CN203949648U - 测量极坐标的机构 - Google Patents

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刘宁
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Aipei Instrument Measuring Equipment Co., Ltd.
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API ZC Chengdu Precision Instrument Co Ltd
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Abstract

本实用新型记载了测量极坐标的机构,包括底座、圆柱以及安装在底座上的中间柱,其中圆柱为上下开口的空腔结构,圆柱套在中间柱上;还包括安装在圆柱一侧的横臂B,横臂B顶端开有上下开口的滑轨,支柱贯穿横臂B安装在横臂B的滑轨中;还包括安装在立柱底部的测量装置。在本实用新型中,横臂B可带动测量装置绕中间柱旋转,且立柱安装在横臂B的滑轨中,可带动测量装置在横臂B的滑轨中左右移动,当松动拧紧螺钉,测头臂可沿立柱的轴线方向上下移动。因此,本实用新型实现了测头的X轴、Y轴以及角度的可调,可测量装置上任意一点的极坐标,较为方便。

Description

测量极坐标的机构
技术领域
本实用新型涉及测量极坐标的机构,尤其涉及一种可自动显示所测点的极坐标的装置。
背景技术
在现实生活中,极坐标在机械领域被广泛应用,工作人员常常通过测量各点的极坐标来计算螺距或曲线的拔距等。但在操作过程中,极坐标因为涉及X坐标、Y坐标和角度,经常需要工作人员一一测量,较为麻烦。并且一般测量曲线或计算螺距所需的点较多,工作量较大。
实用新型内容
    本实用新型提供测量极坐标的机构,旨在解决极坐标测量麻烦、测量工作量大等问题。
本实用新型的技术方案如下:
包括底座、圆柱以及安装在底座上的中间柱,其中圆柱为上下开口的空腔结构,圆柱套在中间柱上;还包括安装在的圆柱一侧的横臂B,横臂B顶端开有上下开口的滑轨,支柱贯穿横臂B安装在横臂B的滑轨中;还包括安装在立柱底部的测量装置。
进一步,所述测量装置包括测头臂、测头,测头安装在测头臂的底部,测头臂与立柱相连。
进一步,立柱为下部开口的空腔结构,测头臂滑动设置在立柱的空腔结构中。
进一步,还包括将测头臂固定在立柱上的的拧紧螺钉。
进一步,还包括安装在圆柱另一侧的横臂A,横臂A上滑动安装有平衡块。
进一步,横臂B上刻有测量X轴位移的刻度,测头臂上刻有测量Y轴位移的刻度,中间柱的底部上刻有测量角度的刻度。
进一步,横臂B5上设有标尺光栅,测头臂11上设有标尺光栅,中间柱2的底部上设有标尺光栅;还包括分别设置在横臂B5、测头臂11、中间柱2上的光栅传感器,还包括与各光栅传感器相连的单片机,以及与单片机相连的数字显示器13。
进一步,还包括安装在中间柱顶部的吊耳。
在本实用新型中,横臂B通过绕中间柱旋转实现了测量装置的角度可调,且立柱可带动测量装置沿着横臂B的滑轨左右移动,实现了测量装置的X轴可调,测头臂滑动设置在立柱的空腔结构中,可在立柱的空腔结构中沿立柱的轴线上下移动,实现了测头的Y轴可调;横臂A上安装有平衡块,当支柱在横臂B上左右移动时,平衡块可通过左右移动来保证与横臂B平衡;横臂B上刻有测量X轴位移的刻度,测头臂上刻有测量Y轴位移的刻度,中间柱的底部上刻有测量角度的刻度,工作人员可通过读数来获取所测点的极坐标;本装置安装有标尺光栅、数字传感器以及单片机使得够工作人员可直接通过观察数字显示器13读出所测点的X坐标、Y坐标和角度坐标;且中间柱的顶部安装有吊耳,吊耳可根据需要将整个测量装置抬高,进而测量各种高度的点的极坐标。
附图说明
图1是可测量极坐标的装置的结构示意图。
其中,附图标记所对应的零部件名称如下:
1-吊耳,2-中间柱,3-底座,4-横臂A,5-横臂B,6-支柱,7-拧紧螺钉,8-测量装置,9-平衡块,10-圆柱,11-测头臂,12-测头,13-数字显示器。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步的说明。在此需要说明的是,对于这些实施方式的说明用于帮助理解本发实用新型,但并不构成对本实用新型的限定。此外,下面所描述的本实用新型各个实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
实施例1
如图1所示,测量极坐标的机构,包括底座3、圆柱10以及安装在底座3上的中间柱2,其中圆柱10为上下开口的空腔结构,圆柱10套在中间柱2上;还包括安装在的圆柱10一侧的横臂B5,横臂B5顶端开有上下开口的滑轨,支柱6贯穿横臂B5安装在横臂B5的滑轨中;还包括安装在立柱6底部的测量装置8。
在此结构中,圆柱10套在中间柱2上,使得横臂B根据需要可以带动测量装置8绕着中间柱2旋转,实现了测头12的角度可调;且立柱6安装在横臂B的滑轨中,可带动测量装置8在横臂B5的滑轨中左右移动,实现了测头12的X轴可调。
实施例2
本实施例在实施例1的基础上,对测量装置8做进一步说明。
测量装置8还包括测头臂11、测头12,测头12安装在测头臂11的底部,测头臂11与立柱6相连,立柱6为下部开口的空腔结构,测头臂11滑动安装在立柱6的空腔结构中。
测头臂11可在立柱6的空腔内沿立柱的轴线上下滑动,实现了测头12的Y轴可调。
实施例3
本实施例在实施例1或实施例2的基础上,还包括将测头臂11固定在立柱6上的拧紧螺钉7。
当松动拧紧螺钉7时,测量臂11可在立柱6的空腔中沿立柱的轴线上下滑动,当固定拧紧螺钉7时,测量臂11的位置固定。
实施例4
本实施例在实施例1或实施例2或实施例3的基础上,还包括安装在圆柱10另一侧的横臂A4,横臂A4上滑动安装有平衡块9。
平衡块9可根据需要沿横臂B5左右移动,用来保持横臂A4的平衡。
实施例5
本实施例在实施1或实施例2或实施例3或实施例4的基础上做进一步说明,横臂B5上刻有测量X轴位移的刻度,测头臂11上刻有测量Y轴位移的刻度,中间柱2的底部上刻有测量角度的刻度。
当测头12触碰到需要测量的点时,旋紧拧紧螺钉7,固定测头12,工作人员可以从横臂B5上读出该点的X坐标、从测头臂11上读出该点的Y坐标以及从中间柱2底部上的刻度读出该点的角度坐标。
实施例6
本实施例在实施例1或实施例2或实施例3或实施例4或实施例5的基础上,还包括横臂B5上设有标尺光栅,测头臂11上设有标尺光栅,中间柱2的底部上设有标尺光栅;还包括分别设置在横臂B5、测头臂11、中间柱2上的光栅传感器,还包括与各光栅传感器相连的单片机,以及与单片机相连的数字显示器13。
在此结构中,当立柱6沿着横臂B5上的标尺光栅移动时,安装在横臂B5上的光栅传感器将立柱6沿横臂B5移动的距离转变成模拟信号;当测头臂11在立柱的空腔内沿立柱的轴线上下滑动时,光栅传感器将测头臂11在Y轴移动的距离转换成模拟信号;当圆柱10绕中间柱2旋转时,光栅传感器将圆柱10旋转的角度转换为模拟信号;当把这些模拟信号输入单片机,单片机将把模拟信号转换为数字信号,数字信号经过数字显示器13显示出来。因此,此装置能够自动显示任意一点的极坐标,工作人员可直接通过观察数字显示器13读出所测点的X坐标、Y坐标和角度坐标。
实施例7
本实施例在实施例1 的基础上,还包括安装在中间柱2顶部的吊耳1。
当所测装置高度太高,测头12在可调的高度范围内无法满足测量的需要,可通过吊耳1将整个待测装置抬高,进而保证了侧头可测量任意高度的点的极坐标。
上面结合附图对本实用新型优选的具体实施方式和实施例作了详细说明,但是本实用新型并不限于上述实施方式和实施例,在本领域技术人员所具备的知识范围内,还可以在不脱离本实用新型构思的前提下做出各种变化。

Claims (8)

1.测量极坐标的机构,其特征在于:
包括底座(3)、圆柱(10)以及安装在底座(3)上的中间柱(2),其中圆柱(10)为上下开口的空腔结构,圆柱(10)套在中间柱(2)上;还包括安装在圆柱(10)一侧的横臂B(5),横臂B(5)顶端开有上下开口的滑轨,支柱(6)贯穿横臂B(5)安装在横臂B(5)的滑轨中;还包括安装在立柱(6)底部的测量装置(8)。
2.根据权利要求1所述的测量极坐标的机构,其特征在于:
所述测量装置(8)包括测头臂(11)、测头(12),测头(12)安装在测头臂(11)的底部,测头臂(11)与立柱(6)相连。
3.根据权利要求2所述的测量极坐标的机构,其特征在于:
立柱(6)为下部开口的空腔结构,测头臂(11)滑动设置在立柱(6)的空腔结构中。
4.根据权利要求3所述的测量极坐标的机构,其特征在于:
还包括将测头臂(11)固定在立柱(6)上的的拧紧螺钉(7)。
5.根据权利要求1所述的测量极坐标的机构,其特征在于:
还包括安装在圆柱(10)另一侧的横臂A(4),横臂A(4)上滑动安装有平衡块(9)。
6.根据权利要求3所述的测量极坐标的机构,其特征在于:
横臂B(5)上刻有测量X轴位移的刻度,测头臂(11)上刻有测量Y轴位移的刻度,中间柱(2)的底部上刻有测量角度的刻度。
7.根据权利要求2所述的测量极坐标的机构,其特征在于:
横臂B(5)上设有标尺光栅,测头臂(11)上设有标尺光栅,中间柱(2)的底部上设有标尺光栅;还包括分别设置在横臂B(5)、测头臂(11)、中间柱(2)上的光栅传感器;还包括与各光栅传感器相连的单片机以及与单片机相连的数字显示器(13)。
8.根据权利要求1所述的测量极坐标的机构,其特征在于:
还包括安装在中间柱(2)顶部的吊耳(1)。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN104089593A (zh) * 2014-07-22 2014-10-08 爱佩仪中测(成都)精密仪器有限公司 一种可测量极坐标的装置
CN104990525A (zh) * 2015-08-13 2015-10-21 爱佩仪中测(成都)精密仪器有限公司 一种极柱坐标测量装置
CN105180859A (zh) * 2015-08-13 2015-12-23 爱佩仪中测(成都)精密仪器有限公司 测量极坐标装置的改良支臂

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Patentee after: Aipei Instrument Measuring Equipment Co., Ltd.

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Patentee before: A-pex instrument measuring precision instruments Co. Ltd. (Chengdu)

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