,以HSK刀柄20下端面作为基准面(如图所示M),由第二数显百分表7测得基准面M至卡盘1下端面距离a,由卡盘1下端面至顶头4中心距离b(该尺寸为固定尺寸可预先测得),a+b即为抓刀槽21的中心高度(基准面M至抓刀槽21中心的高度)。
在卡盘1上安装有位移传感器,可以安装在垂直连通测杆处,位移传感器数量为二个,分别测得第一数显百分表3的测杆31的位移和第二数显百分表7的测杆32的数据,然后发送给系统,提高检测效率,位移传感器可采用巴鲁夫BIS-122-11型。
上述依据本实用新型为启示,通过上述的说明内容,相关工作人员完全可以在不偏离本项实用新型技术思想的范围内,进行多样的变更以及修改。本项实用新型的技术性范围并不局限于说明书上的内容,必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。
Claims (4)
1.应用于HSK刀柄的检测装置,其特征在于:包括卡盘,所述卡盘一侧开设有凹槽,所述凹槽的开口两端分别安装第一数显百分表和顶头,所述顶头和所述第一数显百分表的测杆位于同一轴线上,所述凹槽底部设置有平端面,所述平端面至所述轴线的距离等于待检测的HSK刀柄上抓刀槽的外周半径。
2.根据权利要求1所述的应用于HSK刀柄的检测装置,其特征在于:还包括底座和第二数显百分表,所述底座上竖直固定有阶梯套筒,所述第二数显百分表固定在所述卡盘上且所述第二数显百分表的测杆竖直向下。
3.根据权利要求2所述的应用于HSK刀柄的检测装置,其特征在于:所述底座包括底板和立板,所述立板固定在所述底板上,所述立板上设有阶梯状开口,所述阶梯套筒固定在所述阶梯状开口内。
4.根据权利要求1或2所述的应用于HSK刀柄的检测装置,其特征在于:在所述卡盘上安装有位移传感器。
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CN114018118B (zh) * | 2021-09-26 | 2022-08-30 | 松德刀具(长兴)科技有限公司 | Psc高精度刀柄拉紧圆弧槽综合检验仪 |
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