CN206740088U - 键盘面板轮廓检测装置 - Google Patents
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Abstract
一种键盘面板轮廓测试装置,键盘测试治具包括固定键盘的长方体检测板,该长方体的测试板相邻的一长边和一短边所在的边缘位置开有相互连通的通槽,该长方体的测试板上长边所在侧边沿均开有五个测试槽,该长方体的测试板上短边所在侧的边沿均开有三个测试槽,测试槽与通槽连通;所述测试板长边所在侧上与测试槽对应的位置处均设有带缺口的定位块,定位块上的缺口与测试槽对应;其中一短边所在侧的边缘位置设有两个带缺口的定位块,另一短边所在侧的边缘中部设有带缺口的定位块,缺口与测试槽对应;所述测试板中部设有多个非规则布置的固定块。固定键盘轮廓方便、测试准确,完全代替手工作业;操作安全、简单、方便,测试过程无需人工干预。
Description
技术领域
本实用新型涉及键盘加工技术领域,具体涉及一种键盘面板轮廓检测装置。
背景技术
在现今信息化的时代里,键盘为计算机设备中一个非常重要也不可或缺的外部输入指令来源的配件。然而,该键盘的高低及倾斜度则会影响使用者打字的舒适度及顺畅度。所以有必要对键盘进行检测以判断各键帽安装后的高低及倾斜度是否属于标准范围内。
传统的键盘轮廓检测采用工业模具固定,人工目视检测的方法,操作人员首先将键盘放入对应的模具中,将键盘键帽漏出,人工观察键帽伸出的高度,该检测方法受人为主观因素影响,检测精度低,且人为观察为模具表面与键帽之间的高度差,非键盘底座平面与键帽的高度差属于间接尺寸与实际尺寸存在的差异。
实用新型内容
针对现有技术中所存在的不足,本实用新型提供了一种键盘面板轮廓测试装置,解决了现有技术中键盘面板轮廓检测主观因素影响检测误差大、精度低的技术问题。
为实现上述目的,本实用新型采用了如下的技术方案:一种键盘面板轮廓测试装置,包括基台,所述基台上安装有激光测试系统和键盘测试治具,键盘测试治具位于激光测试系统的下方;所述键盘测试治具包括固定键盘的长方体检测板,该长方体的测试板相邻的一长边和一短边所在的边缘位置开有相互连通的通槽,该长方体的测试板上长边所在侧边沿均开有五个测试槽,该长方体的测试板上短边所在侧的边沿均开有三个测试槽,测试槽与通槽连通;所述测试板长边所在侧上与测试槽对应的位置处均设有带缺口的定位块,定位块上的缺口与测试槽对应;其中一短边所在侧的边缘位置设有两个带缺口的定位块,另一短边所在侧的边缘中部设有带缺口的定位块,缺口与测试槽对应;所述测试板中部设有多个非规则布置的固定块。
相比于现有技术,本实用新型具有如下有益效果:键盘测试治具固定键盘轮廓方便、测试准确,完全代替手工作业;操作安全、简单、方便,测试过程无需人工干预;速度快、效率高、系统稳定可靠;多级安全保护措施,保证使用安全;绿色环保、无需耗材。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图;
图2为本实用新型中位移控制机构的结构示意图;
图3为本实用新型中键盘测试治具的结构示意图;
图4为本实用新型中定位块的结构示意图。
具体实施方式
参见图1-图4,一种键盘面板轮廓测试装置,包括基台1,所述基台1上安装有激光测试系统1和键盘测试治具2,键盘测试治具2位于激光测试系统1的下方;所述激光测试系统1通过位移控制机构带动其移动,便于调节激光测试系统1的位置,实现轻松、精确定位;所述位移控制机构包括固定滑轨6及与其平行设置的导向轨7,移动滑轨8和导向轨7之间滑动设置有移动滑轨8,移动滑轨8在导向轨7和固定滑轨6上滑动,从而带动测光测试移动。所述激光测试系统1包括操作系统和控制系统,所述操作系统包括立柱3、固定在立柱3上通过振镜电机驱动的移动式光具座4及与其连接的激光振镜头5,激光振镜头5通过移动式光具座4带动调节焦距,所述激光振镜头5与激光器电性连接;所述控制系统包括PLC,所述PLC串口通信连接有工控机,同时PLC电性连接有伺服控制器、位置移传感器,所述伺服控制器电性连接有用于多轴协调控制运动伺服电机和振镜伺服电机的运动控制卡;所述PLC电性连接有用于检测激光振镜头5位置的位置传感器。
本实用新型中所述的键盘测试治具2包括固定键盘的长方体检测板10,该长方体的测试板相邻的一长边和一短边所在的边缘位置开有相互连通的通槽11,便于放置键盘面板轮廓,键盘面板的轮廓置于通槽11内与其配合。该长方体的测试板上长边所在侧边沿均开有五个测试槽12,该长方体的测试板上短边所在侧的边沿均开有三个测试槽12;该长边设置的五个测试槽12和短边设置的三个测试槽12为预设的测试点,在测试时,调整激光振镜头5与预设的测试带你对应,测试槽12与通槽11连通,不会影响键盘面板轮廓的安装和检测。所述测试板长边所在侧上与测试槽12对应的位置处均设有带缺口14的定位块13,定位块13上的缺口14与测试槽12对应;其中一短边所在侧的边缘位置设有两个带缺口14的定位块13,另一短边所在侧的边缘中部设有带缺口14的定位块13,缺口14与测试槽12对应;所述测试板中部设有多个非规则布置的固定块18,定位块13和固定块18的大小跟对应键帽的安装框的大小匹配;键盘面板框套在定位块13和固定块18上。所述检测板10上两长边的边缘位置对应设有凹陷部15,凹陷部15,便于拆装键盘面板轮廓。
在使用时,键盘面板轮廓固定在键盘测试治具2上,工控机内预设好键盘测试治具2与激光振镜头5的检测位置的坐标,手动操作工控机,工控机将执行指令发送到PLC,PLC根据型号自助选择发出控制指令,当位置传感器检测到激光振镜头5的位置和设定为位置不符合,PLC自主选择发出控制指令,即选择伺服控制器控制运动伺服电机、振镜伺服电机正反转,达到调整检测位置的目的。
在选择时,运动控制卡插接设置可使运动伺服电机、振镜伺服电机同时转动或择一转动,即实现键盘测试治具2和激光振镜头5同时或分别调整。根据运动控制信号,需要操作系统运动,但振镜伺服电机未按控制需要的量转动或控制板发生故障时,控制系统就会输出电压报警信号,表示激光测试系统1工作不正常;控制系统检测报警信号后会立刻停止输出激光并停止检测。
最后说明的是,以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制,尽管参照较佳实施例对本实用新型进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本实用新型技术方案的宗旨和范围,其均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。
Claims (5)
1.一种键盘面板轮廓测试装置,其特征在于:包括基台,所述基台上安装有激光测试系统和键盘测试治具,键盘测试治具位于激光测试系统的下方;所述键盘测试治具包括固定键盘的长方体检测板,该长方体的测试板相邻的一长边和一短边所在的边缘位置开有相互连通的通槽,该长方体的测试板上长边所在侧边沿均开有五个测试槽,该长方体的测试板上短边所在侧的边沿均开有三个测试槽,测试槽与通槽连通;所述测试板长边所在侧上与测试槽对应的位置处均设有带缺口的定位块,定位块上的缺口与测试槽对应;其中一短边所在侧的边缘位置设有两个带缺口的定位块,另一短边所在侧的边缘中部设有带缺口的定位块,缺口与测试槽对应;所述测试板中部设有多个非规则布置的固定块。
2.根据权利要求1所述的一种键盘面板轮廓测试装置,其特征在于:所述检测板上两长边的边缘位置对应设有凹陷部。
3.根据权利要求1或2所述的一种键盘面板轮廓测试装置,其特征在于:所述激光测试系统通过位移控制机构带动其移动,所述位移控制机构包括固定滑轨及与其平行设置的导向轨,移动滑轨和导向轨之间滑动设置有移动滑轨,激光测试系统置于移动滑轨上。
4.根据权利要求3所述的一种键盘面板轮廓测试装置,其特征在于:所述激光测试系统包括操作系统和控制系统;所述操作系统包括立柱、固定在立柱上通过振镜电机驱动的移动式光具座及与其连接的激光振镜头,激光振镜头通过移动式光具座带动调节焦距,所述激光振镜头与激光器电性连接。
5.根据权利要求4所述的一种键盘面板轮廓测试装置,其特征在于:所述控制系统包括PLC,所述PLC串口通信连接有工控机,同时PLC电性连接有伺服控制器、位置移传感器,所述伺服控制器电性连接有用于多轴协调控制运动伺服电机和振镜伺服电机的运动控制卡;所述PLC电性连接有用于检测激光振镜头位置的位置传感器。
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CN108562250A (zh) * | 2018-05-16 | 2018-09-21 | 湖南大学 | 基于结构光成像的键盘键帽平整度快速测量方法与装置 |
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CN108562250A (zh) * | 2018-05-16 | 2018-09-21 | 湖南大学 | 基于结构光成像的键盘键帽平整度快速测量方法与装置 |
CN108562250B (zh) * | 2018-05-16 | 2020-07-10 | 湖南大学 | 基于结构光成像的键盘键帽平整度快速测量方法与装置 |
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