CN206516872U - 一种方便信号测试的装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种方便信号测试的装置，包括基板，基板的一端设置一公头，基板的另一端设置一母头；所述基板上设置有若干条信号线和各条信号线对应连接的测试点；各条信号线的一端与公头上的引脚电连接，各条信号线的另一端与母头上的引脚电连接。通过直接在基板上设置信号线的测试点，用户焊接测试点即可对相应的信号进行测试，大大方便了信号线的引出和焊接，提高了测试效率。解决了现有信号测试时连接器的引脚太小、引脚之间的间距很小不方便引出和焊接的问题。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子技术领域，特别涉及一种方便信号测试的装置。
背景技术
随着智能设备体积越来越小，功能越来越强大，主板上预留测试的空间越来越少，对于一些必要测试的信号，如摄像头，屏，指纹，卡座等，目前大多数的方案是在电容，电阻（这些器件很可能放在屏蔽罩内，更加增加信号引出的难度）或者连接器PIN脚上焊接极细的铜丝连接出来再去测试各类信号，分析问题。
常用的连接器如图1（ZIF（Zero Insertion Force）连接器）和图2（BTB连接器）所示。这些连接器常用于前后摄像头、屏幕、TP（TOUCHPANEL，触摸屏）、指纹模组、按键、小板连接等。以后摄像头为例，常通过BTB（板对板）连接器将后摄像头和主板连接在一起。后摄像头一般要测试四个电源信号、一个RESET（复位）信号、一个CLK（时钟）信号。若要分析问题，则所有的信号都要通过铜丝引出来进行测量，用来辅助分析。但是从图中的尺寸（单位为mm）可以看出单个引脚的焊盘小于0.15mm，引脚之间的间距很小，很不方便焊接铜丝。
若要验证一个T卡（即TF卡，又称microSD，一种极细小的快闪存储器卡）的信号质量，则需要焊接8根信号线，这样不仅非常耗费时间，而且极细的铜丝容易拉断，导致测试效率很低。
因此有必要对现有技术进行改进。
实用新型内容
鉴于上述现有技术的不足之处，本实用新型的目的在于提供一种方便信号测试的装置，以解决现有信号测试时连接器的引脚太小、引脚之间的间距很小不方便引出和焊接的问题。
为了达到上述目的，本实用新型采取了以下技术方案：
一种方便信号测试的装置，其包括基板，基板的一端设置一公头，基板的另一端设置一母头；所述基板上设置有若干条信号线和各条信号线对应连接的测试点；各条信号线的一端与公头上的引脚电连接，各条信号线的另一端与母头上的引脚电连接。
所述的方便信号测试的装置中，所述基板为一条软排线或PCB板，在所述软排线或PCB板上设置若干条并行排列的信号线。
所述的方便信号测试的装置中，所述各信号线的中间设置对应的测试点，各测试点的位置按照各信号线的排列顺序依次错位设置，各测试点之间间隔第一预设距离。
所述的方便信号测试的装置中，在所述基板上，根据各信号线的排列顺序依次设置一条连线，与信号线个数匹配的测试点设置在基板的一侧或两侧，各连线之间相隔第二预设距离，连线的一端与对应的信号线电连接，连线的另一端连接对应的测试点。
所述的方便信号测试的装置中，所述测试点的直径为1mm～2.5mm，测试点之间的间距大于2mm且小于等于5mm。
所述的方便信号测试的装置中，所述测试点上设置有丝印层，所述丝印层用于丝印该测试点对应的信号线的序号。
所述的方便信号测试的装置中，所述公头、母头为BTB连接器的公头、母头。
所述的方便信号测试的装置中，所述公头、母头为ZIF连接器的公头、母头。
相较于现有技术，本实用新型提供的一种方便信号测试的装置，包括基板，基板的一端设置一公头，基板的另一端设置一母头；所述基板上设置有若干条信号线和各条信号线对应连接的测试点；各条信号线的一端与公头上的引脚电连接，各条信号线的另一端与母头上的引脚电连接。通过直接在基板上设置信号线的测试点，用户焊接测试点即可对相应的信号进行测试，大大方便了信号线的引出和焊接，提高了测试效率。
附图说明
图1为现有ZIF连接器的引脚示意图。
图2为现有BTB连接器的引脚示意图。
图3为本实用新型提供的方便信号测试的装置一实施例的示意图。
图4为本实用新型提供的方便信号测试的装置另一实施例的示意图。
图5为本实用新型提供的方便信号测试的装置中BTB连接器的TOP面的走线图。
图6为本实用新型提供的方便信号测试的装置中BTB连接器的BOT面的走线图。
图7为本实用新型提供的方便信号测试的装置中ZIF连接器的TOP面的走线图。
图8为本实用新型提供的方便信号测试的装置中ZIF连接器的BOT面的走线图。
具体实施方式
本实用新型提供一种方便信号测试的装置，直接在板上将信号的测试点引出并适当增大测试点的面积，以方便用户焊接测试点对相应的信号进行测试。为使本实用新型的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本实用新型进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
请同时参阅图3和图4，本实用新型提供的方便信号测试的装置包括基板10，基板10的一端设置一公头20，基板10的另一端设置一母头30；所述基板10上设置有若干条信号线11和各条信号线对应连接的测试点12，各条信号线的一端与公头20上的引脚电连接，各条信号线的另一端与母头30上的引脚电连接。通过直接在基板上设置信号线的测试点，用户焊接测试点即可对相应的信号进行测试，大大方便了信号线的引出和焊接，提高了测试效率。
本实施例中，所述基板10可采用一条软排线或PCB板，在软排线或PCB板上设置若干条并行排列的信号线。信号线的条数与公头20或母头30的引脚的个数相同。各信号线按序与公头20或母头30上的引脚一对一连接。
如图3所示，可在各信号线的中间设置其测试点，且各测试点的位置按照各信号线的排列顺序依次错位设置。这样各测试点之间间隔第一预设距离，相互之间不会影响，还能方便用户区分该测试点属于哪条信号线。
进一步实施例中，如图4所示，还可将测试点统一设置在各信号线的一侧。即在基板上，根据各信号线的排列顺序依次设置一条连线，与信号线个数匹配的测试点均设置在基板的一侧且相隔一定的距离（该距离等于第二预设距离减去相邻两个测试点的半径），各连线之间相隔第二预设距离，连线的一端与对应的信号线电连接，连线的另一端连接对应的测试点。各测试点设置在同侧更加方便用户焊接操作，还能减小焊接时对相邻信号线的影响（如焊锡过多焊接到相邻的信号线上）。
在具体实施时，为了测试方便，在基板面积和信号线排列空间允许的情况下，所有测试点的面积都尽可能大（如大于0.5mm），测试点之间的间距也尽量大（如大于1mm），比现有连接器的单个引脚焊盘（0.12-0.147）大很多。这样焊接或者测试时即能方便外部引线，大大提高信号测试效率。为方便用户识别该测试点属于哪条信号线，还可在测试点旁边加上丝印进行标记、便于识别。
在具体实施时，公头20和母头30可采用BTB连接器，公头20与主板对接，母头30连接后摄像头。BTB连接器的走线图如图5所示，基板10的TOP面（用于插元件的一面）上设置一个公头20（图5中左边的虚线框所示的器件）。基板10的BOT面（用于焊接的一面）上设置一个母头（图6中右边的虚线框所示的器件）。测试点12如图6中的圆点所示（可直接在圆点上丝印数字来表示对应哪条信号线），其直径为1mm -2.5mm，测试点之间的间距大于2mm且小于等于5mm，位置和母头处于同一面（即设置在BOT面上）。图6中上半部分的黑点都是在信号线的中间，底部的一排黑点通过连线连接图5中下半部分的信号线的中间的小黑点。同时测试点尽可能靠近基板的边沿，这样测试时可以防止短路。
进一步实施中，公头和母头可采用ZIF连接器，则基板的TOP面是连接主板端的金手指（如图7右边的5个框所示）。基板的BOT面是ZIF接器（如图8左边的框所示）。此时可将测试点放在基板的两侧，测试点的直径为1mm-2.5mm，测试点之间的间距大于2mm且小于等于5mm，位置和ZIF连接器处于同一面。图8中上半部分的黑点和下半部分的黑点分别排列在基板的两侧，这两排黑点分别通过自身的连线连接图7中信号线的中间的小黑点。同时测试点尽可能靠近基板的边沿，这样测试时可以防止短路。
综上所述，本实用新型提供的方便信号测试的装置，直接在基板上设置信号线的测试点，测试点可放在信号线的中间或基板的侧面，各测试点设置有相应的面积可方便用户焊接，大大方便了信号线的引出和焊接；并且，各测试点之间相隔了一定的间距，能减小焊接时对相邻信号线的影响；测试点上还可丝印对应的信号线的序号，方便用户识别该测试点属于哪条信号线，大大提高了测试效率。解决了现有信号测试时连接器的引脚太小、引脚之间的间距很小不方便引出和焊接的问题。
可以理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，而所有这些改变或替换都应属于本实用新型所附的权利要求的保护范围。
Claims (8)
1.一种方便信号测试的装置，其特征在于，包括基板，基板的一端设置一公头，基板的另一端设置一母头；所述基板上设置有若干条信号线和各条信号线对应连接的测试点；各条信号线的一端与公头上的引脚电连接，各条信号线的另一端与母头上的引脚电连接。
2.根据权利要求1所述的方便信号测试的装置，其特征在于，所述基板为一条软排线或PCB板，在所述软排线或PCB板上设置若干条并行排列的信号线。
3.根据权利要求2所述的方便信号测试的装置，其特征在于，所述各信号线的中间设置对应的测试点，各测试点的位置按照各信号线的排列顺序依次错位设置，各测试点之间间隔第一预设距离。
4.根据权利要求2所述的方便信号测试的装置，其特征在于，在所述基板上，根据各信号线的排列顺序依次设置一条连线，与信号线个数匹配的测试点设置在基板的一侧或两侧，各连线之间相隔第二预设距离，连线的一端与对应的信号线电连接，连线的另一端连接对应的测试点。
5.根据权利要求1所述的方便信号测试的装置，其特征在于，所述测试点的直径为1mm～2.5mm，测试点之间的间距大于2mm且小于等于5mm。
6.根据权利要求1所述的方便信号测试的装置，其特征在于，所述测试点上设置有丝印层，所述丝印层用于丝印该测试点对应的信号线的序号。
7.根据权利要求1所述的方便信号测试的装置，其特征在于，所述公头、母头为BTB连接器的公头、母头。
8.根据权利要求1所述的方便信号测试的装置，其特征在于，所述公头、母头为ZIF连接器的公头、母头。
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