CN202433472U - 用于电容屏功能片ito导通率测试的测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及触控屏的生产辅助用具。本实用新型的用于电容屏功能片ITO导通率测试的测试治具，具体是：在基台上形成可容置一片电容屏功能片的第一凹陷腔,第一凹陷腔的腔形和腔深与电容屏功能片的厚度和形状相当，基台在对应于电容屏功能片的邦定区的位置还形成一个尺寸略大于该电容屏功能片邦定边长度的第二凹陷腔,第二凹陷腔内固定一缓冲垫,在基台上位于第二凹陷腔一侧还设置一个带有手把和押头的夹具,以便测试时压紧电容屏功能片的邦定区；在邦定区的正面安置测试主板,测试主板的一端连接着FPC,该FPC用固定于上述缓冲垫上,主板的另一端设置有数据接口,通过数据线连接到测试的电脑。本实用新型用于对电容屏功能片的ITO导通率进行测试。
Description
技术领域
本实用新型涉及触控屏的生产辅助用具，尤其涉及触摸屏生产中的对电容屏功能片的ITO导通率进行测试的测试治具。
背景技术
触控屏（Touch panel）又称为触控面板，是个可接收触头等输入讯号的感应式液晶显示装置，当接触了屏幕上的图形按钮时，屏幕上的触觉反馈系统可根据预先编程的程式驱动各种连结装置，可用以取代机械式的按钮面板，并借由液晶显示画面制造出生动的影音效果。
在触控屏生产过程中，用功能测试机来对电容屏功能片（Sensor）的开、短路作测试，即对其ITO导通率进行测试，主要依靠测试机上的顶针与电容屏功能片的邦定区的金手指接触，通入电流使电容屏功能片的开、短路信号经主板程序显示于电脑上。然而这种功能测试机制作成本高、故障率高、自动押头及顶针的损坏占主要故障；且不易维修，从而造成产品整体的制造成本加大。
实用新型内容
因此，本实用新型提出一种低成本、制作简单、易于维护的测试治具来用于电容屏功能片ITO导通率测试,以此取代了原来的功能测试机。
本实用新型的技术方案是：
用于电容屏功能片ITO导通率测试的测试治具，具体是：在基台上形成可容置一片电容屏功能片的第一凹陷腔, 第一凹陷腔的腔形和腔深与电容屏功能片的厚度和形状相当，基台在对应于电容屏功能片的邦定区的位置还形成一个尺寸略大于该电容屏功能片邦定边长度的第二凹陷腔, 第二凹陷腔内固定一缓冲垫,在基台上位于第二凹陷腔一侧还设置一个带有手把和押头的夹具,以便测试时压紧电容屏功能片的邦定区；在邦定区的正面安置测试主板, 测试主板的一端连接着FPC,该FPC用固定于上述缓冲垫上, 主板的另一端设置有数据接口,通过数据线连接到测试的电脑。
进一步的，所述的第一凹陷腔周边还设有与之相通的复数个第三凹陷槽，且第三凹陷槽设置于不干涉电容屏功能片的邦定区的位置处。第三凹陷槽的设置是为了方便测试人员的手指抓取和放置被测试的电容屏功能片。
进一步的，所述的第二凹陷腔内固定的缓冲垫高度略高于第一凹陷腔的腔底面，可以使电容屏功能片的邦定区能与缓冲垫上的FPC更好的接触。
进一步的，在基台上对应所述的FPC位置还形成一个与第一凹陷腔相通的第四凹陷腔，以便测试时能给夹具的压头留下空间。
进一步的，所述的基台四个角位置各设置一个通孔，以螺丝将其固定于工作台面上，方便测试操作。
本实用新型采用如上技术方案，克服了原来触摸屏生产中的测试机制作成本高、故障率高、不易维修等问题，提出了一种可以低成本、制作简单、易于维护的电容屏功能片ITO导通率测试治具。本实用新型的用于电容屏功能片ITO导通率测试的测试治具具有制作成本低、制作与操作简单、便于维护及方便移动运输的优点。
附图说明
图1是本实用新型实施例的结构示意图。
具体实施方式
现结合附图和具体实施方式对本实用新型进一步说明。
参阅图1所示，本实用新型实施例的用于电容屏功能片ITO导通率测试的测试治具，具体是：在基台1上形成可容置一片电容屏功能片的第一凹陷腔8, 第一凹陷腔8的腔形和腔深与电容屏功能片的厚度和形状相当。第一凹陷腔8用于放置待测试的电容屏功能片。优选的，在第一凹陷腔8 周边还设有与之相通的3个第三凹陷槽10，且第三凹陷槽10设置于不干涉电容屏功能片的邦定区的位置处，分别设置于非绑定区的其他的3个边。第三凹陷槽10的设置是为了方便测试人员的手指抓取和放置被测试的电容屏功能片。基台1在对应于电容屏功能片的邦定区的位置还形成一个尺寸略大于该电容屏功能片邦定边长度的第二凹陷腔9, 第二凹陷腔9内固定一缓冲垫2,在基台1上位于第二凹陷腔9一侧还设置一个带有手把5和押头6的夹具,以便测试时压紧电容屏功能片的邦定区。优选的，第二凹陷腔9内固定的缓冲垫2高度略高于第一凹陷腔8的腔底面，可以使电容屏功能片的邦定区能与缓冲垫上的FPC更好的接触。在邦定区的正面安置测试主板4, 测试主板4的一端连接着FPC3,该FPC3用固定于上述缓冲垫2上, 主板4的另一端设置有数据接口,通过数据线连接到测试的电脑，即可通过该测试治具和电脑赖实现电容屏功能片ITO导通率测试。优选的，在基台1上对应所述的FPC位置还形成一个与第一凹陷腔8相通的第四凹陷腔11，以便测试时能给夹具的压头留下空间。所述的基台1四个角位置各设置一个通孔7,以螺丝将其固定于工作台面上，方便测试操作。
尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本实用新型，但所属领域的技术人员应该明白，在不脱离所附权利要求书所限定的本实用新型的精神和范围内，在形式上和细节上可以对本实用新型做出各种变化，均为本实用新型的保护范围。
Claims (5)
1.用于电容屏功能片ITO导通率测试的测试治具，其特征在于：在基台(1)上形成可容置一片电容屏功能片的第一凹陷腔(8), 第一凹陷腔(8)的腔形和腔深与电容屏功能片的厚度和形状相当，基台(1)在对应于电容屏功能片的邦定区的位置还形成一个尺寸略大于该电容屏功能片邦定边长度的第二凹陷腔(9), 第二凹陷腔(9)内固定一缓冲垫(2),在基台(1)上位于第二凹陷腔(9)一侧还设置一个带有手把(5)和押头(6)的夹具,以便测试时压紧电容屏功能片的邦定区；在邦定区的正面安置测试主板(4), 测试主板(4)的一端连接着FPC(3),该FPC(3)用固定于上述缓冲垫(2)上, 主板(4)的另一端设置有数据接口,通过数据线连接到测试的电脑。
2.根据权利要求1所述的用于电容屏功能片ITO导通率测试的测试治具，其特征在于：所述的第一凹陷腔(8)周边还设有与之相通的复数个第三凹陷槽(10)，且第三凹陷槽(10)设置于不干涉电容屏功能片的邦定区的位置处。
3.根据权利要求1所述的用于电容屏功能片ITO导通率测试的测试治具，其特征在于：所述的第二凹陷腔(9)内固定的缓冲垫(2)高度略高于第一凹陷腔(8)的腔底面。
4.根据权利要求1所述的用于电容屏功能片ITO导通率测试的测试治具，其特征在于：在基台(1)上对应所述的FPC位置还形成一个与第一凹陷腔(8)相通的第四凹陷腔(11)。
5.根据权利要求1所述的用于电容屏功能片ITO导通率测试的测试治具，其特征在于：所述的基台(1)四个角位置各设置一个通孔(7),以螺丝将其固定于工作台面上。
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| CN102928675A (zh) * | 2012-11-19 | 2013-02-13 | 天津市中环高科技有限公司 | 一种电容式触摸屏屏蔽层的检测方法 |
| CN103472341A (zh) * | 2013-09-27 | 2013-12-25 | 无锡宇宁光电科技有限公司 | 一种检测电容屏中的柔性线路板和功能片的装置 |
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