CN105099818B - 网口测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种网口测试装置，包括第一壳体、第一测试电路板和多个第一测试端口，所述第一测试电路板固定于所述第一壳体，所述多个第一测试端口成排分布于所述第一壳体的一侧，每个所述第一测试端口均包括第一基板和设于所述第一基板表面的多个第一金手指，所述多个第一金手指与所述第一测试电路板上的测试电路电连接，所述第一测试端口插入通信设备的网口，所述第一金手指与所述网口中的连接器电连接，以实现对所述通信设备的网口的测试。本发明实现了对通信设备的网口进行快速且安全可靠的测试。

Description

网口测试装置

技术领域

本发明涉及光通信技术领域，特别涉及网口测试装置。

背景技术

随着现代通信技术的快速发展，通信设备的一体化程度越来越高，通信设备通常带有多个以太网口，市场对这种多网口通信设备的需求量也随之增加，对于通信设备制造厂商在大规模生产的基础上保障质量和效率上提出了挑战；通常，制造厂商需要手动连接设备上的每个以太网口到相关的测试仪器或进行环回到某个端口，然而，对于多端口设备测试时，测试效率和时间上都会带来很大的影响，且大部分测试使用水晶头与设备上的每一个RJ45口进行插拔，插拔的过程中容易导致设备网口簧片的损坏。因此，对于多端口以太网设备，进行快速且安全可靠的测试是一个急需解决的问题。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种能够进行快速且安全可靠的测试网口测试装置。

为了实现上述目的，本发明实施方式提供如下技术方案：

本发明提供一种网口测试装置，包括第一壳体、第一测试电路板和多个第一测试端口，所述第一测试电路板固定于所述第一壳体，所述多个第一测试端口成排分布于所述第一壳体的一侧，每个所述第一测试端口均包括第一基板和设于所述第一基板表面的多个第一金手指，所述多个第一金手指与所述第一测试电路板上的测试电路电连接，所述第一测试端口插入通信设备的网口，所述第一金手指与所述网口中的连接器电连接，以实现对所述通信设备的网口的测试。

其中，所述第一基板均设有多个贯孔，每个所述第一金手指设有通孔，所述通孔靠近所述第一金手指的一端，所述通孔分别与所述贯孔相对，通过焊锡灌入所述通孔和所述贯孔，以加强所述第一金手指与所述第一基板之间的结合。

其中，所述焊锡填满所述贯孔和所述通孔，且在所述第一基板之表面之围绕所述贯孔的区域亦覆盖有所述焊锡。

其中，所述多个第一基板与所述第一测试电路板为一体式结构，所述多个第一金手指与所述第一测试电路板上的所述测试电路通过电路板走线电连接。

其中，所述多个第一基板独立于所述第一测试电路板，所述多个第一金手指与所述第一测试电路板上的所述测试电路通过导线或排线或FPC或其它连接器电连接。

其中，所述第一测试端口插入通信设备的网口时，所述第一金手指插入所述网口部分的长度范围为8.7-9.2mm。

其中，还包括第二壳体、第二测试电路板和多个第二测试端口，所述第二测试电路板固定于所述第二壳体，且与所述第一测试电路板相对设置，所述多个第二测试端口成排分布于所述第二壳体的一侧，且所述多个第二测试端口分别与所述多个第一测试端口一对一的相对设置，每个所述第二测试端口均包括第二基板和设于所述第二基板表面的多个第二金手指，所述多个第二金手指与所述第二测试电路板上的测试电路电连接，所述第二金手指分别面对与所述第一金指，所述通信设备之所述网口设有两排，所述多个第一测试端口和所述多个第二测试端口能够同时插入所述通信设备之两排网口中。

其中，所述第一金手指与所对应的所述第二金手指之间的距离为7.0-7.2mm。

其中，所述第一测试电路板通过螺丝固定于所述第一壳体，所述第二测试电路板通过螺丝固定于所述第二壳体。

其中，还包括握手部，所述握手部位于所述第一壳体和所述第二壳体之远离所述第一测试端口的一端。

本发明提供的网口测试装置，通过将每个所述第一测试端口设计为包括第一基板和设于所述第一基板表面的多个第一金手指，通过金手指与网口中的连接器电连接，以实现对所述通信设备的网口的测试。第一金手指与网口中的连接器的簧片接触，提升了一次插入连接的可靠性，将第一测试端口直接插入网口中，插装容易，能够实现多个第一测试端口同时插入，节约了测试前期准备时间，且不需要很大的插拔力，能够避免插拔困难。因此本发明提供的网口测试装置能够进行快速且安全可靠的测试。

附图说明

为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以如这些附图获得其他的附图。

图1是本发明一种实施方式提供的网口测试装置的立体图。

图2是一种实施方式提供的网口测试装置的立体分解图。

图3是本发明一种实施方式提供的网口测试装置之第一基板的平面示意图。

图4是网口测试装置之第一基板与第一金手指之截面图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施方式中的附图，对本发明实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述。

请参阅图1、图2和图3，本发明提供一种网口测试装置，包括第一壳体10、第一测试电路板20和多个第一测试端口30，所述第一测试电路板20固定于所述第一壳体10，所述多个第一测试端口30成排分布于所述第一壳体10的一侧，每个所述第一测试端口30均包括第一基板32和设于所述第一基板32表面的多个第一金手指34，所述多个第一金手指34与所述第一测试电路板20上的测试电路电连接，所述第一测试端口30插入通信设备的网口，所述第一金手指34与所述网口中的连接器电连接，以实现对所述通信设备的网口的测试。

本发明提供的网口测试装置，通过将每个所述第一测试端口30设计为包括第一基板32和设于所述第一基板32表面的多个第一金手指34，通过第一金手指34与网口中的连接器电连接，以实现对所述通信设备的网口的测试。第一金手指34与网口中的连接器的簧片接触，提升了一次插入连接的可靠性，将第一测试端口30直接插入网口中，插装容易，能够实现多个第一测试端口30同时插入，节约了测试前期准备时间，且不需要很大的插拔力，能够避免插拔困难。因此本发明提供的网口测试装置能够进行快速且安全可靠的测试。

本发明提供的网口测试装置可以设计为单排的结构，也就是只包括第一壳体10、第一测试电路板20和第一测试端口30。进一步地，本发明提供的网口测试装置也可以设计为双排的结构，即为图1所示的结构，双排测试端口可以同时插入通信设备的双排网口中进行测试，能够提高测试效率。具体结构如下。

网口测试装置还包括第二壳体40、第二测试电路板50和多个第二测试端口60，所述第二测试电路板50固定于所述第二壳体40，且与所述第一测试电路板20相对设置，所述多个第二测试端口60成排分布于所述第二壳体40的一侧，且所述多个第二测试端口60分别与所述多个第一测试端口30一对一的相对设置，每个所述第二测试端口60均包括第二基板(未标号)和设于所述第二基板表面的多个第二金手指(未标号)，所述多个第二金手指与所述第二测试电路板50上的测试电路电连接，第二金手指与第二基板的细节结构可以参照第一金手指34和第一基板32，因此在图中未具体标示。

所述第二金手指分别面对与所述第一金指，所述通信设备之所述网口设有两排，所述多个第一测试端口30和所述多个第二测试端口60能够同时插入所述通信设备之两排网口中。

第一壳体10和第二壳体40相对设置，且二者之间形成收容空间，并保证第一测试端口30和第二测试端口60之间形成间距，间距的设置满足所述多个第一测试端口30和所述多个第二测试端口60能够同时插入所述通信设备之两排网口中。具体而言，所述第一金手指34与所对应的所述第二金手指之间的距离为7.0-7.2mm。第一壳体10和第二壳体40之间设有垫块80，垫块80位于第一壳体10和第二壳体40远离第一测试端口30和第二测试端口60的一侧。

所述第一测试电路板20通过螺丝固定于所述第一壳体10，所述第二测试电路板50通过螺丝固定于所述第二壳体40。第一测试电路板20可以为一个整体电路板，具体的制作过程中，可以将第一测试电路板20和多个第一基板32设计为一体式电路板结构，然后，对一体式电路板结构进行切割，形成多个成排分布的第一基板32，相邻的两个第一基板32之间形成间隙，以保证第一测试端口30能够插入通信设备的网口中。

同样，第二测试电路板50也可以设计为一个整体的电路板结构，第二测试电路板50和多个第二基板可以设计为一体式电路板结构。具体制作方法不再描述。

如图2所示，第一测试电路板20也可以设计为多个子电路板的结构，将多个子电路板与多个第一基板32设置成为一体。第二测试电路板50也可以设计为多个子电路板的结构，将多个子电路板与多个第二基板设置成为一体。

具体而言，请参阅图4，所述第一基板32均设有多个贯孔，每个所述第一金手指34设有通孔，所述通孔靠近所述第一金手指34的一端，即所述通孔靠近所述第一金手指34的一个边缘处，所述通孔分别与所述贯孔相对，通过焊锡35灌入所述通孔和所述贯孔，以加强所述第一金手指34与所述第一基板32之间的结合。

所述焊锡35填满所述贯孔和所述通孔，且在所述第一基板32之表面之围绕所述贯孔的区域亦覆盖有所述焊锡35。这样本发明对第一金手指34进行纵向加强，能够防止第一金手指34翘起产生不良，进一步提升了网口测试装置的使用寿命。第二金手指与第二基板之间的加强结构类似，不再详细描述。

一种实施方式中，多个第一基板32与所述第一测试电路板20为一体式结构，所述多个第一金手指34与所述第一测试电路板20上的所述测试电路通过电路板走线电连接。

其它实施方式中，所述多个第一基板32独立于所述第一测试电路板20，所述多个第一金手指34与所述第一测试电路板20上的所述测试电路通过导线或排线或FPC或其它连接器电连接。

所述第一测试端口30插入通信设备的网口时，所述第一金手指34插入所述网口部分的长度范围为8.7-9.2mm。

网口测试装置还包括握手部90，所述握手部90位于所述第一壳体10和所述第二壳体40之远离所述第一测试端口30的一端。握手部90为黑电木材质，第一壳体10和第二壳体40选择合金材质，这样，利于散热及防静电。

本发明提供的网口测试装置，通过第一金手指34和第二金手指的应用，使得网口测试装置使用次数提升，能够提升10倍。而且，第一金手指34和第二金手指之间设有间距，使其成为开放式结构，肉眼就可以查看第一金手指34和第二金手指外观情况，检查是否存在磨损或脏污，便于操作人员维修。

以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种网口测试装置，其特征在于，包括第一壳体、第一测试电路板和多个第一测试端口，所述第一测试电路板固定于所述第一壳体，所述多个第一测试端口成排分布于所述第一壳体的一侧，每个所述第一测试端口均包括第一基板和设于所述第一基板表面的多个第一金手指，所述多个第一金手指与所述第一测试电路板上的测试电路电连接，所述第一测试端口插入通信设备的网口，所述第一金手指与所述网口中的连接器电连接，以实现对所述通信设备的网口的测试。

2.如权利要求1所述的网口测试装置，其特征在于，所述第一基板均设有多个贯孔，每个所述第一金手指设有通孔，所述通孔分别与所述贯孔相对，通过焊锡灌入所述通孔和所述贯孔，以加强所述第一金手指与所述第一基板之间的结合。

3.如权利要求2所述的网口测试装置，其特征在于，所述焊锡填满所述贯孔和所述通孔，且在所述第一基板之表面之围绕所述贯孔的区域亦覆盖有所述焊锡，用于对所述第一金手指进行纵向加强，防止所述第一金手指翘起。

4.如权利要求2所述的网口测试装置，其特征在于，所述多个第一基板与所述第一测试电路板为一体式结构，所述多个第一金手指与所述第一测试电路板上的所述测试电路通过电路板走线电连接。

5.如权利要求2所述的网口测试装置，其特征在于，所述多个第一基板独立于所述第一测试电路板，所述多个第一金手指与所述第一测试电路板上的所述测试电路通过导线或排线或FPC或其它连接器电连接。

6.如权利要求2所述的网口测试装置，其特征在于，所述第一测试端口插入通信设备的网口时，所述第一金手指插入所述网口部分的长度范围为8.7-9.2mm。

7.如权利要求1所述的网口测试装置，其特征在于，还包括第二壳体、第二测试电路板和多个第二测试端口，所述第二测试电路板固定于所述第二壳体，且与所述第一测试电路板相对设置，所述多个第二测试端口成排分布于所述第二壳体的一侧，且所述多个第二测试端口分别与所述多个第一测试端口一对一的相对设置，每个所述第二测试端口均包括第二基板和设于所述第二基板表面的多个第二金手指，所述多个第二金手指与所述第二测试电路板上的测试电路电连接，所述第二金手指分别面对与所述第一金指，所述通信设备之所述网口设有两排，所述多个第一测试端口和所述多个第二测试端口能够同时插入所述通信设备之两排网口中。

8.如权利要求7所述的网口测试装置，其特征在于，所述第一金手指与所对应的所述第二金手指之间的距离为7.0-7.2mm。

9.如权利要求7所述的网口测试装置，其特征在于，所述第一测试电路板通过螺丝固定于所述第一壳体，所述第二测试电路板通过螺丝固定于所述第二壳体。

10.如权利要求8所述的网口测试装置，其特征在于，还包括握手部，所述握手部位于所述第一壳体和所述第二壳体之远离所述第一测试端口的一端。