CN206450595U - 一种适用于单粒稻谷种子的nir透射光谱测量载物台 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台，包括光谱测量载物台，所述光谱测量载物台的上表面开有第一凹槽，所述第一凹槽内还设有带有透光孔的第二凹槽。本实用新型的优点在于：提供了一种结构简单、操作方便、测量效率高的适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台，配合NIR透射光谱仪使用，使用时，将单粒稻谷种子置于第二凹槽上，由于其与单粒稻谷种子的外形相配合且短轴直径略小于单粒稻谷种子的1/2高度，能将种子完全契合地固定于第二凹槽中，同时又不阻碍光信号对整个种子照射及穿透，再结合透光孔的位置及尺寸设计，又能完全保证测量时不会“漏光”，可减少测量误差并提高灵敏度。
Description
技术领域
本实用新型涉及NIR透射光谱测量技术领域，尤其涉及一种适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台。
背景技术
稻米是禾本科植物，为世界上的主要粮食作物之一，营养成分较多，属于直接经济作物；蛋白质为稻米的主要营养成分，是评价其品质优劣的重要指标。育种行业中，为了能够更加精确获得具有最优性状的种子，已经开始在单粒种子水平上研究个体的性状差异；该研究的缺点是不仅工作量大且一般的化学分析为有损检测，无法满足单粒活体分析。
近红外光是指波数在4000-12500cm-1范围内的电磁波，因其具有无损、快速、多成分、无污染的分析特点，能够弥补上述单粒种子性状分析的缺点。目前单粒大豆、玉米、小麦等种子的相关内含物的近红外光谱定量模型均已成功建立，在育种行业发挥了举足轻重的作用，而分析完整水稻种子内含物的报道则较少，原因为水稻种子由种壳和糙米两部分组成，相互之间物质含量差别较大，且相应的光谱信息重叠严重。实验发现近红外透射光谱中，种壳的吸光度值远弱于糙米的吸收光值，且7450-12500cm-1波数范围内种壳几乎没有光谱吸收。据此，可以采用NIR透射光谱方式，获得准确可靠的单粒种子NIR光谱信息，从而成功建立稳定的单粒水稻种子粗蛋白含量的定量模型。
在采集单粒水稻种子的NIR光谱时，需要采用相关的透射光谱采集附件，即一种NIR透射光谱测量载物台，要求种子位置相对固定，并且测量时不能“漏光”，这样可减少单粒种子NIR透射光谱测量误差并提高灵敏度。然而目前的产品对此需求的满足度却不高，即使能高度满足该测量要求，却因其结构复杂、操作麻烦而使整个测量过程变得繁琐。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供了一种结构简单、操作方便、测量效率高的适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台。
本实用新型是通过以下技术方案实现的，本实用新型包括光谱测量载物台，所述光谱测量载物台的上表面开有第一凹槽，所述第一凹槽内还设有带有透光孔的第二凹槽。
作为本实用新型的优选方式之一，所述光谱测量载物台为一开口向下的圆柱形载物台，所述圆柱形载物台的顶面中心位置开有长方形的第一凹槽。
作为本实用新型的优选方式之一，所述第一凹槽的长度、宽度小于光谱测量载物台顶面的圆直径，所述第一凹槽的深度小于光谱测量载物台顶面的高度。
作为本实用新型的优选方式之一，所述光谱测量载物台的高度为9.5mm，厚度为4.5mm；所述光谱测量载物台顶面的圆直径为22.5mm，高度为4.5mm；所述第一凹槽的长度为13mm，宽度为5mm，深度为2.5mm。
作为本实用新型的优选方式之一，所述第二凹槽位于第一凹槽底部的中心位置，为半椭圆形凹槽；所述透光孔位于第二凹槽底部的中心位置，为圆形且垂直贯穿于整个光谱测量载物台的透光孔。
作为本实用新型的优选方式之一，所述透光孔的直径等于或略小于第二凹槽的短轴直径。
作为本实用新型的优选方式之一，所述第二凹槽长轴直径为5mm，短轴直径为2mm，与单粒稻谷种子相配合。
作为本实用新型的优选方式之一，所述透光孔的直径小于单粒稻谷种子的宽度。
作为本实用新型的优选方式之一，所述透光孔的直径为1.6mm。
作为本实用新型的优选方式之一，所述光谱测量载物台为金属制光谱测量载物台。
作为本实用新型的优选方式之一，配合NIR透射光谱仪使用。
本实用新型相比现有技术的优点在于：提供了一种结构简单、操作方便、测量效率高的适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台，本装置配合NIR透射光谱仪使用，使用时，将单粒稻谷种子置于第二凹槽上，由于其与单粒稻谷种子的外形相配合且短轴直径略小于单粒稻谷种子的1/2高度，能将种子完全契合地固定于第二凹槽中，同时又不阻碍其下方光信号对整个种子照射及穿透，再结合透光孔的位置及尺寸设计，又能完全保证测量时不会“漏光”，检测器只能接收到透过种子的光信号，这样可以减少单粒稻谷种子NIR透射光谱测量误差并提高灵敏度。
附图说明
图1是实施例1中的一种适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台的整体结构示意图；
图2是图1的左视图；
图3是图1的俯视图；
图4是图3的A-A剖视视图。
图中：1为光谱测量载物台，2为第一凹槽，3为第二凹槽，4为透光孔。
具体实施方式
下面对本实用新型的实施例作详细说明，本实施例在以本实用新型技术方案为前提下进行实施，给出了详细的实施方式和具体的操作过程，但本实用新型的保护范围不限于下述的实施例。
实施例1
如图1-图4所示，本实施例的一种适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台，配合德国布鲁克MPA近红外光谱仪使用，包括安装于MPA近红外光谱仪的检测器与光信号发射器之间的光谱测量载物台1，光谱测量载物台1的上表面开有第一凹槽2，第一凹槽2内还设有带有透光孔4的第二凹槽3；其中，光谱测量载物台1用于承载单粒稻谷种子，光信号发射器位于光谱测量载物台1的下方发射光信号，检测器则位于光谱测量载物台1的上方接收穿过单粒稻谷种子的光信号，用于后续的信号分析与检测。
光谱测量载物台1具体为一开口向下的圆柱形载物台，圆柱形载物台的顶面中心位置开有长方形的第一凹槽2，第一凹槽2的长度、宽度均小于光谱测量载物台1顶面的圆直径，第一凹槽2的深度小于光谱测量载物台1顶面的高度；第二凹槽3位于第一凹槽2底部的中心位置，为半椭圆形凹槽，与单粒稻谷种子相配合，且保证其短轴直径略小于单粒稻谷种子的1/2高度；透光孔4位于第二凹槽3底部的中心位置，为圆形且垂直贯穿于整个光谱测量载物台1的透光孔，透光孔4的直径略小于第二凹槽3的短轴直径，并且小于单粒稻谷种子的宽度；使用时，将单粒稻谷种子置于半椭圆形的第二凹槽上，由于其与单粒稻谷种子的外形相配合且短轴直径略小于单粒稻谷种子的1/2高度，能将种子完全契合地固定于第二凹槽中，同时又不阻碍其下方光信号对整个种子照射及穿透，再结合透光孔的位置及尺寸设计，本装置又能完全保证测量时不会“漏光”，检测器只能接收到透过种子的光信号，这样可以减少单粒稻谷种子NIR透射光谱测量误差并提高灵敏度。
具体地，光谱测量载物台1的高度为9.5mm，厚度为4.5mm；光谱测量载物台1顶面的圆直径为22.5mm，高度为4.5mm；第一凹槽2的长度为13mm，宽度为5mm，深度为2.5mm；第二凹槽3长轴直径为5mm，短轴直径为2mm；透光孔4的直径为1.6mm。
此外，光谱测量载物台1为金属制光谱测量载物台，采用金属材质，使本装置的牢固性性也大大提高。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台，其特征在于，包括光谱测量载物台，所述光谱测量载物台的上表面开有第一凹槽，所述第一凹槽内还设有带有透光孔的第二凹槽。
2.根据权利要求1所述的适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台，其特征在于，所述光谱测量载物台为一开口向下的圆柱形载物台，所述圆柱形载物台的顶面中心位置开有长方形的第一凹槽。
3.根据权利要求2所述的适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台，其特征在于，所述第一凹槽的长度、宽度小于光谱测量载物台顶面的圆直径，所述第一凹槽的深度小于光谱测量载物台顶面的高度。
4.根据权利要求2所述的适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台，其特征在于，所述光谱测量载物台的高度为9.5mm，厚度为4.5mm；所述光谱测量载物台顶面的圆直径为22.5mm，高度为4.5mm；所述第一凹槽的长度为13mm，宽度为5mm，深度为2.5mm。
5.根据权利要求1所述的适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台，其特征在于，所述第二凹槽位于第一凹槽底部的中心位置，为半椭圆形凹槽；所述透光孔位于第二凹槽底部的中心位置，为圆形且垂直贯穿于整个光谱测量载物台的透光孔。
6.根据权利要求5所述的适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台，其特征在于，所述透光孔的直径等于或略小于第二凹槽的短轴直径。
7.根据权利要求5所述的适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台，其特征在于，所述第二凹槽长轴直径为5mm，短轴直径为2mm，与单粒稻谷种子相配合。
8.根据权利要求5所述的适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台，其特征在于，所述透光孔的直径小于单粒稻谷种子的宽度。
9.根据权利要求8所述的适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台，其特征在于，所述透光孔的直径为1.6mm。
10.根据权利要求1-9任一所述的适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台，其特征在于，所述光谱测量载物台为金属制光谱测量载物台。
Priority Applications (1)
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| CN201720049567.7U CN206450595U (zh) | 2017-01-16 | 2017-01-16 | 一种适用于单粒稻谷种子的nir透射光谱测量载物台 |
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| CN206450595U true CN206450595U (zh) | 2017-08-29 |
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| CN201720049567.7U Active CN206450595U (zh) | 2017-01-16 | 2017-01-16 | 一种适用于单粒稻谷种子的nir透射光谱测量载物台 |
Country Status (1)
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|---|---|
| CN (1) | CN206450595U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111665221A (zh) * | 2019-03-08 | 2020-09-15 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 基于透射光谱检测种子活力的装置及其使用方法 |
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2017
- 2017-01-16 CN CN201720049567.7U patent/CN206450595U/zh active Active
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| CN111665221A (zh) * | 2019-03-08 | 2020-09-15 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 基于透射光谱检测种子活力的装置及其使用方法 |
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