CN207688789U - 用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量工装 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了测量工具技术领域的一种用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量工装，旨在解决现有片型极限量规测量不准确、不易操作的技术问题。包括具有同一标准锥度的基准塞规、锥度塞规以及测量工具，所述锥度塞规的内环直径小于基准塞规，所述基准塞规与锥度塞规间、基准塞规与石墨电极端面间设有测量工具。本实用新型结构简单、操作方便，通过基准塞规、锥度塞规和测量工具间的位置关系将石墨电极螺纹孔的锥度、中径值转变为基准塞规与锥度塞规、石墨电极端面的距离值，并通过深度测量工具以测量出来。
Description
技术领域
本实用新型涉及测量工具技术领域，具体涉及一种用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量工装。
背景技术
随着对石墨电极产品质量要求的逐步提高，生产厂商需要对石墨电极的各项指标进行详细检测，其中，对石墨电极内螺纹孔的检测非常重要，而圆锥内螺纹的检测主要是针对锥度和中径进行检测。
目前，炭素企业中广泛应用的石墨电极内锥螺纹测量工具为片型极限量规，使用片型极限量规测量石墨电极内锥螺纹的具体方法如下：（1）当测量石墨电极内锥螺纹锥度参数时，选用两片锥度分别为最大控制锥度和最小控制锥度的片型极限量规，通过对比两片量规在被测石墨电极内螺纹孔孔内的摆动状况判断被测石墨电极内锥螺纹孔的锥度是否在控制范围之内。（2）当测量石墨电极内锥螺纹最大中径参数时，选用两片分别为最大控制直径和最小控制直径的片型极限量规，通过对比两片量规端面与被测石墨电极端面的距离判断被测石墨电极内锥螺纹孔的最大中径参数是否在控制范围之内。
但是上述片型极限量规存在以下不足之处：
（1）、只能确定被测石墨电极的内锥螺纹参数是否在控制范围之内，无法得到准确数据。
（2）、测量结果受人为因素影响较大，对操作手法要求较高。
（3）、片型极限量规加工精度高且易变形，变形后无法修复使用。
综上所述，炭素企业急需一种能精确测量石墨电极螺纹孔各项参数的测量工装。
实用新型内容
有鉴于此，本实用新型的目的在于提供一种用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量工装，以解决现有片型极限量规测量不准确、不易操作的技术问题。
本实用新型所采用的技术方案为：
一种用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量工装，包括具有相同锥度的基准塞规、锥度塞规和测量工具，所述锥度塞规的内环直径小于基准塞规，所述基准塞规与锥度塞规间、基准塞规与石墨电极接头端面间设有测量工具。
优选的，所述基准塞规、锥度塞规均包括由螺栓接为一体的基体和上、下基准环，所述基体呈圆台状且内圆锥面设有与标准石墨电极圆锥内螺纹相适配的圆锥外螺纹、两端面设有同轴的环形凹槽，所述上、下基准环呈圆环状且与所述环形凹槽相适配，所述环形凹槽和上、下基准环上设有相对应的连接通孔，所述连接件设置在所述连接通孔内。
优选的，所述基准塞规的上基准环还设有绕轴线呈圆周均布的4个测量孔。
优选的，所述基准塞规的上端面设有第一测量工具，且所述测量工具的测量端贯穿所述测量孔抵触在锥度塞规的上端面；所述基准塞规与石墨电极端面间设有第二测量工具。
优选的，所述第一、第二测量工具为深度测量工具。
优选的，所述锥度塞规的上端面中心设有小立柱、且立柱的高度至少2倍于两塞规间间距；所述基准塞规的上端面中心设有大立柱，所述大立柱设有足以容纳所述小立柱的空腔，所述大、小立柱的顶端可拆卸的连接为一体。
与现有技术相比，本实用新型的有益技术效果是：
1、本实用新型结构简单、操作方便，可以精确测量石墨电极螺纹孔的锥度、中径值，还可以检测端面与轴线的垂直度。
2、本实用新型通过基准塞规、锥度塞规和测量工具间的相互配合将石墨电极螺纹孔的锥度、中径值转变为基准塞规与锥度塞规、电极接头端面的距离值，并通过深度测量工具显示出来。
3、本实用新型中的基体为石墨材质，具有已加工、成本低廉的特点，而且能够自润滑，摩擦阻力小。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图之一；
图2为基准塞规和锥度塞规的结构示意图；
图3为基准塞规和锥度塞规俯视图；
图4为本实用新型的结构示意图之二；
图5为基准塞规的结构示意图；
图6为锥度塞规俯视图；
1A 为基准塞规，1B为锥度塞规， 2为石墨电极，11为螺栓，12为基体，13为上基准环，13A为下基准环，14为圆锥外螺纹，15为指孔，16为连接通孔，17为测量孔，18为第一测量工具，19为第二测量工具，101为小立柱，102为大立柱，103为空腔，104为连接孔。
具体实施方式
下面结合附图和实施例来说明本实用新型的具体实施方式，但以下实施例只是用来详细说明本实用新型，并不以任何方式限制本实用新型的范围。。
实施例1：如图1-图3所示，一种用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量工装，包括具有相同锥度的基准塞规1A、锥度塞规1B，锥度塞规1B的内环直径小于基准塞规1A；基准塞规1A、锥度塞规1B均包括由螺栓11接为一体的基体12（石墨材质）和上基准环13、下基准环13A，基体12呈圆台状且内圆锥面设有与标准石墨电极圆锥内螺纹相适配的圆锥外螺纹14、两端面设有同轴的环形凹槽，基体12上还设有指孔15以便于人员抓持塞规并旋转；上基准13、下基准环13A呈圆环状且与环形凹槽相适配，环形凹槽和上基准环13、下基准环13A上设有相对应的连接通孔16，螺栓11贯穿连接通孔16将基体12和上基准环13、下基准环13A连接为一体。
基准塞规1A的上基准环13还设有绕轴线呈圆周均布的4个测量孔17。
基准塞规1A上端面设有第一测量工具18(本实施例中为深度测量工具)，且第一测量工具18的测量端贯穿测量孔17抵触在锥度塞规1B的上端面，用以测量基准塞规1A与锥度塞规1B间间距；第二测量工具19(本实施例中为深度测量工具)设置在基准塞规1A与石墨电极2端面之间、且其测量端抵触在基准塞规1A的上端面，用以测量基准塞规1A与石墨电极2端面间间距。
实施例2：如图4-图6所示，一种用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量工装，本实施例是以实施例1为基础做出的进一步改进：锥度塞规1B的上端面中心设有小立柱101、且小立柱101的高度至少2倍于两塞规间间距；基准塞规1A的上端面中心设有大立柱102，大立柱102内设有足以容纳小立柱102的空腔103，大立柱102、小立柱101的顶端设有与其轴线垂直的连接孔104，并通过连接销或连接螺栓可拆卸连接为一体。
上述用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量工装的操作使用方法如下：
将工装放入石墨电极2的螺纹孔内，先旋紧锥度塞规1B，再旋紧基准塞规1A。读取3-4个第一测量工具18示数，如果示数一致，则说明石墨电极端面与轴线垂直；然后再根据第一测量工具18示数查第一测量工具示数与锥度对应表，即可得出实际锥度值；读取第二测量工具19示数，然后再根据第二测量工具19示数查第二测量工具示数与中径值对应表，即可得出实际中径值。
最后说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，本领域普通技术人员对本实用新型的技术方案所做的其他修改或者等同替换，只要不脱离本实用新型技术方案的精神和范围，均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。
Claims (6)
1.一种用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量工装，其特征在于：包括具有同一标准锥度的基准塞规、锥度塞规以及测量工具，所述锥度塞规的内环直径小于基准塞规，所述基准塞规与锥度塞规间、基准塞规与石墨电极端面间设有测量工具。
2.根据权利要求1所述的用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量工装，其特征在于：所述基准塞规、锥度塞规均包括由螺栓接为一体的基体和上、下基准环，所述基体呈圆台状且外圆锥面设有与标准石墨电极圆锥内螺纹相适配的圆锥外螺纹、两端面设有同轴的环形凹槽，所述上、下基准环呈圆环状且与所述环形凹槽相适配，所述环形凹槽和上、下基准环上设有相对应的连接通孔，所述螺栓设置在所述连接通孔内。
3.根据权利要求2所述的用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量工装，其特征在于：所述基准塞规上设有绕其轴线呈圆周均布的4个测量孔。
4.根据权利要求3所述的用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量工装，其特征在于：所述基准塞规的上端面设有第一测量工具，且所述测量工具的测量端贯穿所述测量孔抵触在锥度塞规的上端面；所述基准塞规与石墨电极端面间设有第二测量工具。
5.根据权利要求4所述的用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量工装，其特征在于：所述第一、第二测量工具为深度测量工具。
6.根据权利要求2所述的用于测量石墨电极圆锥内螺纹的专用测量工装，其特征在于：所述锥度塞规的上端面中心设有小立柱、且立柱的高度至少2倍于两塞规间间距；所述基准塞规的上端面中心设有大立柱，所述大立柱设有足以容纳所述小立柱的空腔，所述大、小立柱的顶端可拆卸的连接为一体。
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| CN109458897A (zh) * | 2018-12-31 | 2019-03-12 | 桂林电子科技大学 | 一种符合人机工程学的快速取样锥孔检测装置及其检测方法 |
| CN110207572A (zh) * | 2019-07-09 | 2019-09-06 | 烟台大学 | 一种螺纹锥孔旋转式测量装置 |
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