CN204975708U - 带探头测量的高光机 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供的一种带探头测量的高光机，所述高光机包括机架、工作空间、高光机构和探头测量机构。机架为中空腔体，所述中空腔体内的下方形成有一封闭的工作空间；工作空间的上方设置有一可左右、前后和上下方向运动的高光机构，高光机构的水平一侧设有探头测量机构；探头测量机构包括框架、探头装置)、测量头；框架为探头测量机构的外壳，框架内的底部容纳有可上下自由运动的带有测量头的探头装置，测量头可自由伸出框架外并对工件进行测量。本实验新型结构简单、测量精度高，能大大提高带探头测量的高光机的工作质量。

Description

带探头测量的高光机

技术领域

本实用新型涉及一种雕刻机，特别是一种带CCD定位装置的雕刻机。

背景技术

数控高光机是根据其加工产品的特点而命名的，其外形类似雕刻机(或者是精雕机)，主轴选用100000RPM的气浮主轴，在加工产品时，达到镜面效果，看不到刀纹。目前数控高光机的别名也比较多，例如倒边机、亮边机、数控倒角高光机等等，数控高光机对技术要求较高，配件的要求比普通的雕刻机的也要高很多。采用电脑控制，不用工作人员守在器械旁边，方便快捷，可控性高，采用龙门结构，提高机床稳定性；整机采用花岗岩床身、提高机床的精密度，稳定度；双工作台反复交替加工零件，广泛适用于单件加工时间短、需频繁装卸工件的场合，大幅度提高机床的加工率和利用率；该款设备结构稳定，精密度高，加工产品的表面效果极佳。

中国专利CN203527133公开了一种数控高光机，包括底座和设于底座上的床身，所述底座相对床身的一面设有工作台，所述工作台设有工件安装座，所述床身设有加工刀具，所述工作台由若干间隔设置的隔板构成，所述隔板间设有用于水和废屑落入的出料间隙，所述底座内设有用于容纳废料的容腔，所述容腔内设有废屑托盘。

但是该装置过于复杂，对产品形状的测量准确度不高，加工质量达不到客户要求。

实用新型内容

为了解决上述现有技术的不足之处，本实用新型的目的在于提供一种结构简单、自动化程度高的带探头测量的高光机，以克服现有技术中的缺陷。

为此，本实用新型提供了一种带探头测量的高光机，所述高光机包括机架、工作空间、高光机构和探头测量机构。机架为中空腔体，所述中空腔体内的下方形成有一封闭的工作空间；工作空间的上方设置有一可左右、前后和上下方向运动的高光机构，高光机构的水平一侧设有探头测量机构；探头测量机构包括框架、探头装置)、测量头；框架为探头测量机构的外壳，框架内的底部容纳有可上下自由运动的带有测量头的探头装置，测量头可自由伸出框架外并对工件进行测量。

作为对本实用新型所述的带探头测量的高光机的进一步说明，框架的内侧面设有垂直方向架设的导轨，探头装置)通过滑块可自由滑动地安装于导轨上。

作为对本实用新型所述的带探头测量的高光机的进一步说明，框架内设有一固定于框架内侧面上的探头夹套，探头装置夹设于探头夹套(46)内可上下运动。

作为对本实用新型所述的带探头测量的高光机的进一步说明，正对于探头装置的位置的框架的底部开设有一开口，测量头通过开口自由伸缩。

由此可见，本实用新型提供的一种带探头测量的高光机，其特征在于，所述带探头测量的高光机包括机架，机架的中空腔体内形成有一封闭的工作空间；工作空间的上方设置有一可左右、前后和上下方向运动的高光机构，高光机构的水平一侧设有探头测量机构；探头测量机构包括一框架，框架内容纳设有可上下自由运动的探头装置，使探头装置的测量头可自由伸出框架外并对工件进行测量。本实验新型结构简单、测量精度高，能大大提高带探头测量的高光机的工作质量。

附图说明

图1是本实用新型的带探头测量的高光机的整机立体图；

图2是本实用新型的探头测量机构的外部结构图；

图3是本实用新型的探头测量机构的内部结构图；

附图标记说明如下：

机架1、工作空间2、高光机构3、探头测量机构4、框架41、探头装置42、测量头43、导轨44、滑块45、探头夹套46。

具体实施方式

为了使审查员能够进一步了解本实用新型的结构、特征及其他目的，现结合所附较佳实施例附以附图详细说明如下，本附图所说明的实施例仅用于说明本实用新型的技术方案，并非限定本实用新型。

首先，请参考图1，图1是本实用新型的一种带探头测量的高光机。如图1所示，所述高光机包括机架1、工作空间2、高光机构3和探头测量机构4。机架1为中空腔体，所述中空腔体内的下方形成有一封闭的工作空间2；工作空间2的上方设置有一可左右、前后和上下方向运动的高光机构3，高光机构3的水平一侧设有探头测量机构4；探头测量机构4包括框架41、探头装置42、测量头43；框架41为探头测量机构4的外壳，框架41内的底部容纳有可上下自由运动的带有测量头43的探头装置42，测量头43可自由伸出框架41外并对工件进行测量，最好，正对于探头装置42的位置的框架41的底部开设有一开口，测量头43通过开口44自由伸缩。框架41的内侧面设有垂直方向架设的导轨44，探头装置42通过滑块45可自由滑动地安装于导轨44上。此外，框架41内设有一固定于框架41内侧面上的探头夹套46，探头装置42夹设于探头夹套46内可上下运动。这样，本实验新型结构简单、测量精度高，大大地提高带探头测量的高光机的工作质量。

需要声明的是，上述实用新型内容及具体实施方式意在证明本实用新型所提供技术方案的实际应用，不应解释为对本实用新型保护范围的限定。本领域技术人员在本实用新型的精神和原理内，当可作各种修改、等同替换或改进。本实用新型的保护范围以所附权利要求书为准。

Claims (4)

1.一种带探头测量的高光机，所述高光机包括机架(1)、工作空间(2)、高光机构(3)和探头测量机构(4)；其特征在于，

机架(1)为中空腔体，所述中空腔体内的下方形成有一封闭的工作空间(2)；

工作空间(2)的上方设置有一可左右、前后和上下方向运动的高光机构(3)，高光机构(3)的水平一侧设有探头测量机构(4)；

探头测量机构(4)包括框架(41)、探头装置(42)、测量头(43)；框架(41)为探头测量机构(4)的外壳，框架(41)内的底部容纳有可上下自由运动的带有测量头(43)的探头装置(42)，测量头(43)可自由伸出框架(41)外并对工件进行测量。

2.如权利要求1所述的高光机，其特征在于，框架(41)的内侧面设有垂直方向架设的导轨(44)，探头装置(42)通过滑块(45)可自由滑动地安装于导轨(44)上。

3.如权利要求1所述的高光机，其特征在于，框架(41)内设有一固定于框架(41)内侧面上的探头夹套(46)，探头装置(42)夹设于探头夹套(46)内可上下运动。

4.如权利要求1所述的高光机，其特征在于，正对于探头装置(42)的位置的框架(41)的底部开设有一开口，测量头(43)通过开口(44)自由伸缩。