CN207923948U - 一种高频测试插座 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种高频测试插座，用于测试放置其中的芯片并将测试数据传输到测试设备，包括按压部件、导向部件和导通部件，其中，按压部件用于将测试芯片按压至测试位置，底面具有凸台，按压部件的一侧设有转轴；导向部件用于将测试芯片固定在测试位置，为框型结构，具有中空的夹持槽；导通部件用于将测试芯片与外部测试设备连通，包括一个基板，导通部件上设置有测试时用于连接芯片的弹簧针和同轴高频接头；按压部件通过转轴翻转并盖合导向部件，凸台、夹持槽和导通部件所在面之间构成了芯片的固定空间。本实用新型的高频测试插座，在确保连通芯片基础上，能够保护芯片不被损坏，方便测试人员的取放，确保测试普通信号及高频信号稳定传输。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子器件生产技术领域，尤其涉及一种用于半导体集成电路的高频类测试插座。
背景技术
随着信息产业的越来越智能化信息化，大量的高频芯片的开发和应用，对芯片测试用的测试插座要求也越来越高，急需要开发适用于高频芯片的测试插座。芯片测试，需要同轴高频接头测试芯片上部分高频点的信号，目前传统测试插座用的探针结构，由于探针自身的感抗，容抗比较高，无法实现对高频信号的传输要求，已经不能满足更高频率的传输要求，需要一种特殊结构的测试插座来实现更高频率的传输要求。
因此，本领域的技术人员致力于开发一种方便使用的能够用于高频测试的测试夹具。
实用新型内容
有鉴于现有技术的上述缺陷，本实用新型所要解决的技术问题是当前测试插座采用的结构不能满足高频测试要求的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供了一种高频测试插座，用于测试放置其中的芯片并将测试数据传输到测试设备，包括按压部件、导向部件和导通部件，其中，按压部件用于将测试芯片按压至测试位置，为盖型结构，按压部件的底面具有凸台，按压部件的一侧设有转轴；导向部件用于将测试芯片固定在测试位置，为框型结构，导向部件的中间具有中空的夹持槽，夹持槽的轮廓与按压部件的凸台的外沿相当，导向部件的底部具有向下延伸的连接柱，导向部件的一侧设有用于固定安装按压部件的转轴的轴座；导通部件用于将测试芯片与外部测试设备连通，包括一个基板，基板上设有与导向部件的连接柱相对应的连接孔，导通部件上设置有测试时用于连接芯片的弹簧针和同轴高频接头；按压部件通过转轴翻转并盖合导向部件，按压部件的凸台与导向部件的夹持槽通过侧壁抵接配合，导通部件与导向部件通过连接孔和连接柱相接，凸台、夹持槽和导通部件所在面之间构成了芯片的固定空间。
进一步地，按压部件底面的外围设有调节螺柱，导向部件的外围设有与按压部件的螺柱对应的螺孔，当按压部件盖合导向部件时，调节螺柱与螺孔配合调节压入程度。
进一步地，按压部件远离转轴的一侧设有卡扣，导向部件远离轴座的一端设有扣接槽，按压部件与导向部件盖合时，卡扣与扣接槽相扣接。
进一步地，按压部件的转轴上设有扭簧，扭簧给予按压部件与导向部件之间的斥力，从而使高频测试插座打开。
进一步地，夹持槽的侧壁设置有向下向内延伸的环槽面，测试芯片在环槽面上预定位。
进一步地，同轴高频接头上设有固定座，同轴高频接头的头部穿过导通部件的基板，固定座与导通部件通过螺钉固定。
进一步地，除弹簧针和同轴高频接头，高频测试插座的其他部件采用绝缘材料制成。
通过本实用新型的高频测试插座，在确保连通芯片基础上，该装置能够保护芯片不被损坏，另外最大限度的方便测试人员的取放，确保测试普通信号及高频信号稳定传输。
以下将结合附图对本实用新型的构思、具体结构及产生的技术效果作进一步说明，以充分地了解本实用新型的目的、特征和效果。
附图说明
图1是本实用新型的高频测试插座各部件的结构示意图。
图2是本实用新型的高频测试插座的剖面示意图。
图中，1按压部件，11凸台，12转轴，13调节螺柱，14卡扣，15扭簧，16圆形通孔，2导向部件，21夹持槽，211环槽面，22连接柱，23轴座，24螺孔，25扣接槽，3导通部件，31基板，32连接孔，33弹簧针，34同轴高频接头，35固定座，36螺钉。
具体实施方式
如图1和图2所示为本实用新型揭示的一种高频测试插座，其用于测试放置其中的芯片并将测试数据传输到测试设备。上述高频测试插座包括按压部件1、导向部件2和导通部件3，其中，按压部件1为盖型结构，按压部件1的底面具有凸台11，按压部件1的一侧设有转轴12，按压部件1能够沿着转轴12翻转并盖合导向部件2；导向部件2用于将测试芯片固定在测试位置，为框型结构，导向部件2的中间具有中空的夹持槽21，夹持槽21的轮廓与按压部件1的凸台11的外沿相当，使按压部件1盖合时，按压部件1的凸台11与导向部件2的夹持槽21通过侧壁抵接配合，凸台11能够贴合并对准夹持槽21向下压入，导向部件2的底部具有向下延伸的连接柱22，导向部件2的一侧设有用于固定安装按压部件1的转轴12的轴座23；导通部件3用于将测试芯片与外部测试设备连通，包括一个基板31，基板31上设有与导向部件2的连接柱22相对应的连接孔32，导通部件3与导向部件2通过连接孔32和连接柱22相接，导通部件3上设置有测试时用于连接芯片的弹簧针33和同轴高频接头34，弹簧针33确保信号导通的同时又能确保各个信号的独立性，同轴高频接头34上设有固定座35，同轴高频接头34的头部穿过导通部件3的基板31，固定座35与导通部件3通过螺钉36固定，弹簧针33将信号导通到测试主板上，同轴高频接头34将高频点位数据直接传输到测式设备。进一步地，除弹簧针33和同轴高频接头34，高频测试插座的其他部件采用绝缘材料制成。
本实用新型的高频测试插座中，凸台11、夹持槽21和导通部件3所在面之间构成了测试芯片的固定空间。夹持槽21的侧壁设置有向下向内延伸的环槽面211，测试芯片在环槽面211上预定位，随后通过按压部件1下压以固定。导向部件2主要是通过尺寸的公差配合，保证测试人员随意放置芯片，但仍然可以将芯片导正到正确位置，确认芯片不被损坏。
按压部件1底面的外围设有调节螺柱13，导向部件2的外围设有与按压部件1的螺柱13对应的螺孔24，当按压部件1盖合导向部件2时，能够通过调节螺柱13与螺孔24配合调节压入程度。按压部件1主要通过螺纹传动，将待测芯片按压到测试位置。
为使盖合的固定更稳固，按压部件1远离转轴12的一侧设有卡扣14，导向部件2远离轴座23的一端设有扣接槽25，按压部件1与导向部件2盖合时，卡扣14与扣接槽25相扣接，以防止脱离。另外，在按压部件1的转轴12上设有扭簧15，扭簧15给予按压部件1与导向部件2之间的斥力，从而使高频测试插座打开，当解除扣合时，在扭簧15作用下，按压部件1能够自动翻开。
优选地，如图1所示，按压部件1的凸台11设计为方形，凸台11外侧为圆形倒角。凸台11的中间具有圆形通孔16穿透按压部件1，以辅助观察且便于测试芯片时保持环境平衡。
本发明的高频测试插座，采用同轴高频接头及弹簧针传输数据的测试结构，由同轴高频接头将高频点位数据直接传输到测式设备，而其余测试点还由弹簧针连接到测试主板上。
通过本实用新型的高频测试插座，在确保连通芯片基础上，该装置能够保护芯片不被损坏，另外最大限度的方便测试人员的取放，确保测试普通信号及高频信号稳定传输。
以上详细描述了本实用新型的较佳具体实施例。应当理解，本领域的普通技术人员无需创造性劳动就可以根据本实用新型的构思作出诸多修改和变化。因此，凡本技术领域中技术人员依本实用新型的构思在现有技术的基础上通过逻辑分析、推理或者有限的实验可以得到的技术方案，皆应在由权利要求书所确定的保护范围内。
Claims (7)
1.一种高频测试插座，用于测试放置其中的芯片并将测试数据传输到测试设备，其特征在于，包括按压部件、导向部件和导通部件，其中，
按压部件用于将测试芯片按压至测试位置，为盖型结构，按压部件的底面具有凸台，按压部件的一侧设有转轴；
导向部件用于将测试芯片固定在测试位置，为框型结构，导向部件的中间具有中空的夹持槽，夹持槽的轮廓与按压部件的凸台的外沿相当，导向部件的底部具有向下延伸的连接柱，导向部件的一侧设有用于固定安装按压部件的转轴的轴座；
导通部件用于将测试芯片与外部测试设备连通，包括一个基板，基板上设有与导向部件的连接柱相对应的连接孔，导通部件上设置有测试时用于连接芯片的弹簧针和同轴高频接头；
按压部件通过转轴翻转并盖合导向部件，按压部件的凸台与导向部件的夹持槽通过侧壁抵接配合，导通部件与导向部件通过连接孔和连接柱相接，凸台、夹持槽和导通部件所在面之间构成了芯片的固定空间。
2.如权利要求1所述的高频测试插座，其特征在于，按压部件底面的外围设有调节螺柱，导向部件的外围设有与按压部件的螺柱对应的螺孔，当按压部件盖合导向部件时，调节螺柱与螺孔配合调节压入程度。
3.如权利要求2所述的高频测试插座，其特征在于，按压部件远离转轴的一侧设有卡扣，导向部件远离轴座的一端设有扣接槽，按压部件与导向部件盖合时，卡扣与扣接槽相扣接。
4.如权利要求3所述的高频测试插座，其特征在于，按压部件的转轴上设有扭簧，扭簧给予按压部件与导向部件之间的斥力，从而使高频测试插座打开。
5.如权利要求4所述的高频测试插座，其特征在于，夹持槽的侧壁设置有向下向内延伸的环槽面，测试芯片在环槽面上预定位。
6.如权利要求5所述的高频测试插座，其特征在于，同轴高频接头上设有固定座，同轴高频接头的头部穿过导通部件的基板，固定座与导通部件通过螺钉固定。
7.如权利要求6所述的高频测试插座，其特征在于，除弹簧针和同轴高频接头，高频测试插座的其他部件采用绝缘材料制成。
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