CN208721695U - 样本分析仪的计数装置及自动进样的样本分析仪 - Google Patents

Abstract

一种样本分析仪的计数装置及自动进样的样本分析仪，该计数装置的进样滑动面和回退滑动面分别向两者的中间自下而上倾斜设置并形成山形结构，并且该进样滑动面沿样本架的前进方向自下而上设置，回退滑动面沿样本架的回退方向自下而上设置。当样本架进样时，由于进样滑动面的至少一部分位于样本架的运动轨迹内，样本架将会接触进样滑动面并推动其转动，从而触发检测单元发出信号进行计数。当样本架回退时，由于回退滑动面的至少一部分位于样本架的运动轨迹内，样本架将会接触回退滑动面并推动其转动，从而触发检测单元发出信号进行计数。

Description

样本分析仪的计数装置及自动进样的样本分析仪

技术领域

本申请涉及样本分析仪，尤其是涉及一种样本分析仪的计数装置。

背景技术

样本分析仪是一种用于对病人样本进行分析的设备，例如血样分析仪等。该样本分析仪通常是将采集的病人样本通过样本架输送到样本分析仪的采样位，从而实现采样。采样后的样本将用于进行对应的检测试验，最终得到分析结果。

常规的样本分析仪都是单方向进样，无法回退，因此当某些样本需要重新采样时非常不方便。基于该问题，目前出现了一种具有自动进样和回退功能的样本分析仪，其能够在需要的时候自动控制样本架进样或者回退，解决了以上技术问题。此外，样本分析仪通常设置有计数装置来对进样的样本进行计数，但是对于这种自动进样的样本分析仪来说，常规的计数装置只能完成进样方向上的计数动作，当样本架运行需要回退计数时，这种计数装置易发卡死故障，导致产品运行异常，影响产品可靠性及运行效率。

发明内容

本申请提供一种样本分析仪的计数装置及采用这种计数装置的自动进样的样本分析仪，用以实现在样本分析仪进行回退操作时完成计数动作。

根据本申请的一方面，一种实施例中提供一种样本分析仪的计数装置，包括支架、感应件和检测单元，所述感应件转动安装在支架上，所述感应件具有用于在样本架进样时与样本架接触的进样滑动面、在样本架回退时与样本架接触的回退滑动面和用于与检测单元配合的触发部，所述进样滑动面、回退滑动面和触发部一体运动，所述进样滑动面和回退滑动面分别向两者的中间自下而上倾斜设置，且所述进样滑动面的上部和回退滑动面的上部相连，使所述进样滑动面和回退滑动面形成山形结构；所述检测单元设置在触发部的移动轨迹上，所述触发部用于在进样滑动面和回退滑动面转动时触发检测单元。

作为所述计数装置的进一步改进，所述回退滑动面与水平面的夹角a取值范围为：29°≤a≤39°。

作为所述计数装置的进一步改进，所述进样滑动面与水平面的夹角b取值范围为：29°≤b≤39°。

作为所述计数装置的进一步改进，所述进样滑动面与回退滑动面形成的夹角c取值范围为：107°≤c≤119°。

作为所述计数装置的进一步改进，所述进样滑动面与回退滑动面对称设置。

作为所述计数装置的进一步改进，至少所述回退滑动面采用相对样本架的摩擦系数为f的材料制成，所述f取值为：f≤0.3。

作为所述计数装置的进一步改进，所述f取值为：f≤0.2。

作为所述计数装置的进一步改进，所述感应件整体采用相对样本架的摩擦系数为f的材料制成。

作为所述计数装置的进一步改进，所述感应件包括挡片和触发体，所述挡片和触发体固定连接，所述进样滑动面与回退滑动面位于挡片上，所述触发部位于触发体上，所述挡片采用相对样本架的摩擦系数为f的材料制成。

作为所述计数装置的进一步改进，在所述进样滑动面与回退滑动面中，至少所述回退滑动面采用相对样本架的摩擦系数为f的材料涂覆而成。

作为所述计数装置的进一步改进，所述材料为聚甲醛树脂。

作为所述计数装置的进一步改进，所述进样滑动面、回退滑动面和触发部采用钣金件一体成型。

作为所述计数装置的进一步改进，以过感应件转动中心的竖直线为分界线，其中：

所述感应件的重心位于分界线上；

或，所述进样滑动面与回退滑动面位于分界线的一侧，所述感应件的重心位于分界线的另一侧。

作为所述计数装置的进一步改进，所述检测单元位于所述山形结构的下方，以所述分界线为界，所述触发部位于与山形结构相对的另一侧，并向下延伸至检测单元的检测区域内。

作为所述计数装置的进一步改进，还包括复位弹性件，所述复位弹性件与感应件连接，驱动所述感应件复位。

作为所述计数装置的进一步改进，所述检测单元采用检测光耦，所述触发部用于遮挡或反射所述检测光耦所发出的检测光线。

根据本申请的一方面，一种实施例中提供一种自动进样的样本分析仪，包括样本架轨道和驱动样本架在样本架轨道上前进和回退的驱动装置，其特征在于，还包括计数装置，所述计数装置包括支架、感应件和检测单元，所述感应件转动安装在支架上，所述感应件具有进样滑动面、回退滑动面和用于与检测单元配合的触发部，所述进样滑动面、回退滑动面和触发部一体运动，所述计数装置的进样滑动面沿样本架的前进方向自下而上设置，所述回退滑动面沿样本架的回退方向自下而上设置，所述进样滑动面的上部和回退滑动面的上部相连，使所述进样滑动面和回退滑动面形成山形结构，并且所述进样滑动面的至少一部分和回退滑动面的至少一部分位于样本架的运动轨迹内，使所述样本架在进样或回退时推动进样滑动面或回退滑动面转动；所述检测单元设置在触发部的移动轨迹上，所述触发部用于在进样滑动面和回退滑动面转动时触发检测单元。

作为所述样本分析仪的进一步改进，所述进样滑动面和回退滑动面伸入到样本架内的深度d为：1mm≤d≤5mm。

作为所述样本分析仪的进一步改进，所述计数装置的进样滑动面和回退滑动面位于样本架轨道的下方。

作为所述样本分析仪的进一步改进，还包括样本架，所述样本架具有若干用于放置样本试管的放置位，每个所述放置位的底部对应设置有凸棱，相邻凸棱之间具有间隙，所述进样滑动面和回退滑动面的上部伸入到所述间隙内。

作为所述样本分析仪的进一步改进，至少所述回退滑动面采用相对样本架的摩擦系数为f的材料制成，所述f取值为：f≤0.3。

依据上述实施例的计数装置中，其进样滑动面和回退滑动面分别向两者的中间自下而上倾斜设置并形成山形结构，并且该进样滑动面沿样本架的前进方向自下而上设置，回退滑动面沿样本架的回退方向自下而上设置。当样本架进样时，由于进样滑动面的至少一部分位于样本架的运动轨迹内，样本架将会接触进样滑动面并推动其转动，从而触发检测单元发出信号进行计数。当样本架回退时，由于回退滑动面的至少一部分位于样本架的运动轨迹内，样本架将会接触回退滑动面并推动其转动，从而触发检测单元发出信号进行计数。

附图说明

图1为本申请实施例一中一种计数装置的结构示意图；

图2为本申请实施例一中一种感应件的结构示意图；

图3为本申请实施例一中进样滑动面和回退滑动面的角度示意图；

图4为本申请实施例一中计数装置和样本架配合示意图；

图5为本申请实施例二中一种计数装置的结构示意图；

图6为本申请实施例二中一种挡片的结构示意图；

图7为本申请实施例二中一种触发体的结构示意图；

图8为本申请实施例二中计数装置和样本架配合示意图。

具体实施方式

下面通过具体实施方式结合附图对本发明作进一步详细说明。其中不同实施方式中类似元件采用了相关联的类似的元件标号。在以下的实施方式中，很多细节描述是为了使得本申请能被更好的理解。然而，本领域技术人员可以毫不费力的认识到，其中部分特征在不同情况下是可以省略的，或者可以由其他元件、材料、方法所替代。在某些情况下，本申请相关的一些操作并没有在说明书中显示或者描述，这是为了避免本申请的核心部分被过多的描述所淹没，而对于本领域技术人员而言，详细描述这些相关操作并不是必要的，他们根据说明书中的描述以及本领域的一般技术知识即可完整了解相关操作。

另外，说明书中所描述的特点、操作或者特征可以以任意适当的方式结合形成各种实施方式。同时，方法描述中的各步骤或者动作也可以按照本领域技术人员所能显而易见的方式进行顺序调换或调整。因此，说明书和附图中的各种顺序只是为了清楚描述某一个实施例，并不意味着是必须的顺序，除非另有说明其中某个顺序是必须遵循的。

本文中为部件所编序号本身，例如“第一”、“第二”等，仅用于区分所描述的对象，不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”，如无特别说明，均包括直接和间接连接(联接)。

实施例一：

本实施例一提供一种样本分析仪的计数装置，其可应用于各类样本分析仪中，对样本架的进样和回退进行计数操作。

请参考图1和2，该计数装置包括支架110、感应件120和检测单元130。

该支架110作为整个装置的支撑结构。该感应件120转动安装在支架110 上，可在受到外力作用时绕其转动中心转动。该感应件120用来与样本架直接接触，从而通过样本架施加到感应件120上的作用力产生位置变化，进而触发检测单元130。

该感应件120具有用于在样本架进样时与样本架接触的进样滑动面121、在样本架回退时与样本架接触的回退滑动面122和用于与检测单元130配合的触发部123。进样滑动面121、回退滑动面122和触发部123一体运动。这种一体运动可以是将进样滑动面121、回退滑动面122和触发部123设计为一体成型的结构，例如注塑成型、钣金压制成型等，或者也可以是将进样滑动面121、回退滑动面122和触发部123分散在两个以上的零部件上，然后通过固定连接的方式固定为一体。本领域技术人员能够理解，根据样本架的进给和回退方向定义的不同，进样滑动面和回退滑动面的位置可以互换。

请继续参考图1和2，该进样滑动面121和回退滑动面122分别向两者的中间自下而上倾斜设置，且进样滑动面121的上部和回退滑动面122的上部相连，使进样滑动面121和回退滑动面122形成山形结构124。所说的山形仅是一种大致的描述，其主要指进样滑动面121和回退滑动面122分别从两端向中间位置倾斜向上设置，这种倾斜向上设置的面的形状包括但不限于弧形面以及如图1 所示的倾斜平面。

请参考图1和2，该检测单元130设置在触发部123的移动轨迹上，触发部123用于在进样滑动面121和回退滑动面122转动时触发检测单元130。该触发部123对检测单元130的触发可以通过光信号、电信号、力信号等各类信号触发。例如，检测单元130可以是检测光耦、电开关、行程开关等各类结构。每当一个样本架或样本架上的一个试管经过该计数装置时，该触发部123对检测单元130触发一次。检测单元130发送对应信号至控制单元，由控制单元结合当前运动指令进行计数。当样本架作用于计数装置的作用力消失后，该感应件120可以复位，回到正常状态，即回复至样本架触发计数装置之前的状态。

本计数装置不仅可用于对进样的样本架进行计数，还能够在样本架回退过程中对回退的样本架进行计数，从而便于对进样数量等信息的及时更新，这种形式尤其是适用于自动进样的样本分析仪，便于其自动更新和控制。

请参考图3，一种实施例中，该回退滑动面122与水平面的夹角a取值范围为：29°≤a≤39°，优选34°。这样有利于保证样本架施加到回退滑动面122 上的作用力所产生的合力矩是逆时针(以图3所示为参考，在其他视角下可能是顺时针)，从而保证回退滑动面122能够随着样本架的回退移动而逐渐向下运动，以便回退滑动面122能够逐渐脱离与样本架当前接触位置，从而快速复位，等待被样本架下一次触发。

请继续参考图3，一种实施例中，该进样滑动面121与水平面的夹角b取值范围也可以为：29°≤b≤39°，优选34°。同理，这样有利于保证样本架施加到进样滑动面121上的作用力所产生的合力矩是逆时针(以图3所示为参考，在其他视角下可能是顺时针)，从而保证进样滑动面121能够随着样本架的进样移动而逐渐向下运动，以便进样滑动面121能够逐渐脱离与样本架当前接触位置，从而快速复位，等待被样本架下一次触发。

或者，一种实施例中，该进样滑动面121与回退滑动面122形成的夹角c 取值范围为：107°≤c≤119°。这样的夹角分布也有利于将样本架施加到进样滑动面121上的作用力所产生的合力矩是逆时针(以图3所示为参考，在其他视角下可能是顺时针)。

进一步地，较为优选地，该进样滑动面121与回退滑动面122对称设置。这样便于山形结构124的设计和加工制造。

另一方面，该感应件120通常被设置成在样本架的外力消失后可以自动复位。这可以通过感应件120自身的重力实现，也可以通过设置复位弹性件来实现。

请参考图1-3，一种实施例中，以过感应件120转动中心的竖直线为分界线 A，其中：

感应件120的重心位于分界线A上；

或，进样滑动面121与回退滑动面122位于分界线A的一侧，感应件120 的重心位于分界线A的另一侧。

所说的过感应件120转动中心的竖直线是指垂直于水平面且过感应件120 转动中心的直线。采用以上两种结构，如图3所示，当样本架接触感应件120 时，无论是进样还是回退，都将促使感应件120绕转动中心做向下转动(以图3 所示为参考，旋转方向为逆时针，在其他视角下可能是顺时针)，如果以进样滑动面121与回退滑动面122所在一侧为分界线A的左侧，此时感应件120的重心将移到分界线A的右侧，并且随之上移。当样本架施加到感应件120的外力消失后，该中心将自动向左下方移动，实现复位。这种重心的设置，在复位时是由上向下移动，可以更快速的复位。

当然，该感应件120的重心也可以设置在分界线A的左侧，即进样滑动面 121与回退滑动面122所在的一侧，同样也可以实现。

在其他实施例中，该计数装置还可以包括复位弹性件，该复位弹性件与感应件120连接，驱动感应件120复位。该复位弹性件可以采用弹簧。在复位弹性件的驱动下，该感应件120可以快速复位。复位弹性件一端可固定在支架110 上，另一端可固定在感应件120或与感应件120固定连接的其他结构上。

进一步地，该触发部123可以位于进样滑动面121与回退滑动面122所在的一侧，也可以位于该两个滑动面的对侧。检测单元130可根据触发部123的位置而设置在触发部123移动轨迹的不同位置。

请参考图1和3，一种实施例中，该检测单元130位于山形结构124的下方，以分界线A为界，触发部123位于与山形结构124相对的另一侧，并向下延伸至检测单元130的检测区域内。这种结构可以使该计数装置更加紧凑，占用空间更小，有利于样本分析仪的紧凑化设计。

请继续参考图1，该检测单元130采用检测光耦，触发部123用于遮挡或反射检测光耦所发出的检测光线。当然，触发部123可以设计为能够遮挡或反射检测光耦的板体状结构。对应的，该检测光耦可以为对射式光耦，也可以为发射式光耦。

该触发部123对检测光耦的触发可以分为两种。如图1所示，第一种是常态下触发部123始终位于检测光耦的检测区内，此时触发部123能够遮挡或反射光线。当感应件120推动样本架移动时，该触发部123离开检测区，从而检测光耦获取相应光信号，由此被触发。第二种是常态下触发部123始终位于检测光耦的检测区之外，此时，对射式光耦能够检测到光线，而反射式光耦无法检测到反射的光线。当感应件120推动样本架移动时，该触发部123进入检测区，从而检测光耦获取相应光信号，由此被触发。

当然，其他的检测单元130也可用来代替该检测光耦，例如电开关、行程开关等。

请参考图4，该计数装置100通常是设置在样本分析仪中样本架轨道(图中未示出)的下方，即位于样本架200的下方。样本架200在样本架轨道上前进和回退。该计数装置100的进样滑动面121沿样本架200的前进方向自下而上设置，回退滑动面122沿样本架200的回退方向自下而上设置。其中，进样滑动面121的至少一部分和回退滑动面122的至少一部分位于样本架200的运动轨迹内，使样本架200在进样或回退时推动进样滑动面121或回退滑动面122 转动。

该样本架200具有若干用于放置样本试管的放置位201，例如可以为一些孔位。每个放置位201的底部对应设置有凸棱202，相邻凸棱202之间具有间隙 203。在正常情况下，进样滑动面121和回退滑动面122的上部伸入到间隙203 内。当样本架200进样或回退时，该凸棱202将会随着样本架200的移动而逐渐接触进样滑动面121或回退滑动面122，进而推动感应件120转动，使其绕转轴逆时针(视角选择不同时，也可能为顺时针)转动，最终带动触发部123触发检测单元130，由检测单元130发送信号至控制单元进行计数。当凸棱202继续移动而脱离进样滑动面121或回退滑动面122后，该感应件120随之复位，即沿顺时针转动，触发部123也随之复位，回到初始状态，直到下一个凸棱202 重新触发该进样滑动面121或回退滑动面122，再进行计数。如此反复运行，就实现了对样本架200运行工位计数的功能。其中，为了保证样本架能够顺利的推动进样滑动面和回退滑动面向下转动，一种实施例中，使进样滑动面和回退滑动面伸入到样本架的运动轨迹内的深度d为：1mm≤d≤5mm。例如，可以是 1.5mm≤d≤5mm，或2mm≤d≤5mm。所说的深度d是指进样滑动面和回退滑动面伸入样本架部分的起始分界面到伸入部分的最外沿的垂直距离，例如进样滑动面和回退滑动面是向上伸入样本架内，则该深度d指进样滑动面和回退滑动面伸入样本架的部分在竖直方向上的长度。

当然，该计数装置100并非必须设置在样本架轨道的下方，其也可设置在样本架轨道的侧方，例如可将以上凸棱202设置在样本架200的侧方，从而用来与计数装置100配合。总之，只要该样本架200在移动过程中能够向下推动进样滑动面121和回退滑动面122即可。

另一方面，请参考图1和2，本实施例中，该感应件120采用一体成型方式制成，这种一体成型方式可以通过注塑或钣金压制而成。通常的计数装置100 会采用钣金材料制作，但钣金件由于制作尺寸精度、棱边毛刺等控制较难保证，材料摩擦阻力大，而且边界情况时样本架200与感应件120的接触力方向靠近感应件120转轴，因此易引发卡顿或堵死，当样本架200回退计数就有发生卡死故障的风险。

对此，一种实施例中，至少回退滑动面122采用相对样本架200的摩擦系数为f的材料制成，f取值为：f≤0.3。优选地，f取值为：f≤0.2。例如，该材料可以采用聚甲醛树脂(POM)。

本实施例至少回退滑动面122采用摩擦系数低的材料加工完成，使得进样滑动面121与回退滑动面122中至少回退滑动面122的表面光滑，无毛刺等缺陷，摩擦阻力小，设计安全系数大，可以可靠实现回退计数功能。

为了实现至少回退滑动面122采用相对样本架200的摩擦系数为f的材料制成这一技术目的，一种实施例中，如图2所示，该感应件120整体采用相对样本架200的摩擦系数为f的材料制成。这样使得进样滑动面121与回退滑动面 122同时都具有较低的摩擦系数。而且，这种整体结构更便于制造，减少制造工序，可节省成本。

当然，在其他实施例中，该感应件120也可以是有两个或以上的部件组合形成，其中，进样滑动面121与回退滑动面122所在的部件采用这种材料制成。

或者，其他一些实施例也可以是在进样滑动面121与回退滑动面122中，至少回退滑动面122采用相对样本架200的摩擦系数为f的材料涂覆而成。而作为进样滑动面121与回退滑动面122涂覆的基体也可以是一体成型的整体结构或由多个零部件固定而成的结构。

实施例二：

本实施例二提供了另一种计数装置100。

请参考图5-7，该计数装置100与实施例一的区别在于，该感应件120包括挡片125和触发体126。

该感应件120采用分开制造再固定安装的方式制成。该挡片125和触发体 126固定连接，进样滑动面121与回退滑动面122位于挡片125上。该触发部 123位于触发体126上。

该挡片125和触发体126也可分别采用钣金件制成。不过，一种实施例中，至少该挡片125采用相对样本架200的摩擦系数为f的材料制成。该触发体126 依然可以采用钣金件制成，这样可以节省材料，也便于对现有的整体由钣金件制成的感应件120进行改造升级。

请参考图5-7，该挡片125和触发体126可以通过螺栓直接固定，然后再一起转动安装在支架110上。

该计数装置100的其他结构则可以参考实施例一所示结构执行。其也可以选择性对各特征进行组合使用。

请参考图8，该计数装置100的使用与实施例一相同，其通常是设置在样本分析仪中样本架轨道(图中未示出)的下方，样本架200在样本架轨道上前进和回退。该计数装置100的进样滑动面121沿样本架200的前进方向自下而上设置，回退滑动面122沿样本架200的回退方向自下而上设置。其中，进样滑动面121的至少一部分和回退滑动面122的至少一部分位于样本架200的运动轨迹内，使样本架200在进样或回退时推动进样滑动面121或回退滑动面122 转动。

同样地，该计数装置100并非必须设置在样本架轨道的下方，其也可设置在样本架轨道的侧方或上方，总之，只要该样本架200在移动过程中向下推动进样滑动面121和回退滑动面122即可。

实施例三：

本实施例三提供一种自动进样的样本分析仪。

该样本分析仪包括样本架轨道和驱动样本架在样本架轨道上前进和回退的驱动装置。同时，该样本分析仪还包括采样装置、检测装置以及控制单元等，这些结构已能够通过现有技术实现，在此不再赘言。

同时，该样本分析仪还包括计数装置。计数装置可采用以上任一实施例所示的结构。

该计数装置的进样滑动面沿样本架的前进方向自下而上设置，回退滑动面沿样本架的回退方向自下而上设置，并且进样滑动面的上部和回退滑动面的上部相连，使进样滑动面和回退滑动面形成山形结构。进样滑动面的至少一部分和回退滑动面的至少一部分位于样本架的运动轨迹内，使样本架在进样或回退时推动进样滑动面或回退滑动面转动，从而触发检测单元。检测单元将检测信号反馈至控制单元，控制单元根据当前检测信号实现对正在进样或回退的试管架进行计数。

以上应用了具体个例对本发明进行阐述，只是用于帮助理解本发明，并不用以限制本发明。对于本发明所属技术领域的技术人员，依据本发明的思想，还可以做出若干简单推演、变形或替换。

Claims (21)

1.一种样本分析仪的计数装置,其特征在于，包括支架、感应件和检测单元，所述感应件转动安装在支架上，所述感应件具有用于在样本架进样时与样本架接触的进样滑动面、在样本架回退时与样本架接触的回退滑动面和用于与检测单元配合的触发部，所述进样滑动面、回退滑动面和触发部一体运动，所述进样滑动面和回退滑动面分别向两者的中间自下而上倾斜设置，且所述进样滑动面的上部和回退滑动面的上部相连，使所述进样滑动面和回退滑动面形成山形结构；所述检测单元设置在触发部的移动轨迹上，所述触发部用于在进样滑动面和回退滑动面转动时触发检测单元。

2.如权利要求1所述的计数装置，其特征在于，所述回退滑动面与水平面的夹角a取值范围为：29°≤a≤39°。

3.如权利要求1所述的计数装置，其特征在于，所述进样滑动面与水平面的夹角b取值范围为：29°≤b≤39°。

4.如权利要求1所述的计数装置，其特征在于，所述进样滑动面与回退滑动面形成的夹角c取值范围为：107°≤c≤119°。

5.如权利要求1所述的计数装置，其特征在于，所述进样滑动面与回退滑动面对称设置。

6.如权利要求1-5任一项所述的计数装置，其特征在于，至少所述回退滑动面采用相对样本架的摩擦系数为f的材料制成，所述f取值为：f≤0.3。

7.如权利要求6所述的计数装置，其特征在于，所述f取值为：f≤0.2。

8.如权利要求6所述的计数装置，其特征在于，所述感应件整体采用相对样本架的摩擦系数为f的材料制成。

9.如权利要求6所述的计数装置，其特征在于，所述感应件包括挡片和触发体，所述挡片和触发体固定连接，所述进样滑动面与回退滑动面位于挡片上，所述触发部位于触发体上，所述挡片采用相对样本架的摩擦系数为f的材料制成。

10.如权利要求6所述的计数装置，其特征在于，在所述进样滑动面与回退滑动面中，至少所述回退滑动面采用相对样本架的摩擦系数为f的材料涂覆而成。

11.如权利要求6所述的计数装置，其特征在于，所述材料为聚甲醛树脂。

12.如权利要求1-5任一项所述的计数装置，其特征在于，所述进样滑动面、回退滑动面和触发部采用钣金件一体成型。

13.如权利要求1-5任一项所述的计数装置，其特征在于，以过感应件转动中心的竖直线为分界线，其中：

所述感应件的重心位于分界线上；

或，所述进样滑动面与回退滑动面位于分界线的一侧，所述感应件的重心位于分界线的另一侧。

14.如权利要求13所述的计数装置，其特征在于，所述检测单元位于所述山形结构的下方，以所述分界线为界，所述触发部位于与山形结构相对的另一侧，并向下延伸至检测单元的检测区域内。

15.如权利要求1-5任一项所述的计数装置，其特征在于，还包括复位弹性件，所述复位弹性件与感应件连接，驱动所述感应件复位。

16.如权利要求1-5任一项所述的计数装置，其特征在于，所述检测单元采用检测光耦，所述触发部用于遮挡或反射所述检测光耦所发出的检测光线。

17.一种自动进样的样本分析仪，包括样本架轨道和驱动样本架在样本架轨道上前进和回退的驱动装置，其特征在于，还包括计数装置，所述计数装置包括支架、感应件和检测单元，所述感应件转动安装在支架上，所述感应件具有进样滑动面、回退滑动面和用于与检测单元配合的触发部，所述进样滑动面、回退滑动面和触发部一体运动，所述计数装置的进样滑动面沿样本架的前进方向自下而上设置，所述回退滑动面沿样本架的回退方向自下而上设置，所述进样滑动面的上部和回退滑动面的上部相连，使所述进样滑动面和回退滑动面形成山形结构，并且所述进样滑动面的至少一部分和回退滑动面的至少一部分位于样本架的运动轨迹内，使所述样本架在进样或回退时推动进样滑动面或回退滑动面转动；所述检测单元设置在触发部的移动轨迹上，所述触发部用于在进样滑动面和回退滑动面转动时触发检测单元。

18.如权利要求17所述的样本分析仪，其特征在于，所述进样滑动面和回退滑动面伸入到样本架内的深度d为：1mm≤d≤5mm。

19.如权利要求17所述的样本分析仪，其特征在于，所述计数装置的进样滑动面和回退滑动面位于样本架轨道的下方。

20.如权利要求19所述的样本分析仪，其特征在于，还包括样本架，所述样本架具有若干用于放置样本试管的放置位，每个所述放置位的底部对应设置有凸棱，相邻凸棱之间具有间隙，所述进样滑动面和回退滑动面的上部伸入到所述间隙内。

21.如权利要求17-20任一项所述的样本分析仪，其特征在于，至少所述回退滑动面采用相对样本架的摩擦系数为f的材料制成，所述f取值为：f≤0.3。