CN205879073U - 劣弧半径测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种劣弧半径测量装置，包括校准块和与其配合使用的测量表体，所述校准块上设有与待检零部件的劣弧半径相等的圆弧面；所述测量表体包括左右长度可随配合使用的校准块进行长度调节的横支杆，所述横支杆的中部安装有与其垂直设置的千分表，所述千分表的测头伸向横支杆下方。所述横支杆包括固定杆，所述固定杆的两端分别安装有与相应校准块进行配合使用的调整块。该劣弧半径测量装置结构简单，使用方便，在生产现场便能对零部件进行检测，且针对不同半径规格的劣弧均可对其方便和准确的测量。

Description

劣弧半径测量装置

技术领域

本实用新型涉及一种劣弧半径测量装置。

背景技术

目前，企业在采购或生产零部件的过程中，经常需要对相应零部件的某些关键尺寸进行测量检验，从而判断该关键尺寸是否在其合格范围公差之内，但是，有的零部件上加工有劣弧的弧形面，即圆心角小于180度的弧形面，由于该弧形面不是一个完整的圆形孔面，因此不能用现有的测量工具检测其半径是否合格；目前的检测方法是将零部件拿取到三坐标测量机上进行扫描测量，该测量方法无法直接在生产现场进行使用，且三坐标扫描测量方法成本高，耗时长，不能满足生产节拍及降低成本的需要。因此，有必要设计一种结构简单，使用方便，可在生产现场便能快速检测零部件中劣弧半径的测量装置。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种结构简单，使用方便，在生产现场便能对零部件进行检测，且针对不同半径规格的劣弧均可方便测量的劣弧半径测量装置。

为解决上述技术问题，本实用新型包括校准块和与其配合使用的测量表体，所述校准块上设有与待检零部件的劣弧半径相等的圆弧面；所述测量表体包括左右长度可随配合使用的校准块进行长度调节的横支杆，所述横支杆的中部安装有与其垂直设置的千分表，所述千分表的测头伸向横支杆下方。

采用上述结构后，根据待检零部件中劣弧半径的不同，加工相应规格的校准块，并使相应校准块上的劣弧半径与相应待检零部件的理论劣弧半径尽可能相近，并通过测量工具测量出该校准块劣弧半径的最终尺寸R，此时将测量表体的横支杆调整至需要的长度并将其支撑在该校准块的圆弧面上，该横支杆的左右支撑长度即弦长L,其次，使千分表的测头与圆弧面接触并将千分表的显示数值调零，由公式,由于R和L均已知，因此即可得出H的数值，该H为校准块劣弧半径上的拱高；之后当需要测量待检零部件时，可直接将调零后的测量表体放置在待检零部件的圆弧面上，由于待检零部件的劣弧半径尺寸与校准块上的劣弧半径尺寸存在加工误差，因此接触待检零部件圆弧面的测头会上下伸缩一定距离，从而使千分表显示相应的数值A，该数值A即校准块圆弧面上的拱高与待检零部件圆弧面上拱高的差值，将该数值A重新带入上述公式中，即,R1即为待检零部件劣弧半径的实际尺寸；当然，为了可直接通过观察数值A的变化即可直接读出待检零部件的劣弧半径R1，可事先将不同的差值A所对应的劣弧半径R1整理至一个对照表格中，因此在检测现场可直接通过读取差值A,并查找对照表格中与差值A所对应的半径尺寸数值R1，即可立即获知待检零部件的劣弧半径。同理，当需要检测其他尺寸规格的待检零部件劣弧半径时，由于不同规格的待检零部件劣弧半径尺寸相差较大，因此按照上述方式再重新选择相对应的校准块和测量表体即可轻松测出；同时，为了提高测量表体的通用性，从而检测不同半径大小的圆弧面，测量表体的横支杆可随待检劣弧半径的增大而变长，该横支杆变长后可增大测头的上下伸缩范围，最终提高检测数值的精准度。

为了方便调整横支杆的长度及保持其长度尺寸有效固定，所述横支杆包括固定杆，所述固定杆的两端分别安装有与相应校准块进行配合使用的调整块。

为了方便安装调整块，所述调整块上设有安装孔，所述固定杆的左右端面上设有与安装孔位置相适应的螺纹孔，所述调整块通过穿过安装孔并螺装在螺纹孔中的锁紧螺栓将其与固定杆连接在一起。

为了提高调整块与固定杆之间的安装精度，所述调整块与固定杆之间设有定位装置。

所述定位装置包括设置在调整块上的主销孔和设置在固定杆左右端面上的副销孔，任一侧的主销孔与副销孔中插装有定位销。

所述调整块的端面形状呈矩形。

为了避免调整块与待检零部件长期摩擦后造成横支杆长度失准，所述调整块的外侧下边角部设有耐磨边角部。

所述耐磨边角部的材质采用钨钴合金。

为了使横支杆被平稳支撑在待检测圆弧面上，所述耐磨边角部的下侧外边角中部设有倒角段。

为了方便拆装横支杆与千分表，所述横支杆的中部设有竖直贯通的通孔，所述通孔中紧配有开口套，所述千分表的表杆插装在开口套中，所述横支杆一侧螺装有顶紧开口套从而夹紧表杆的顶紧螺栓。

综上所述，本实用新型结构简单，使用方便，在生产现场便能对零部件进行检测，且针对不同半径规格的劣弧均可对其方便和准确的测量。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细说明：

图1为本实用新型中测量表体的主视结构示意图；

图2为沿图1中A向的剖视放大结构示意图；

图3为沿图1中A向的局部放大结构示意图；

图4为图1的俯视结构示意图；

图5为本实用新型中校准块的主视结构示意图；

图6为本实用新型中的测量表体在校准块上进行校准的工作示意图。

具体实施方式

参照附图，该劣弧半径测量装置包括校准块1和与其配合使用的测量表体2，如图1和图6所示，该校准块1根据待检零部件劣弧半径的规格不同而进行相应设计，校准块1优选由金属材料制成，校准块1上设有圆弧面，该圆弧面的半径R与相应的待检零部件的理论劣弧半径尽可能相近，优选与待检零部件的劣弧半径相等；继续参照附图，该测量表体2包括左右长度可随配合使用的校准块1进行长度调节的横支杆3，横支杆3的中部安装有与其垂直设置的千分表4，该千分表4为现有技术，在此不再详述，本实用新型中的千分表4优选电子显示千分表4；为了方便拆装横支杆3与千分表4，如图1和图2所示，横支杆3的中部设有竖直贯通的通孔，通孔中紧配有开口套10，千分表4的表杆插装在开口套10中，千分表4的测头伸向横支杆3下方，横支杆3一侧螺装有顶紧开口套10从而夹紧表杆的顶紧螺栓11。

为了充分了解本实用新型的工作原理，现进行如下描述，如图6所示，本实用新型中的校准块1及测量表体2在加工完成之后需要先进行前期计算校准工作，即先通过测量器具对校准块1上的劣弧半径进行测量，得到半径R,之后将测量表体2的横支杆3调整至需要的固定长度并将其平稳支撑在该校准块1的圆弧面上，该横支杆3的固定长度即弦长L,其次，使千分表4的测头与圆弧面接触并将千分表4的显示数值调零，之后再运算公式,由于R和L均已知，因此即可得出H的数值，该H即为横支杆3与圆弧面之间的拱高，上述即为前期计算校准工作；之后，当需要测量待检零部件时，可直接将调零后的测量表体2平稳支撑在待检零部件的圆弧面上，由于待检零部件的劣弧半径尺寸与校准块1上的劣弧半径尺寸存在加工误差，因此接触待检零部件圆弧面的测头会上下移动，从而使千分表4显示相应的数值A，该数值A即校准块1圆弧面上的拱高与待检零部件圆弧面上拱高的差值，将该数值A重新带入上述公式中，即,R1即为待检零部件劣弧半径的实际尺寸，此时该待检零部件的劣弧半径最终测量完毕，之后可将归零后的测量表体2重新放置到下一个待检零部件的圆弧面上，重新获取数值A，从而得出下一个待检零部件的劣弧半径，上述即为本实用新型测量的使用方法和工作原理。当然，为了可直接通过观察数值A的变化即可直接读出待检零部件劣弧半径R1，可事先将不同的差值A所对应的劣弧半径R1整理至一个对照表格中，因此在检测现场可直接通过读取差值A,并查找对照表格中与差值A所对应的尺寸数值R1，即可立即获知待检零部件的实际劣弧半径。同理，当需要检测其他尺寸规格的待检零部件劣弧半径时，需要重新制作相应规格的校准块，并根据需要重新调整横支杆3的支撑长度，继续按照上述方式即可对其他规格的待检零部件进行劣弧半径测量，如测量半径较大的劣弧半径时，先相应增大横支杆3的左右支撑长度，该横支杆3变长后可增大测头的上下伸缩范围，从而提高数值A的变化范围，最终提高检测数值的精准度。

如图1和图3所示，为了方便调整横支杆3的长度及保持其长度尺寸有效固定，横支杆3包括固定杆5，固定杆5的两端分别安装有与相应校准块1进行配合使用的调整块6，即调整块的左右宽度随校准块上的劣弧半径大小而相应增大或缩小，即当需要调长横支杆的左右长度时，则在其两端安装较宽的调整块，该调整块6上设有安装孔，固定杆5的左右端面上设有与安装孔位置相适应的螺纹孔，调整块6通过穿过安装孔并螺装在螺纹孔中的锁紧螺栓7将其与固定杆5连接在一起，如图3所示，该锁紧螺栓7优选前后间隔设置的两个；当然，为了提高调整块6与固定杆5之间的安装精度，调整块6与固定杆5之间设有定位装置，该定位装置图中未示出，该定位装置可包括设置在调整块6上的主销孔和设置在固定杆5左右端面上的副销孔，任一侧的主销孔与副销孔中插装有定位销，通过定位销和锁紧螺栓可充分将调整块6与固定杆5进行精确连接。

如图1和图3所示，调整块6的端面形状呈矩形，并依靠调整块6的外侧下边角部充分支撑在待检零部件的圆弧面上，为了避免调整块6与待检零部件长期摩擦后造成横支杆长度失准，调整块6的外侧下边角处设有耐磨边角部8，该耐磨边角部8的材质优选耐磨性好的钨钴合金，并使其焊接在调整块6的外侧下边角处，当然，调整块6可也可以直接选用钨钴合金材质制成；其次，为了避免耐磨边角部8的整条边角与待检测圆弧面接触，从而使横支杆3被平稳支撑在待检测圆弧面上，耐磨边角部8的下侧外边角中部设有倒角段9。

综上所述，本实用新型不限于上述具体实施方式。本领域技术人员，在不脱离本实用新型的精神和范围的前提下，可做若干的更改和修饰。本实用新型的保护范围应以本实用新型的权利要求为准。

Claims (10)

1.一种劣弧半径测量装置，其特征在于：包括校准块（1）和与其配合使用的测量表体（2），所述校准块（1）上设有与待检零部件的劣弧半径相等的圆弧面；所述测量表体（2）包括左右长度可随配合使用的校准块（1）进行长度调节的横支杆（3），所述横支杆（3）的中部安装有与其垂直设置的千分表（4），所述千分表（4）的测头伸向横支杆（3）下方。

2.如权利要求1所述的劣弧半径测量装置，其特征在于:所述横支杆（3）包括固定杆（5），所述固定杆（5）的两端分别安装有与相应校准块（1）进行配合使用的调整块（6）。

3.如权利要求2所述的劣弧半径测量装置，其特征在于:所述调整块（6）上设有安装孔，所述固定杆（5）的左右端面上设有与安装孔位置相适应的螺纹孔，所述调整块（6）通过穿过安装孔并螺装在螺纹孔中的锁紧螺栓（7）将其与固定杆（5）连接在一起。

4.如权利要求3所述的劣弧半径测量装置，其特征在于:所述调整块（6）与固定杆（5）之间设有定位装置。

5.如权利要求4所述的劣弧半径测量装置，其特征在于:所述定位装置包括设置在调整块（6）上的主销孔和设置在固定杆（5）左右端面上的副销孔，任一侧的主销孔与副销孔中插装有定位销。

6.如权利要求2所述的劣弧半径测量装置，其特征在于:所述调整块（6）的端面形状呈矩形。

7.如权利要求6所述的劣弧半径测量装置，其特征在于:所述调整块（6）的外侧下边角处设有耐磨边角部（8）。

8.如权利要求7所述的劣弧半径测量装置，其特征在于:所述耐磨边角部（8）的材质采用钨钴合金。

9.如权利要求8所述的劣弧半径测量装置，其特征在于:所述耐磨边角部（8）的下侧外边角中部设有倒角段（9）。

10.如权利要求1-9任一所述的劣弧半径测量装置，其特征在于:所述横支杆（3）的中部设有竖直贯通的通孔，所述通孔中紧配有开口套（10），所述千分表（4）的表杆插装在开口套（10）中，所述横支杆（3）一侧螺装有顶紧开口套（10）从而夹紧表杆的顶紧螺栓（11）。