CN207104512U - 一种光栅精密检测设备以及机床 - Google Patents

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张超
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Lima Optoelectronic Technology (Beijing) Co.,Ltd.
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Suzhou Light Precision Instrument Co Ltd
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Abstract

本实用新型涉及精密检测仪器领域,提供了一种光栅精密检测设备以及机床。该光栅精密检测设备包括工作台、检测平台、光栅尺组件、光栅读数头和驱动机构,工作台上设置第一导轨,检测平台设置有第二导轨,驱动机构与检测平台连接,第一导轨和第二导轨配合滑动,检测平台安装于工作台的上方,光栅读数头与工作台连接,光栅尺组件与检测平台连接。该光栅精密检测设备通过使尺寸较大的光栅尺组件在上移动,尺寸较小的光栅读数头在下固定,这样在光栅尺组件移动的时候,光栅读数头不会裸露,无需格外的防护问题。此外,提供的机床设置有上述光栅精密检测设备,能够对待测物进行精确测量,并且光栅精密检测设备的占用面积小。

Description

一种光栅精密检测设备以及机床
技术领域
本实用新型涉及精密检测仪器领域,具体而言,涉及一种光栅精密检测设备以及机床。
背景技术
品质检验又称质量检验,是指在生产过程中,运用各种检验手段,包括感官检验、化学检验、仪器分析、物理测试、微生物学检验的方式,对生产的待检测产品进行品质、规格、等级的检验,确定待检测产品是否符规定的过程。品质检验在现代工业,尤其是精密制造业中占据相当重要位置。目前的品质检测方法一般是针对产品的尺寸进行检测,而并没有针对瑕疵进行检测的方法。
光栅精密检测设备是检测平台移动尺寸的装置,通过两个滑块的相对移动进行检测,通常情况下,检测平台运动时候,光栅的上滑块滑动,下滑块固定,而下滑块较长,占用空间较大且会裸露在外面,需要额外的防护。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种光栅精密检测设备,其在不增加额外防护装置情况下,有效避免了光栅尺组件的裸露,节约了整体机台的尺寸。
本实用新型的另一目的在于提供一种机床,其安装有上述光栅精密检测设备,能够对待测物进行精确测量,并且光栅精密检测设备的占用面积小。
本实用新型的实施例是这样实现的:
一种光栅精密检测设备,其包括工作台、检测平台、光栅尺组件、光栅读数头和驱动机构,工作台上设置第一导轨,检测平台设置有第二导轨,驱动机构与检测平台连接,第一导轨和第二导轨配合滑动,检测平台安装于工作台的上方,光栅读数头与工作台连接,光栅尺组件与检测平台连接。
进一步地,在本实用新型的优选实施例中,上述工作台包括第一平台和第二平台,第一平台和第二平台连接呈阶梯状,第一平台高于第二平台,第一导轨设置于第一平台,光栅读数头设置于第二平台。
进一步地,在本实用新型的优选实施例中,上述第一平台与第一导轨之间安装有滑动板,滑动板与第一平台固定连接,第一导轨与滑动板固定连接。
进一步地,在本实用新型的优选实施例中,上述第二平台设置有透光孔,检测平台设置有检测孔,透光孔的投影区域位于检测孔的投影区域内。
进一步地,在本实用新型的优选实施例中,上述光栅读数头包括第二安装板和读数头本体,第二安装板包括横板和竖板,横板和竖板连接形成“L”形,横板与第二平台固定,竖板与第一平台的侧壁固定,读数头本体同时与横板和竖板连接。
进一步地,在本实用新型的优选实施例中,上述光栅读数头还包括盖板,读数头本体内设置有安装腔,读数头本体的侧壁开设有贯穿至安装腔的穿线孔,盖板连接于安装腔的顶部以闭合安装腔。
进一步地,在本实用新型的优选实施例中,上述读数头本体设置有凸棱,盖板设置有滑槽,盖板通过滑槽与凸棱的配合滑动连接于读数头本体。
进一步地,在本实用新型的优选实施例中,上述读数头本体设置有卡槽,盖板设置有卡块,卡槽与卡块卡接。
进一步地,在本实用新型的优选实施例中,上述光栅尺组件包括第一安装板和光栅尺本体,第一安装板上设置有定位孔和定位件,第一安装板通过定位件穿过定位孔连接至检测平台,光栅尺本体安装于安装板上。一种机床,其包括上述光栅精密检测设备。
本实用新型实施例的有益效果是:
本实用新型提供的光栅精密检测设备通过设置第一导轨和第二导轨,并且使得光栅读数头相对于工作台固定,而光栅尺组件与检测平台连接并随着检测平台的滑动而滑动,此时,尺寸较大的光栅尺组件在上移动,尺寸较小的光栅读数头在下固定,这样在光栅尺组件移动的时候,光栅读数头不会裸露,无需格外的防护问题。同时由于光栅读数头连接的信号反馈线,本实用新型中光栅读数头固定,避免了现有技术中信号反馈线随着现有读数头移动的情况,减少了走线的长度。
本实用新型提供的机床设置有上述光栅精密检测设备,其安装有上述光栅精密检测设备,能够对待测物进行精确测量,并且光栅精密检测设备的占用面积小。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本实用新型实施例提供的光栅精密检测设备在第一视角下的结构示意;
图2为本实用新型实施例提供的光栅精密检测设备在第二视角下的结构示意图;
图3为本实用新型实施例提供的工作台的结构示意图;
图4为本实用新型实施例提供的读数头本体的结构示意图;
图5为本实用新型实施例提供的检测平台的结构示意图。
图标:100-光栅精密检测设备;110-工作台;111-第一平台;112-第二平台;113-第一导轨;114-光栅读数头;115-滑动板;116-透光孔;117-第二安装板;1171-横板;1172-竖板;118-读数头本体;1181-安装腔;1182-穿线孔;1183-凸棱;1184-卡槽;119-盖板;1191-滑槽;1192-卡块;120-检测平台;121-第二导轨;122-光栅尺组件;123-检测孔;124-第一安装板;125-光栅尺本体;126-定位孔;127-定位件;130-驱动机构;131-机架;132-电机;133-丝杠;134-螺母。
具体实施方式
为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
因此,以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围,而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本实用新型的描述中,还需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“设置”、“安装”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
实施例
请参照图1和图2,本实施例提供一种光栅精密检测设备100,其包括工作台110、检测平台120和驱动机构130。
工作台110的结构请参阅图3。工作台110包括第一平台111和第二平台112,第一平台111和第二平台112连接呈阶梯状,第一平台111高于第二平台112。第一平台111和第二平台112形成阶梯状,有利于支撑安装于第二平台112上的检测平台120,从而减缓检测平台120在运动过程中对光栅读数头114的压力。工作台110设置有第一导轨113、光栅读数头114、滑动板115和透光孔116。
第一导轨113为两条且与工作台110固定连接,第一导轨113用于导向检测平台120,使检测平台120在第一导轨113上滑动,本实施例中,第一导轨113设置于第一平台111上,第一平台111支撑第一导轨113使其位于第二平台112的上方。
光栅读数头114安装于工作台110的第二平台112上且相对于工作台110固定。具体地,光栅读数头114的结构请参阅图3和图4,光栅读数头114包括第二安装板117、读数头本体118和盖板119。
第二安装板117包括横板1171和竖板1172,横板1171和竖板1172连接形成“L”形,横板1171与第二平台112固定,竖板1172与第一平台111的侧壁固定,读数头本体118同时与横板1171和竖板1172连接。通过“L”形的第二安装板117实现对读数头本体118的安装,使得读数头本体118紧贴第一平台111和第二平台112,便于安装于第一平台111上的检测平台120与其对应。
本实施例中,读数头本体118大致为四棱柱形,在读数头本体118内设置有用于安装信号反馈线(图未示)的安装腔1181,并且在读数头本体118的侧壁开设有贯穿至安装腔1181的穿线孔1182以便信号反馈线穿出,盖板119连接于安装腔1181的顶部以闭合安装腔1181。在组装光栅读数头114时,可以将与电路控制板(图未示)组装好的信号反馈线卡入穿线孔1182中,并将电路控制板安装在安装腔1181内,用盖板119将安装腔1181闭合,实现光栅读数头114的组装。本实施中,安装腔1181、盖板119以及穿线孔1182的设计简化了信号反馈线以及读数头本体118的安装,提高了光栅读数头114的组装效率。其中,需要说明的是,电路控制板以及信号反馈线的具体结构及其连接方式,可参照现有技术,这里不做具体阐述。
进一步地,在读数头本体118上设置有凸棱1183,盖板119上设置有滑槽1191,盖板119通过滑槽1191与凸棱1183的配合滑动连接于读数头本体118,滑动连接的设置,使得盖板119与读数头本体118的连接更方便,盖板119对容纳腔的启闭也更简单。更进一步地,为了对盖板119的安装位置进行限制和定位,本实施例中,还在读数头本体118上设置有卡槽1184,在盖板119上设置有卡块1192,卡槽1184能够与卡块1192卡接。当滑槽1191在凸棱1183上滑动且卡块1192嵌入卡槽1184时,实现对盖板119和读数头本体118的定位,有效避免盖板119在读数头本体118上非正常滑动,有利于防止落灰至安装腔1181内信号反馈线以及电路控制板,使得读数头本体118的检测效果和检测精度得以保持。
滑动板115设置于工作台110和第一导轨113之间,滑动板115与第一平台111固定连接,第一导轨113与滑动板115固定连接。滑动板115的设置有利于一体加工第一导轨113和滑动板115,然后直接将滑动板115固定至第一平台111即可,简化了工作台110的生产,并且可使得滑动板115以及安装于滑动板115上的第一导轨113可替换。
透光孔116用于透过安装于工作台110下方的光源的光,从而对检测平台120上的待测物进行检测。该透光孔116贯穿底座的高度方向,并且该透光孔116为圆形孔。
检测平台120的结构请参阅图5。检测平台120设置有第二导轨121、光栅尺组件122以及检测孔123。
第二导轨121与检测平台120固定连接,第二导轨121能够检测平台120的带动下沿着第一导轨113滑动。本实施例中,第二导轨121对应第一导轨113也为两个,第二导轨121大致为长条形的凹槽,用于容纳第一导轨113,从而实现第二导轨121相对于第一导轨113滑动。
光栅尺组件122安装于检测平台120并随着检测平台120滑动而滑动,本实施例中,光栅尺组件122包括第一安装板124和光栅尺本体125,第一安装板124设置有定位孔126和定位件127,第一安装板124通过定位件127穿过定位孔126连接至检测平台120,光栅尺本体125安装于第一安装板124上。
驱动机构130的结构请返回参阅图1。驱动机构130用于驱动检测平台120相对于工作台110运动。该驱动机构130包括机架131、电机132、丝杠133和螺母134,机架131与底座连接,丝杠133安装于机架131,电机132与丝杠133连接,螺母134与丝杠133配合,螺母134与检测平台120连接。电机132驱动丝杠133转动时,螺母134在丝杠133上滑动,进而带动检测平台120以及连接于检测平台120的第二导轨121在第一导轨113上滑动。当然,在本实用新型的其他实施例中,驱动机构130还可以为皮带转动、齿轮传动等结构。
光栅精密检测设备100的工作原理是:通过设置第一导轨113和第二导轨121,并且将光栅读数头114固定安装于工作台110上,减少了信号反馈线走线的长度,同时将光栅尺组件122安装于检测平台120上,并使光栅尺组件122随着检测平台120的运动而运动,区别于现有技术中现有光栅读数头在现有光栅尺组件上滑动的情况,由于光栅尺组件122较长,其下方的光栅读数头114较短,因此,光栅尺组件122移动的时候,光栅读数头114不会裸露,无需格外的防护问题。
此外,本实用新型还提供了一种包含上述光栅精密检测设备100的机床,能够对待测物进行精确测量,并且光栅精密检测设备100的占用面积小。
综上所述,本实用新型提供的光栅精密检测设备100通过设置第一导轨113和第二导轨121,并且使得光栅读数头114相对于工作台110固定,而光栅尺组件122与检测平台120连接并随着检测平台120的滑动而滑动,此时,尺寸较大的光栅尺组件122在上移动,尺寸较小的光栅读数头114在下固定,在光栅尺组件122移动的时候,光栅读数头114不会裸露,无需格外的防护问题,同时由于光栅读数头114连接的信号反馈线,本实用新型中光栅读数头114固定,避免了现有技术中信号反馈线随着现有读数头移动的情况,减少了走线的长度。
本实用新型提供的机床设置有上述光栅精密检测设备100,其安装有上述光栅精密检测设备100,能够对待测物进行精确测量,并且光栅精密检测设备100的占用面积小。
以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,对于本领域的技术人员来说,本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种光栅精密检测设备,其特征在于,其包括工作台、检测平台、光栅尺组件、光栅读数头和驱动机构,所述工作台上设置第一导轨,所述检测平台设置有第二导轨,所述驱动机构与所述检测平台连接,所述第一导轨和所述第二导轨配合滑动,所述检测平台安装于所述工作台的上方,所述光栅读数头与所述工作台连接,所述光栅尺组件与所述检测平台连接。
2.根据权利要求1所述的光栅精密检测设备,其特征在于,所述工作台包括第一平台和第二平台,所述第一平台和所述第二平台连接呈阶梯状,所述第一平台高于所述第二平台,所述第一导轨设置于所述第一平台,所述光栅读数头设置于所述第二平台。
3.根据权利要求2所述的光栅精密检测设备,其特征在于,所述第一平台与所述第一导轨之间安装有滑动板,所述滑动板与所述第一平台固定连接,所述第一导轨与所述滑动板固定连接。
4.根据权利要求2所述的光栅精密检测设备,其特征在于,所述第二平台设置有透光孔,所述检测平台设置有检测孔,所述透光孔的投影区域位于所述检测孔的投影区域内。
5.根据权利要求2所述的光栅精密检测设备,其特征在于,所述光栅读数头包括第二安装板和读数头本体,所述第二安装板包括横板和竖板,所述横板和所述竖板连接形成“L”形,所述横板与所述第二平台固定,所述竖板与所述第一平台的侧壁固定,所述读数头本体同时与所述横板和所述竖板连接。
6.根据权利要求5所述的光栅精密检测设备,其特征在于,所述光栅读数头还包括盖板,所述读数头本体内设置有安装腔,所述读数头本体的侧壁开设有贯穿至所述安装腔的穿线孔,所述盖板连接于所述安装腔的顶部以闭合所述安装腔。
7.根据权利要求6所述的光栅精密检测设备,其特征在于,所述读数头本体设置有凸棱,所述盖板设置有滑槽,所述盖板通过所述滑槽与所述凸棱的配合滑动连接于所述读数头本体。
8.根据权利要求7所述的光栅精密检测设备,其特征在于,所述读数头本体设置有卡槽,所述盖板设置有卡块,所述卡槽与所述卡块卡接。
9.根据权利要求1所述的光栅精密检测设备,其特征在于,所述光栅尺组件包括第一安装板和光栅尺本体,所述第一安装板上设置有定位孔和定位件,所述第一安装板通过所述定位件穿过所述定位孔连接至所述检测平台,所述光栅尺本体安装于所述安装板上。
10.一种机床,其特征在于,其包括如权利要求1~9任一项所述的光栅精密检测设备。
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