CN209166781U - 跌落试验设备 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种跌落试验设备，包括跌落台和由硬质材料制成的吸附座；所述吸附座包括相连的连接部与吸附部；所述连接部内开设有气道；所述吸附部具有周侧壁，所述周侧壁围成吸附腔，所述吸附腔与所述气道连通，所述周侧壁具有远离所述连接部的顶面，所述吸附座用于通过所述吸附部将电子设备吸附在所述顶面上，以及解除对电子设备的吸附以使电子设备跌落到所述跌落台上。本申请的跌落试验设备能将电子设备紧密地吸附，使其不会出现随机晃动，保证了跌落试验数据的真实、可靠。

Description

跌落试验设备

技术领域

本申请涉及电子产品测试技术领域，尤其涉及一种跌落试验设备。

背景技术

电子设备(如手机、平板电脑等)通常需要进行跌落试验，以检测产品的抗跌落冲击性能。跌落试验可利用跌落试验机进行。在利用跌落试验机进行跌落试验时，将电子设备固持在跌落试验机的试验仓内，然后解除固持使电子设备跌落到跌落试验机的试验台上。现有的跌落试验机无法对电子设备进行稳定固持，电子设备容易出现随机晃动，导致试验数据失真。

实用新型内容

本申请提供了一种跌落试验设备，能够紧密稳定地吸附电子设备，保证跌落试验数据的可靠性。

一种跌落试验设备，包括跌落台和由硬质材料制成的吸附座；所述吸附座包括相连的连接部与吸附部；所述连接部内开设有气道；所述吸附部具有周侧壁，所述周侧壁围成吸附腔，所述吸附腔与所述气道连通，所述周侧壁具有远离所述连接部的顶面，所述吸附座用于通过所述吸附部将电子设备吸附在所述顶面上，以及解除对电子设备的吸附以使电子设备跌落到所述跌落台上。

本申请的方案设计了由硬质材料制造的吸附座，该吸附座通过连接部与吸附部将电子设备吸附和释放。由于硬质材料的吸附座基本不会变形，能够对电子设备稳定地施加吸附力，使电子设备紧密地固持在其上而不会出现随机晃动，因此保证了跌落试验数据的真实、可靠。并且，吸附的固持方式不会损伤电子设备，吸附机构的设计也较为简单。

附图说明

为更清楚地阐述本申请的构造特征和功效，下面结合附图与具体实施例来对其进行详细说明。

图1是本申请的一种实施例中吸附座的立体结构示意图；

图2是图1的吸附座的横截面剖视示意图；

图3是本申请的另一种实施例中吸附座的横截面剖视示意图；

图4是本申请实施例的吸附座吸附电子设备的示意图；

图5是本申请实施例的清洁部的结构示意图；

图6是本申请实施例中清洁部与第二驱动装置的组装结构示意图；

图7是本申请实施例中管道穿出试验仓与收集装置连接的结构示意图；

图8是本申请实施例中仓门及感应装置装在试验仓上的结构示意图；

图9是图8中A处的局部放大结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本申请的一部分实施例，而不是全部实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都应属于本申请保护的范围。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施方式及实施方式中的特征可以相互组合。

本申请实施例提供了一种跌落试验设备，用于对电子设备进行跌落试验。其中，电子设备可以是任何具备通信和存储功能的设备，包括但不限于平板电脑、手机、电子阅读器、遥控器、个人计算机、笔记本电脑、车载设备、网络电视、可穿戴设备等设备。

如图1和图2所示，跌落试验设备可以包括跌落台(图1、2未示)和由硬质材料制成的吸附座10。其中，吸附座10用于吸附电子设备，可以设在跌落台之上一定距离处(根据跌落高度确定)。在需要进行跌落时，吸附座10松开电子设备使其跌落到跌落台上。该硬质材料指硬度超过设定值的材料，此种材料极难变形，能够维持吸附座10的结构形态稳定。该硬质材料包括但不限于金属、陶瓷等。

具体的，吸附座10可以包括连接部12与吸附部11，连接部12与吸附部 11相连。连接部12内开设有用于通气的气道12a。吸附部11具有周侧壁111，周侧壁111可以呈封闭环状，例如为封闭圆环状。周侧壁111围成吸附腔111e，吸附腔111e与气道12a连通。周侧壁111具有远离连接部12的顶面111a，顶面 111a用于吸附电子设备。顶面111a的表面质量(例如平面度)应当较高，以实现对电子设备的紧密吸附。在吸附腔111e中的气体流动时，吸附座10能够将电子设备吸附在顶面111a上，或者解除对电子设备的吸附以使电子设备跌落到跌落台上。

本实施例的方案设计了由硬质材料制造的吸附座10，该吸附座10通过连接部12与吸附部11将电子设备吸附和释放。由于硬质材料的吸附座10基本不会变形，能够对电子设备稳定地施加吸附力，使电子设备紧密地固持在其上而不会出现随机晃动，因此保证了跌落试验数据的真实、可靠。并且，吸附的固持方式不会损伤电子设备，吸附机构的设计也较为简单。

结合图1、图2所示，本实施例，优选的，吸附腔111e可以具有依次连接的第一内腔面111b、第二内腔面111c、第三内腔面111d。其中，第一内腔面111b 连接于顶面111a与第二内腔面111c之间，并与顶面111a及第二内腔面111c均成夹角(包括但不限于钝角)以使顶面111a与第二内腔面111c之间形成断差，即第一内腔面111b可以为连接顶面111a及第二内腔面111c的斜面，以使顶面 111a与第二内腔面111c之间具有高度差。第一内腔面111b与顶面111a的夹角，以及第一内腔面111b与第二内腔面111c的夹角可以相同或不同。第三内腔面111d连接在第二内腔面111c与气道12a的内表面之间，第三内腔面111d与第二内腔面111c成夹角(包括但不限于直角)连接。第三内腔面111d可以直接为圆孔表面，其远离第二内腔面111c的一端与气道12a的内表面对接，即第三内腔面111d所围的圆孔与气道12a等径；或者，第三内腔面111d可以包括呈夹角(包括但不限于为直角)连接的第一部分与第二部分，第一部分连接在第二内腔面 111c与第二部分之间，第二部分则连接第一部分与气道12a的内表面，此方式中第三内腔面111d所围的腔体与气道12a不等径(如图2所示，第三内腔面111d 所围的腔体的径向尺寸大于气道12a的径向尺寸)。本实施方式中，吸附座10 的此种构造能够填充更多气体并形成较大气压，有利于电子设备的紧密吸附。在其他实施方式中，吸附座10可以具有其他合适的构造。

如图3所示，本实施例，进一步的，顶面111a可开设有安装槽(图未标)，安装槽中嵌设有密封圈13。增设密封圈13能够增加顶面111a与电子设备之间的密封性，增强顶面111a对电子设备的吸附力。当然，密封圈13并非必需的。本实施方式中，增设密封圈13的吸附座10可以具有图2所示的构造，或者是其他合适的构造。

本实施例中，进一步的，跌落试验设备可以包括调整机构，调整机构与连接部12连接，调整机构用于驱动连接部12运动，以调整吸附部11的空间位置 (包括二维坐标和三维坐标)和姿态(例如俯仰角度、偏转角度)。调整机构可以驱动连接部12平移和转动以带动吸附部11运动，由此能改变电子设备的空间位置和姿态，以获取电子设备在不同位置与姿态时的跌落试验数据。

如图4所示，优选的，调整机构20可以包括第一驱动装置及联动管22。其中，第一驱动装置用于驱动联动管22运动。例如，第一驱动装置可以包括转盘 21，转盘21与联动管22连接，以驱动联动管22绕转盘21的轴心翻转。联动管22连接于第一驱动装置与连接部12之间，以将运动传递至连接部12使连接部12运动，进而带动吸附部11运动。联动管22连接气源(例如通过气管30 与气源连接)并与气道12a相通，以使气道12a中的气体流动，进而使吸附部 11能吸附或释放电子设备200。在其他实施方式中，调整机构的具体构成与结构不限于此。

本实施例中，进一步的，跌落试验设备还可以包括控制装置和清洁装置。

其中，控制装置为电气控制中枢，其可以包括控制器(如控制芯片)及相关的控制电路。清洁装置用于在控制装置的控制下对跌落台进行清洁，以清除跌落台上的异物(包括但不限于产品碎屑、灰尘等)。清洁装置可在跌落台上平移，以清除跌落台上各个区域的异物。控制器可控制清洁装置在尚未装夹和吸附电子设备时进行清洁，或者在电子设备已被吸附但未跌落之前进行清洁。

本实施例中，控制装置先行控制清洁装置清洁跌落台，并确定清洁装置是否完成了清洁。例如，在一种实施方式中，控制装置可包括控制单元和计时单元，计时单元中可预先配置有清洁时长。控制单元控制清洁装置开始工作时，计时单元开始计时。当计时到达清洁时长时计时单元停止计时，此时控制单元控制清洁装置停止工作，也即确定清洁装置已经完成了清洁。或者，在另外一种实施方式中，跌落试验设备进一步可以包括检测部，检测部用于在检测跌落台的清洁度，并向控制装置发送指示清洁度的检测信号。跌落试验设备可以包括存储器，存储器中预置有预设清洁度。控制装置用于在根据检测信号确定清洁度是否达到预设清洁度。在确定清洁度达到预设清洁度时，控制装置判定清洁装置已完成清洁。其中，清洁度表示跌落台的清洁程度，具体可以用若干与异物有关的参量表征(将在下文举例描述)。预设清洁度为需要的清洁度，当清洁度达到预设清洁度，则认为清洁装置已完成清洁。例如，检测部可以拍摄跌落台的图像以生成检测信号(即图像信号)，并向控制装置发送该图像信号。控制装置中预置有设计值。控制装置对该图像信号进行处理，以确定图像中异物颗粒(可以将颗粒尺寸大于设定阈值的颗粒定义为异物颗粒)的数目是否小于该设计值。此时，图像中异物颗粒的数目即为上述的清洁度，该设计值即为上述的预设清洁度。

本实施例中，在确定清洁装置已经完成了清洁后，控制装置将控制吸附座 10松开电子设备，使电子设备跌落到跌落台上以进行跌落试验。由于是先行清洁跌落台再进行跌落试验，因此可以避免跌落台上遗留的异物干扰跌落试验，使人员能准确评估产品跌落后的损伤状况，确保跌落试验结果的客观性与准确性。

本实施例中，可以在每次跌落试验前均进行跌落台的清洁；也可以在跌落试验前根据跌落台的清洁度确定是否进行清洁(若清洁度低于预设清洁度，则进行清洁；反之，若清洁度达到预设清洁度，则不进行清洁)。或者，即使不进行跌落试验，也可以控制清洁装置进行跌落台的清洁。

本实施例中，进一步的，清洁装置可以包括第二驱动装置和清洁部。第二驱动装置用于在控制装置的控制下，驱动清洁部在跌落台的表面移动。清洁部一边移动一边对跌落台进行清洁。在完成清洁后，第二驱动装置可驱动清洁部移动到待机位置，该待机位置应当避开电子设备的跌落位置，以避免影响电子设备的跌落。在其他实施例中，第二驱动装置可在清洁装置进行清洁时保持清洁装置的位置不变(为保证清洁效果，清洁装置的作用面可与跌落台的表面大小相当)，在清洁完成时才驱动清洁装置移至待机位置。

如图5所示，优选的，清洁部可以包括清洁吸嘴50与管道40。其中，清洁吸嘴50为中空结构，清洁吸嘴50具有吸嘴壁51，吸嘴壁51围成具有开口511 的腔体，开口511朝向跌落台60承接电子设备的台面。清洁吸嘴50可与抽气装置相连，清洁吸嘴50可通过该开口511将跌落台60的表面上的异物吸取到腔体内。开口511与跌落台60的表面相匹配，以较好地吸附异物。例如，开口 511可以呈条状延伸，以覆盖跌落台60的表面的一条形区域。当开口511沿垂直于自身延伸方向的路径平移时，可吸附到跌落台60整个表面的异物。或者，开口511也可完全覆盖跌落台60的整个表面。

如图5所示，吸嘴壁51上与开口511相对的一面开设有连接通孔(图中未标出)，管道40的一端插接在连接通孔内，以将管道40与腔体连通。管道40 的管壁与第二驱动装置相连，管道40可在第二驱动装置的带动下，驱动清洁吸嘴50在跌落台60的表面移动，即第二驱动装置从管道40处作用于清洁吸嘴50，以驱动清洁吸嘴50移动(当清洁吸嘴50的开口511完全覆盖跌落台60的整个表面时，第二驱动装置可以在清洁吸嘴50吸附异物时保持管道40及清洁吸嘴 50的位置不变，在清洁完成时才驱动清洁吸嘴50移至待机位置)。管道40用于输送气流，以使清洁吸嘴50的腔体吸附异物。管道40还可用于将吸取到腔体内的异物排出(可以排出到设于试验仓内或试验仓外的收集部中)。通过设计清洁吸嘴50与管道40的吸附式清洁结构，能够快速有效地清除异物。

如图5所示，进一步的，吸嘴壁51的开口511处可以设有清洁毛刷52，清洁毛刷52跟随吸嘴壁51在跌落台60的表面移动，清洁毛刷52用于对跌落台 60的表面进行清扫。清洁毛刷52可以分布在开口511的全部边线上，也可以仅部分在开口511的部分边线上。设置清洁毛刷52可以清除未被开口511吸附掉的异物，加强异物清除效果。当然，清洁毛刷52不是必需的。

如图6所示，优选的，第二驱动装置可以包括主动轮71、传送带72、从动轮73及联动件77。其中，主动轮71、传送带72及从动轮73构成带传动机构，即传送带72套设在主动轮71与从动轮73上以连接主动轮71与从动轮73，主动轮71的转动通过传送带72传递给从动轮73，使从动轮73同步转动。主动轮 71与从动轮73的直径可以一致。主动轮71可以采用电机74(包括但不限于步进电机)驱动。联动件77的一端固定在传送带72上，另一端固定在管道40的管壁上。当传送带72传动时，联动件77可跟随传送带72移动以驱动管道40 移动，进而使清洁吸嘴50在跌落台60的表面移动。带传动的方式传动较为平稳，使得清洁吸嘴50的移动较为稳定和顺畅，有利于异物的清洁。当然也可以使用其他类型的机构驱动清洁吸嘴50。进一步的，可以设计防护罩(构成试验仓的一部分)将带传动机构进行收容，起到防护作用。一个防护罩将主动轮71、传送带72、从动轮73收容在内，另一防护罩将电机74收容在内。

如图6所示，进一步的，第二驱动装置还可以包括导轨76，导轨76与传送带72相邻设置，例如导轨76可平行于主动轮71一侧的传送带72。联动件77 的一端还与导轨76滑动相连，当联动件77跟随传送带72移动时，联动件77 同时沿导轨76滑动。导轨76能对联动件77进行导向，使得联动件77的运动更加平稳，进而使得管道40及清洁吸嘴50的运动更加稳定。当然，导轨76不是必需的。进一步的，导轨76的端部可以设置原点传感器75。原点传感器75定位在联动件77的原点位置，原点传感器75可实时监测联动件77的位移并向控制装置反馈监测结果，控制装置根据原点传感器75的监测结果对带传动机构进行控制。例如，若监测结果表明联动件77已达到最大行程，则控制装置控制带传动机构停止传动以使联动件77不再继续前行，或者控制带传动机构反向传动以使联动件77反向行进。若监测结果表明联动件77尚未达到最大行程，则控制装置控制带传动机构继续传动以使联动件77继续前行。

进一步的，清洁装置还可以包括收集部，收集部与管道40上远离连接通孔的一端(即未与连接通孔插接的一端)连接。收集部具有抽气功能，能够通过管道40从腔体内吸取异物，并将异物收集于内。收集部的形状和构造可以根据需要进行设计，也可以采用成熟的现有产品(例如采用类似吸尘器主机的设备)。收集部的位置可以在试验仓内或试验仓外。

如图7所示，优选的，跌落试验设备还可以包括试验仓80。其中，控制装置、吸附座10、调整机构、跌落台60、第二驱动装置、清洁吸嘴50均收容在试验仓80内，试验仓80用于对收容在内的这些部件、组件进行防护。收集部 90可以设在试验仓80外，管道40上背离连接通孔的一端穿出试验仓80并与收集部90连接。将具有收集异物功能的收集部90设在试验仓80外，便于及时处理已收集的异物。当然，收集部90也可以设在试验仓80内。试验仓80具有入口，用于供人员拿取电子设备。

如图8所示，优选的，跌落试验设备还可以包括仓门100、感应装置及第二驱动机构。其中，仓门100可移动地安装于试验仓80上，仓门100用于封闭试验仓80的入口。仓门100具有初始位置，仓门100在初始位置时，仓门100未遮盖入口(指仓门100完全位于入口之外，排除仓门100遮盖部分入口的情况)。仓门100可以在第二驱动机构的驱动下移动。感应装置安装在入口处，用于感测入口处的外物(包括但不限于人员)遮挡情况，并向控制装置发送用于指示外物遮挡情况的感测信号。感应装置包括但不限于为光电传感器，其可以感测周边各个方向上是否有外物，也可以仅感测某一方向上是否有外物。控制装置用于接收该感测信号并进行判断。在确定入口未被外物遮挡且在接收到关门指令(人员通过输入设备输入到控制装置)时，控制装置向第二驱动机构(包括但不限于为液压机构)发出第一控制指令，以使第二驱动机构驱动仓门100由初始位置移动至封闭入口的位置。在未接收到关门指令时，控制装置并不会发出第一控制指令，因而仓门100会停留在初始位置。此优选方案仅在试验仓80 入口不存在外物遮挡时才控制仓门100移动以封闭入口，使仓门100的关闭更加安全，防止了安全事故的发生。

进一步的，在仓门100到达封闭入口的位置之前(即仓门100遮挡部分入口或仓门100完全封闭入口时)，当控制装置根据感测信号确定入口存在外物遮挡时，控制装置向第二驱动机构发出第二控制指令，以使第二驱动机构停止仓门100的移动。此优选方案实现了在仓门100的移动过程中，若发现试验仓80 入口存在外物遮挡便立即终止仓门100移动，避免了仓门100夹伤人员或其他安全事故的发生。

本实施例中，优选的，在仓门100到达封闭入口的位置后，控制装置控制清洁装置清洁跌落台60，并在清洁装置完成清洁之后，控制固持装置松开电子设备使电子设备跌落到跌落台60上。即先关闭仓门100，再进行异物清洁和跌落试验。此种设计将清洁与跌落试验都封闭在试验仓80内进行，提高了安全系数，也排除了外界干扰，增进了跌落试验的准确度。当然，关仓门100动作可与清洁及跌落试验无关。例如，仓门100即使未封闭也可进行清洁与跌落试验。

如图9所示，优选的，感应装置可以包括发射光栅131与接收光栅132，发射光栅131与接收光栅132分别安装在入口的相对两侧。其中，发射光栅131 用于向接收光栅132发射光信号，接收光栅132用于将接收到的光信号转换成感测信号，并向控制装置发送感测信号。光栅检测的原理为：当外物遮挡在发射光栅131与接收光栅132之间时，接收光栅132所接收的光信号会发生变化，此种变化可在感测信号中体现。控制装置收到此感测信号后进行信号处理，即可判断出有外物遮挡入口。反之，若发射光栅131与接收光栅132之间没有外物，则接收光栅132所接收的光信号与发射光栅131发射的光信号相同，控制装置对感测信号进行信号处理后，即可判断出没有外物遮挡入口。仓门100可在试验仓80上平移，并可从发射光栅131与接收光栅132之间穿过。即仓门100 为升降式仓门，仓门100的此种运动设计与光栅检测是相匹配的。若外物处于发射光栅131与接收光栅132之间，则外物也遮挡在入口处，此时仓门100将停止下降。

如图9所示，进一步的，跌落试验设备还可以包括第一按钮141与第二按钮142，第一按钮141与第二按钮142均安装在试验仓80上(例如收容电机74 的防护罩150上)。第一按钮141与第二按钮142在同时按下时产生关门指令(即第一按钮141与第二按钮142可作为输入设备)，控制装置接收此关门指令并进行相应的控制。只有在同时按下第一按钮141与第二按钮142时，才能产生关门指令；若仅按下一个按钮是无法产生关门指令的。因而此种设计增强了安全性，避免了按钮误触导致的异常或安全事故。

以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易的想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种跌落试验设备，其特征在于，

包括跌落台和由硬质材料制成的吸附座；所述吸附座包括相连的连接部与吸附部；所述连接部内开设有气道；所述吸附部具有周侧壁，所述周侧壁围成吸附腔，所述吸附腔与所述气道连通，所述周侧壁具有远离所述连接部的顶面，所述吸附座用于通过所述吸附部将电子设备吸附在所述顶面上，以及解除对电子设备的吸附以使电子设备跌落到所述跌落台上。

2.根据权利要求1所述的跌落试验设备，其特征在于，

所述顶面开设有安装槽，所述安装槽中嵌设有密封圈。

3.根据权利要求1所述的跌落试验设备，其特征在于，

所述吸附腔具有依次连接的第一内腔面、第二内腔面、第三内腔面；所述第一内腔面连接于所述顶面与所述第二内腔面之间，并与所述顶面及所述第二内腔面均成夹角以使所述顶面与所述第二内腔面之间形成断差；所述第三内腔面与所述第二内腔面成夹角连接，所述第三内腔面远离所述第二内腔面的一端与所述气道的内表面相连。

4.根据权利要求1-3任一项所述的跌落试验设备，其特征在于，

所述跌落试验设备包括调整机构，所述调整机构与所述连接部连接，所述调整机构用于驱动所述连接部运动，以带动所述吸附部运动。

5.根据权利要求4所述的跌落试验设备，其特征在于，

所述调整机构包括第一驱动装置及联动管；所述联动管连接于所述第一驱动装置与所述连接部之间并与所述气道相通，所述联动管用于连接气源，以使所述气道中的气体流动；所述第一驱动装置用于驱动所述联动管运动，以带动所述连接部运动。

6.根据权利要求1-3任一项所述的跌落试验设备，其特征在于，

所述跌落试验设备还包括控制装置和清洁装置，所述控制装置用于控制所述清洁装置清洁所述跌落台，并在所述清洁装置完成清洁之后，控制所述吸附座解除对电子设备的吸附。

7.根据权利要求6所述的跌落试验设备，其特征在于，

所述清洁装置包括第二驱动装置和清洁部；所述清洁部包括清洁吸嘴与管道；所述清洁吸嘴具有吸嘴壁，所述吸嘴壁围成具有开口的腔体，所述开口朝向所述跌落台，所述吸嘴壁上与所述开口相对的一面开设有连接通孔；所述管道的一端插接在所述连接通孔内以使所述管道与所述腔体连通，所述管道的管壁与所述第二驱动装置相连；所述第二驱动装置用于在所述控制装置的控制下驱动所述管道移动，以使所述管道带动所述清洁吸嘴在所述跌落台的表面移动并通过所述开口将所述跌落台上的异物吸取到所述腔体内，以清洁所述跌落台。

8.根据权利要求7所述的跌落试验设备，其特征在于，

所述开口处设有清洁毛刷，所述清洁毛刷用于跟随所述吸嘴壁在所述跌落台的表面移动，以对所述跌落台的表面进行清扫。

9.根据权利要求7所述的跌落试验设备，其特征在于，

所述第二驱动装置包括主动轮、传送带、从动轮及联动件，所述主动轮、所述传送带及所述从动轮形成带传动；所述联动件与所述传送带及所述管道的管壁均固定连接，所述联动件用于跟随所述传送带运动以驱动所述管道移动。

10.根据权利要求6所述的跌落试验设备，其特征在于，

所述跌落试验设备还包括检测部，所述检测部用于检测所述跌落台的清洁度，并向所述控制装置发送指示所述清洁度的检测信号；所述控制装置用于在根据所述检测信号判断所述清洁度达到预设清洁度时，判定所述清洁装置已完成清洁。