CN205581126U - 用于夹杂物分析的多试样样品台 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种用于夹杂物分析的多试样样品台，其特征在于，所述样品台包括支架组件和底座组件，所述支架组件设置在底座组件上，所述支架组件包括支架本体，所述支架本体上设置有长条形薄片，所述长条形薄片上设置有限位水平薄片，所述支架本体的底部设置有一个垂直定位长方体。该技术方案机械结构设计简单、加工方便、占用体积较小、便于装配，大大提高其检测效率。

Description

用于夹杂物分析的多试样样品台

技术领域

本实用新型涉及一种用于夹杂物分析的多试样样品台，属于ASPEX夹杂物自动分析仪设备技术领域。

背景技术

钢中夹杂物的存在对钢铁的性能有很大的影响。其危害性主要是它破坏了钢基体的均匀性，造成应力集中，致使产生裂纹，在一定条件下还可能加速裂纹的扩展，对钢的塑性、韧性和疲劳性能等都会产生危害作用。因此，分析研究并掌握钢中夹杂物的类型、分布、形态等，对提高钢铁性能有着重大的指导意义。夹杂物按尺寸可分为：超显微夹杂，均匀分布在钢中；显微夹杂，其尺寸小于 50μm，与钢中氧含量有关；宏观夹杂(大型夹杂)，尺寸大于 50μm，具有颗粒大、数量少、在钢中呈偶然性分布特点，对产品质量危害最大。

钢中夹杂物的分析鉴定是一项复杂的工作。它既需要对夹杂物进行定量分析，测量出其夹杂物总量、体积分数等，又需要在定量分析的基础上，对夹杂物的组成、结构、形态和分布等进行鉴定。通常，钢铁企业对钢中夹杂物的评价主要参照ASTM标准，采用光学显微镜检验钢中A、B、C、D和Ds类夹杂物。但这种方法检测的试样面积小、分析检验耗时很长，分析结果可信度却不高。为了全面表征铸坯的洁净度，Awajiya Y 针对超低碳钢，分别在铸坯内外弧沿宽度方向每隔1/8宽度取2个30mm×30mm的试样，共28个试样，检测总面积为25200mm²试样中的非金属夹杂物，以每平方厘米夹杂物的数量来判断铸坯的洁净度。这种判断铸坯洁净度的方法已经越来越多地被国内外先进钢铁企业接受并运用。

FEI等扫描电镜代表企业开发出了一种钢中夹杂物自动分析仪设备，该设备是在扫描电镜/能谱仪设备的基础上，进行重大改进，结合专业的金属夹杂物分析软件，能够自动、快速地获取钢中夹杂物的相关信息，最大能够分析80*100mm试样，最长可连续工作12个小时。该夹杂物自动分析仪设备的工作原理是，将需要扫描区域划分为无数个微小区域，对每个微小区域逐个进行像素粗扫描分析，如果扫描无夹杂物则移动到下一像素，如果扫描到夹杂物，则改变像素进行精确扫描，进行夹杂物能谱分析和尺寸测量，同时存储图像、夹杂物尺寸及能谱结果。该夹杂物检测结束后，继续移动到下一像素进行粗扫描。因此，在进行夹杂物自动分析时，需要将检测面加工成镜面，并要求试样检测面高度差小于±0.5mm，否则对检测结果和检测效率有很大影响。而通常钢样为不规则或多边形，无法满足检测面高度差的要求。所以我们在分析试样中的夹杂物时，需要将不规则或多边形钢样用镶嵌机镶嵌成圆柱状（通常镶嵌样的尺寸为Ø31.5mm）规则试样，然后利用磨样机将检测面打磨抛光，再放入扫描电镜内进行夹杂物分析。因为镶嵌时无法保证镶嵌样高度差完全一致，所以在进行夹杂物分析时，为了满足高度差小于±0.5mm的要求，一次只能分析一个试样，每次放样扫描电镜都需要重新抽真空，需要重新聚焦，选定扫描区域以及参数设定，整体检测时间较长，大大影响了检测效率。大块试样进行夹杂物分析时，通常需要将大块钢样切割成无数个小块试样，再镶嵌打磨抛光。如果不对大块试样分割，则需要购买专用制样磨样机，成本很高。

针对上述情况，需要开发一种试样台，既能够避免不规则试样需要镶嵌成规则试样，又能够实现多个试样同时分析的要求。检索扫描电镜样品台的相关专利发现，大多数样品台支架都用于扫描电镜、能谱分析用，对一个样品台上的各个样品表面高度差无严格要求。另外，普通扫描电镜、能谱仪样品室较小，样品台一般为圆形，无法满足大试样尺寸要求。因此，迫切的需要一种新的技术方案解决该技术问题。

发明内容

为了解决上述存在的问题，本实用新型公开了一种用于夹杂物分析的多试样样品台，该技术方案机械结构设计简单、加工方便、占用体积较小、便于装配，大大提高其检测效率。

为了实现上述目的，本实用新型的技术方案如下，一种用于夹杂物分析的多试样样品台，其特征在于，所述样品台包括支架组件和底座组件，所述支架组件设置在底座组件上。

作为本实用新型的一种改进，所述支架组件包括支架本体，所述支架本体上设置有长条形薄片，所述长条形薄片上设置有限位水平薄片，所述支架本体的底部设置有一个垂直定位长方体。

作为本实用新型的一种改进，所述底座组件包括底座本体，所述底座本体上设置有螺丝孔和长方形定位孔。

作为本实用新型的一种改进，所述长条形薄片的数量至少为4个。

作为本实用新型的一种改进，所述长条形薄片上的限位水平薄片在同一水平面上。

作为本实用新型的一种改进，所述长方形定位孔的长度和宽度与定位长方体的大小相同。

相对于现有技术，本实用新型的优点如下，整个技术方案设计巧妙，结构简单紧凑，该多试样样品台增加了一次性检测的试样数量，将ASPEX夹杂物自动分析仪一次性容纳的样品数量由1个增加到6个，有利于拓展ASPEX夹杂物自动分析仪对不同高度的样品同时分析的可能，同时不规则试样不需要镶嵌处理，大大节约了制样，检测时间，提高工作效率；整个样品台的成本较低，节约了成本，便于进一步的推广应用。

附图说明

图1、图2为本实用新型多试样样品支架示意图；

图3为本实用新型多试样样品台底座示意图；

图中：1、支架本体；2、调节螺丝；3、底座本体；4、定位孔，5、定位长方体，6、长条形薄片，7、限位水平薄片。

具体实施方式

为了加深对本实用新型的认识和理解，下面结合附图和具体实施方式，进一步阐明本实用新型。

实施例1：

参见图1、图2、图3，一种用于夹杂物分析的多试样样品台，所述样品台包括支架组件和底座组件，所述支架组件设置在底座组件上，所述支架组件包括支架本体1，所述支架本体1上设置有长条形薄片6，所述长条形薄片6上设置有限位水平薄片7，所述支架本体1的底部设置有一个垂直定位长方体5，所述底座组件包括底座本体3，所述底座本体3上设置有螺丝孔8和长方形定位孔9，所述长方形定位孔的长度和宽度与定位长方体的大小相同，该技术方案针对钢中夹杂物自动分析仪可以进行大试样、长时间连续检测分析特点，提供一种多试样样品台。即制取若干个小试样，使用本发明提供的多试样样品台使得若干个小试样的检测面在同一水平面上，满足所有试样检测面高度差小于±0.5mm的要求，一次设定即可分析较大面积，大大节约抽真空、试样聚焦、参数设定的时间，提高检测效率，其机械结构设计简单、加工方便、占用体积较小、便于装配。

实施例2：

参见图1、图2、图3，作为本实用新型的一种改进，所述长条形薄片6的数量至少为4个。所述长条形薄片上的限位水平薄片7在同一水平面上。其余结构和优点与实施例1完全相同。

工作过程：参见图1-图3，多试样样品支架，在该样品台支架上，垂直地设有4根长条形薄片；在长条形薄片顶端各有4个限位水平薄片连接，且4个水平薄片要求必须在同一水平面上；在多试样样品台支架上有12个固定螺丝，分3列两两均匀分布在支架底部；在多试样样品支架底部有1个垂直定位长方体，长方体宽度*长度尺寸为多试样样品支架底部宽度*长度尺寸的20%-30%，并与底部相连。通过拧紧固定螺丝，实现多试样样品支架上的所有试样检测面在同一水平面上，从而满足夹杂物自动分析检测要求。底座上有1个长方形定位孔，宽度*长度尺寸与多试样样品支架底部的垂直定位长方体相同；底座上有2个对称分布的螺丝孔，用于多试样样品台底座与ASPEX夹杂物自动分析仪设备样品座之间固定。底座上的长方形定位孔，通过定位孔实现多试样样品支架与多试样样品台底座快速装配。通过2个对称分布的螺丝孔与夹杂物自动分析仪样品台固定，实现多试样样品台与夹杂物自动分析仪样品台精确同步位移。

在测试样品时，首先将多试样样品台底座安装在ASPEX夹杂物自动分析仪样品台上，多试样样品台底座上的2个螺丝孔与ASPEX夹杂物自动分析仪样品台螺丝孔对齐，并用螺丝固定；再将多试样样品支架倒放在桌面上，拧松12个固定螺丝，将待检测试样检测面朝下，从侧面依次放入多试样样品支架内，拧紧固定螺丝，使所有待检测试样的检测面均紧贴于支架顶端的限位水平薄片，确保所有待检测面在同一水平面上；将多试样样品支架从桌面上拿起，翻转，将样品支架底部垂直定位长方体对准样品台底座上的长方形定位孔插入。样品即安装完成，可以开始正常检测分析。

本实用新型还可以将实施例2所述技术特征中与实施例1组合形成新的实施方式。

需要说明的是，上述实施例仅仅是本实用新型的较佳实施例，并没有用来限定本实用新型的保护范围，在上述技术方案的基础上作出的等同替换或者替代，均属于本实用新型的保护范围。

Claims (4)

1.一种用于夹杂物分析的多试样样品台，其特征在于，所述样品台包括支架组件和底座组件，所述支架组件设置在底座组件上，所述支架组件包括支架本体，所述支架本体上设置有长条形薄片，所述长条形薄片上设置有限位水平薄片，所述支架本体的底部设置有一个垂直定位长方体，所述底座组件包括底座本体，所述底座本体上设置有螺丝孔和长方形定位孔。

2.根据权利要求1所述的一种用于夹杂物分析的多试样样品台，其特征在于，所述长条形薄片的数量至少为4个。

3.根据权利要求1或2所述的一种用于夹杂物分析的多试样样品台，其特征在于，所述长条形薄片上的限位水平薄片在同一水平面上。

4.根据权利要求3所述的一种用于夹杂物分析的多试样样品台，其特征在于，所述长方形定位孔的长度和宽度与定位长方体的大小相同。