CN205642299U - 全自动键盘按键测高机 - Google Patents

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张华礼
黄兆元
张帆
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Abstract

本实用新型公开一种全自动键盘按键测高机，包括机台、X向驱动机构、Y向驱动机构、治具、支架、第一Z向驱动机构、第二Z向驱动机构、CCD检测装置、测高装置及控制系统，所述X向驱动机构设置于所述机台上，所述Y向驱动机构固定于所述X向驱动机构的输出端，所述治具固定于所述Y向驱动机构的输出端，所述支架与所述机台固定，所述第一Z向驱动机构及第二Z向驱动机构固定于所述支架上且位于所述治具的上方；所述CCD检测装置连接于所述第一Z向驱动机构的输出端，所述测高装置连接于所述第二Z向驱动机构的输出端。本实用新型全自动键盘按键测高机能对键盘按键进行自动测高、检测准确、效率高。

Description

全自动键盘按键测高机
技术领域
本实用新型涉及一种检测装置，尤其涉及一种全自动键盘按键测高机。
背景技术
在手机、电脑等电子设备的生产过程中，为了检查各个部件的装配是否符合要求，通常需要对电子设备进行检测。例如，在键盘的生产过程中，需要对键盘PCB板上的按键的焊接点高度(即弹片高度)进行检测，确保键盘按键的质量。
现有的键盘按键检测方式通常是手动检测或者镭身光扫描检测，手动检测是通过人工测量高度，通过计算高度差，并对比范围，从而判定产品是否需合要求；而镭射光扫描检测是通过镭射光一次扫过测高。然而，上述无论是手动检测或者是镭射光扫描检测，测量准确度都不够，而对工人的操作要求高，劳动强度大，测量效率低，不能满足生产的需要。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种对键盘按键进行自动测高、检测准确、效率高的全自动键盘按键测高机。
为了实现上述目的，本实用新型提供的全自动键盘按键测高机包括机台、X向驱动机构、Y向驱动机构、治具、支架、第一Z向驱动机构、第二Z向驱动机构、CCD检测装置、测高装置及控制系统，所述X向驱动机构设置于所述机台上，所述Y向驱动机构固定于所述X向驱动机构的输出端，所述治具固定于所述Y向驱动机构的输出端，所述支架与所述机台固定，所述第一Z向驱动机构及第二Z向驱动机构固定于所述支架上且位于所述治具的上方；所述CCD检测装置连接于所述第一Z向驱动机构的输出端，所述测高装置连接于所述第二Z向驱动机构的输出端；所述控制系统控制所述X向驱动机构、所述Y向驱动机构、所述第一Z向驱动机构、所述第二Z向驱动机构、所述CCD检测装置及所述测高装置的运作。
本实用新型通过设置所述X向驱动机构、Y向驱动机构，使治具固定于所述Y向驱动机构的输出端，从而可以使承载键盘按键的治具能进行X、Y向移动，实现测高前的位置的调整；又通过设置所述第一Z向驱动机构及第二Z向驱动机构，使所述CCD检测装置及所述测高装置分别连接于所述第一Z向驱动机构及第二Z向驱动机构上，从而通过所述CCD检测装置即可对所述治具的位置进行精确调整，并通过所述测高装置进行准确测高；整个设备均由所述控制系统自动控制，自动检测，因此，检测十分准确，检测效率高。
较佳地，所述全自动键盘按键测高机还包括真空系统，所述治具上设置若干真空吸盘，所述真空吸盘与所述真空系统连通。由于所述键盘按键为软板，直接放置于治具上时未必会完全贴合于治具内，从而会造成测量不准确，因此，通过设置所述真空吸盘，利用真空系统对所述键盘按键盘真空吸附，可以使所述键盘按键完全贴于所述治具上，保证在测量时的精准性。
较佳地，所述治具表面设有若干对键盘按键限位的限位块。所述限位块在放置键盘按键时能快速地对其进行定位，提高检测前的准备速度。
较佳地，所述治具表面设有若干对键盘按键定位的定位销。所述定位销在放置键盘按键时能快速地对其进行定位，提高检测前的准备速度。
较佳地，所述治具与所述Y向驱动机构的输出端之间连接有承载座。
附图说明
图1是本实用新型全自动键盘按键测高机的结构示意图。
图2是本实用新型全自动键盘按键测高机的主视图。
图3是本实用新型全自动键盘按键测高机的治具的结构图。
图4是本实用新型全自动键盘按键测高机的治具的侧视图。
具体实施方式
为详细说明本实用新型的技术内容、构造特征、所实现的效果，以下结合实施方式并配合附图详予说明。
如图1、图2所示，本实用新型全自动键盘按键测高机100包括机台1、X向驱动机构2、Y向驱动机构3、治具4、支架5、第一Z向驱动机构6、第二Z向驱动机构7、CCD检测装置8、测高装置9及控制系统(图中未示)；所述X向驱动机构2设置于所述机台1上，所述Y向驱动机构3固定于所述X向驱动机构2的输出端，所述治具4固定于所述Y向驱动机构3的输出端，所述治具4与所述Y向驱动机构3的输出端之间连接有承载座10。所述X向驱动机构2及所述Y向驱动机构3为丝螺螺母机构，并通过电机驱动。所述支架5与所述机台1固定，所述第一Z向驱动机构6及第二Z向驱动机构7固定于所述支架5上且位于所述治具4的上方；所述CCD检测装置8连接于所述第一Z向驱动机构6的输出端，所述测高装置9连接于所述第二Z向驱动机构7的输出端；所述所述第一Z向驱动机构6及第二Z向驱动机构7可以是丝杆螺母机构，也可以是气缸。所述控制系统控制所述X向驱动机构2、所述Y向驱动机构3、所述第一Z向驱动机构6、所述第二Z向驱动机构7、所述CCD检测装置8及所述测高装置9的运作。
请参阅图3，所述全自动键盘按键测高机100还包括真空系统，所述治具4上设置若干真空吸盘(图中未示)，所述真空吸盘与所述真空系统连通。由于所述键盘按键200为软板，直接放置于治具4上时未必会完全贴合于治具4内，从而会造成测量不准确，因此，通过设置所述真空吸盘，利用真空系统对所述键盘按键200盘真空吸附，可以使所述键盘按键200完全贴于所述治具4上，保证在测量时的精准性。
再请参阅图3及图4，所述治具4表面设有若干对键盘按键200限位的限位块41及定位销42。所述限位块41在放置键盘按键200时能快速地对其进行定位，提高检测前的准备速度。同样，所述定位销42在放置键盘按键200时能快速地对其进行定位，提高检测前的准备速度。
工作时，将所述键盘按键200放置于所述治具4上，使所述定位销42插于所述键盘按键200的定位孔中；然后，启动所述真空系统，通过所述真空吸盘将所述键盘按键200吸合于治具4上。之后，在所述CCD检测装置8及控制系统的控制下，通过所述X向驱动机构2及Y向驱动机构3对所述治具4进行X向、Y向的位置调整，使键盘按键200需要检测的位置位于所述测高装置9的正下方，然后，在所述第二Z向驱动机构7的驱动下，所述测高装置9向下移动靠近直到其探针抵触于键盘按键200上进行测量，通过所述治具4的基准高度与测量的数据进行计算，从而得到所述键盘按键200的高度H。
本实用新型通过设置所述X向驱动机构2、Y向驱动机构3，使治具4固定于所述Y向驱动机构3的输出端，从而可以使承载键盘按键200的治具4能进行X、Y向移动，实现测高前的位置的调整；又通过设置所述第一Z向驱动机构6及第二Z向驱动机构7，使所述CCD检测装置8及所述测高装置9分别连接于所述第一Z向驱动机构6及第二Z向驱动机构7上，从而通过所述CCD检测装置8即可对所述治具4的位置进行精确调整，并通过所述测高装置9进行准确测高；整个设备均由所述控制系统自动控制，自动检测，因此，检测十分准确，检测效率高。
本实用新型全自动键盘按键测高机100所涉及到的控制系统的控制方法均为本领域普通技术人员所熟知，在此不再做详细的说明。
以上所揭露的仅为本实用新型的较佳实例而已，当然不能以此来限定本实用新型之权利范围，因此依本实用新型申请专利范围所作的等同变化，仍属于本实用新型所涵盖的范围。

Claims (5)

1.一种全自动键盘按键测高机，其特征在于：包括机台、X向驱动机构、Y向驱动机构、治具、支架、第一Z向驱动机构、第二Z向驱动机构、CCD检测装置、测高装置及控制系统，所述X向驱动机构设置于所述机台上，所述Y向驱动机构固定于所述X向驱动机构的输出端，所述治具固定于所述Y向驱动机构的输出端，所述支架与所述机台固定，所述第一Z向驱动机构及第二Z向驱动机构固定于所述支架上且位于所述治具的上方；所述CCD检测装置连接于所述第一Z向驱动机构的输出端，所述测高装置连接于所述第二Z向驱动机构的输出端；所述控制系统控制所述X向驱动机构、所述Y向驱动机构、所述第一Z向驱动机构、所述第二Z向驱动机构、所述CCD检测装置及所述测高装置的运作。
2.如权利要求1所述的全自动键盘按键测高机，其特征在于：所述全自动键盘按键测高机还包括真空系统，所述治具上设置若干真空吸盘，所述真空吸盘与所述真空系统连通。
3.如权利要求1所述的全自动键盘按键测高机，其特征在于：所述治具表面设有若干对键盘按键限位的限位块。
4.如权利要求1所述的全自动键盘按键测高机，其特征在于：所述治具表面设有若干对键盘按键定位的定位销。
5.如权利要求1所述的全自动键盘按键测高机，其特征在于：所述治具与所述Y向驱动机构的输出端之间连接有承载座。
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