CN206248006U - 深孔内径测量仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种深孔内径测量仪，该测量仪包括丝杆，设置在丝杆顶部的内径百分表，套设在丝杆上的三爪卡盘，以及设置在丝杆的底部的测量装置；测量装置包括U形支架，设置在U形支架的一端的测砧，以及设置在U形支架的另一端的微分测量头；U形支架通过第一连接杆固定在丝杆的底部，第一连接杆与U形支架螺纹连接。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种深孔内径测量仪。
背景技术
在飞机、轮船、大型精密仪器等现代化工业中，轴孔零件的加工、检测始终是影响生产的一大难题，此类零件孔径、深孔圆度、直线度的精度是保证产品质量的一个重要因素。
目前，传统的内径测量方法主要通过卡尺、卡规在零件加工后进行测量，这类测量方法操作不便，精度难以保证，人为影响因素大。而且，对于孔深与孔径比大于5的深孔或超深孔零件，测试更加不便。
此外，许多大型壳体、箱体类零件都设计有同轴贯穿孔，由于这些孔的特殊使用要求，其孔径的精度要求很高，往往要求保证在0.02mm误差范围内。这类孔系的加工，目前往往使用的是在大型镗床上使用穿镗排加工来保证同轴度要求。而在在实际加工过程中，要保证孔径的尺寸，往往需要在最后精镗孔前进行测量以确定最后的精镗孔余量来保证最终尺寸，但由于镗排是贯穿在孔内的，直至孔加工完成后方可拆除，一般的内径千分尺无法使用，这样对孔径的测量造成了影响。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种深孔内径测量仪，以解决现有内径测量不便于测量深孔或同轴孔的问题。
为解决上述技术问题，本实用新型提供一种深孔内径测量仪，包括丝杆，设置在丝杆顶部的内径百分表，套设在丝杆上的三爪卡盘，以及设置在丝杆的底部的测量装置；测量装置包括U形支架，设置在U形支架的一端的测砧，以及设置在U形支架的另一端的微分测量头；U形支架通过第一连接杆固定在丝杆的底部，第一连接杆与U形支架螺纹连接。
进一步地，微分测量头通过第二连接杆固定在U形支架的一端，第二连接杆上设有连接衬套，微分测量头固定在连接衬套内。
进一步地，测砧通过第三连接杆固定在U形支架的另一端，第三连接杆上设有固定套筒，测砧固定在固定套筒内。
本实用新型的有益效果为：
1、通过设置三爪卡盘可使丝杆处于待测孔的轴线位置，提高了测量的精度。
2、通过设置U形支架，可用于测量同轴贯穿孔，增加了测量仪的适用范围。
3、使用过程中可根据待测孔径的大小，通过更换不同长度的微分测量头和测砧来满足要求，操作方便。
4、通过调节丝杆延伸的长度，测量不同深度的截面的内径值，操作方便。
附图说明
图1为本实用新型一个实施例的结构示意图；
图2为本实用新型一个实施例的测量装置的结构示意图。
其中：1、内径百分表；2、丝杆；3、三爪卡盘；4、第一连接杆；5、U形支架；51、螺纹孔；6、微分测量头；61、连接衬套；62、第二连接杆；7、测砧；71、固定套筒；72、第三连接杆。
具体实施方式
下面对本实用新型的具体实施方式进行描述，以便于本技术领域的技术人员理解本实用新型，但应该清楚，本实用新型不限于具体实施方式的范围，对本技术领域的普通技术人员来讲，只要各种变化在所附的权利要求限定和确定的本实用新型的精神和范围内，这些变化是显而易见的，一切利用本实用新型构思的发明创造均在保护之列。
如图1所示的深孔内径测量仪，包括丝杆2，设置在丝杆2顶部的内径百分表1，套设在丝杆2上的三爪卡盘3，以及设置在丝杆2的底部的测量装置。其中，如图2所示，测量装置包括U形支架5，设置在U形支架5的一端的测砧7，以及设置在U形支架5的另一端的微分测量头6。U形支架5通过第一连接杆4固定在丝杆2的底部，U形支架5的中部设有螺纹孔51，第一连接杆4与U形支架5螺纹连接，可便于拆卸。
微分测量头6通过第二连接杆62固定在U形支架5的一端，第二连接杆62上设有连接衬套61，微分测量头6固定在连接衬套61内。测砧7通过第三连接杆72固定在U形支架5的另一端，第三连接杆72上设有固定套筒71，测砧7固定在固定套筒71内。
使用过程中可根据待测孔径的大小，通过更换不同长度的微分测量头6和测砧7来满足要求，操作方便。然后手持尺架握柄部对被测量孔进行测量，将U形支架5绕过镗杆，使测砧7的上端面靠在被测量孔孔壁，通过调节另一头的微分测量头6测量被测量孔的孔径，进行读数即可。
Claims (3)
1.一种深孔内径测量仪，其特征在于，包括丝杆，设置在所述丝杆顶部的内径百分表，套设在所述丝杆上的三爪卡盘，以及设置在所述丝杆的底部的测量装置；所述测量装置包括U形支架，设置在所述U形支架的一端的测砧，以及设置在所述U形支架的另一端的微分测量头；所述U形支架通过第一连接杆固定在所述丝杆的底部，所述第一连接杆与所述U形支架螺纹连接。
2.根据权利要求1所述的深孔内径测量仪，其特征在于，所述微分测量头通过第二连接杆固定在所述U形支架的一端，所述第二连接杆上设有连接衬套，所述微分测量头固定在所述连接衬套内。
3.根据权利要求1所述的深孔内径测量仪，其特征在于，所述测砧通过第三连接杆固定在所述U形支架的另一端，所述第三连接杆上设有固定套筒，所述测砧固定在所述固定套筒内。
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2016
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