CN207473041U - Smd测试工装 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种SMD测试工装，包括底座、连接底座的安装座、安装于安装座上的Z轴导轨和旋转驱动件、滑设于Z轴导轨上的Z轴滑块、连接旋转驱动件和Z轴滑块的连杆机构、连接Z轴滑块的连接架、连接连接架的探针测试机构、以及限位组件；探针测试机构包括连接连接架的固定座、设于固定座上的探针、以及对应探针设于固定座内的压缩弹簧。因为探针测试机构已经通过电线连接SMD测试机的信号输入端，本实用新型通过旋转驱动件驱动连杆机构推动Z轴滑块带着探针测试机构在Z轴方向上移动，再在Z轴导轨的导向作用下，使得探针测试机构的探针能正确且快速地与SMD材料上的引脚正对连接，提高了SMD材料的测试速度。

Description

SMD测试工装

技术领域

本实用新型涉及测试装置机械领域，具体涉及一种SMD测试工装。

背景技术

目前发光二极管在标识及广告牌中应用非常广泛，其中，SMD(Surface MountedDevices，表面贴装器件)因具有组装密度高、电子产品体积小、重量轻的有点而受到人们的欢迎。

对于大批量生产的SMD材料，现有的技术中一般采用SMD测试仪利用软件程序自动检测。其使用方法是，将SMD的各引脚和SMD测试仪上的信号输入端采用电线连接，该连接方式通过手工的方式实现，运行电脑中的测试程序，测试结果通过电脑显示器显示出来，良品就显示OK，不良品就显示NG。但是用手工的方式将电线连接SMD的各引脚和SMD测试仪的信号输入端，速度比较慢，使得SMD的检测效率不高。

实用新型内容

本实用新型针对现有SMD材料的各引脚和SMD测试仪的信号输入端通过电线连接，而该连接方式通过手工的方式实现，速度比较慢的问题，提供一种结构简单且能提高SMD材料的各引脚和SMD测试仪的信号输入端的连接速度的SMD测试工装。

为了实现本实用新型的目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种SMD测试工装，包括底座、连接所述底座的安装座、安装于所述安装座上的Z轴导轨和旋转驱动件、滑设于所述Z轴导轨上的Z轴滑块、连接所述旋转驱动件和Z轴滑块的连杆机构、连接所述Z轴滑块的连接架、连接所述连接架的探针测试机构、以及限位组件；所述探针测试机构包括连接所述连接架的固定座、设于所述固定座上的探针、以及对应所述探针设于所述固定座内的压缩弹簧；所述限位组件包括安装于所述Z轴滑块上的限位感应片、对应所述限位感应片设于所述安装座上的光电开关、以及对应所述探针测试机构设置的弹性限位柱，所述弹性限位柱位于所述固定座靠近所述底座的一侧。

本实用新型的SMD测试工装，结构简单，因为探针测试机构已经通过电线连接SMD测试机的信号输入端，通过旋转驱动件驱动连杆机构推动Z轴滑块带着探针测试机构在Z轴方向上移动，再在Z轴导轨的导向作用下，使得探针测试机构的探针能正确且快速地与SMD材料上的引脚正对连接，有助于提高SMD材料的测试速度，且测试精度高。

在其中一实施例中，所述安装座上对应所述Z轴导轨设有安装槽，所述Z轴导轨位于所述安装槽内，且可拆卸连接所述安装座。

在其中一实施例中，所述Z轴导轨的长度小于安装槽的长度。

在其中一实施例中，所述安装槽的底部设有若干沿安装槽的长度方向间隔布置的腰型长孔，所述Z轴导轨上设有圆孔，所述Z轴导轨通过所述腰型长孔配合所述圆孔固定于安装座上。

在其中一实施例中，所述旋转驱动件为电机。

在其中一实施例中，所述连杆机构位于所述探针测试机构和安装座之间，所述连杆机构包括连接旋转驱动件的第一连杆及枢接所述第一连杆和Z轴滑块的第二连杆。

在其中一实施例中，所述第一连杆和第二连杆之间以及第二连杆和Z轴滑块之间均通过凸轮轴承连接。

在其中一实施例中，还包括连接所述底座的X轴位置调节机构及连接所述底座和安装座的Y轴位置调节机构。

在其中一实施例中，所述X轴位置调节机构位于所述底座的底部，所述X轴位置调节机构包括滑接所述底座的X轴导轨及安装于所述X轴导轨上的X轴调节丝杆，所述X轴调节丝杆螺纹连接所述底座；所述Y轴位置调节机构包括安装于所述底座上的Y轴导轨及安装于所述Y轴导轨上的Y轴调节丝杆，所述Y轴导轨滑接所述安装座，所述Y轴调节丝杆螺纹连接所述安装座。

在其中一实施例中，所述X轴导轨上和Y轴导轨上均设有刻度尺。

附图说明

图1是本实用新型一较佳实施例所述的SMD测试工装的一方位的立体结构示意图；

图2为图1所示的SMD测试工装的另一方位的立体结构示意图；

图中：

11、底座；12、安装座；13、安装槽；20、Z轴导轨；30、旋转驱动件；41、Z轴滑块；42、连接架；50、连杆机构；51、第一连杆；52、第二连杆；60、探针测试机构；61、固定座；62、探针；71、限位感应片；72、光电开关；73、弹性限位柱；80、X轴位置调节机构；81、X轴导轨；82、X轴调节丝杆；90、Y轴位置调节机构；91、Y轴导轨；92、Y轴调节丝杆。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型，下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的较佳实施例。但是，本实用新型可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容的理解更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。

请参阅图1和图2，为本实用新型一较佳实施例的SMD测试工装，该SMD测试工装包括底座11、连接底座11的安装座12、安装于安装座12上的Z轴导轨20和旋转驱动件30、滑设于Z轴导轨20上的Z轴滑块41、连接旋转驱动件30和Z轴滑块41的连杆机构50、连接Z轴滑块41的连接架42、连接连接架42的探针测试机构60、以及限位组件。旋转驱动件30驱动连杆机构50推动Z轴滑块41带着探针测试机构60在Z轴导轨20上滑动，以实现探针测试机构60靠近或远离SMD材料，探针测试机构60用于通过电线连接SMD测试仪的信号输入端，当探针测试机构60接触SMD材料的引脚时，实现SMD材料的引脚和SMD测试仪的信号输入端的连接，从而使得SMD测试仪能对SMD材料进行测试。

安装座12上对应Z轴导轨20设有安装槽13，Z轴导轨20位于安装槽13内，且通过螺钉连接安装座12。在本实施例中，Z轴导轨20的长度小于安装槽13的长度。在其中一实施例中，安装槽13的底部设有若干沿安装槽13的长度方向间隔布置的腰型长孔，Z轴导轨20上设有圆孔，腰型长孔用于配合圆孔将Z轴导轨20固定于安装座12上。通过在安装槽13的底部设置若干沿安装槽13的长度方向间隔设置的腰型长孔，使得Z轴导轨20可根据安装需要在安装槽13内进行位置调节。

在本实施例中，旋转驱动件30优选为电机；旋转驱动件30位于安装座12远离Z轴滑块41的一侧。

探针测试机构60位于Z轴滑块41远离安装座12的一侧，探针测试机构60包括连接连接架42的固定座61、设于固定座61上的探针62、以及对应探针62设于固定座61内的压缩弹簧(图中未显示)。探针62用于压于SMD材料的引脚上，以实现探针62与SMD材料的电连接，从而使SMD测试仪能通过探针62测试SMD材料的引脚。

在本实施例中，连杆机构50位于探针测试机构60和安装座12之间，连杆机构50包括连接旋转驱动件30的第一连杆51及枢接第一连杆51和Z轴滑块41的第二连杆52。进一步的，第一连杆51和第二连杆52之间以及第二连杆52和Z轴滑块41之间均通过凸轮轴承连接。

限位组件用于限定探针测试机构60的运动行程，具体的，限位组件包括安装于Z轴滑块41上的限位感应片71、对应限位感应片71设于安装座12上的限位感应片71、以及对应探针测试机构60设置的弹性限位柱73，弹性限位柱73位于固定座61靠近底座11的一侧。当探针测试机构60沿Z轴方向朝向SMD材料运动与弹性限位柱73接触时，探针测试机构60停止移动，探针测试机构60的探针62完成与SMD的引脚接触的工作；当探针测试机构60沿Z轴方向远离SMD材料运动，限位感应片71运动至光电开关72所在的位置时，光电开关72触发，旋转驱动件30停止工作，探针测试机构60也随之停止移动，探针测试机构60完成返回原来位置的工作。弹性限位柱73能进一步地缓冲探针62和SMD的引脚之间的作用力，从而更好地保护探针62和SMD材料的引脚。

SMD测试工装还包括连接底座11的X轴位置调节机构80及连接底座11和安装座12的Y轴位置调节机构90。X轴位置调节机构80和Y轴位置调节机构90用于根据SMD所在的位置调节探针测试机构60在X轴和Y轴两个方向上的位置，以使探针测试机构60的探针62能正确地接触SMD材料的引脚。

X轴位置调节机构80位于底座11的底部，具体的，X轴位置调节机构80包括滑接底座11的X轴导轨81及安装于X轴导轨81上的X轴调节丝杆82，X轴调节丝杆82螺纹连接底座11，通过旋转X轴调节丝杆82驱动底座11在X轴导轨81上移动，便可完成探针测试机构60在X轴方向上的位置的调节；Y轴位置调节机构90包括安装于底座11上的Y轴导轨91及安装于Y轴导轨91上的Y轴调节丝杆92，Y轴导轨91滑接安装座12，Y轴调节丝杆92螺纹连接安装座12，通过旋转Y轴调节丝杆92驱动安装座12在Y轴导轨91上移动，便可完成探针测试机构60在Y轴方向上的位置的调节。

X轴导轨81上和Y轴导轨91上均设有刻度尺，工作人员可以根据刻度尺精确地调节探针测试机构60在X轴方向上的位置和在Y轴方向上的位置。

本实施例的SMD测试工装，在使用前，探针测试机构60已经通过电线连接SMD测试仪的信号输入端；使用时，启动旋转驱动件30正向旋转，正向旋转的旋转驱动件30通过连杆机构50驱动Z轴滑块41朝向SMD材料运动，当探针测试机构60的固定座61与弹性限位柱73接触时，探针测试机构60停止移动，此时，探针测试机构60的探针62与SMD材料的引脚接触，SMD测试机可以对SMD材料进行测试；测试完毕后，启动旋转驱动件30反向旋转，反向旋转的旋转驱动件30通过连杆机构50驱动Z轴滑块41带着探针测试机构60朝着远离SMD材料的方向运动，当限位感应片71运动至光电开关72所在的位置时，光电开关72触发，旋转驱动件30停止运行，随之，探针测试机构60也停止运动，返回到原来位置。

本实用新型的SMD测试工装，结构简单，因为探针测试机构60已经通过电线连接SMD测试机的信号输入端，通过旋转驱动件30驱动连杆机构50推动Z轴滑块41带着探针测试机构60在Z轴方向上移动，再在Z轴导轨20的导向作用下，使得探针测试机构60的探针62能正确且快速地与SMD材料上的引脚正对连接，有助于提高SMD材料的测试速度，且测试精度高。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种SMD测试工装，其特征在于，包括底座、连接所述底座的安装座、安装于所述安装座上的Z轴导轨和旋转驱动件、滑设于所述Z轴导轨上的Z轴滑块、连接所述旋转驱动件和Z轴滑块的连杆机构、连接所述Z轴滑块的连接架、连接所述连接架的探针测试机构、以及限位组件；所述探针测试机构包括连接所述连接架的固定座、设于所述固定座上的探针、以及对应所述探针设于所述固定座内的压缩弹簧；所述限位组件包括安装于所述Z轴滑块上的限位感应片、对应所述限位感应片设于所述安装座上的光电开关、以及对应所述探针测试机构设置的弹性限位柱，所述弹性限位柱位于所述固定座靠近所述底座的一侧。

2.根据权利要求1所述的SMD测试工装，其特征在于，所述安装座上对应所述Z轴导轨设有安装槽，所述Z轴导轨位于所述安装槽内，且可拆卸连接所述安装座。

3.根据权利要求2所述的SMD测试工装，其特征在于，所述Z轴导轨的长度小于安装槽的长度。

4.根据权利要求3所述的SMD测试工装，其特征在于，所述安装槽的底部设有若干沿安装槽的长度方向间隔布置的腰型长孔，所述Z轴导轨上设有圆孔，所述Z轴导轨通过所述腰型长孔配合所述圆孔固定于安装座上。

5.根据权利要求1所述的SMD测试工装，其特征在于，所述旋转驱动件为电机。

6.根据权利要求1所述的SMD测试工装，其特征在于，所述连杆机构位于所述探针测试机构和安装座之间，所述连杆机构包括连接旋转驱动件的第一连杆及枢接所述第一连杆和Z轴滑块的第二连杆。

7.根据权利要求6所述的SMD测试工装，其特征在于，所述第一连杆和第二连杆之间以及第二连杆和Z轴滑块之间均通过凸轮轴承连接。

8.根据权利要求1所述的SMD测试工装，其特征在于，还包括连接所述底座的X轴位置调节机构及连接所述底座和安装座的Y轴位置调节机构。

9.根据权利要求8所述的SMD测试工装，其特征在于，所述X轴位置调节机构位于所述底座的底部，所述X轴位置调节机构包括滑接所述底座的X轴导轨及安装于所述X轴导轨上的X轴调节丝杆，所述X轴调节丝杆螺纹连接所述底座；所述Y轴位置调节机构包括安装于所述底座上的Y轴导轨及安装于所述Y轴导轨上的Y轴调节丝杆，所述Y轴导轨滑接所述安装座，所述Y轴调节丝杆螺纹连接所述安装座。

10.根据权利要求9所述的SMD测试工装，其特征在于，所述X轴导轨上和Y轴导轨上均设有刻度尺。