CN206096371U - 薄膜按键寿命测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种薄膜按键寿命测试装置，它包括测试装置面板、控制电路，所述测试装置面板的一侧固定有带有支架底板的直线导轨组件支架，所述支架底板上固定有丝杆滑块直线导轨组件，所述测试装置面板的一侧上面粘贴有位于所述丝杆滑块直线导轨组件下方、设有至少一个薄膜按键的薄膜键盘，所述测试装置面板的另一侧上面设有液晶显示触摸屏。本实用新型具有能快速检测薄膜按键寿命、结构简单、可靠性高、便于操作、成本低廉等特点。

Description

薄膜按键寿命测试装置

技术领域

本实用新型属于开关使用寿命测试技术领域，特别涉及一种薄膜按键寿命测试装置。

背景技术

薄膜按健是一块带触点的PET薄片，用在PCB、FPC等线路板上作为开关使用，在使用者与仪器之间起到一个重要的触感型开关的作用。与传统的硅胶按键相比，薄膜按键具有更好的手感、更长的寿命，可以间接地提高使用导电膜的各类型开关的生产效率。薄膜按键以成本低、工艺简单和手感好等优势占有着绝大部分市场，日常生活中所使用的键盘基本都是薄膜按键，而且薄膜按键的生产成本大概与传统的硅胶按键的生产成本差不多。主要用于手机、网络电话、各类遥控器、MP3/MP4、收音机、数码相机、学习机、游戏控制键盘、微波炉、汽车仪表板、望远镜、玩具等。同以前使用的聚酯薄膜开关相比较，它具有更好的手感、更长的使用寿命。

理论上讲薄膜按键使用寿命大约是在100万次以上，但是，因不同材料、使用环境、用户操作等因素寿命往往达不到额定寿命，同类产品之间寿命差别也巨大。因此，有必要测试薄膜按键的使用寿命，但按键次数达几十万次很难靠人工做到，目前也没有合适的测试装置。

发明内容

本实用新型的目的在于克服上述不足，提供一种能快速检测薄膜按键寿命、结构简单、可靠性高、便于操作、成本低廉的薄膜按键寿命测试装置。

为了实现上述目的，本实用新型采取了如下技术方案。

本实用新型薄膜按键寿命测试装置包括测试装置面板、控制电路，所述测试装置面板的一侧固定有带有支架底板的直线导轨组件支架，所述支架底板上固定有丝杆滑块直线导轨组件，所述测试装置面板的一侧上面粘贴有位于所述丝杆滑块直线导轨组件下方、设有至少一个薄膜按键的薄膜键盘，所述测试装置面板的另一侧上面设有液晶显示触摸屏。

所述丝杆滑块直线导轨组件包括步进电机、连接在所述步进电机上的丝杆、设置在所述丝杆上的滑块，所述丝杆的一侧设有滑动杆。

所述滑块上固定有圆形橡皮。

所述控制电路由单片机、步进电机驱动电路、液晶显示触摸屏及电源组成，所述单片机与带有薄膜按键的薄膜键盘的一端连接，所述薄膜键盘的另一端接地。

本实用新型薄膜按键寿命测试装置能快速检测薄膜按键寿命，具有结构简单、可靠性高、操作简单、成本低等有益效果，适用于各种薄膜按键及触摸屏的使用寿命检测，可作为薄膜按键产品质量的监督手段。

附图说明

图1是本实用新型薄膜按键寿命测试装置的结构示意图。

图2是本实用新型薄膜按键寿命测试装置的控制电路组成框图。

图中 1. 测试装置面板，2. 液晶显示触摸屏，3.直线导轨组件支架 4. 丝杆，5. 组件支架底板，6.丝杆滑块直线导轨组件，7.固定螺丝，8.步进电机， 9.滑动杆，10.薄膜按键，11.橡皮，12.滑块。

具体实施方式

如图1和图2所示，本实用新型薄膜按键寿命测试装置包括测试装置面板1和控制电路。所述测试装置面板1的一侧固定有带有支架底板5的直线导轨组件支架3，所述支架底板5上通过固定螺丝7固定有丝杆滑块直线导轨组件6。所述丝杆滑块直线导轨组件6包括步进电机8、连接在所述步进电机8上的丝杆4、设置在所述丝杆4上的滑块12，所述滑块12上用夹子固定有圆形橡皮11，调整后使橡皮11与薄膜键盘间的距离保持为2mm，丝杆4的最佳尺寸为直径3mm、螺距3mm。所述丝杆4的一侧设有滑动杆9，丝杆4的顶端和滑动杆9的两端均用支架固定。所述测试装置面板1的一侧上面粘贴有位于所述丝杆滑块直线导轨组件6下方、设有至少一个薄膜按键10的薄膜键盘，所述测试装置面板1的另一侧上面设有液晶显示触摸屏2。所述控制电路由单片机、步进电机驱动电路、液晶显示触摸屏2及电源组成。所述薄膜键盘的一端接地，另一端与单片机连接，并通过电阻连接电源，单片机P1.0口连接驱动电路脉冲输入端，P1.0口连接驱动电路方向控制端。步进电机优选直径为10mm的二相四线制电机。

本实用新型的工作原理是：

当步进电机8正转时，丝杆4使滑块12向下移动按压薄膜按键10，当步进电机8反转时，丝杆4使滑块12向上移动，橡皮11释放薄膜按键10。橡皮11按压薄膜按键时间为一般0.2秒左右，按压检测周期为1秒。每次按压薄膜按键10时，薄膜键盘导通，单片机外部中断输入口（INT0）产生低电平，申请外部中断，中断服务程序里计数按压次数。如果按压薄膜按键10时不产生低电平，则断定薄膜键盘失效，报警并显示和记录失效次数及按压次数，连续两次以上失效，则停止测试，并报警，测试结束。单片机通过液晶显示触摸屏可输入薄膜按键10的按压时间和测试周期，并显示按压次数、失效次数等。单片机产生步进电机旋转方向控制信号和驱动脉冲，通过驱动电路驱动步进电机。

具体使用时，通过液晶显示触摸屏输入薄膜按键按压时间和测试周期，把薄膜键盘用不干胶双面胶带粘贴在橡皮11下方的测试装置面板1上，启动测试。通过液晶显示触摸屏2可观察按键次数，不导通次数及时间，连续两次以上不导通停止测试，并报警。

Claims (4)

1.一种薄膜按键寿命测试装置，其特征在于：包括测试装置面板（1）、控制电路，所述测试装置面板（1）的一侧固定有带有支架底板（5）的直线导轨组件支架（3），所述支架底板（5）上固定有丝杆滑块直线导轨组件（6），所述测试装置面板（1）的一侧上面粘贴有位于所述丝杆滑块直线导轨组件（6）下方、设有至少一个薄膜按键（10）的薄膜键盘，所述测试装置面板（1）的另一侧上面设有液晶显示触摸屏（2）。

2.根据权利要求1所述的薄膜按键寿命测试装置，其特征在于：所述丝杆滑块直线导轨组件（6）包括步进电机（8）、连接在所述步进电机（8）上的丝杆（4）、设置在所述丝杆（4）上的滑块（12），所述丝杆（4）的一侧设有滑动杆（9）。

3.根据权利要求2所述的薄膜按键寿命测试装置，其特征在于：所述滑块（12）上固定有圆形橡皮（11）。

4.根据权利要求1所述的薄膜按键寿命测试装置，其特征在于：所述控制电路由单片机、步进电机驱动电路、液晶显示触摸屏（2）及电源组成，所述单片机与带有薄膜按键（10）的薄膜键盘的一端连接，所述薄膜键盘的另一端接地。