CN204912178U - 一种测试探针的清洗设备 - Google Patents

Abstract

本新型公开了一种测试探针的清洗设备，包括清洗槽，用以清洗测试探针；插有测试探针的测试治具，测试探针的作业端浸入清洗液液面之下；多个超声波发射探头；位于清洗槽侧面的液面调节装置；辅助调节槽，位于清洗槽外部的四侧。本新型采用超声波方式，以水作为传播介质，可将水流稳定推动，从而便于精确控制清洗液的液面高度，解决了普遍性溅射致使测试探针无法再次使用的问题；同时仅需测试治具翻转悬空，而不需拆卸测试探针逐一进行清洗，清洗更为方便快捷；清洗槽、辅助调节槽通过相通的管道可从辅助调节槽抽调清洗液至清洗槽，或整体流出出水口，对液面的控制达到自由调整。

Description

一种测试探针的清洗设备

技术领域

本新型属于机械领域，尤其涉及一种清洗机械设备。

背景技术

在线测试通常是生产中第一道测试工序，能及时反应生产制造状况，有利于工艺改进和提升。ICT测试治具测试过的故障板,因故障定位准，维修方便，可大幅提高生产效率和减少维修成本。因其测试项目具体，是现代化大生产品质保证的重要测试手段之一。测试治具上较为重要的部分之一是测试探针，由于探针需要在工序中多次对工件进行测试，测试探针经过多次使用、摩擦以及移动后，表面难免会发生氧化变黑，产生污垢，若此时继续使用会影响测试效果，造成测试结果不准确。测试探针使用一段时间之后，通常的做法就是报废，然后更换上新的测试探针，由此就造成资源浪费的问题。究其原因，是因为若采用清洗方法，使用现有设备会非常容易令清洗液直接溅射到测试探针的后端(非直接接触的作业位)，同时使用一般清洗方式，需要拆下每支单独进行清洗，若溅射到测试探针后方，探针很容易则因此而发生测量不准等问题，且无法轻易更正，对于需要安全、高效率清洗而言，尚无可简单解决的方法；

实用新型内容

本新型要解决的技术问题是提供一种便于直接使用现成测试治具进行快速清洗即可重复使用的清洗设备。

通过以下技术方案实现上述目的：

一种测试探针清洗设备，包括

清洗槽，装载清洗液，用以清洗测试探针；

插有测试探针的测试治具，测试治具倒置放置，测试探针位于测试治具的原测试位上且测试探针的作业端浸入清洗液液面之下；

多个超声波发射探头，固定于清洗槽底面且探头穿入清洗槽内朝向测试探针；

位于清洗槽侧面的液面调节装置，所述液面调节装置包括挡水板、调节螺丝，所述清洗槽侧面对应液面调节装置位置设有通孔，调节螺丝及挡水板固定于清洗槽外侧的通孔处。

作为对上述测试探针清洗设备的进一步描述，还包括一辅助调节槽，位于清洗槽外部的四侧，且顶部与清洗槽的底部平齐，收集清洗槽输出的清洗液；辅助调节槽与清洗槽底部之间形成容置空间，所述超声波发射探头位于容置空间内。

作为对上述测试探针清洗设备的进一步描述，还包括分别连通清洗槽及辅助调节槽底部的管道、压缩驱动泵，所述管道接通于同一出口。

作为对上述测试探针清洗设备的进一步描述，测试治具的四边为凸起的悬挂边缘。

本新型的有益效果是：采用超声波方式，以水作为传播介质，可将水流稳定推动，从而便于精确控制清洗液的液面高度，解决了普遍性溅射致使测试探针无法再次使用的问题；同时可直接将插有测试探针的测试治具进行针对性清洗，仅需翻转悬空，而不需拆卸测试探针逐一进行清洗，清洗更为方便快捷；围绕清洗槽侧边设置的辅助调节槽、设置于清洗槽侧边上的液面调节装置可对超出所需高度的清洗液引导出并收集，同时清洗槽、辅助调节槽通过相通的管道可从辅助调节槽抽调清洗液至清洗槽，或整体流出出水口，对液面的控制达到自由调整。

附图说明

图1为本新型的测试探针示意图；

图2为本新型的整体结构侧面示意图；

图3为本新型的液面调节装置位置结构示意图；

图4为整体的俯视结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图1-4对本新型进行进一步说明：

一种测试探针清洗设备，包括

清洗槽2，装载清洗液，用以清洗测试探针1；

插有测试探针的测试治具3，测试治具3倒置放置，测试探针1位于测试治具3的原测试位上且测试探针的作业端11浸入清洗液液面21之下；

多个超声波发射探头4，固定于清洗槽2底面且探头穿入清洗槽内朝向测试探针1；

位于清洗槽侧面的液面调节装置，参照图3，所述液面调节装置5包括挡水板51、调节螺丝52，所述清洗槽2侧面对应液面调节装置位置设有通孔，调节螺丝52及挡水板51固定于清洗槽外侧的通孔处。

作为对上述测试探针清洗设备的进一步描述，还包括一辅助调节槽6，位于清洗槽外部的四侧，且顶部与清洗槽2的底部平齐，收集清洗槽输出的清洗液；辅助调节槽6与清洗槽底部之间形成容置空间7，所述超声波发射探头4位于容置空间7内。

作为对上述测试探针清洗设备的进一步描述，还包括分别连通清洗槽2及辅助调节槽6底部的管道8、压缩驱动泵9，所述管道接通于同一出口。

作为对上述测试探针清洗设备的进一步描述，测试治具的四边为凸起的悬挂边缘。

以上所述并非对本新型的技术范围作任何限制，凡依据本新型技术实质对以上的实施例所作的任何修改、等同变化与修饰，均仍属于本新型的技术方案的范围内。

Claims (4)

1.一种测试探针清洗设备，包括

清洗槽，装载清洗液，用以清洗测试探针；其特征在于：还包括

插有测试探针的测试治具，测试治具倒置放置，测试探针位于测试治具的原测试位上且测试探针的作业端浸入清洗液液面之下；

多个超声波发射探头，固定于清洗槽底面且探头穿入清洗槽内朝向测试探针；位于清洗槽侧面的液面调节装置，所述液面调节装置包括挡水板、调节螺丝，所述清洗槽侧面对应液面调节装置位置设有通孔，调节螺丝及挡水板固定于清洗槽外侧的通孔处。

2.根据权利要求1所述的一种测试探针清洗设备，其特征在于：还包括一辅助调节槽，位于清洗槽外部的四侧，且顶部与清洗槽的底部平齐，收集清洗槽输出的清洗液；辅助调节槽与清洗槽底部之间形成容置空间，所述超声波发射探头位于容置空间内。

3.根据权利要求2所述的一种测试探针清洗设备，其特征在于：还包括分别连通清洗槽及辅助调节槽底部的管道、压缩驱动泵，所述管道接通于同一出口。

4.根据权利要求1所述的一种测试探针清洗设备，其特征在于：测试治具的四边为凸起的悬挂边缘。