CN206223926U - 电路板 - Google Patents

Abstract

公开了一种电路板。所述电路板用于待测电路的测量，包括：基板，包括相对的第一表面和第二表面；引脚，所述引脚位于所述基板的所述第一表面上；以及导电连接结构，所述导电连接结构从所述基板的所述第一表面延伸至所述第二表面；其中，所述导电连接结构与所述引脚一一对应电连接。用测量仪器测量待测电路时，该导电连接结构与待测电路连接，电路板的引脚又与导电连接结构连通，测量仪器探针只需接触引脚即可实现对待测电路的测量，使得测量更方便。

Description

电路板

技术领域

本实用新型涉及电子测试领域，更具体地，涉及一种用于待测电路测量的电路板。

背景技术

液晶显示面板在制作过程中，通常需要进行多个检验程序，其中一步重要程序为点灯测试(Light-on Test),即对液晶显示面板输入测试信号，使其显示相关检测画面，观察其是否存在显示缺陷。目前工厂在进行大批量生产时，为节省成本、提高效率，多采用测架或点灯治具进行点灯测试。在点灯测试中，有时根据需要，会采用示波器等测量仪器对液晶显示面板内的集成在阵列基板上的栅极驱动(Gate In Array，GIA)电路进行时序测量。

图1示出在点灯测试中，液晶显示面板压合后，用示波器对液晶显示面板的GIA电路进行时序测量的立体图，图中仅示出结构关系，未按比例绘制。其中，液晶显示面板120内包括待测的GIA电路，在其上表面具有多个电路信号输入端，测架包括压合结构131，所述压合结构131的下方具有多个测架探针132，测架探针132的位置对应于上述GIA电路的多个信号输入端，液晶面板压合后，测架探针132与这些信号输入端对应接触从而对其输入测试信号，此时，要测量GIA电路的波形可以通过示波器包括的示波器探针140与测架探针132接触来进行。在上述现有的点灯测试中，测架探针132的布局很紧密，并且通常与压合装置结合在一起，压合后，所述压合结构131与所述液晶显示面板120之间的缝隙很小，为测架探针132留有的空间很有限，用示波器测量GIA电路波形时，示波器探针140与测架探针132的接触很不方便，甚至只能接触到压合结构131边缘的测架探针132而无法接触到边缘以内的测架探针132。并且测量过程必须在液晶显示面板120加上玻璃基板压合后才能测量GIA电路的波形，很不方便。

实用新型内容

鉴于上述问题，本实用新型的目的在于提供一种电路板，该电路板方便测量仪器对待测电路的测量。

根据本实用新型提供的一种电路板，用于配合测量仪器对待测电路进行测量，包括：

基板，包括相对的第一表面和第二表面；

引脚，所述引脚位于所述基板的所述第一表面上；

导电连接结构，所述导电连接结构从所述基板的所述第一表面延伸至所述第二表面；

其中，所述导电连接结构与所述引脚一一对应电连接。

优选地，所述导电连接结构的位置对应于待测电路的信号输入端的位置。

优选地，所述导电连接结构为导电柱。

优选地，所述导电柱的至少一端具有凸起。

优选地，所述导电连接结构分为至少两组，所述至少两组中的不同组导电连接结构的位置对应不同的待测电路的信号输入端的位置。

优选地，通过导线将所述导电连接结构串联连接至相对应的所述引脚。

优选地，所述多个引脚排列于所述基板的一端。

优选地，所述基板为透明板。

优选地，所述电路板还包括：

至少两个定位孔，所述定位孔位于所述基板内，用于固定所述电路板。

优选地，所述电路板还包括：

至少一个粘接区，所述粘接区位于所述基板表面，用于固定所述电路板。

根据本实用新型的电路板，其包括以下的有益效果：

1、导电连接结构与待测电路连接，电路板的引脚又与导电连接结构连通，测量仪器探针只需接触引脚即可实现对待测电路的测量，使得测量更方便。

2、导电连接结构的至少一端具有凸起，使得所述导电连接结构与待测电路能更好地接触。

3、将上述导电连接结构分组，使得所述电路板可以适应不同的待测电路，针对常用的几组待测电路仅需一个电路板即可方便实现测量。

4、透明的电路板以及在电路板上设置定位孔更方便其定位，使其更好地与待测电路接触。

附图说明

通过以下参照附图对本实用新型实施例的描述，本实用新型的上述以及其它目的、特征和优点将更为清楚，在附图中：

图1示出根据现有技术示波器对液晶显示面板内的电路进行测量的立体图。

图2a示出根据本实用新型第一实施例的电路板的俯视图。

图2b示出根据本实用新型第一实施例的电路板的局部截面图。

图2c示出利用本实用新型第一实施例的电路板对待测电路进行测量的立体图。

图2d至图2e示出根据本实用新型第一实施例中的电路板对待测电路进行测量的立体分解图。

图3a示出根据本实用新型第二实施例的电路板的俯视图。

图3b示出根据本实用新型第二实施例的电路板的局部截面图。

图4a示出根据本实用新型第三实施例的电路板的俯视图。

图4b示出根据本实用新型第三实施例的电路板的局部截面图。

具体实施方式

以下将参照附图更详细地描述本实用新型。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。此外，可能未示出某些公知的部分。在下文中描述了本实用新型的许多特定的细节，但正如本领域的技术人员能够理解的那样，可以不按照这些特定的细节来实现本实用新型。

应当理解，在描述器件的结构时，当将一层、一个区域称为位于另一层、另一个区域“上面”或“上方”时，可以指直接位于另一层、另一个区域上面，或者在其与另一层、另一个区域之间还包含其它的层或区域。并且，如果将器件翻转，该一层、一个区域将位于另一层、另一个区域“下面”或“下方”。

如果为了描述直接位于另一层、另一个区域上面的情形，本文将采用“A直接在B上面”或“A在B上面并与之邻接”的表述方式。在本申请中，“A直接位于B中”表示A位于B中，并且A与B直接邻接。

本实用新型提供了一种电路板，其包括：基板、多个引脚以及多个导电连接结构。其中，所述基板包括相对的第一表面和第二表面；所述引脚位于所述基板的所述第一表面上；所述导电连接结构从所述基板的所述第一表面延伸至所述第二表面；所述导电连接结构中与所述引脚一一对应电连接。所述导电连接结构连接待测电路，而所述电路板的引脚又与所述导电连接结构连通，因此测量仪器探针只需接触所述引脚即可实现对待测电路的测量，使得测量更方便。

下面结合附图2a至图4b具体说明本实用新型的电路板的实施例，其中测量仪器以示波器为例进行说明，可以理解的是，需要对待测电路作其它电学测量时，所述测量仪器也可以是其它包括探针的测量仪器，图中为了清楚示出结构关系及原理，未按比例绘制。

图2a和图2b示出根据本实用新型第一实施例的电路板的俯视图和局部截面图，其中A-A′线示出局部截面图的截取位置。本实施例中的电路板210包括：基板211，所述基板211包括相对的第一表面2111和第二表面2112；多个引脚212，所述引脚212位于所述基板211的第一表面2111上；以及多个导电连接结构213，所述导电连接结构213从所述基板211的所述第一表面2111延伸至所述第二表面2112；其中，所述导电连接结构213中与所述引脚212一一对应通过导线214电连接。所述导电连接结构213的位置和数量对应于待测电路的信号输入端的位置和数量，俯视图中取所述电路板210包括的多个导电连接结构213的一部分示出。

基板211以及导线214的材料可以是本领域公知的印刷电路板(Printed CircuitBoard，PCB)的常用材料，导电连接结构213可以用金属、导电硅胶、导电塑胶等材料制成。

本实施的基板211为一矩形板。所述导电连接结构213为从所述基板211的第一表面2111延伸至第二表面2112的导电柱，所述导电柱包括延伸至所述基板211第一表面2111的第一端和延伸至所述基板211第二表面2112的第二端。所述多个引脚212排列于所述基板211的一端，并且所述多个导电连接结构213的间距大于所述多个引脚212的间距，从而方便示波器探针依次与所述多个引脚212接触。可以理解的是，所述导电连接结构213不限于导电柱，可以是其它从所述基板211的第一表面2111延伸至第二表面2112的导电结构，例如，导电过孔，或者分别位于所述第一表面2111和所述第二表面2112并相互电连接的焊盘等。

图2c至图2e示出利用本实用新型第一实施例的电路板210对待测电路进行测量的立体图以及多角度的立体分解图，其中为清楚示出结构在图2d及图2e中将各部分适当分离绘示。待测板220内部具有待测电路，例如，所述待测板220为液晶显示面板，其待测电路例如是GIA电路，在所述待测板220一边的边缘处的上表面具有待测电路的多个信号输入端221，当对其进行测试时，将其置于测试治具上，所述测试治具又包括底座233及压合结构231，所述压合结构231下方布置多个测架探针232。与图1现有的测量方式不同的是，所述测架探针232不与所述待测电路的信号输入端221直接接触，而是通过本实施例中电路板210包括的导电连接结构213电连接，即，将所述电路板210固定在所述底座233上，所述待测板220置于所述底座233上，其中所述电路板210位于所述压合结构231与所述待测板220之间，所述导电连接结构213第一端与所述测架探针232直接接触，所述导电连接结构213第二端与所述信号输入端221直接接触，其中，多个测架探针232、多个导电连接结构213、多个信号输入端221以及多个引脚212均一一对应，使得全部信号输入端221中的每一个都能与一个对应的所述引脚212电连接，此时，只需要示波器探针(未绘示)与所述引脚212接触即可实现对对应的待测电路的波形测量。

上述实施例中，所述基板211为非透明板，在替代的实施例中，所述基板211为透明板，使得所述导电连接结构213更方便与所述信号输入端221进行对位接触。

本实施例中，所述电路板210的宽度大于所述待测板220的宽度，所述电路板210还包括至少一个粘接区，所述粘接区位于所述基板211表面，用于固定所述电路板210。如图2d及图2e，所述电路板210包括两个第一粘接区215，所述两个第一粘接区215对称分布在所述电路板210的下表面2112，所述测试治具的所述底座233的上表面设有与所述第一粘接区215位置对应的第二粘接区234，通过所述第一粘接区215与所述第二粘接区234的粘接，可以使得所述电路板210固定在所述测试治具的底座233上。可以理解的是，所述电路板210与所述测试治具的固定方式不限于上述形式，例如在另一替代的实施例中，所述电路板210还包括至少两个定位孔，相应地，所述测试治具包括的底座233上在所述定位孔相应位置处具有用于定位的开孔或凹槽，进行测试时，使用定位销将所述电路板210固定在所述测试治具的底座233上，使得所述电路板210的位置更稳定。

图3a和图3b示出根据本实用新型第二实施例的电路板的俯视图和局部截面图，其中B-B′线示出局部截面图的截取位置。电路板310包括：基板311、多个引脚312、多个导电连接结构313以及用于电连接通所述引脚312和所述导电连接结构313的导线314。俯视图中取所述电路板310包括的多个导电连接结构313的一部分示出。

下面仅说明本实用新型第二实施例与第一实施例的不同之处，相同之处不赘述。

如图3b，所述导电连接结构313为从所述基板311的第一表面3111延伸至第二表面3112的导电柱，并且，所述导电柱延伸至所述第二表面3112的一端具有圆弧状凸起，使得所述导电柱与待测电路的信号输入端可以更好地接触。可以理解的是，所述导电柱延伸至所述第一表面3111的一端也可以具有凸起，并且其形状不限于圆弧状，所述导电柱的两端是否设置凸起以及凸起的形状可以根据待测电路信号输入端的形态作相应的设置。

图4a和图4b示出根据本实用新型第三实施例的电路板的俯视图和局部截面图，其中C-C′线示出局部截面图的截取位置。电路板410包括：基板411、多个引脚412、多个导电连接结构413以及用于电连接通所述引脚412和所述导电连接结构413的导线414。俯视图中取所述电路板410包括的多个导电连接结构413的一部分示出。

下面仅说明本实用新型第三实施例与第二实施例的不同之处，相同之处不赘述。

其中，所述导电连接结构413分为两组，第一组包括多个第一子导电连接结构4131，第二组包括多个第二子导电连接结构4132，所述第一子导电连接结构4131的位置和形状对应第一待测电路的信号输入端的位置和形状，所述第二子导电连接结构4131的位置和形状对应第二待测电路的信号输入端的位置和形状。所述引脚412与所述第一子导电连接结构4131、所述第二子导电连接结构4132通过所述导线414串联。当所述电路板410用于测量第一待测电路的波形时，将所述第一子导电连接结构4131与第一待测电路的信号输入端对应接触，示波器探针与所述引脚412接触从而与所述第一子导电连接结构4131电连接，进而实现对所述第一待测电路的测量；当所述电路板410用于测量第二待测电路的波形时，将所述第二子导电连接结构4131与第二待测电路的信号输入端对应接触，示波器探针与所述引脚412接触从而与所述第二子导电连接结构4132电连接，进而实现对所述第二待测电路的测量。可以理解的是，所述导电连接结构413的分组不限于两组，可以根据不同的待测电路分出对应数量的分组，并且，所述第一待测电路和所述第二待测电路可以位于同一待测板上，也可以分别位于不同的待测板上，另外，对待测电路的测量也不限于采用示波器测量其波形，也可以采用其它包括探针的测量仪器对待测电路作其它电学测量。

应当说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

依照本实用新型的实施例如上文所述，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该实用新型仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本实用新型的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本实用新型以及在本实用新型基础上的修改使用。本实用新型仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (10)

1.一种电路板，用于配合测量仪器对待测电路进行测量，其特征在于，包括：

基板，包括相对的第一表面和第二表面；

引脚，所述引脚位于所述基板的所述第一表面上；以及

导电连接结构，所述导电连接结构从所述基板的所述第一表面延伸至所述第二表面；

其中，所述导电连接结构与所述引脚一一对应电连接。

2.根据权利要求1所述的电路板，其特征在于，所述导电连接结构的位置对应于待测电路的信号输入端的位置。

3.根据权利要求1所述的电路板，其特征在于，所述导电连接结构为导电柱。

4.根据权利要求3所述的电路板，其特征在于，所述导电柱的至少一端具有凸起。

5.根据权利要求2所述的电路板，其特征在于，所述导电连接结构分为至少两组，所述至少两组中的不同组导电连接结构的位置对应不同的待测电路的信号输入端的位置。

6.根据权利要求5所述的电路板，其特征在于，通过导线将所述至少两组中的每组的导电连接结构串联连接至相对应的所述引脚。

7.根据权利要求1所述的电路板，其特征在于，所述引脚排列于所述基板的一端。

8.根据权利要求1所述的电路板，其特征在于，所述基板为透明板。

9.根据权利要求1所述的电路板，其特征在于，还包括：

至少两个定位孔，所述定位孔位于所述基板内，用于固定所述电路板。

10.根据权利要求1所述的电路板，其特征在于，还包括：

至少一个粘接区，所述粘接区位于所述基板表面，用于固定所述电路板。