CN206073869U - 坩埚底部厚度检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种坩埚底部厚度检测装置，用于设置在坩埚四周的支撑件；水平设于支撑件的两个平行的第一滑轨；滑动设于两个第一滑轨上的第二滑轨，第二滑轨水平设置；滑动设于第二滑轨上的检测尺。此种坩埚底部厚度检测装置通过第一滑轨、第二滑轨的设置，能够使检测尺移动至坩埚内的任意位置，使坩埚底部任意位置的厚度均能够得到准确测量；同时，在检测过程中，检测尺沿着第二滑轨进行滑动，或者第二滑轨沿着第一滑轨滑动，可以避免由于测量者的测量手法而产生的误差，测量结果的准确度较高。

Description

坩埚底部厚度检测装置

技术领域

本实用新型涉及光伏设备技术领域，特别涉及一种坩埚底部厚度检测装置。

背景技术

在光伏行业中的多晶硅锭生产环节中，需使用陶瓷坩埚承装硅料.在制作多晶硅锭时，先在铸锭炉中将硅熔化，再通过定向凝固法长晶得到整块多晶硅锭。

其中，陶瓷坩埚的底部厚度为一项重要的尺寸指标。为匹配多晶铸锭工艺，陶瓷坩埚的底部厚度需要控制在合适的范围内，且底部厚度需均匀，这样才能保证铸锭热场的均匀，保证铸锭产品的稳定。因此，坩埚厂家在坩埚产品出厂检验环节均需对坩埚底部厚度进行测量。通常，陶瓷坩埚底部拥有较大的面积，例如，G6坩埚内部底面尺寸可达到95cm×95cm以上，测对坩埚底部厚度进行测量时，需要对不同的位置进行检查。

一种典型的陶瓷坩埚底部厚度检测方法中，通过卡尺或卷尺测量坩埚底部的内外差值来确定底部厚度。然而，此种测量方式难以测量到底部各个位置的厚度，且容易产生操作误差。

因此，如何准确测量坩埚底部不同部位的厚度，是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的是提供一种坩埚底部厚度测量装置，能够准确测量坩埚底部不同部位的厚度。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种坩埚底部厚度检测装置，

用于设置在坩埚四周的支撑件；

水平设于所述支撑件的两个平行的第一滑轨；

滑动设于两个所述第一滑轨上的第二滑轨，所述第二滑轨水平设置；

滑动设于所述第二滑轨上的检测尺。

优选地，所述第二滑轨垂直于所述第一滑轨。

优选地，所述第一滑轨上滑动设有第一滑块，所述第二滑轨的端部可拆卸固定连接于所述第一滑块。

优选地，所述第一滑轨的开口朝上，所述第二滑轨固定设于所述第一滑块的顶部。

优选地，所述第二滑轨上滑动设有第二滑块，所述第二滑块上固定设有尺座，所述检测尺位置可调地设于所述尺座上，所述尺座上设有与所述检测尺的最小分度不同的刻度线。

优选地，所述支撑件包括四个竖立设置的立柱，一个所述第一滑轨对应固定于两个相邻的所述立柱上。

优选地，所述立柱高度可调地设于所述第一滑轨的下侧。

优选地，所述立柱的底部通过调节螺丝连接于立柱底座上。

本实用新型提供的坩埚底部厚度检测装置包括支撑件、第一滑轨、第二滑轨和检测尺。支撑件用于设置在坩埚四周；两个第一滑轨水平设于支撑件且两第一滑轨相平行；第二滑轨滑动设于两个第一滑轨上，且第二滑轨水平设置；检测尺滑动设于第二滑轨上。

在进行坩埚底部厚度检测时，可以校准零刻度，具体可以将检测尺的端部抵住用于放置坩埚的平台面，检测尺此时的刻度设为零刻度处，然后放置坩埚于该平台面上，沿竖直方向调节检测尺，使检测尺的端部抵住坩埚的内底壁，同时，根据需要使检测尺沿着第二滑轨进行滑动，或者使第二滑轨可以沿着第一滑轨进行移动，从而使检测尺移动至平面内的任意位置，以对坩埚底部的任意位置厚度进行检测。

此种坩埚底部厚度检测装置通过第一滑轨、第二滑轨的设置，能够使检测尺移动至坩埚内的任意位置，使坩埚底部任意位置的厚度均能够得到准确测量；同时，在检测过程中，检测尺沿着第二滑轨进行滑动，或者第二滑轨沿着第一滑轨滑动，可以避免由于测量者的测量手法而产生的误差，测量结果的准确度较高。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本实用新型所提供坩埚底部厚底检测装置的具体实施例的结构示意图。

图1中，1为立柱底座，2为立柱，3为第一滑轨，4为第一滑块，5为第二滑轨，6为第二滑块，7为检测尺，8为尺座，9为刻度线，10为调节螺丝。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明的是，本实用新型中的上、下等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，第一、第二仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

本实用新型的核心是提供一种坩埚底部厚度测量装置，能够准确测量坩埚底部不同部位的厚度。

请参考图1，图1为本实用新型所提供坩埚底部厚底检测装置的具体实施例的结构示意图。

本实用新型所提供坩埚底部厚底检测装置的一种具体实施例中，包括支撑件、第一滑轨3、第二滑轨5和检测尺7。支撑件用于设置在坩埚四周。第一滑轨3水平设置于支撑件上，且两个第一滑轨3平行设置。第二滑轨5滑动设置在两个第一滑轨3上，即第二滑轨5能够沿着第一滑轨3进行水平滑动，且第二滑轨5水平设置。检测尺7滑动设置在第二滑轨5上，即检测尺7能够沿着第二滑轨5进行水平滑动。其中，坩埚主要指陶瓷坩埚，当然，也可以用于检测其他材料的坩埚的底部厚度。

在进行坩埚底部厚度检测时，可以校准零刻度，具体可以将检测尺7的端部抵住用于放置坩埚的平台面，检测尺7此时的刻度设为零刻度处，然后放置坩埚于该平台面上，沿竖直方向调节检测尺7，使检测尺7的端部抵住坩埚的内底壁，同时，根据需要使检测尺7沿着第二滑轨5进行滑动，或者使第二滑轨5可以沿着第一滑轨3进行移动，从而使检测尺7移动至平面内的任意位置，以对坩埚底部的任意位置厚度进行检测。

可见，此种坩埚底部厚度检测装置通过第一滑轨3、第二滑轨5的设置，能够使检测尺7移动至坩埚内的任意位置，使坩埚底部任意位置的厚度均能够得到准确测量；同时，在检测过程中，检测尺7沿着第二滑轨5进行滑动，或者第二滑轨5沿着第一滑轨3滑动，可以避免由于测量者的测量手法而产生的误差，测量结果的准确度较高。

上述各个实施例中，第一滑轨3与第二滑轨5可以垂直设置，使检测尺7能够直接在两个相互垂直的方向上移动，便于准确控制检测尺7的位置，且便于坩埚底部厚度检测装置的加工制作。当然，第一滑轨3与第二滑轨5之间也可以具有一定的倾斜角。

上述各个实施例中，第一滑轨3上可以滑动设置第一滑块4，第二滑轨5的端部可以可拆卸固定连接在第一滑块4上。即在安装第二滑轨5时，可以将第二滑轨5的两端分别连接在一个第一滑块4上，避免直接将第二滑轨5的两端安装于两个第一滑轨3造成的不便。具体地，第二滑轨5可以插接、螺钉连接或者通过其他方式连接于第一滑块4。

上述各个实施例中，第一滑轨3的开口可以朝上，第二滑轨5可以设置于第一滑块4的顶部，可保持此开口处的第一滑块4是外露的，以便第一滑块4与第二滑轨5的连接，从而进一步降低第二滑轨5的加工难度。其中，第一滑块4可以内置或外套于第一滑轨3。当然，第一滑轨3的开口朝向不限于此。

上述各个实施例中，第二滑轨5上可以滑动设有第二滑块6，即第二滑块6能够沿着第二滑轨5进行移动，第二滑块6上固定设有尺座8，以便于检测尺7的固定，检测尺7位置可调地设于尺座8上，尺座8上设有刻度线9，尺座8上的刻度线9的最小分度与检测尺7的最小分度不同，使尺座8与检测尺7可以构成游标卡尺，尺座8上的刻度线9与检测尺7上的刻度线相配合，可以提高读数的准确性。在检测时，可以通过在尺座8上上下滑动检测尺7来调节检测尺7在竖直方向上的位置。当然，检测尺7也可以通过直接与第二滑轨5的滑槽进行插接以实现滑动。

上述各个实施例中，支撑件具体可以包括四个竖立设置的立柱2，且一个第一滑轨3对应固定在两个相邻的立柱2上，设置简单，且便于坩埚底部厚度检测装置的存放。当然，支撑件也可以设置为包括四个首尾连接形成四边形的支撑板，或者进行其他设置。

上述各个实施例中，立柱2具体可以高度可调地设于第一滑轨3的下侧，以便于适应不同最大高度的待检测的坩埚。

具体地，立柱2的底部可以通过调节螺丝10连接于立柱底座1上，通过调节螺丝10调节立柱2的顶端与立柱底座1的距离，操作方便。当然，也可以通过将立柱2设置为可伸缩杆或者通过其他方式实现立柱2的高度调节。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。

以上对本实用新型所提供的坩埚底部厚度检测装置进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以对本实用新型进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本实用新型权利要求的保护范围内。

Claims (8)

1.一种坩埚底部厚度检测装置，其特征在于，

用于设置在坩埚四周的支撑件；

水平设于所述支撑件的两个平行的第一滑轨(3)；

滑动设于两个所述第一滑轨(3)上的第二滑轨(5)，所述第二滑轨(5)水平设置；

滑动设于所述第二滑轨(5)上的检测尺(7)。

2.根据权利要求1所述的坩埚底部厚度检测装置，其特征在于，所述第二滑轨(5)垂直于所述第一滑轨(3)。

3.根据权利要求2所述的坩埚底部厚度检测装置，其特征在于，所述第一滑轨(3)上滑动设有第一滑块(4)，所述第二滑轨(5)的端部可拆卸固定连接于所述第一滑块(4)。

4.根据权利要求3所述的坩埚底部厚度检测装置，其特征在于，所述第一滑轨(3)的开口朝上，所述第二滑轨(5)固定设于所述第一滑块(4)的顶部。

5.根据权利要求4所述的坩埚底部厚度检测装置，其特征在于，所述第二滑轨(5)上滑动设有第二滑块(6)，所述第二滑块(6)上固定设有尺座(8)，所述检测尺(7)位置可调地设于所述尺座(8)上，所述尺座(8)上设有与所述检测尺(7)的最小分度不同的刻度线(9)。

6.根据权利要求1至5任意一项所述的坩埚底部厚度检测装置，其特征在于，所述支撑件包括四个竖立设置的立柱(2)，一个所述第一滑轨(3)对应固定于两个相邻的所述立柱(2)上。

7.根据权利要求6所述的坩埚底部厚度检测装置，其特征在于，所述立柱(2)高度可调地设于所述第一滑轨(3)的下侧。

8.根据权利要求7所述的坩埚底部厚度检测装置，其特征在于，所述立柱(2)的底部通过调节螺丝(10)连接于立柱底座(1)上。