CN207081910U - 雷射修补机 - Google Patents
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- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
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- Laser Beam Processing (AREA)
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Abstract
本实用新型一种雷射修补机包括一承载部、一座体、一链接部、一雷射发射器及一显微镜。承载部包括至少一第一滑轨,座体以可滑动之方式设于该第一滑轨,而座体包括至少一第二滑轨。另外,连结部以可滑动之方式设于该第二滑轨。雷射发射器设置于连结部。显微镜设置于连结部。其中,第一滑轨与第二滑轨相互垂直。本实用新型的有益效果是能提高面板亮点修补的效率,且避免亮点的位置坐标产生偏差。
Description
技术领域
本实用新型提供一种雷射修补机,特别是指一种具有显微镜的雷射修补机。
背景技术
现今在液晶显示器的生产过程中,常易受到制程污染或是静电破坏,使得薄膜晶体管异常的短路或断路,因而造成画素的点缺陷(pixel defect)。点缺陷可分为亮点(white defect)、暗点(dark defect)等,为了确保面板的显示质量,通常在完成薄膜晶体管数组基板及彩色滤光片基板的制程后会进行全黑画面检查与全白画面检查来发现面板的点缺陷,且在传统上有少数亮点发生的时会采用雷射修补方式将亮点进行暗化修补。此外,随着4K分辨率的面板及8K分辨率的面板的出货量增加,面板上的点缺陷便需透过工业用显微镜进行搜寻及确认其位置坐标。然而,现今的做法是先将面板设置在具有工业用显微镜的设备,利用工业用显微镜找出亮点。之后,再将该面板转移到雷射修补设备上进行该亮点的暗化修补。然而,整个亮点修补的过程是非常的耗时,且当面板移转到雷射修补设备时,也可能导致亮点的位置坐标形成偏差。
因此,如何提高面板亮点修补的效率,且避免亮点的位置坐标产生偏差,便是本领域具有通常知识者值得去思量地。
发明内容
本实用新型之目的在于提供一雷射修补机,该雷射修补机能提高面板亮点修补的效率,且避免亮点的位置坐标产生偏差。
一种雷射修补机包括一承载部、一座体、一链接部、一雷射发射器及一显微镜。承载部包括至少一第一滑轨,座体以可滑动之方式设于该第一滑轨,而座体包括至少一第二滑轨。另外,连结部以可滑动之方式设于该第二滑轨。雷射发射器设置于连结部。显微镜设置于连结部。其中,第一滑轨与第二滑轨相互垂直。
在所述之雷射修补机,其中雷射发射器与该显微镜位的相对位置形成一虚拟直线,该虚拟直线垂直于该第一滑轨。
在所述之雷射修补机,其中承载部还包括一面板设置平台,该该雷射发射器与该显微镜位于该面板设置平台的上方。
在所述之雷射修补机,其中显微镜为一工业用显微镜。
为让本实用新型的上述目的、特征和优点更能明显易懂,下文将以实施例并配合所附图示,作详细说明如下。
附图说明
图1所绘示为本实施例之雷射修补机10。
图2所绘示为第二滑轨120设置于座体12内的示意图。
具体实施方式
请参阅图1,图1所绘示为本实施例之雷射修补机10,雷射修补机10包括一一承载部11、一座体12、一链接部13、一雷射发射器14及一显微镜15。其中,承载部11包括至少一第一滑轨110及一面板设置平台112,而座体12是以可滑动之方式设置于第一滑轨110。此外,座体12包括至少一第二滑轨120(请参阅图2,图2所绘示为第二滑轨120设置于座体12内的示意图),第二滑轨120与第一滑轨110相互垂直。另外,连结部13是以可滑动之方式设于第二滑轨120。此外,雷射发射器14及显微镜15都是设置于连结部13上,且雷射发射器14与显微镜15的相对位置会形成一虚拟直线16(虚拟直线16为申请人所自行定义的虚线,实际上不存在于雷射修补机10中),虚拟直线16会垂直于第一滑轨110。雷射发射器15与显微镜15是位于面板设置平台112的上方,面板设置平台112是用于设置要被检测的面板(未绘示)。上述中,显微镜15例如为一工业用显微镜(型号为Nikon lv-uepi 2)。
接着3,申请人将雷射修补机10检测与修补该面板的流程说明如下:
首先,经由承载部11在第一滑轨110上一步一步微小的滑动,显微镜15便能在该面板的Y轴方向同步作动。之后,当承载部11在第一滑轨110滑动一小步后,连结部在第二滑轨120上快速进行滑动时,显微镜15便能在该面板的X轴方向同步作动。这样一来,经由显微镜15在该面板Y轴与X轴的循序移动,显微镜15便能移动到该面板上的所有区域,以找出该面板上的点缺陷,且定位该点缺陷所在的位置坐标。之后,承载部11及连结部13同样会带动雷射发射器14到该点缺陷的位置坐标,雷射发射器14发射激光束对该点缺陷进行修补作业,以使亮点暗化。因此,相较于传统的雷射修补设备,本实施例之雷射修补机10能直接使用显微镜15发现点缺陷的所在位置,且立即使用雷射发射器14对该点缺陷进行修补。具体来说,雷射修补机10的显微镜15及雷射发射器14都在同一平台上,所以被检测的面板可在同一平台上进行检测及修补制程,无须进行平台的转换。如此一来,雷射修补机10便能提高面板亮点修补的整体效率(发现亮点可立即修补),且避免亮点的位置坐标产生偏差(面板都设置于面板设置平台上,所以点缺陷一被定位后,不易产生坐标的偏差)。
上述实施例仅是为了方便说明而举例,虽遭所属技术领域的技术人员任意进行修改,均不会脱离如权利要求书中所欲保护的范围。
Claims (4)
1.一种雷射修补机,其特征在于,包括:
一承载部,该承载部包括至少一第一滑轨;
一座体,该座体以可滑动之方式设于该第一滑轨,该座体包括至少一第二滑轨;
一连结部,该连结部以可滑动之方式设于该第二滑轨;
一雷射发射器,该雷射发射器设置于该连结部;及
一显微镜,该显微镜设置于该连结部;
其中,该第一滑轨与该第二滑轨相互垂直。
2.如权利要求1所述之雷射修补机,其特征在于,该雷射发射器与该显微镜位的相对位置形成一虚拟直线,该虚拟直线垂直于该第一滑轨。
3.如权利要求1所述之雷射修补机,其特征在于,该承载部还包括一面板设置平台,该雷射发射器与该显微镜位于该面板设置平台的上方。
4.如权利要求1所述之雷射修补机,其特征在于,该显微镜为一工业用显微镜。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW106211590U TWM552604U (zh) | 2017-08-07 | 2017-08-07 | 雷射修補機 |
TW106211590 | 2017-08-07 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN207081910U true CN207081910U (zh) | 2018-03-09 |
Family
ID=61228923
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201721074231.2U Active CN207081910U (zh) | 2017-08-07 | 2017-08-25 | 雷射修补机 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN207081910U (zh) |
TW (1) | TWM552604U (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109741699A (zh) * | 2019-01-22 | 2019-05-10 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 用于显示面板的检测设备 |
CN112304238A (zh) * | 2019-07-29 | 2021-02-02 | 晟耀光电科技股份有限公司 | 2d及3d量测装置 |
-
2017
- 2017-08-07 TW TW106211590U patent/TWM552604U/zh unknown
- 2017-08-25 CN CN201721074231.2U patent/CN207081910U/zh active Active
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109741699A (zh) * | 2019-01-22 | 2019-05-10 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 用于显示面板的检测设备 |
CN112304238A (zh) * | 2019-07-29 | 2021-02-02 | 晟耀光电科技股份有限公司 | 2d及3d量测装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWM552604U (zh) | 2017-12-01 |
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