CN205003100U - 平面透明材质的缺陷检测系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种平面透明材质的缺陷检测系统，包括检测平台(1)，侧光源(2)，图像采集装置(3)以及处理系统(4)，侧光源(2)设置在检测平台(1)的斜上方，图像采集装置(3)设置在检测平台(1)的正上方，图像采集装置(3)的输出端连接处理系统(4)的输入端，在检测平台(1)的上表面和内部中心分别设有一个空腔(5)和一个透明盖板(7)，通过透明盖板(7)在空腔(5)放置一个发光装置(6)，使其通过透明盖板(7)向检测平台(1)发射均匀光线。本实用新型通过提供一种平面透明材质的缺陷检测系统，对比现有技术，消除了因为光照不均导致对产品检测的错检率升高的影响，提高了生产效率，节省了生产成本。

Description

平面透明材质的缺陷检测系统

技术领域

本实用新型涉及一种检测系统，特别是涉及一种平面透明材质的缺陷检测系统。

背景技术

随着科学技术的进步，极大地拉动了工业链产业的发展，工业产品的市场需求越来越大，从而促使各地的制造工厂越来越多以满足日益增长的市场需求，对于一个工业产品的生产流程来说，生产过程和检测过程无疑是最重要的两个步骤。传统的检测过程中采用的是人工检测，不仅效率不高，而且成本花费较大，相对于传统的人工检测，现在采用机器自动对工业产品进行检测，通过图像采集装置对产品进行图像采集，把图像传入计算机后根据相应的算法与对应的模板匹配，从而检测出产品是否存在缺陷，机器自动检测具有精度高、效率高、抗疲劳以及节省成本等优点，并逐渐在成产线上开始普及。

现有技术中的机器检测装置容易受到因产品材质不同或者光照不均匀因素的影响，导致产品的错检率升高，流向市场的产品的合格率降低，从而给社会带来了一些或大或小的风险，为了改善这个缺点，又必须采用二次人工检测，却又导致了生产成本的增加。

实用新型内容

本实用新型的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种平面透明材质的缺陷检测系统，消除光照不均匀因素导致错检率升高的缺点，提高生产效率，降低生产成本。

本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的：

一种平面透明材质的缺陷检测系统，包括检测平台，侧光源，图像采集装置以及处理系统，侧光源设置在检测平台的斜上方，图像采集装置设置在检测平台的正上方，图像采集装置的输出端连接处理系统的输入端，在检测平台的内部中心设有一空腔，空腔内设有一发光装置，发光装置的上方设有透明盖板，透明盖板位于检测平台的上表面，发光装置发出的光线通过透明盖板向检测平台的上表面均匀发射。

进一步的，所述的侧光源包括若干个发光器件，发光器件上设有导光罩，导光罩的开口朝向所述检测平台。

进一步的，所述的图像采集装置包括若干个图像采集设备，若干个图像采集设备的镜头与所述检测平台的上表面的形成的角度互不相同。

进一步的，所述处理系统包括计算机和图像显示器，图像采集设备通过连接线连接计算机的输入端，计算机的输出端连接图像显示器。

本实用新型相比现有技术具有以下的优点以及有益效果：

本实用新型通过提供一种平面透明材质的缺陷检测系统，通过检测平台内部中心的发光装置和侧光源，消除待检平面透明材质因为光照不均匀导致的错检率升高的影响，通过利用图像采集装置对待检平面透明材质进行图像采集后传入计算机进行分析和模板匹配，从而检测出缺陷，相对于现有技术，本实用新型提高了产品的生产效率，节省了二次人工检测的生产成本。

附图说明

图1为平面透明材质的缺陷检测系统的结构图。

具体实施方式

下面结合实施例及附图对本实用新型作进一步详细的描述，但本实用新型的实施方式不限于此。

实施例

如图1所示，一种平面透明材质的缺陷检测系统，包括检测平台1，侧光源2，图像采集装置3以及处理系统4，侧光源2设置在检测平台1的斜上方，用于对待检平面透明材质的表面检测提供均匀的光照，图像采集装置3设置在检测平台1的正上方，用于采集待检平面透明材质的图像，图像采集装置3的输出端连接处理系统4的输入端，用于将采集的图像传输到处理系统4进行分析，在检测平台1的内部中心设有一空腔5，空腔5内设有一发光装置6，发光装置6的上方设有透明盖板7，透明盖板7位于检测平台1的上表面，发光装置6发出的光线通过透明盖板向检测平台1的上表面均匀发射，为建立光照模型提供均匀的光照。

参照图1，所述的平面透明材质的缺陷检测系统的工作原理如下：

在检测平面透明材质模组的缺陷时：

首先，处理系统4发出控制信号，点亮所述发光装置6，关闭侧光源2，利用设置在所述图像采集装置3的图像采集设备对所述检测平台1拍摄照片，在该实施例中，图像采集设备优选为相机，记录所有所述检测平台1发光位置的像素的亮度值作为光照模型，检测并记录所述检测平台1上固有的缺陷作为平台缺陷模型，将光照模型和平台缺陷模型通过连接线传入处理系统4；其次，将待检平面透明材质放在所述检测平台1上，用相机进行拍摄，采集图像，并传入处理系统4，处理系统4利用光照模型对图像进行优化，从而检测待测透明材质的透明部分是否符合规格，如位置和尺寸是否符合要求，记录所发现的缺陷；然后处理系统4再次发出控制信号，关闭所述发光装置6，点亮侧光源2，利用相机拍摄图像并传入处理系统4，处理系统4利用光照模型对图像进行优化，从而检测待测透明材质的透明部分表面存在的缺陷，如存在多幅图像，则将所有检测到的缺陷整合在一起，最后，利用上述所得的所述检测平台1的缺陷模型、待检平面透明材质上透明部分所发现的缺陷，和待检平面透明材质上透明部分表面存在的缺陷。则待检平面透明材质上透明部分内部存在的缺陷为待检平面透明材质上透明部分所发现的缺陷减去待检平面透明材质上透明部分表面存在的缺陷以及所述检测平台1的缺陷模型。

在检测带透明保护膜的平面自发光模组的缺陷时：

首先，处理系统4发出控制信号，关闭所述发光装置6和侧光源2，将带透明保护膜的平面自发光模组放在所述检测平台1上；其次点亮平面自发光模组，通过图像采集和处理系统4的分析得出可发现的所有缺陷；然后，处理系统4再次发出控制信号，关闭平面自发光模组，点亮所有侧光源2，通过图像采集和处理系统4分析得出透明保护膜表面上的缺陷；最后，平面自发光模组上的缺陷为上述检测的所有缺陷减去透明保护膜表面的缺陷。

本实施例中，所述的侧光源2包括若干个发光器件，发光器件上设有导光罩8，导光罩8的开口朝向所述检测平台1，防止在图像采集时收到光照不均匀因素的影响。

同时所述的图像采集装置3包括若干个图像采集设备，若干个图像采集设备的镜头与所述检测平台1的上表面的形成的角度互不相同，有利于采集不同角度的图像资料，更好地分析出产品的缺陷。

作为优选，所述处理系统4包括计算机和图像显示器，图像采集设备通过连接线连接计算机的输入端，计算机的输出端连接图像显示器。

上述实施例为本实用新型较佳的实施方式，但本实用新型的实施方式并不受上述实施例的限制，其他的任何未背离本实用新型的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化，均应为等效的置换方式，都包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (3)

1.一种平面透明材质的缺陷检测系统，其特征在于，包括检测平台(1)，侧光源(2)，图像采集装置(3)以及处理系统(4)，侧光源(2)设置在检测平台(1)的斜上方，图像采集装置(3)设置在检测平台(1)的正上方，图像采集装置(3)的输出端连接处理系统(4)的输入端，在检测平台(1)的内部中心设有一空腔(5)，空腔(5)内设有一发光装置(6)，发光装置(6)的上方设有透明盖板(7)，透明盖板(7)位于检测平台(1)的上表面，发光装置(6)发出的光线通过透明盖板(7)向检测平台(1)的上表面均匀发射。

2.根据权利要求1所述的平面透明材质的缺陷检测系统，其特征在于，所述的侧光源(2)包括若干个发光器件，发光器件上设有导光罩(8)，导光罩(8)的开口朝向所述检测平台(1)。

3.根据权利要求2所述的平面透明材质的缺陷检测系统，其特征在于，所述的图像采集装置(3)包括若干个图像采集设备，若干个图像采集设备的镜头与所述检测平台的上表面的形成的角度互不相同。