CN207688794U - 一种用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量塞规 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了测量工具技术领域的一种用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量塞规，旨在解决有片型极限量规测量不准确、不易操作的技术问题。包括由连接件连接为一体的基体和上、下基准环，所述基体呈圆台状且外圆锥面设有与标准石墨电极圆锥内螺纹相适配的圆锥外螺纹、两端面设有同轴的环形凹槽，所述基体上设有与指孔或立柱；所述上、下基准环呈圆环状且与所述环形凹槽相适配，所述环形凹槽和上、下基准环上设有相对应的连接通孔与测量孔，所述连接件设置在所述连接通孔内。本实用新型结构简单、操作方便，普通技术人员就可以实现对石墨电极内锥螺纹的锥度、中径值的精确测量，还可以检测石墨电极端面与轴线的垂直度。
Description
技术领域
本实用新型涉及测量工具技术领域，具体涉及一种用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量塞规。
背景技术
随着对石墨电极产品质量要求的逐步提高，生产厂商需要对石墨电极的各项指标进行详细检测，其中，对石墨电极内螺纹孔的检测非常重要，而圆锥内螺纹的检测主要是针对锥度和中径进行检测。
目前，炭素企业中广泛应用的石墨电极内锥螺纹测量工具为片型极限量规，使用片型极限量规测量石墨电极内锥螺纹的具体方法如下：（1）当测量石墨电极内锥螺纹锥度参数时，选用两片锥度分别为最大控制锥度和最小控制锥度的片型极限量规，通过对比两片量规在被测石墨电极内螺纹孔孔内的摆动状况判断被测石墨电极内锥螺纹孔的锥度是否在控制范围之内。（2）当测量石墨电极内锥螺纹最大中径参数时，选用两片分别为最大控制直径和最小控制直径的片型极限量规，通过对比两片量规端面与被测石墨电极端面的距离判断被测石墨电极内锥螺纹孔的最大中径参数是否在控制范围之内。
但是上述片型极限量规存在以下不足之处：
（1）、只能确定被测石墨电极的内锥螺纹参数是否在控制范围之内，无法得到准确数据。
（2）、测量结果受人为因素影响较大，对操作手法要求较高。
（3）、片型极限量规加工精度高且易变形，变形后无法修复使用。
综上所述，炭素企业急需一种能精确测量石墨电极螺纹孔各项参数的测量塞规。
实用新型内容
有鉴于此，本实用新型的目的在于提供一种用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量塞规，以解决现有片型极限量规测量不准确、不易操作的技术问题。
本实用新型所采用的技术方案为：
设计一种用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量塞规，包括由连接件连接为一体的基体和上、下基准环，所述基体呈圆台状且内圆锥面设有与标准石墨电极圆锥内螺纹相适配的圆锥内螺纹、两端面设有同轴的环形凹槽，所述基体上设有指孔或立柱；所述上、下基准环呈圆环状且与所述环形凹槽相适配，所述环形凹槽和上、下基准环上设有相对应的连接通孔与测量孔，所述连接件设置在所述连接通孔内。
优选的，所述连接通孔有4-8个且呈圆周均布。
优选的，所述测量孔有3-6个且呈圆周均布。
优选的，所述上、下基准环端面的平面度≤0.02mm。
优选的，所述连接件为螺栓。
优选的，所述立柱设置在基体大端端面中心处。
优选的，所述立柱内设有空腔、且所述空腔与基体下端面连通。
优选的，所述立柱顶端设有与其轴线垂直的连接孔。
1、本实用新型结构简单、操作方便，普通技术人员就可以实现对石墨电极内锥螺纹锥度、中径值的精确测量，还可以检测石墨电极端面与其轴线的垂直度。
2、本实用新型中的基体为石墨材质，具有已加工、成本低廉的特点，而且能够自润滑，摩擦阻力小。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图之一；
图2为本实用新型的俯视图之一；
图3为本实用新型的工作状态参考图之一；
图4为本实用新型的结构示意图之二；
图5为本实用新型的俯视图之二；
图6为本实用新型的工作状态参考图之二；
1为塞规A，2为塞规B，3为石墨电极，11为螺栓，12为基体，13为上基准环，13A为下基准环，14为圆锥外螺纹，15为指孔，16为连接通孔，17为测量孔，18为立柱，19为空腔，21为第一深度测量工具，22为第二深度测量工具。
具体实施方式
下面结合附图和实施例来说明本实用新型的具体实施方式，但以下实施例只是用来详细说明本实用新型，并不以任何方式限制本实用新型的范围。
实施例1：如图1-图3所示，一种用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量塞规，包括由螺栓11连接为一体的基体12（石墨材质）和上基准环13、下基准环13A，基体12呈圆台状且外圆锥面设有与标准石墨电极3圆锥内螺纹相适配的圆锥外螺纹14、两端面设有同轴的环形凹槽，基体12上还设有便于人员抓取并旋转的指孔15；上基准环13、下基准环13A呈圆环状且与环形凹槽相适配，环形凹槽和上基准环13、下基准环13A上设有相对应的连接通孔16、测量孔17，螺栓11贯穿连接通孔16以将基体12和上基准环13、下基准环13A连接为一体。
连接通孔16有4-8个且绕轴线呈圆周均布，测量孔17有3-6个且绕轴线呈圆周均布。
上基准环13、下基准环13A端面的平面度≤0.02mm。
实施例2：如图4-图6所示，一种用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量塞规，本实施例与实施例1的区别之处在于：以基体12大端端面中心设置的立柱18代替指孔15；立柱18内设有空腔19、且空腔19与基体12下端面连通；立柱18顶端设有与其轴线垂直的连接孔。
上述用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量塞规的操作使用方法如下：
以手抓取指孔15或用扳手加紧立柱18，将具有相同标准锥度和厚度的塞规B、塞规A依次旋入待测石墨电极3得螺纹孔内，同时，塞规B的内环直径小于塞规A的内环直径（塞规B旋接在靠近螺纹孔孔底的位置，塞规A旋接在靠近石墨电极3端部的位置），将第一深度测量工具21分别插入塞规A上的测量孔17，第一深度测量工具21的测量端抵触在上基准环13端面上，读取3-4个第一深度测量工具21示数，如果示数一致，则说明石墨电极3端面与其轴线垂直；然后再根据塞规A上第一深度测量工具21示数查深度测量工具示数与锥度对应表，即可得出实际锥度值；将第二深度测量工具22设置在石墨电极3的端面上，第二深度测量工具22的测量端抵触在上基准环13端面上，读取第二深度测量工具22示数，然后再根据塞规A上第二深度测量工具22的示数查深度测量工具示数与中径值对应表，即可得出实际中径值。
最后说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，本领域普通技术人员对本实用新型的技术方案所做的其他修改或者等同替换，只要不脱离本实用新型技术方案的精神和范围，均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。
Claims (8)
1.一种用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量塞规，其特征在于：包括由连接件连接为一体的基体和上、下基准环，所述基体呈圆台状且外圆锥面设有与标准石墨电极圆锥内螺纹相适配的圆锥外螺纹、两端面设有同轴的环形凹槽，所述基体上设有与指孔或立柱；所述上、下基准环呈圆环状且与所述环形凹槽相适配，所述环形凹槽和上、下基准环上设有相对应的连接通孔与测量孔，所述连接件设置在所述连接通孔内。
2.根据权利要求1所述的用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量塞规，其特征在于：所述连接通孔有4-8个且呈圆周均布。
3.根据权利要求1所述的用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量塞规，其特征在于：所述测量孔有3-6个且呈圆周均布。
4.根据权利要求1所述的用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量塞规，其特征在于：所述上、下基准环端面的平面度≤0.02mm。
5.根据权利要求1所述的用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量塞规，其特征在于：所述连接件为螺栓。
6.根据权利要求1所述的用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量塞规，其特征在于：所述立柱设置在基体大端端面中心处。
7.根据权利要求6所述的用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量塞规，其特征在于：所述立柱内设有空腔、且所述空腔与基体下端面连通。
8.根据权利要求6或7所述的用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量塞规，其特征在于：所述立柱顶端设有与其轴线垂直的连接孔。
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