CN206311041U - 一种用于测量蓝宝石晶片厚度的量表支架 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种用于测量蓝宝石晶片厚度的量表支架，包括底座、左臂和右臂，左臂和右臂的大小和形状均相同且左臂和右臂竖直固定设置在底座上表面，左臂上端还设置有半球形的凸起；右臂上与半球形凸起对应的位置处开设有水平的用于通过探针的探针通孔，数显千分表固定在右臂上端的外侧；当数显千分表的手柄处于初始状态时，探针的测量端与半球形凸起接触；本实用新型利用可上下移动的置物板，能够方便的调节置物槽的大小，满足了不同尺寸蓝宝石晶片的测量需要，适用范围更广；置物板上还开设有卡槽，卡槽与半球形突起的配合能够更好的保证探针与蓝宝石晶片垂直，即使逐点测量也能够保证测量结果的可靠性，有效的提高了测量结果的精确度。

Description

一种用于测量蓝宝石晶片厚度的量表支架

技术领域

本实用新型涉及高精度测量领域，尤其涉及一种用于测量蓝宝石晶片厚度的量表支架。

背景技术

蓝宝石长晶后经过掏棒、切割制成不同规格、不同厚度的蓝宝石晶片，蓝宝石晶片材料广泛用于LED照明、光学、航天、机械以及军工领域，这些领域对所使用的蓝宝石晶片的厚度有严格的要求。

使用传统方法测量蓝宝石晶片的厚度时，一般利用数显千分表作为测量工具；如图1所示：现有的数显千分表由手柄1、表盘2、显示屏3、支架4、探针5、基准面6和置物槽7构成；测量蓝宝石晶片时，将蓝宝石晶片放置在探针5和基准面6之间，并使蓝宝石晶片的一端与置物槽7接触，防止蓝宝石晶片在测量时发生抖动，影响测量精度；然后调节手柄1，使探针5与蓝宝石晶片的表面接触，此时，位于基准面6和探针5之间的蓝宝石晶片厚度就会在显示屏3上显示；但是上述测量方法存在很多弊端；比如：第一，逐点测量大面积的蓝宝石晶片容易导致测量结果不精确，测量次数越多，误差越大；第二，由于置物槽7的大小有限，导致数显千分表无法测量尺寸较大的蓝宝石晶片；同时，当蓝宝石晶片的尺寸过小时，置物槽7不能固定蓝宝石晶片，导致测量结果不精确。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于测量蓝宝石晶片厚度的量表支架，目的在于解决传统测量蓝宝石晶片厚度的方法测量结果不精确的问题，还用于解决由于传统数显千分表的置物槽大小固定而导致的不能测量尺寸过大的蓝宝石晶片的问题。

为了解决上述问题，本实用新型采用以下技术方案：

一种用于测量蓝宝石晶片厚度的量表支架，包括底座、左臂和右臂，左臂和右臂的大小和形状均相同且左臂和右臂竖直固定设置在底座上表面，左臂上端还设置有半球形的凸起；右臂上与半球形凸起对应的位置处开设有水平的用于通过探针的探针通孔，数显千分表固定在右臂上端的外侧；当数显千分表的手柄处于初始状态时，探针的测量端与半球形凸起接触。

还包括置物座，所述置物座为工字型，置物座卡设在左臂和右臂之间，置物座与左臂和右臂间隙配合，置物座的卡臂上开设有螺纹孔，螺纹孔内设置有螺栓。

所述置物座上表面还开设有卡槽，卡槽与半球形凸起的顶端位于同一条竖直线上。

本实用新型的有益效果：

本实用新型所述的一种用于测量蓝宝石晶片厚度的量表支架，利用可上下移动的置物板，能够方便的调节置物槽的大小，满足了不同尺寸蓝宝石晶片的测量需要，适用范围更广；同时，置物板上还开设有卡槽，卡槽与半球形突起的配合能够更好的保证探针与蓝宝石晶片垂直，即使逐点测量也能够保证测量结果的可靠性，有效的提高了测量结果的精确度。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型现有技术或具体实施方式中的技术方案，下面将对现有技术或具体实施方式描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有的数显千分表的结构示意图；

图2为本实用新型所述的置物板的结构示意图；

图3为本实用新型的结构示意图；

图4为利用本实用新型测量蓝宝石晶片的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“竖直”、“水平”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造，因此不能理解为对本实用新型的限制。

如图2、图3和图4所示：本实用新型所述的一种用于测量蓝宝石晶片厚度的量表支架，包括底座8、左臂9和右臂10，左臂9和右臂10的大小和形状均相同且左臂9和右臂10竖直固定设置在底座8的上表面，底座8、左臂9和右臂10配合构成置物槽7；左臂9上端还设置有半球形的凸起，半球形凸起与蓝宝石晶片12的接触面积较小，测量蓝宝石晶片12的厚度时，能够有效的提高测量精度；右臂10上与半球形凸起对应的位置处开设有水平的用于通过探针5的探针通孔，数显千分表固定在右臂10上端的外侧，保证探针5通过探针通孔时垂直于半球形凸起的表面，有效的避免了因探针5倾斜而造成测量结果误差较大的情况发生；同时，当数显千分表的手柄1处于初始状态时，探针5的测量端应与半球形凸起接触，进一步的保证了测量的精度。

优选方案为：本实用新型所述的一种用于测量蓝宝石晶片厚度的量表支架还包括置物座11，所述置物座11为工字型，置物座11卡设在左臂9和右臂10之间，置物座11与左臂9和右臂10间隙配合，保证置物座11能够在左臂9和右臂10之间自由上下移动，以根据蓝宝石晶片12的大小调节置物座11的高度；置物座11的卡臂15上还开设有螺纹孔13，螺纹孔13内设置有螺栓，当置物座11调节到合适的高度后，利用螺栓将置物座11紧固在左臂9和右臂10上，防止置物座11下滑，进而导致测量结果不精确。

优选方案为：所述置物座11上表面还开设有卡槽14，卡槽14与半球形凸起的顶端位于同一条竖直线上，测量时，将蓝宝石晶片12卡设在卡槽14内，保证蓝宝石晶片12垂直于底座8，同时还能够防止蓝宝石晶片12左右晃动，进一步提高了测量结果的可靠性。

使用本实用新型所述的一种用于测量蓝宝石晶片厚度的量表支架时，首先将现有数显千分表的支架拆除，然后将数显千分表固定在本实用新型的量表支架上，并使探针5与半球形凸起的表面接触，打开数显千分表，并对数显千分表进行调零（数显千分表调零属于现有成熟技术，这里不再赘述）；然后将需要测量的蓝宝石晶片12放置在置物座11上的卡槽14内，调节置物座11的高度，直至蓝宝石晶片12需测量的位置与半球形凸起完全对应，然后利用螺栓将置物座11紧固在左臂9和右臂10上；最后利用数显千分表的手柄1调节探针5的长度，直至探针5与蓝宝石晶片12的表面接触，此时，数显千分表显示器上的示数即为蓝宝石晶片12需测量位置的厚度；如需测量同一蓝宝石晶片12不同位置的厚度，则只需转动蓝宝石晶片12并调节置物座11的高度，使需测量位置与半球形凸起接触即可。

本实用新型的有益效果为：

本实用新型所述的一种用于测量蓝宝石晶片厚度的量表支架，利用可上下移动的置物座11，能够方便的调节置物槽的大小，满足了不同尺寸蓝宝石晶片12的测量需要，适用范围更广；同时，置物座11上还开设有卡槽14，卡槽14与半球形突起的配合能够更好的保证探针5与蓝宝石晶片12垂直，即使逐点测量也能够保证测量结果的可靠性，有效的提高了测量结果的精确度。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。

Claims (3)

1.一种用于测量蓝宝石晶片厚度的量表支架，其特征在于：包括底座、左臂和右臂，左臂和右臂的大小和形状均相同且左臂和右臂竖直固定设置在底座上表面，左臂上端还设置有半球形的凸起；右臂上与半球形凸起对应的位置处开设有水平的用于通过探针的探针通孔，数显千分表固定在右臂上端的外侧；当数显千分表的手柄处于初始状态时，探针的测量端与半球形凸起接触。

2.根据权利要求1所述的一种用于测量蓝宝石晶片厚度的量表支架，其特征在于：还包括置物座，所述置物座为工字型，置物座卡设在左臂和右臂之间，置物座与左臂和右臂间隙配合，置物座的卡臂上开设有螺纹孔，螺纹孔内设置有螺栓。

3.根据权利要求2所述的一种用于测量蓝宝石晶片厚度的量表支架，其特征在于：所述置物座上表面还开设有卡槽，卡槽与半球形凸起的顶端位于同一条竖直线上。