CN206300629U - 玻璃基板厚度测量装置 - Google Patents

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苏记华
王展
王陆钰
吴宏斌
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Abstract

本公开涉及一种玻璃基板厚度测量装置,该测量装置包括:第一夹持部,用于将所述玻璃基板的上边缘夹持在传送机构上;测量平台,该测量平台上设置有用于夹持所述玻璃基板的下边缘的第二夹持部,以及用于检测玻璃基板厚度的测厚传感器;所述测量平台包括底座和台架,以及设置在所述台架和底座之间的高度调节机构,所述台架上设置有所述第二夹持部和所述测厚传感器,所述高度调节机构用于驱动所述台架沿纵向接近或远离所述第一夹持部。通过上述技术方案,在高度调节机构的驱动下,使得测量平台上下移动,以测量不同尺寸的玻璃基板的厚度,能够解决玻璃基板在制程中不同品种无法匹配的技术问题。

Description

玻璃基板厚度测量装置
技术领域
本公开涉及玻璃基板厚度测量技术领域,具体地,涉及一种玻璃基板厚度测量装置。
背景技术
在玻璃基板制程中,玻璃基板厚度测量为工艺调整提供依据,当玻璃基板厚度超差时,工艺人员根据厚度测量仪测得的数据做出相应的调整将厚度调整到用户允许范围,满足用户的要求;现有技术中对玻璃基板厚度的测量多采用垂直吊装结合测厚传感器来实现,但是由于不同品种的玻璃基板的板长是不同的,无法实现使用一个测量装置测量不同品种的玻璃基板的厚度。
实用新型内容
本公开的目的是提供一种玻璃基板厚度测量装置,该测量装置能够解决玻璃基板在制程中生产不同板长尺寸品种时测厚装置无法匹配的技术问题。
为了实现上述目的,本公开提供一种玻璃基板厚度测量装置,该测量装置包括:第一夹持部,用于将所述玻璃基板的上边缘夹持在传送机构上;测量平台,该测量平台上设置有用于夹持所述玻璃基板的下边缘的第二夹持部,以及用于检测玻璃基板厚度的测厚传感器;所述测量平台包括底座和台架,以及设置在所述台架和底座之间的高度调节机构,所述台架上设置有所述第二夹持部和所述测厚传感器,所述高度调节机构用于驱动所述台架沿纵向接近或远离所述第一夹持部。
可选地,所述高度调节机构为丝杠螺母调节结构,该丝杠螺母调节结构包括设置在所述台架上的螺母、设置在所述底座上的丝杠,以及驱动所述丝杠转动的驱动机构,所述丝杠沿纵向延伸。
可选地,所述驱动机构包括水平延伸的转轴和连接在该转轴与所述丝杠之间的传动机构,所述转轴的外端设置有调节轮盘。
可选地,所述传动机构为减速箱,所述转轴为所述减速箱的输入轴,所述减速箱的输出轴连接所述丝杠。
可选地,所述输入轴上可转动地套设在多个轴承座上,多个所述轴承座上安装有锁紧轮盘。
可选地,所述底座上设置有用于测量所述台架当前高度的测量尺。
可选地,所述测量尺为竖直布置的游标尺,所述台架上的设置有与所述游标卡尺配合使用的指针。
可选地,所述底座上竖直设置有多个导柱,所述台架上对应地设置有多个可滑动地套设在该导柱上的滑套。
可选地,所述导柱的上端形成有用于限位所述滑套滑脱的限位凸台。
可选地,所述导柱为四个并呈矩形布置,所述台架形成为矩形框架,所述滑套为设置在所述矩形框架四角上的滑动轴承。
通过上述技术方案,在高度调节机构的驱动下,使得测量平台上下移动,以测量不同尺寸的玻璃基板的厚度,能够解决玻璃基板在制程中不同品种无法匹配的技术问题。
本公开的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。
附图说明
附图是用来提供对本公开的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与下面的具体实施方式一起用于解释本公开,但并不构成对本公开的限制。在附图中:
图1是根据本实用新型一个实施方式的玻璃基板厚度测量装置的结构示意图。
附图标记说明
1 底座 2 台架
3 玻璃基板 4 第一夹持部
5 传送机构 6 测厚传感器
7 减速箱 8 调节轮盘
9 轴承座 10 锁紧轮盘
11 丝杠 12 测量尺
13 指针 14 导柱
15 滑套 16 限位凸台
21 第二夹持部 22 螺母
71 转轴
具体实施方式
以下结合附图对本公开的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是,此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本公开,并不用于限制本公开。
在本公开中,在未作相反说明的情况下,使用的方位词如“上、下”通常是指正常使用状态的上和下。
如图1所示,本公开提供一种玻璃基板厚度测量装置,该测量装置包括:第一夹持部4,用于将玻璃基板3的上边缘夹持在传送机构5上,测量平台,该测量平台上设置有用于夹持玻璃基板3的下边缘的第二夹持部21,通过第一夹持部4和第二夹持部21能够使玻璃基板3保持垂直吊装以保证玻璃基板厚度测量的准确性,并且,测量平台上设置有用于检测玻璃基板厚度的测厚传感器6,本实用新型中测量平台包括底座1和台架2,测厚传感器6可以设置在台架2上并且可以为本领域内任意公知的测厚传感器。另外,台架2和底座1之间设置有高度调节机构,这里,高度调节机构主要用于驱动台架2沿纵向接近或远离第一夹持部4。通过上述技术方案,在高度调节机构的驱动下,使得测量平台中的台架2沿纵向上下移动,而由于第一夹持部4夹持玻璃基板3位置不动,所以能够满足玻璃基板在制程中不同品种的不同高度带来的无法匹配的技术问题。
具体地,如图1所示,高度调节机构为丝杠螺母调节结构,该丝杠螺母调节结构包括设置在台架2上的螺母22、设置在底座1上的丝杠11,以及驱动丝杠11转动的驱动机构,丝杠11沿纵向延伸。这样,通过丝杠11相对于螺母22的转动,由于为螺纹配合因此能够实现台架2相对于底座1的上下运动。本实用新型中,为了节省材料,台架2可以形成上表面封闭的方形框架,螺母22可以形成在方形框架的底架上,并且丝杠11的高度可以小于方形框架的高度,以保证台架2沿着丝杠11上下运动的过程中不会抵顶至方形框架的上表面。采用这种丝杠螺母传动设计的调节方式,具有磨损小、传动效率高、传动平稳、寿命长以及精度高等优点。
进一步地,驱动机构包括水平延伸的转轴71和连接在该转轴71与丝杠11之间的传动机构,转轴71的外端设置有调节轮盘8。通过设置传动机构能够使得转轴相对于丝杠任意方向布置,而水平和延伸的转轴71可以方便调节轮盘8的安装和操作。其中,传动机构的具体形式可以是为减速箱7,减速箱7包括输入轴和输出轴,转轴71为减速箱的输入轴,减速箱的输出轴连接丝杠11。这样,可以在减速箱7的作用下使调节轮盘的转动轴线与丝杠11的转动轴线相互垂直,使得调节轮盘8在水平方向的转动转化为丝杠11沿着竖直方向的运动,以实现台架2在竖直方向上的运动,这里,减速箱7可以选用变比为10:1、15:1、20:1等的减速箱,减速箱具有结构紧凑,传动平稳等优点,可以保证本实用新型提供的玻璃基板厚度测量装置测量过程的稳定性。其他的变形方式中,也可以采用万向节、蜗轮蜗杆等传动方式,其原理与目的类似以上描述,此处不再一一赘述。
如图1所示,本实用提供的玻璃基板厚度测量装置的底座1上还设置有多个轴承座9,输入轴上可转动地套设在多个轴承座9上,多个轴承座9上安装有锁紧轮盘10。具体地,轴承座9可以为间隔设置的两个,这里,轴承座9一方面是为了支撑减速箱7的输入轴,另一方面,由于丝杠螺母传动不具备锁紧功能,故可以在其中一个轴承座9安装锁紧轮盘10,锁紧轮盘10和轴承座9之间可以是螺纹连接,这样,当台架2达到预设高度值以后,通过旋转锁紧轮盘10顶紧减速箱的输入轴使其固定,能够保证测量装置中台架2不会出现滑动等问题。
另外,测量装置的底座1上设置有用于测量台架2当前高度的测量尺12,具体可以是游标尺,游标尺竖直布置,台架2上还设置有与游标尺配合使用的指针13,可以根据指针13在游标尺上的指示,来旋转调节轮盘8以完成台架竖直方向的运动,准确地达到预设高度值。
如图1所示,本实用提供的玻璃基板厚度测量装置的底座1上竖直地设置有多个导柱14,台架2上对应地设置有多个可滑动地套设在该导柱14上的滑套15,导柱14的上端形成有用于限制滑套15滑脱的限位凸台16,限位凸台16可以为螺母,该螺母可以采用焊接的方式固定在导柱14的顶端,也可以采用螺纹连接的方式安装于导柱14的顶端。另外,本实用新型中导柱14可以为四个并呈矩形布置,台架2形成为矩形框架,滑套15为设置在矩形框架四角上的滑动轴承,这里,滑动轴承可以选用直线轴承,并且为了保证结构的稳定性,直线轴承的设置为四个,且该四个直线轴承水平安装以与导柱14相配合。丝杠11安装于变速箱7的高度可以等于导柱14的高度,这里,根据玻璃基板尺寸的不同,导柱14的直径范围可以是30mm-100mm,长度可以是800mm-1000mm,丝杠11直径可以是40mm-100mm,长度可以是800mm-1000mm。
具体测量过程可以参考如下步骤,玻璃基板3通过第一夹持部夹持,由传送机构将玻璃基板由上一工序直线传动到玻璃基板厚度测量装置上方停止,通过测量平台上的第二夹持部保证玻璃基板稳定地垂直吊装,测厚传感器沿着导轨运动完成厚度测量,第二夹持部松开玻璃基板,玻璃基板在在传送机构的带动下直线运动到下一工序,这里,需要说明的是,第二夹持部和导轨相互平行地设置在测量平台上,以保证玻璃基板厚度测量的准确性。玻璃基板厚度测量的过程中需要将A品种玻璃基板更换为B品种玻璃基板,假设A品种玻璃基板板长为La,B品种玻璃基板板长为Lb,这里,“板长”指的是玻璃基板在竖直方向的玻璃基板的长度,A品种玻璃基板与B品种玻璃基板之间的板长差则为L=Lb-La,如果L>0,这时,可以依据指针在标尺上的指示正向旋转调节轮盘使台架向下运动高度L,旋紧锁紧轮盘,完成调整,测厚传感器沿着导轨运动完成A品种玻璃基板的厚度测量。如果L<0,这时,可以依据指针在标尺上的指示反向旋转调节轮盘使台架向上运动高度L,旋紧锁紧轮盘,完成调整,测厚传感器沿着导轨运动完成B品种玻璃基板的厚度测量。
以上结合附图详细描述了本公开的优选实施方式,但是,本公开并不限于上述实施方式中的具体细节,在本公开的技术构思范围内,可以对本公开的技术方案进行多种简单变型,这些简单变型均属于本公开的保护范围。
另外需要说明的是,在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征,在不矛盾的情况下,可以通过任何合适的方式进行组合。为了避免不必要的重复,本公开对各种可能的组合方式不再另行说明。
此外,本公开的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合,只要其不违背本公开的思想,其同样应当视为本公开所公开的内容。

Claims (10)

1.一种玻璃基板厚度测量装置,该测量装置包括:
第一夹持部(4),用于将所述玻璃基板(3)的上边缘夹持在传送机构(5)上;
测量平台,该测量平台上设置有用于夹持所述玻璃基板(3)的下边缘的第二夹持部(21),以及用于检测玻璃基板厚度的测厚传感器(6);
其特征在于,所述测量平台包括底座(1)和台架(2),以及设置在所述台架(2)和底座(1)之间的高度调节机构,所述台架(2)上设置有所述第二夹持部(21)和所述测厚传感器(6),所述高度调节机构用于驱动所述台架(2)沿纵向接近或远离所述第一夹持部(4)。
2.根据权利要求1所述的玻璃基板厚度测量装置,其特征在于,所述高度调节机构为丝杠螺母调节结构,该丝杠螺母调节结构包括设置在所述台架(2)上的螺母(22)、设置在所述底座(1)上的丝杠(11),以及驱动所述丝杠(11)转动的驱动机构,所述丝杠(11)沿纵向延伸。
3.根据权利要求2所述的玻璃基板厚度测量装置,其特征在于,所述驱动机构包括水平延伸的转轴(71)和连接在该转轴(71)与所述丝杠(11)之间的传动机构,所述转轴(71)的外端设置有调节轮盘(8)。
4.根据权利要求3所述的玻璃基板厚度测量装置,其特征在于,所述传动机构为减速箱(7),所述转轴(71)为所述减速箱(7)的输入轴,所述减速箱(7)的输出轴连接所述丝杠(11)。
5.根据权利要求4所述的玻璃基板厚度测量装置,其特征在于,所述输入轴上可转动地套设在多个轴承座(9)上,多个所述轴承座(9)上安装有锁紧轮盘(10)。
6.根据权利要求1所述的玻璃基板厚度测量装置,其特征在于,所述底座(1)上设置有用于测量所述台架(2)当前高度的测量尺(12)。
7.根据权利要求6所述的玻璃基板厚度测量装置,其特征在于,所述测量尺(12)为竖直布置的游标尺,所述台架(2)上设置有与所述游标尺配合使用的指针(13)。
8.根据权利要求1所述的玻璃基板厚度测量装置,其特征在于,所述底座(1)上竖直设置有多个导柱(14),所述台架(2)上对应地设置有多个可滑动地套设在该导柱(14)上的滑套(15)。
9.根据权利要求8所述的玻璃基板厚度测量装置,其特征在于,所述导柱(14)的上端形成有用于限位所述滑套(15)滑脱的限位凸台(16)。
10.根据权利要求8所述的玻璃基板厚度测量装置,其特征在于,所述导柱(14)为四个并呈矩形布置,所述台架(2)形成为矩形框架,所述滑套(15)为设置在所述矩形框架四角上的滑动轴承。
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Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
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Denomination of utility model: Glass substrate thickness measurement device

Effective date of registration: 20200710

Granted publication date: 20170704

Pledgee: Beijing State Owned Financial Leasing Co., Ltd

Pledgor: ZHENGZHOU XUFEI OPTOELECTRONIC TECHNOLOGY Co.,Ltd.

Registration number: Y2020990000736

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