CN206725713U - 集成芯片故障检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种集成芯片故障检测装置，包括：单片机、输入模块、输出模块，输入待测芯片型号的所述输入模块与所述单片机输入接口连接；所述单片机与所述待测芯片连接，根据所述待测芯片的型号输出对应的测试样本至所述待测芯片，并根据得到的所述待测芯片的输出结果判断所述待测芯片是否损坏；输出判断结果的所述输出模块与所述单片机的输出接口连接。本实用新型提供的一种集成芯片故障检测装置，应用单片机进行检测，在保证足够的检测精度的基础上降低了成本。

Description

集成芯片故障检测装置

技术领域

本实用新型涉及检测装置，尤其涉及一种集成芯片故障检测装置。

背景技术

在实验室中，设计电路时经常会用到集成芯片，很多集成芯片经过反复使用后不能确定是否存在损坏情况。若芯片已损坏，使用芯片设计电路时，即使电路设计正确，得到的结果也与模拟结果不相同，导致话费更长的时间去查找错误，造成人力物力浪费。因此在芯片使用前保证芯片完好、可以正常使用，是在设计电路前必要的准备工作。

目前，市面上的集成芯片的检测仪成本高，价格昂贵，不利于普及，但普通的检测方法又不能很好的检测出集成芯片的故障。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型提供一种成本低的，同时又能满足检测精度和检测效率的集成芯片故障检测装置。

本实用新型实施例提供一种集成芯片故障检测装置，包括：单片机、输入模块、输出模块，

输入待测芯片型号的所述输入模块与所述单片机输入接口连接；

所述单片机与所述待测芯片连接，根据所述待测芯片的型号输出对应的测试样本至所述待测芯片，并根据得到的所述待测芯片的输出结果判断所述待测芯片是否损坏；

输出判断结果的所述输出模块与所述单片机的输出接口连接。

可选的，在本实用新型实施例中，还包括：键盘显示接口芯片，所述输入模块与所述输出模块均通过所述键盘显示接口芯片与所述单片机连接。

可选的，在本实用新型实施例中，还包括：可编程输入输出接口，所述待测芯片通过所述可编程输入输出接口与所述单片机连接。

可选的，在本实用新型实施例中，还包括：存储不同所述待测芯片的所述测试样本和标准结果的存储器。

可选的，在本实用新型实施例中，所述单片机根据所述待测芯片型号，在所述存储器中调用不同的所述测试样本；

所述待测芯片根据所述测试样本运行得到的输出结果传输至所述单片机；

所述单片机调用所述存储器内对应的所述标准结果，并将所述标准结果与输出结果进行比对，如比对结果不同，则所述待测芯片损坏，反之则所述待测芯片未损坏。

可选的，在本实用新型实施例中，还包括：芯片插座，所述待测芯片插入所述芯片插座后与所述单片机连接。

可选的，在本实用新型实施例中，所述输入模块输入所述单片机的控制指令。

可选的，在本实用新型实施例中，还包括：为所述集成芯片的故障检测装置、所述待测芯片供电的电源。

可选的，在本实用新型实施例中，所述输出模块为光电器件，所述光电器件通过不同的显示输出不同的判断结果。

可选的，在本实用新型实施例中，所述输出模块为电声器件，所述电声器件根据不同的判断结果输出不同的语音提示。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型一实施例一种集成芯片的故障检测装置的结构示意图；

图2为本实用新型再一实施例一种集成芯片的故障检测装置的结构示意图；

图3为本实用新型又一实施例一种集成芯片的故障检测装置的结构示意图；

图4为本实用新型还一实施例一种集成芯片的故障检测装置的结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

图1为本实用新型一实施例一种集成芯片的故障检测装置的结构示意图，如图所示，包括：单片机1、输入模块2、输出模块3，

输入待测芯片4型号的所述输入模块2与所述单片机1输入接口连接；

所述单片机1与所述待测芯片4连接，根据所述待测芯片4的型号输出对应的测试样本至所述待测芯片4，并根据得到的所述待测芯片4的输出结果判断所述待测芯片4是否损坏；

输出判断结果的所述输出模块3与所述单片机1的输出接口连接。

在本实施例中，待测芯片4可以为74LS系列、TTL74、TTL54系列等芯片，通过建立一数据库，将不同的待测芯片4的需要测试的内容及正确的测试结果保存；待测芯片4与单片机1连接后，通过输入模块2输入待测芯片4的型号，单片机1根据待测芯片4的型号开始测试待测芯片4，输出对应的测试内容，并将芯片的反馈结果与正确的测试结果进行比对，根据比对结果判断芯片是否损坏，并将结果由输出模块3输出。

本实用新型实施例提供的一种集成芯片故障检测装置，应用单片机进行检测，成本小，同时由单片机对芯片进行检测，能够保证足够的检测精度。

图2为本实用新型再一实施例一种集成芯片的故障检测装置的结构示意图，如图2所示，在本实施例中，还包括：键盘显示接口芯片5，所述输入模块2与所述输出模块3均通过所述键盘显示接口芯片5与所述单片机1连接。

通过键盘显示接口芯片5，单片机1可以连接较为复杂的输入模块2与输出模块3，通过连接较为复杂的输入模块2与输出模块3，增加了故障检测装置的实用性。

在本实施例中，还包括：可编程输入输出接口41，所述待测芯片4通过所述可编程输入输出接口41与所述单片机1连接。

通过可编程输入输出接口41连接，扩展了故障检测装置的门电路数量，保证了待测芯片4和单片机1的数据传递的准确性。

本实用新型实施例提供的一种集成芯片故障检测装置，通过增加键盘显示接口提高了装置的可操作性、通过增加可编程输入输出接口，保证了数据传输的准确度，增加了检测的精度。

图3为本实用新型又一实施例一种集成芯片的故障检测装置的结构示意图，如图3所示，在本实施例中，还包括存储不同所述待测芯片4的所述测试样本和标准结果的存储器6。

所述单片机1根据所述待测芯片4型号，在所述存储器6中调用不同的所述测试样本；

所述待测芯片4根据所述测试样本运行得到的输出结果传输至所述单片机1；

所述单片机1调用所述存储器6内对应的所述标准结果，并将所述标准结果与输出结果进行比对，如比对结果不同，则所述待测芯片4损坏，反之则所述待测芯片4未损坏。

在本实施例中，还包括：芯片插座42，所述待测芯片4插入所述芯片插座42后与所述单片机1连接。待测芯片4插入芯片插座42内，可以更好的固定，与单片机1的连接更稳定。

在本实施例中，所述输入模块2输入所述单片机1的控制指令。

输入模块2还用于输入单片机1的控制指令，如启动电源7后，单片机1开始运行，可以在输入模块2输入开始指令对应的内容，则单片机1开始检测待测芯片4；单片机1运行中，在输入模块2输入停止检测，则单片机1中止检测待测芯片4；在单片机1开始检测前，输入模块2输入检测项目，单片机1根据输入的检测项目对待测芯片4进行检测；在得到检测结果后，通过输入模块2输入不同的指令选择显示不同的损坏情况。

在本实施例中，还包括：为所述集成芯片的故障检测装置、所述待测芯片4供电的电源7。

在本实施例中，电源7为直流稳压电源，稳压电源可以为单片机1提供稳定的电流。电源7还可以为干电池，不受电源7位置的限制；也可以连接其他装置，通过连接的装置为故障检测装置供电。

图4为本实用新型还一实施例一种集成芯片的故障检测装置的结构示意图，如图4所示，在本实用新型实施例中，输入模块为输入键盘21，输入键盘可以为矩阵键盘，也可以为虚拟键盘，或其他可进行输入的键盘，本实施例在此不做限定。

在本实用新型实施例中，所述输出模块3为光电器件，所述光电器件通过不同的显示输出不同的判断结果。

具体的，光电器件可以为至少一个发光二极管，发光二极管通过不同的显示颜色、显示亮度、显示数量来表示不同的检测结果，如：红灯表示待测芯片4存在损坏，绿灯表示待测芯片4未存在损坏，黄灯表示存在损坏但仍可以使用，用红灯数量表示损坏程度。

本申请实施例提供的一种集成芯片的故障检测装置，使用发光二极管作为显示模块，显示检测结果，减小了故障检测装置的体积，节约了空间。

在本实用新型实施例中，光电器件可以为显示器31，显示器31可以为液晶显示器、二极管显示器等，不同的显示器可以满足不同的显示需求，可以达到不同的显示效果。

使用液晶屏作为显示模块时，可以直接显示待测芯片4是否损坏、待测芯片4损坏的引脚等。

与发光二极管相比，显示器的使用空间增大，但可显示的内容增加了，显示的效果也更加直观。

使用显示器31时，还可以直接查询集成电路的测试样本和标准结果，即集成芯片的各各管脚的功能。不插入待测芯片4，直接由输入模块2输入要查询的芯片型号后，显示器31直接显示该芯片的测试样本和标准结果，或根据测试样本和标准结果得到的芯片管脚的功能后，再进行显示。

在本实用新型实施例中，所述输出模块3可以为电声器件，所述电声器件根据不同的判断结果输出不同的语音提示。

在本实用新型实施例中，输出模块3还可以为电声器件，如扬声器、蜂鸣器等。电声器件可以根据不同的检测结果输出不同的声音。

在本实用新型任一实施例中，不同的输出模块3可以混合使用，如输出模块3同时包括显示器31和扬声器，在显示损坏结果的同时由扬声器进行语音体提醒，得到更好的输出效果。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (7)

1.一种集成芯片故障检测装置，其特征在于，包括：单片机、输入模块、输出模块，

输入待测芯片型号的所述输入模块与所述单片机输入接口连接；

所述单片机与所述待测芯片连接，根据所述待测芯片的型号输出对应的测试样本至所述待测芯片，并根据得到的所述待测芯片的输出结果判断所述待测芯片是否损坏；

所述输入模块还用于输入控制指令，当所述控制指令包括停止检测控制指令时，所述停止检测控制指令指示正在检测所述待测芯片的所述单片机中止检测；

输出判断结果的所述输出模块与所述单片机的输出接口连接，所述输出模块为电声器件，或所述输出模块包括显示器和扬声器；

所述集成芯片故障检测装置还包括：键盘显示接口芯片，所述输入模块与所述输出模块均通过所述键盘显示接口芯片与所述单片机连接。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括：可编程输入输出接口，所述待测芯片通过所述可编程输入输出接口与所述单片机连接。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括：存储不同所述待测芯片的所述测试样本和标准结果的存储器。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述单片机根据所述待测芯片型号，在所述存储器中调用不同的所述测试样本；

所述待测芯片根据所述测试样本运行得到的输出结果传输至所述单片机；

所述单片机调用所述存储器内对应的所述标准结果，并将所述标准结果与输出结果进行比对，如比对结果不同，则所述待测芯片损坏，反之则所述待测芯片未损坏。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括：芯片插座，所述待测芯片插入所述芯片插座后与所述单片机连接。

6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述输入模块输入所述单片机的控制指令。

7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括：为所述集成芯片的故障检测装置、所述待测芯片供电的电源。